Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Kajita, A.
Results
2014 / IEEE
By: Saito, T.; Wada, M.; Sakai, T.; Kajita, A.; Sakuma, N.; Matsumoto, T.; Yamazaki, Y.; Ito, B.; Nishide, D.; Isobayashi, A.;
By: Saito, T.; Wada, M.; Sakai, T.; Kajita, A.; Sakuma, N.; Matsumoto, T.; Yamazaki, Y.; Ito, B.; Nishide, D.; Isobayashi, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-7797-4
By: Hayashi, T.; Kadomura, S.; Nagahata, K.; Tabuchi, K.; Kawashima, H.; Ohoka, Y.; Kanamura, R.; Kato, Y.; Kojima, A.; Miyajima, H.; Sakata, A.; Katata, T.; Ogawa, E.; Yamada, M.; Usui, T.; Kajita, A.; Shibata, H.;
By: Hayashi, T.; Kadomura, S.; Nagahata, K.; Tabuchi, K.; Kawashima, H.; Ohoka, Y.; Kanamura, R.; Kato, Y.; Kojima, A.; Miyajima, H.; Sakata, A.; Katata, T.; Ogawa, E.; Yamada, M.; Usui, T.; Kajita, A.; Shibata, H.;
2003 / IEEE / 4-89114-033-X
By: Ohoka, Y.; Kanamura, R.; Kadomura, S.; Shibata, H.; Kajita, A.; Tabuchi, K.; Fukasawa, M.; Miyajima, H.; Muramatsu, M.; Shibuki, S.; Nagahata, K.; Usui, T.;
By: Ohoka, Y.; Kanamura, R.; Kadomura, S.; Shibata, H.; Kajita, A.; Tabuchi, K.; Fukasawa, M.; Miyajima, H.; Muramatsu, M.; Shibuki, S.; Nagahata, K.; Usui, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Moriuchi, Y.; Nagashima, N.; Ishizuka, R.; Kanda, M.; Honda, K.; Noguchi, T.; Yamada, S.; Okamoto, Y.; Kanamura, R.; Matsubara, Y.; Usui, T.; Kajita, A.; Hachiya, T.; Miyajima, H.; Kittaka, H.; Matsuda, S.; Yoshida, T.; Habu, M.;
By: Moriuchi, Y.; Nagashima, N.; Ishizuka, R.; Kanda, M.; Honda, K.; Noguchi, T.; Yamada, S.; Okamoto, Y.; Kanamura, R.; Matsubara, Y.; Usui, T.; Kajita, A.; Hachiya, T.; Miyajima, H.; Kittaka, H.; Matsuda, S.; Yoshida, T.; Habu, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Akiyama, K.; Hachiya, T.; Tabuchi, K.; Shimayama, T.; Ito, S.; Fujita, K.; Watanabe, K.; Miyajima, H.; Yoda, T.; Shibata, H.; Kadomura, S.; Hasegawa, T.; Hayasaka, N.; Yano, H.; Nakata, R.; Kamijo, H.; Honda, K.; Inohara, M.; Kanamura, R.; Enomoto, Y.; Matsunaga, N.; Kajita, A.; Nakamura, N.; Higashi, K.;
By: Akiyama, K.; Hachiya, T.; Tabuchi, K.; Shimayama, T.; Ito, S.; Fujita, K.; Watanabe, K.; Miyajima, H.; Yoda, T.; Shibata, H.; Kadomura, S.; Hasegawa, T.; Hayasaka, N.; Yano, H.; Nakata, R.; Kamijo, H.; Honda, K.; Inohara, M.; Kanamura, R.; Enomoto, Y.; Matsunaga, N.; Kajita, A.; Nakamura, N.; Higashi, K.;
2006 / IEEE / 1-4244-0438-X
By: Hayashi, Y.; Kajita, A.; Tsumura, K.; Kawanaka, S.; Hokazono, A.; Toyoshima, Y.; Ishimaru, K.; Usui, T.; Tanimoto, H.; Goto, M.; Morooka, T.; Fujiwara, M.; Okano, K.; Inaba, S.; Ohuchi, K.; Aoki, N.; Enda, T.;
By: Hayashi, Y.; Kajita, A.; Tsumura, K.; Kawanaka, S.; Hokazono, A.; Toyoshima, Y.; Ishimaru, K.; Usui, T.; Tanimoto, H.; Goto, M.; Morooka, T.; Fujiwara, M.; Okano, K.; Inaba, S.; Ohuchi, K.; Aoki, N.; Enda, T.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Noguchi, M.; Yaegashi, T.; Tanaka, S.; Tsunoda, H.; Shibata, H.; Ohshima, S.; Koyanagi, M.; Chan, J.; Mak, A.; Higashitani, M.; Hemink, G.; Ito, F.; Miyamoto, S.; Hosono, K.; Kanda, K.; Kishida, M.; Ito, E.; Kajita, A.; Maruyama, T.; Aoi, T.; Sawamura, K.; Ino, K.; Ishibashi, S.; Ishibashi, Y.; Morikado, M.; Koyama, H.;
By: Noguchi, M.; Yaegashi, T.; Tanaka, S.; Tsunoda, H.; Shibata, H.; Ohshima, S.; Koyanagi, M.; Chan, J.; Mak, A.; Higashitani, M.; Hemink, G.; Ito, F.; Miyamoto, S.; Hosono, K.; Kanda, K.; Kishida, M.; Ito, E.; Kajita, A.; Maruyama, T.; Aoi, T.; Sawamura, K.; Ino, K.; Ishibashi, S.; Ishibashi, Y.; Morikado, M.; Koyama, H.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Kamigaichi, T.; Arai, F.; Lutze, J.; Higashitani, M.; Liang, G.; Chen, C.; Dong, Y.; Dutta, D.; Hemink, G.; Ishigaki, T.; Oowada, K.; Nakamichi, M.; Lai, C.H.; Shoji, R.; Kanamaru, Y.; Tomiie, H.; Sato, S.; Watanabe, T.; Ozawa, Y.; Kajita, A.; Meguro, H.; Liu, Y.; Watanabe, S.; Joko, Y.; Takeshita, H.; Nitsuta, H.; Endo, M.; Nishihara, K.; Murata, T.; Takekida, H.; Izumi, T.; Uchida, K.; Maruyama, T.; Kawabata, I.; Suyama, Y.; Sato, A.; Ueno, K.;
By: Kamigaichi, T.; Arai, F.; Lutze, J.; Higashitani, M.; Liang, G.; Chen, C.; Dong, Y.; Dutta, D.; Hemink, G.; Ishigaki, T.; Oowada, K.; Nakamichi, M.; Lai, C.H.; Shoji, R.; Kanamaru, Y.; Tomiie, H.; Sato, S.; Watanabe, T.; Ozawa, Y.; Kajita, A.; Meguro, H.; Liu, Y.; Watanabe, S.; Joko, Y.; Takeshita, H.; Nitsuta, H.; Endo, M.; Nishihara, K.; Murata, T.; Takekida, H.; Izumi, T.; Uchida, K.; Maruyama, T.; Kawabata, I.; Suyama, Y.; Sato, A.; Ueno, K.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2888-5
By: Nitta, H.; Kamigaichi, T.; Lutze, J.; Higashitani, M.; Liang, G.; Chen, C.; Dong, Y.; Dutta, D.; Hemink, G.; Ishigaki, T.; Owada, K.; Nakamichi, M.; Lai, C.H.; Shoji, R.; Kanemaru, Y.; Tomiie, H.; Sato, S.; Watanabe, T.; Hara, T.; Takeuchi, Y.; Ozawa, Y.; Kajita, A.; Meguro, H.; Arai, F.; Futatsuyama, T.; Endo, M.; Nishihara, N.; Murata, T.; Takekida, H.; Izumi, T.; Uchida, K.; Maruyama, T.; Kawabata, I.; Suyama, Y.; Sato, A.; Ueno, K.; Takeshita, H.; Joko, Y.; Watanabe, S.; Liu, Y.;
By: Nitta, H.; Kamigaichi, T.; Lutze, J.; Higashitani, M.; Liang, G.; Chen, C.; Dong, Y.; Dutta, D.; Hemink, G.; Ishigaki, T.; Owada, K.; Nakamichi, M.; Lai, C.H.; Shoji, R.; Kanemaru, Y.; Tomiie, H.; Sato, S.; Watanabe, T.; Hara, T.; Takeuchi, Y.; Ozawa, Y.; Kajita, A.; Meguro, H.; Arai, F.; Futatsuyama, T.; Endo, M.; Nishihara, N.; Murata, T.; Takekida, H.; Izumi, T.; Uchida, K.; Maruyama, T.; Kawabata, I.; Suyama, Y.; Sato, A.; Ueno, K.; Takeshita, H.; Joko, Y.; Watanabe, S.; Liu, Y.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-7678-7
By: Kato, S.; Watanabe, K.; Nakao, S.; Wada, M.; Sakata, A.; Hayashi, Y.; Shibata, H.; Matsunaga, N.; Kajita, A.;
By: Kato, S.; Watanabe, K.; Nakao, S.; Wada, M.; Sakata, A.; Hayashi, Y.; Shibata, H.; Matsunaga, N.; Kajita, A.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap