Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Kanai, H.
Results
1990 / IEEE
By: Koiwa, Y.; Kido, K.; Chubachi, N.; Kanai, H.; Takishima, T.; Kikuchi, J.; Takagi, T.;
By: Koiwa, Y.; Kido, K.; Chubachi, N.; Kanai, H.; Takishima, T.; Kikuchi, J.; Takagi, T.;
1992 / IEEE
By: Kanai, H.; Takishima, T.; Kikuchi, J.; Takagi, T.; Koiwa, Y.; Kido, K.; Chubachi, N.;
By: Kanai, H.; Takishima, T.; Kikuchi, J.; Takagi, T.; Koiwa, Y.; Kido, K.; Chubachi, N.;
1993 / IEEE
By: Pallikarakis, N.; Karp, P.; Kanai, H.; Bravar, D.; Bostrom, U.; Oberg, P.A.; Smith, J.;
By: Pallikarakis, N.; Karp, P.; Kanai, H.; Bravar, D.; Bostrom, U.; Oberg, P.A.; Smith, J.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Hashimoto, K.; Yamada, T.; Hamamoto, T.; Kanai, H.; Aoki, M.; Ishibashi, Y.; Kawaguchiya, H.; Ishibashi, S.;
By: Hashimoto, K.; Yamada, T.; Hamamoto, T.; Kanai, H.; Aoki, M.; Ishibashi, Y.; Kawaguchiya, H.; Ishibashi, S.;
1994 / IEEE / 0-7803-2050-6
By: Kanai, H.; Takano, M.; Takahashi, M.; Tezuka, F.; Koiwa, Y.; Chubachi, N.;
By: Kanai, H.; Takano, M.; Takahashi, M.; Tezuka, F.; Koiwa, Y.; Chubachi, N.;
1996 / IEEE
By: Aoshima, K.; Yamada, K.; Kanai, H.; Mizoshita, Y.; Ohtsuka, Y.; Toda, J.; Kanamine, M.; Kane, J.;
By: Aoshima, K.; Yamada, K.; Kanai, H.; Mizoshita, Y.; Ohtsuka, Y.; Toda, J.; Kanamine, M.; Kane, J.;
1996 / IEEE
By: Shinohara, M.; Okamoto, J.; Kanai, H.; Mutoh, H.; Mizoshita, Y.; Ohtsuka, Y.; Uematsu, Y.; Toda, J.; Koshikawa, J.; Sugawara, T.;
By: Shinohara, M.; Okamoto, J.; Kanai, H.; Mutoh, H.; Mizoshita, Y.; Ohtsuka, Y.; Uematsu, Y.; Toda, J.; Koshikawa, J.; Sugawara, T.;
1997 / IEEE
By: Mizoshita, Y.; Toda, J.; Kanamine, M.; Aoshima, K.; Yamada, K.; Kane, J.; Kanai, H.;
By: Mizoshita, Y.; Toda, J.; Kanamine, M.; Aoshima, K.; Yamada, K.; Kane, J.; Kanai, H.;
1997 / IEEE / 0-7803-4153-8
By: Ozawa, M.; Hasegawa, H.; Koiwa, Y.; Chubachi, N.; Hoshimiya, N.; Kanai, H.;
By: Ozawa, M.; Hasegawa, H.; Koiwa, Y.; Chubachi, N.; Hoshimiya, N.; Kanai, H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4095-7
By: Kamada, H.; Koiwa, Y.; Chubachi, N.; Shirato, K.; Honda, H.; Saitoh, Y.; Tezuka, F.; Sugimura, K.; Kanai, H.;
By: Kamada, H.; Koiwa, Y.; Chubachi, N.; Shirato, K.; Honda, H.; Saitoh, Y.; Tezuka, F.; Sugimura, K.; Kanai, H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4959-8
By: Nakano, Y.; Takahashi, T.; Yamashita, Y.; Kanai, H.; Shoji, H.; Onoe, A.; Ogawa, H.; Matsushita, H.;
By: Nakano, Y.; Takahashi, T.; Yamashita, Y.; Kanai, H.; Shoji, H.; Onoe, A.; Ogawa, H.; Matsushita, H.;
1999 / IEEE
By: Aoshima, K.; Hashimoto, A.; Kanamine, M.; Kanai, H.; Noma, K.; Uehara, Y.; Uematsu, Y.; Ueno, H.; Yamagishi, M.;
By: Aoshima, K.; Hashimoto, A.; Kanamine, M.; Kanai, H.; Noma, K.; Uehara, Y.; Uematsu, Y.; Ueno, H.; Yamagishi, M.;
1999 / IEEE
By: Uematsu, Y.; Okamoto, I.; Uehara, Y.; Kanai, H.; Abarra, E.N.; Sato, K.; Ueno, H.; Yamagishi, M.; Yoshida, Y.; Akimoto, H.;
By: Uematsu, Y.; Okamoto, I.; Uehara, Y.; Kanai, H.; Abarra, E.N.; Sato, K.; Ueno, H.; Yamagishi, M.; Yoshida, Y.; Akimoto, H.;
2000 / IEEE / 0-7803-6365-5
By: Hasegawa, H.; Ichiki, M.; Fushimi, E.; Koiwa, Y.; Hoshimiya, N.; Kanai, H.;
By: Hasegawa, H.; Ichiki, M.; Fushimi, E.; Koiwa, Y.; Hoshimiya, N.; Kanai, H.;
2002 / IEEE
By: Kanai, H.; Eguchi, S.; Oshima, H.; Kondo, R.; Tanaka, A.; Seyama, Y.; Shimizu, Y.; Nagasaka, K.;
By: Kanai, H.; Eguchi, S.; Oshima, H.; Kondo, R.; Tanaka, A.; Seyama, Y.; Shimizu, Y.; Nagasaka, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-7177-1
By: Inose, M.; Ikeda, J.; Kamada, H.; Koiwa, Y.; Shirado, K.; Kanai, H.; Hasegawa, H.; Honda, H.; Saito, Y.;
By: Inose, M.; Ikeda, J.; Kamada, H.; Koiwa, Y.; Shirado, K.; Kanai, H.; Hasegawa, H.; Honda, H.; Saito, Y.;
Improvement of permalloy propagation pattern for ion implanted-permalloy hybrid bubble memory device
1986 / IEEEBy: Toyooka, T.; Takeshita, M.; Hiroshima, M.; Suzuki, R.; Yanai, M.; Yoshimoto, S.; Kanai, H.; Sekino, M.; Kondo, H.;
2003 / IEEE / 4-89114-033-X
By: Takahata, K.; Uesawa, F.; Hashimoto, K.; Harakawa, H.; Mimotogi, S.; Kikuchi, K.; Endo, A.; Takeuchi, K.; Shiobara, E.; Shimizu, H.; Kanai, H.;
By: Takahata, K.; Uesawa, F.; Hashimoto, K.; Harakawa, H.; Mimotogi, S.; Kikuchi, K.; Endo, A.; Takeuchi, K.; Shiobara, E.; Shimizu, H.; Kanai, H.;
2003 / IEEE / 0-7803-7922-5
By: Hasegawa, H.; Tan-naka, Y.; Hashimoto, M.; Kato, M.; Koiwa, Y.; Kanai, H.;
By: Hasegawa, H.; Tan-naka, Y.; Hashimoto, M.; Kato, M.; Koiwa, Y.; Kanai, H.;
2003 / IEEE / 0-7803-7922-5
By: Ong, B.H.; Shirato, K.; Kanai, H.; Hasegawa, H.; Watanabe, J.; Kagaya, Y.; Iwabuchi, K.; Sutoh, M.; Koiwa, Y.;
By: Ong, B.H.; Shirato, K.; Kanai, H.; Hasegawa, H.; Watanabe, J.; Kagaya, Y.; Iwabuchi, K.; Sutoh, M.; Koiwa, Y.;