Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Kato, Y.
Results
2011 / IEEE
By: Yamada, Y.; Sekiguchi, S.; Sugimoto, K.; Itani, Y.; Kato, Y.; Yamagishi, S.; Murakami, T.; Asai, K.; Minezawa, A.;
By: Yamada, Y.; Sekiguchi, S.; Sugimoto, K.; Itani, Y.; Kato, Y.; Yamagishi, S.; Murakami, T.; Asai, K.; Minezawa, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0531-1
By: Moriguchi, S.; Tsuji, H.; Kido, Y.; Kitahara, T.; Narita, M.; Okada, K.; Ushio, S.; Kato, Y.;
By: Moriguchi, S.; Tsuji, H.; Kido, Y.; Kitahara, T.; Narita, M.; Okada, K.; Ushio, S.; Kato, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-972-0
By: Ueki, M.; Narita, M.; Tsuchiya, Y.; Izui, T.; Kato, Y.; Okabayashi, K.; Murakawa, Y.;
By: Ueki, M.; Narita, M.; Tsuchiya, Y.; Izui, T.; Kato, Y.; Okabayashi, K.; Murakawa, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-1524-2
By: Tsuchiya, Y.; Ueki, M.; Okabayashi, K.; Murakawa, Y.; Izui, T.; Kato, Y.; Narita, M.;
By: Tsuchiya, Y.; Ueki, M.; Okabayashi, K.; Murakawa, Y.; Izui, T.; Kato, Y.; Narita, M.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0377-4
By: Shibata, N.; Kanda, K.; Hisada, T.; Isobe, K.; Sato, M.; Shimizu, Y.; Shimizu, T.; Sugimoto, T.; Kobayashi, T.; Inuzuka, K.; Kanagawa, N.; Kajitani, Y.; Ogawa, T.; Nakai, J.; Iwasa, K.; Kojima, M.; Suzuki, T.; Suzuki, Y.; Sakai, S.; Fujimura, T.; Utsunomiya, Y.; Hashimoto, T.; Miakashi, M.; Kobayashi, N.; Inagaki, M.; Matsumoto, Y.; Inoue, S.; Suzuki, Y.; He, D.; Honda, Y.; Musha, J.; Nakagawa, M.; Honma, M.; Abiko, N.; Koyanagi, M.; Yoshihara, M.; Ino, K.; Noguchi, M.; Kamei, T.; Kato, Y.; Zaitsu, S.; Nasu, H.; Ariki, T.; Chibvongodze, H.; Watanabe, M.; Ding, H.; Ookuma, N.; Yamashita, R.; Liang, G.; Hemink, G.; Moogat, F.; Trinh, C.; Higashitani, M.; Pham, T.; Kanazawa, K.;
By: Shibata, N.; Kanda, K.; Hisada, T.; Isobe, K.; Sato, M.; Shimizu, Y.; Shimizu, T.; Sugimoto, T.; Kobayashi, T.; Inuzuka, K.; Kanagawa, N.; Kajitani, Y.; Ogawa, T.; Nakai, J.; Iwasa, K.; Kojima, M.; Suzuki, T.; Suzuki, Y.; Sakai, S.; Fujimura, T.; Utsunomiya, Y.; Hashimoto, T.; Miakashi, M.; Kobayashi, N.; Inagaki, M.; Matsumoto, Y.; Inoue, S.; Suzuki, Y.; He, D.; Honda, Y.; Musha, J.; Nakagawa, M.; Honma, M.; Abiko, N.; Koyanagi, M.; Yoshihara, M.; Ino, K.; Noguchi, M.; Kamei, T.; Kato, Y.; Zaitsu, S.; Nasu, H.; Ariki, T.; Chibvongodze, H.; Watanabe, M.; Ding, H.; Ookuma, N.; Yamashita, R.; Liang, G.; Hemink, G.; Moogat, F.; Trinh, C.; Higashitani, M.; Pham, T.; Kanazawa, K.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0377-4
By: Takubo, K.; Hanzawa, K.; Tochigi, Y.; Sugawa, S.; Kondo, Y.; Kato, Y.; Tominaga, H.; Hirose, R.; Mutoh, H.; Kuroda, R.;
By: Takubo, K.; Hanzawa, K.; Tochigi, Y.; Sugawa, S.; Kondo, Y.; Kato, Y.; Tominaga, H.; Hirose, R.; Mutoh, H.; Kuroda, R.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0714-7
By: Shimizu, S.; Tsunoda, R.; Igarashi, N.; Nakayama, H.; Narita, M.; Ohyama, N.; Nakagawa, S.; Sakaguchi, K.; Kato, Y.;
By: Shimizu, S.; Tsunoda, R.; Igarashi, N.; Nakayama, H.; Narita, M.; Ohyama, N.; Nakagawa, S.; Sakaguchi, K.; Kato, Y.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Chiba, D.; Honjo, H.; Yoshimura, Y.; Kim, K.-J.; Ueda, K.; Koyama, T.; Yamanouchi, M.; Fukami, S.; Ohno, H.; Ono, T.; Kasai, N.; Sugibayashi, T.; Ikeda, S.; Tanigawa, H.; Suzuki, T.; Miura, S.; Kinoshita, K.; Morioka, A.; Tsuji, Y.; Kato, Y.; Nebashi, R.; Sakimura, N.;
By: Chiba, D.; Honjo, H.; Yoshimura, Y.; Kim, K.-J.; Ueda, K.; Koyama, T.; Yamanouchi, M.; Fukami, S.; Ohno, H.; Ono, T.; Kasai, N.; Sugibayashi, T.; Ikeda, S.; Tanigawa, H.; Suzuki, T.; Miura, S.; Kinoshita, K.; Morioka, A.; Tsuji, Y.; Kato, Y.; Nebashi, R.; Sakimura, N.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Ninomiya, T.; Takagi, T.; Aono, K.; Shimakawa, K.; Mikawa, T.; Ito, S.; Kawashima, Y.; Kato, Y.; Kawai, K.; Ikeda, Y.; Katayama, K.; Yasuhara, R.; Muraoka, S.; Wei, Z.;
By: Ninomiya, T.; Takagi, T.; Aono, K.; Shimakawa, K.; Mikawa, T.; Ito, S.; Kawashima, Y.; Kato, Y.; Kawai, K.; Ikeda, Y.; Katayama, K.; Yasuhara, R.; Muraoka, S.; Wei, Z.;
2012 / IEEE
By: Fukuda, K.; Watanabe, Y.; Makino, E.; Kawakami, K.; Sato, J.; Takagiwa, T.; Kanagawa, N.; Shiga, H.; Tokiwa, N.; Shindo, Y.; Ogawa, T.; Edahiro, T.; Iwai, M.; Nagao, O.; Musha, J.; Minamoto, T.; Furuta, Y.; Yanagidaira, K.; Suzuki, Y.; Nakamura, D.; Hosomura, Y.; Tanaka, R.; Komai, H.; Muramoto, M.; Shikata, G.; Yuminaka, A.; Sakurai, K.; Sakai, M.; Hong Ding; Watanabe, M.; Kato, Y.; Miwa, T.; Mak, A.; Nakamichi, M.; Hemink, G.; Lee, D.; Higashitani, M.; Murphy, B.; Bo Lei; Matsunaga, Y.; Naruke, K.; Hara, T.;
By: Fukuda, K.; Watanabe, Y.; Makino, E.; Kawakami, K.; Sato, J.; Takagiwa, T.; Kanagawa, N.; Shiga, H.; Tokiwa, N.; Shindo, Y.; Ogawa, T.; Edahiro, T.; Iwai, M.; Nagao, O.; Musha, J.; Minamoto, T.; Furuta, Y.; Yanagidaira, K.; Suzuki, Y.; Nakamura, D.; Hosomura, Y.; Tanaka, R.; Komai, H.; Muramoto, M.; Shikata, G.; Yuminaka, A.; Sakurai, K.; Sakai, M.; Hong Ding; Watanabe, M.; Kato, Y.; Miwa, T.; Mak, A.; Nakamichi, M.; Hemink, G.; Lee, D.; Higashitani, M.; Murphy, B.; Bo Lei; Matsunaga, Y.; Naruke, K.; Hara, T.;
2014 / IEEE
By: Yoon, C. J.; Hamano, H.; Korpar, S.; Jones, M.; Browder, T.; Barrett, M.; Uchida, M.; Strokovsky, E. A.; Muramatsu, N.; Nozawa, Y.; Niiyama, M.; Horii, Y.; Hirose, S.; Maeshima, R.; Iijima, T.; Hyakawa, T.; Hotta, T.; Kasamatsu, Y.; Morino, Y.; Nakatsugawa, Y.; Nakano, T.; Nam, T.; Noumi, H.; Oka, M.; Ryu, S. Y.; Yosoi, M.; Matsuoka, K.; Kato, Y.; Arita, Y.; Inami, K.; Suzuki, K.;
By: Yoon, C. J.; Hamano, H.; Korpar, S.; Jones, M.; Browder, T.; Barrett, M.; Uchida, M.; Strokovsky, E. A.; Muramatsu, N.; Nozawa, Y.; Niiyama, M.; Horii, Y.; Hirose, S.; Maeshima, R.; Iijima, T.; Hyakawa, T.; Hotta, T.; Kasamatsu, Y.; Morino, Y.; Nakatsugawa, Y.; Nakano, T.; Nam, T.; Noumi, H.; Oka, M.; Ryu, S. Y.; Yosoi, M.; Matsuoka, K.; Kato, Y.; Arita, Y.; Inami, K.; Suzuki, K.;
2013 / IEEE
By: Pirozhkov, A. S.; Kando, M.; Kondo, K.; Bulanov, S. V.; Bolton, P. R.; Kato, Y.; Daido, H.; Kawachi, T.; Hasegawa, N.; Imazono, T.; Esirkepov, T. Zh.; Pikuz, T. A.; Faenov, A. Ya.; Ogura, K.; Hayashi, Y.; Kotaki, H.; Ragozin, E. N.; Neely, D.; Kiriyama, H.; Shimomura, T.; Tanoue, M.; Nakai, Y.; Okamoto, M.; Kondo, S.; Kanazawa, S.; Koga, J. K.; Fukuda, Y.; Nishikino, M.;
By: Pirozhkov, A. S.; Kando, M.; Kondo, K.; Bulanov, S. V.; Bolton, P. R.; Kato, Y.; Daido, H.; Kawachi, T.; Hasegawa, N.; Imazono, T.; Esirkepov, T. Zh.; Pikuz, T. A.; Faenov, A. Ya.; Ogura, K.; Hayashi, Y.; Kotaki, H.; Ragozin, E. N.; Neely, D.; Kiriyama, H.; Shimomura, T.; Tanoue, M.; Nakai, Y.; Okamoto, M.; Kondo, S.; Kanazawa, S.; Koga, J. K.; Fukuda, Y.; Nishikino, M.;
1988 / IEEE
By: Nakagawa, T.; Hayasi, K.; Asano, H.; Kato, Y.; Hayasi, O.; Harakawa, K.; Rokugo, Y.; Sugawara, H.; Kimura, T.;
By: Nakagawa, T.; Hayasi, K.; Asano, H.; Kato, Y.; Hayasi, O.; Harakawa, K.; Rokugo, Y.; Sugawara, H.; Kimura, T.;
1990 / IEEE
By: Tabuchi, K.; Iwatsuki, M.; Kato, Y.; Ohira, H.; Hatanaka, M.; Kato, S.-I.; Horiba, Y.; Yoshimoto, M.; Segawa, H.; Matsumura, T.; Terane, H.; Nakagawa, S.-I.; Shinohara, H.;
By: Tabuchi, K.; Iwatsuki, M.; Kato, Y.; Ohira, H.; Hatanaka, M.; Kato, S.-I.; Horiba, Y.; Yoshimoto, M.; Segawa, H.; Matsumura, T.; Terane, H.; Nakagawa, S.-I.; Shinohara, H.;
1991 / IEEE
By: Kurosawa, K.; Kato, Y.; Yoshida, K.; Fujiwara, E.; Okuda, M.; Sasaki, W.; Takigawa, Y.;
By: Kurosawa, K.; Kato, Y.; Yoshida, K.; Fujiwara, E.; Okuda, M.; Sasaki, W.; Takigawa, Y.;
1989 / IEEE / 0-7803-0817-4
By: Kato, Y.; Imai, M.; Sakamoto, M.; Kaneko, S.; Sato, Y.; Sumiyoshi, K.; Wada, S.; Kubota, K.; Endo, N.; Ohmachi, T.; Ashibe, M.; Kohashi, H.;
By: Kato, Y.; Imai, M.; Sakamoto, M.; Kaneko, S.; Sato, Y.; Sumiyoshi, K.; Wada, S.; Kubota, K.; Endo, N.; Ohmachi, T.; Ashibe, M.; Kohashi, H.;
1988 / IEEE
By: Amano, S.; Kato, Y.; Kimura, M.; Kobayashi, T.; Sugimoto, H.; Yoshikawa, S.; Nakashima, Y.;
By: Amano, S.; Kato, Y.; Kimura, M.; Kobayashi, T.; Sugimoto, H.; Yoshikawa, S.; Nakashima, Y.;
1992 / IEEE
By: Yokoi, T.; Kojima, T.; Takasaki, M.; Suzuki, T.; Suzuki, Y.; Kato, K.; Ishii, H.; Kato, Y.; Ieiri, M.; Noumi, H.; Minakawa, M.; Yamanoi, Y.; Tanaka, K.H.; Osa, Y.; Kaji, K.;
By: Yokoi, T.; Kojima, T.; Takasaki, M.; Suzuki, T.; Suzuki, Y.; Kato, K.; Ishii, H.; Kato, Y.; Ieiri, M.; Noumi, H.; Minakawa, M.; Yamanoi, Y.; Tanaka, K.H.; Osa, Y.; Kaji, K.;
1990 / IEEE
By: Senda, K.; Kato, Y.; Hayashi, H.; Uemoto, Y.; Nakamura, A.; Yamamoto, A.; Fujii, E.; Emoto, F.;
By: Senda, K.; Kato, Y.; Hayashi, H.; Uemoto, Y.; Nakamura, A.; Yamamoto, A.; Fujii, E.; Emoto, F.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Yugami, N.; Tajima, T.; Shoji, T.; Sakawa, Y.; Kato, Y.; Suzuki, K.; Nishida, Y.; Zhang, T.; Kodama, R.; Shiraga, H.; Kitagawa, Y.; Ogata, A.; Kawakubo, T.; Nakanishi, H.; Nakajima, K.;
By: Yugami, N.; Tajima, T.; Shoji, T.; Sakawa, Y.; Kato, Y.; Suzuki, K.; Nishida, Y.; Zhang, T.; Kodama, R.; Shiraga, H.; Kitagawa, Y.; Ogata, A.; Kawakubo, T.; Nakanishi, H.; Nakajima, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2461-7
By: Umano, M.; Bastian, A.; Arnould, T.; Oyama, T.; Kato, Y.; Miyoshi, T.; Tano, S.;
By: Umano, M.; Bastian, A.; Arnould, T.; Oyama, T.; Kato, Y.; Miyoshi, T.; Tano, S.;
1995 / IEEE / 0-7803-2461-7
By: Bastian, A.; Oyama, T.; Kato, Y.; Miyoshi, T.; Tano, S.; Arnould, T.; Umano, M.;
By: Bastian, A.; Oyama, T.; Kato, Y.; Miyoshi, T.; Tano, S.; Arnould, T.; Umano, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2461-7
By: Arnould, T.; Kato, Y.; Miyoshi, T.; Tano, S.; Oyama, T.; Umano, M.; Bastian, A.;
By: Arnould, T.; Kato, Y.; Miyoshi, T.; Tano, S.; Oyama, T.; Umano, M.; Bastian, A.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Yoshida, M.; Ono, H.; Kato, Y.; Hayashi, Y.; Tokashiki, K.; Ohnishi, S.; Nakajima, K.; Miyasaka, Y.; Tamura, T.; Sato, K.; Yabuta, H.; Sone, S.; Takemura, K.; Yamaguchi, H.; Lesaicherre, P.-Y.; Yamamichi, S.;
By: Yoshida, M.; Ono, H.; Kato, Y.; Hayashi, Y.; Tokashiki, K.; Ohnishi, S.; Nakajima, K.; Miyasaka, Y.; Tamura, T.; Sato, K.; Yabuta, H.; Sone, S.; Takemura, K.; Yamaguchi, H.; Lesaicherre, P.-Y.; Yamamichi, S.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Nakasugi, T.; Shibata, T.; Takashima, D.; Hamamoto, T.; Niiyama, H.; Shino, T.; Ishibashi, Y.; Aoki, H.; Habu, M.; Noauchi, M.; Ozaki, T.; Sugihara, K.; Yamaguchi, H.; Sato, S.; Magoshi, T.; Hattori, K.; Nishimura, E.; Kato, Y.;
By: Nakasugi, T.; Shibata, T.; Takashima, D.; Hamamoto, T.; Niiyama, H.; Shino, T.; Ishibashi, Y.; Aoki, H.; Habu, M.; Noauchi, M.; Ozaki, T.; Sugihara, K.; Yamaguchi, H.; Sato, S.; Magoshi, T.; Hattori, K.; Nishimura, E.; Kato, Y.;
1995 / IEEE / 0-7803-2602-4
By: Watanabe, S.; Noguchi, M.; Saito, Y.; Tokano, K.; Niiyama, H.; Nakasugi, T.; Hoshi, T.; Shibata, T.; Takigami, Y.; Kato, Y.; Habu, M.; Hamamoto, T.; Aoki, M.; Ozaki, T.;
By: Watanabe, S.; Noguchi, M.; Saito, Y.; Tokano, K.; Niiyama, H.; Nakasugi, T.; Hoshi, T.; Shibata, T.; Takigami, Y.; Kato, Y.; Habu, M.; Hamamoto, T.; Aoki, M.; Ozaki, T.;
1995 / IEEE / 0-7803-2400-5
By: Kodama, R.; Daido, H.; Kato, Y.; Takabe, H.; Ninomiya, S.; Mural, K.;
By: Kodama, R.; Daido, H.; Kato, Y.; Takabe, H.; Ninomiya, S.; Mural, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2400-5
By: Daido, H.; Sharma, L.B.; Yamanaka, C.; Kitada, T.; Nakai, S.; Izawa, Y.; Nakatsuka, M.; Kato, Y.; Takabe, H.; Murai, K.; Uernatsu, H.; Ninomiya, S.; Zhang, T.;
By: Daido, H.; Sharma, L.B.; Yamanaka, C.; Kitada, T.; Nakai, S.; Izawa, Y.; Nakatsuka, M.; Kato, Y.; Takabe, H.; Murai, K.; Uernatsu, H.; Ninomiya, S.; Zhang, T.;
1995 / IEEE / 0-7803-2400-5
By: Sasaki, W.; Kurosawa, K.; Nakamae, K.; Okuda, M.; Kato, Y.; Takigrawa, Y.;
By: Sasaki, W.; Kurosawa, K.; Nakamae, K.; Okuda, M.; Kato, Y.; Takigrawa, Y.;
1995 / IEEE / 0-7803-3622-4
By: Nakamura, Y.; Yoshikawa, A.; Kato, Y.; Kobayashi, M.; Yamashita, T.;
By: Nakamura, Y.; Yoshikawa, A.; Kato, Y.; Kobayashi, M.; Yamashita, T.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Yamaguchi, H.; Nakajima, K.; Iwao, S.; Saino, K.; Mori, H.; Tatsumi, T.; Hada, H.; Kasai, N.; Koga, H.; Koyama, K.; Takemura, K.; Kato, Y.; Ando, K.; Hashimoto, T.; Nishizawa, A.; Yoshida, K.; Hirasawa, S.; Tokunaga, K.; Yamada, Y.;
By: Yamaguchi, H.; Nakajima, K.; Iwao, S.; Saino, K.; Mori, H.; Tatsumi, T.; Hada, H.; Kasai, N.; Koga, H.; Koyama, K.; Takemura, K.; Kato, Y.; Ando, K.; Hashimoto, T.; Nishizawa, A.; Yoshida, K.; Hirasawa, S.; Tokunaga, K.; Yamada, Y.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Kojima, Y.; Nakajima, K.; Lesaicherre, P.; Yamamichi, S.; Suzuki, M.; Yabuta, H.; Sone, S.; Takemura, K.; Koga, H.; Iizuka, T.; Yamaguchi, H.; Nishimoto, S.; Yoshida, M.; Miyasaka, Y.; Kato, Y.; Sakuma, T.; Kasai, N.;
By: Kojima, Y.; Nakajima, K.; Lesaicherre, P.; Yamamichi, S.; Suzuki, M.; Yabuta, H.; Sone, S.; Takemura, K.; Koga, H.; Iizuka, T.; Yamaguchi, H.; Nishimoto, S.; Yoshida, M.; Miyasaka, Y.; Kato, Y.; Sakuma, T.; Kasai, N.;
1997 / IEEE / 0-7803-3721-2
By: Tamura, H.; Imamura, T.; Taguchi, M.; Kato, Y.; Ogawa, J.; Wakayama, S.; Gotoh, T.; Saito, M.;
By: Tamura, H.; Imamura, T.; Taguchi, M.; Kato, Y.; Ogawa, J.; Wakayama, S.; Gotoh, T.; Saito, M.;
1997 / IEEE
By: Ohnishi, S.; Tokashiki, K.; Tamura, T.; Sato, K.; Yabuta, H.; Sone, S.; Takemura, K.; Yamaguchi, H.; Lesaicherre, P.; Yamamichi, S.; Ono, H.; Yoshida, M.; Nakajima, K.; Miyasaka, Y.; Kato, Y.; Hayashi, Y.;
By: Ohnishi, S.; Tokashiki, K.; Tamura, T.; Sato, K.; Yabuta, H.; Sone, S.; Takemura, K.; Yamaguchi, H.; Lesaicherre, P.; Yamamichi, S.; Ono, H.; Yoshida, M.; Nakajima, K.; Miyasaka, Y.; Kato, Y.; Hayashi, Y.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Jitsuno, T.; Fujita, H.; Sakabe, S.; Shiraga, H.; Kato, Y.; Kanabe, T.; Kodama, R.; Kitagawa, Y.;
By: Jitsuno, T.; Fujita, H.; Sakabe, S.; Shiraga, H.; Kato, Y.; Kanabe, T.; Kodama, R.; Kitagawa, Y.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap