Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Kabana, S.
Results
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Armstrong, S.; Anjos, A.D.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
By: Armstrong, S.; Anjos, A.D.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.; Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.R.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sancheztt, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.;
By: Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.; Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.R.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sancheztt, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.;
2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Santamarina, C.; Muino, P.C.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Mello, A.G.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirkc, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.I.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usai, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
By: Santamarina, C.; Muino, P.C.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Mello, A.G.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirkc, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.I.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usai, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
Overview of the high-level trigger electron and photon selection for the ATLAS experiment at the LHC
2005 / IEEE / 0-7803-9183-7By: Mello, A.G.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Muino, P.C.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirkc, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiav, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usaib, G.; Pintoc, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
2005 / IEEE
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
2006 / IEEE
By: Armstrong, S.; Assamagan, K.A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Bellomo, M.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Carlino, G.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; Conventi, F.; De Santo, A.; de Seixas, J.M.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; dos Anjos, A.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Primavera, M.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;
By: Armstrong, S.; Assamagan, K.A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Bellomo, M.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Carlino, G.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; Conventi, F.; De Santo, A.; de Seixas, J.M.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; dos Anjos, A.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Primavera, M.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;
2006 / IEEE
By: Santamarina, C.; Muino, P.C.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Mello, A.G.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usai, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
By: Santamarina, C.; Muino, P.C.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Mello, A.G.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usai, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
2006 / IEEE
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kostantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luci, C.; Luminari, L.; Maeno, T.; Marzano, F.; Masik, J.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kostantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luci, C.; Luminari, L.; Maeno, T.; Marzano, F.; Masik, J.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;
2006 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; de Santo, A.; Diaz-Gomez, M.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haeberli, C.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.;
By: dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; de Santo, A.; Diaz-Gomez, M.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haeberli, C.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.;
Overview of the High-Level Trigger Electron and Photon Selection for the ATLAS Experiment at the LHC
2006 / IEEEBy: Mello, A.G.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Muino, P.C.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usaib, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
2007 / IEEE
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J. T. M.; Bee, C. P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J. A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P. C.; De Santo, A.; Gomez, M. D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A. G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V. P.; Pinfold, J. L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D. A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J. M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B. V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F. J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J. T. M.; Bee, C. P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J. A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P. C.; De Santo, A.; Gomez, M. D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A. G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V. P.; Pinfold, J. L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D. A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J. M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B. V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F. J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap