Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Jones, R.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Nakyobe, A.; Topley, R.; Loiacono, R.; Reed, G.; Mashanovich, G.; Jones, R.; Feldesh, R.; Lulli, G.; Gwilliam, R.;
By: Nakyobe, A.; Topley, R.; Loiacono, R.; Reed, G.; Mashanovich, G.; Jones, R.; Feldesh, R.; Lulli, G.; Gwilliam, R.;
1990 / IEEE
By: Bieser, F.; Pugh, H.G.; Arthur, A.; Rai, G.; Rudge, A.; Wright, R.; Wright, M.; Wieman, H.; Symons, T.J.M.; Ritter, H.G.; Harnden, C.W.; Olson, D.; Odyniec, G.; Nesbitt, D.; McParland, C.; Nakamura, M.; Matis, H.S.; Lee, K.; Kleinfelder, S.; Jones, R.;
By: Bieser, F.; Pugh, H.G.; Arthur, A.; Rai, G.; Rudge, A.; Wright, R.; Wright, M.; Wieman, H.; Symons, T.J.M.; Ritter, H.G.; Harnden, C.W.; Olson, D.; Odyniec, G.; Nesbitt, D.; McParland, C.; Nakamura, M.; Matis, H.S.; Lee, K.; Kleinfelder, S.; Jones, R.;
1991 / IEEE / 0-7803-0036-X
By: Jelemensky, J.; Jones, R.; Harwood, A.; Choe, H.; Ko-Min Chang; Weidner, M.; Kuo, C.; Toms, T.;
By: Jelemensky, J.; Jones, R.; Harwood, A.; Choe, H.; Ko-Min Chang; Weidner, M.; Kuo, C.; Toms, T.;
1994 / IEEE / 0-7803-1921-4
By: Jones, R.; Khamankar, R.; Jiyoung Kim; Mogab, C.J.; Sudhama, C.; Moazzami, R.; Maniar, P.; Lee, J.; Bo Jiang;
By: Jones, R.; Khamankar, R.; Jiyoung Kim; Mogab, C.J.; Sudhama, C.; Moazzami, R.; Maniar, P.; Lee, J.; Bo Jiang;
1993 / IEEE / 0-7803-1443-3
By: Khalife, S.; Nuwayhid, B.; Diouf, L.; Hakim, S.; Watkin, K.L.; Mathur, S.; Baer, L.H.; Jones, R.;
By: Khalife, S.; Nuwayhid, B.; Diouf, L.; Hakim, S.; Watkin, K.L.; Mathur, S.; Baer, L.H.; Jones, R.;
1994 / IEEE / 0-7803-1987-7
By: Sandberg, C.; Rafferty, B.; Jones, R.; Robicheaux, L.; Mohla, D.; Baen, P.;
By: Sandberg, C.; Rafferty, B.; Jones, R.; Robicheaux, L.; Mohla, D.; Baen, P.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Jiyoung Kim; Khamankar, R.; Lee, J.; Jones, R.; Bo Jiang; Moazzami, R.; Maniar, P.; Sudhama, C.;
By: Jiyoung Kim; Khamankar, R.; Lee, J.; Jones, R.; Bo Jiang; Moazzami, R.; Maniar, P.; Sudhama, C.;
PERFORMANCE COMPARISON OF THE FUTURE AERONAUTICAL TELECOMMUNICATIONS NETWORK AND THE INTERIM AEEC AR
1995 / IEEE / 0-7803-3050-1By: Maravic, S.; Gravante, B.; Ferzali, W.; Jones, R.; Weed, D.; Zacharakis, V.;
1996 / IEEE / 0-7803-3160-5
By: Jones, R.; Gollock, B.; Beach, R.; Rothenberg, J.; Davin, J.; Laumann, C.; Wing, R.; Martinez, M.; Crane, J.; Mitchell, S.; Moran, B.; Skulina, K.; Braucht, J.;
By: Jones, R.; Gollock, B.; Beach, R.; Rothenberg, J.; Davin, J.; Laumann, C.; Wing, R.; Martinez, M.; Crane, J.; Mitchell, S.; Moran, B.; Skulina, K.; Braucht, J.;
1996 / IEEE
By: Melloch, M.R.; Nolte, D.D.; Kwolek, K.M.; French, P.M.W.; Hyde, S.C.W.; Barry, N.P.; Jones, R.; Dainty, J.C.;
By: Melloch, M.R.; Nolte, D.D.; Kwolek, K.M.; French, P.M.W.; Hyde, S.C.W.; Barry, N.P.; Jones, R.; Dainty, J.C.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Jones, R.; Barry, N.P.; Dieguez, E.; Trivedi, S.B.; French, P.M.W.; Dainty, J.C.; Hyde, S.C.W.;
By: Jones, R.; Barry, N.P.; Dieguez, E.; Trivedi, S.B.; French, P.M.W.; Dainty, J.C.; Hyde, S.C.W.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Nolte, D.D.; Jones, R.; Melloch, M.R.; Kwolek, K.M.; Barry, N.P.; French, P.M.W.; Dainty, J.C.; Hyde, S.C.W.;
By: Nolte, D.D.; Jones, R.; Melloch, M.R.; Kwolek, K.M.; Barry, N.P.; French, P.M.W.; Dainty, J.C.; Hyde, S.C.W.;
1997 / IEEE / 0-7803-4125-2
By: Crane, J.; Martinez, M.; Braucht, J.; Skulina, K.; Wing, R.; Jones, R.; Golick, B.; Davin, J.; Rothenberg, J.; Burkhart, S.; Laumann, C.; Penko, F.; Moran, B.;
By: Crane, J.; Martinez, M.; Braucht, J.; Skulina, K.; Wing, R.; Jones, R.; Golick, B.; Davin, J.; Rothenberg, J.; Burkhart, S.; Laumann, C.; Penko, F.; Moran, B.;
1997 / IEEE / 0-7803-3895-2
By: Bostock, R.M.; Moore, D.F.; Jansen, R.-J.E.; Jones, R.; Townsend, J.E.;
By: Bostock, R.M.; Moore, D.F.; Jansen, R.-J.E.; Jones, R.; Townsend, J.E.;
1998 / IEEE / 1-55752-339-0
By: Kwolek, K.M.; French, P.M.W.; Barry, N.P.; Tziraki, M.; Jones, R.; Melloch, M.R.; Nolte, D.D.;
By: Kwolek, K.M.; French, P.M.W.; Barry, N.P.; Tziraki, M.; Jones, R.; Melloch, M.R.; Nolte, D.D.;
1998 / IEEE
By: Tziraki, M.; Hyde, S.C.W.; Barry, N.P.; Jones, R.; Dainty, J.C.; Melloch, M.R.; Kwolek, K.M.; Nolte, D.D.; French, P.M.W.;
By: Tziraki, M.; Hyde, S.C.W.; Barry, N.P.; Jones, R.; Dainty, J.C.; Melloch, M.R.; Kwolek, K.M.; Nolte, D.D.; French, P.M.W.;
Model sensitivity analysis in environmental emergency management: a case study in oil spill modeling
1994 / IEEE / 0-7803-2109-XBy: Jones, R.; Calhoun, D.; Lehr, W.; Overstreet, R.; Lewandowski, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Kroll, N.; Jones, R.; Bane, K.; Adolphsen, C.; Higo, T.; McCormick, D.; Wang, J.W.; Slaton, T.; Ross, M.; Miller, R.;
By: Kroll, N.; Jones, R.; Bane, K.; Adolphsen, C.; Higo, T.; McCormick, D.; Wang, J.W.; Slaton, T.; Ross, M.; Miller, R.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Klingmann, J.; Wang, J.; Ruth, R.; Rifkin, J.; Pope, R.; Pearson, C.; Miller, R.; Kroll, N.; Jones, R.; Hoag, H.; Adolphsen, C.; Watanabe, Y.; Toge, N.; Takatomi, T.; Suzuki, T.; Hitomi, N.; Higo, T.; Higashi, Y.; Funahashi, Y.; Asano, K.; van Bibber, K.; Mugge, M.; Elmer, J.;
By: Klingmann, J.; Wang, J.; Ruth, R.; Rifkin, J.; Pope, R.; Pearson, C.; Miller, R.; Kroll, N.; Jones, R.; Hoag, H.; Adolphsen, C.; Watanabe, Y.; Toge, N.; Takatomi, T.; Suzuki, T.; Hitomi, N.; Higo, T.; Higashi, Y.; Funahashi, Y.; Asano, K.; van Bibber, K.; Mugge, M.; Elmer, J.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Jones, R.; Tziraki, M.; Melloch, M.R.; Nolte, D.D.; Kwolek, K.M.; French, P.M.W.;
By: Jones, R.; Tziraki, M.; Melloch, M.R.; Nolte, D.D.; Kwolek, K.M.; French, P.M.W.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: French, P.M.W.; Mellish, R.; Dowling, K.; Jones, R.; Cole, M.J.; Parsons-Karavassilis, D.; Taylor, J.R.;
By: French, P.M.W.; Mellish, R.; Dowling, K.; Jones, R.; Cole, M.J.; Parsons-Karavassilis, D.; Taylor, J.R.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Jones, R.; Dowling, K.; Cole, M.J.; Lever, M.J.; French, P.M.W.; Parsons-Karavassilis, D.;
By: Jones, R.; Dowling, K.; Cole, M.J.; Lever, M.J.; French, P.M.W.; Parsons-Karavassilis, D.;
1999 / IEEE / 0-7803-5463-X
By: Hart, R.; Jones, R.; Cohen, L.; Duval, P.-Y.; Caprini, M.; Burckhart, D.; Badescu, E.; Amorim, A.; Alexandrov, I.; Soloviev, I.; Schweiger, D.; Ryabov, Y.; Roumiantsev, V.; Ribeiro, C.A.; Radu, A.; Qian, Z.; Moneta, L.; Mapelli, L.; Laugier, D.; Kotov, V.; Kolos, S.; Kazarov, A.;
By: Hart, R.; Jones, R.; Cohen, L.; Duval, P.-Y.; Caprini, M.; Burckhart, D.; Badescu, E.; Amorim, A.; Alexandrov, I.; Soloviev, I.; Schweiger, D.; Ryabov, Y.; Roumiantsev, V.; Ribeiro, C.A.; Radu, A.; Qian, Z.; Moneta, L.; Mapelli, L.; Laugier, D.; Kotov, V.; Kolos, S.; Kazarov, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5463-X
By: Beck, H.P.; Bee, C.; Vercesi, V.; Touchard, F.; Stanescu, C.; Scannicchio, D.A.; Rafflin, C.; Qian, Z.; Polesello, G.; Pinfold, J.; Negri, A.; Nacasch, R.; Mornacchi, G.; Mommsen, R.; Meessen, C.; Mapelli, L.; MacKinnon, J.; Jones, R.; Hemmer, F.; Green, P.; Francis, D.; Boissat, C.; Davis, R.; Duval, P.-Y.; Etienne, F.; Fede, E.;
By: Beck, H.P.; Bee, C.; Vercesi, V.; Touchard, F.; Stanescu, C.; Scannicchio, D.A.; Rafflin, C.; Qian, Z.; Polesello, G.; Pinfold, J.; Negri, A.; Nacasch, R.; Mornacchi, G.; Mommsen, R.; Meessen, C.; Mapelli, L.; MacKinnon, J.; Jones, R.; Hemmer, F.; Green, P.; Francis, D.; Boissat, C.; Davis, R.; Duval, P.-Y.; Etienne, F.; Fede, E.;
2000 / IEEE
By: Cohen, L.; Duval, P.-Y.; Caprini, M.; Burckhart, D.; Badescu, E.; Amorim, A.; Alexandrov, I.; Soloviev, I.; Schweiger, D.; Ryabov, Y.; Roumiantsev, V.; Ribeiro, C.A.; Radu, A.; Qian, Z.; Moneta, L.; Mapelli, L.; Laugier, D.; Kotov, V.; Kolos, S.; Kazarov, A.; Jones, R.; Hart, R.;
By: Cohen, L.; Duval, P.-Y.; Caprini, M.; Burckhart, D.; Badescu, E.; Amorim, A.; Alexandrov, I.; Soloviev, I.; Schweiger, D.; Ryabov, Y.; Roumiantsev, V.; Ribeiro, C.A.; Radu, A.; Qian, Z.; Moneta, L.; Mapelli, L.; Laugier, D.; Kotov, V.; Kolos, S.; Kazarov, A.; Jones, R.; Hart, R.;
2000 / IEEE / 0-7803-5908-9
By: Brown, W.; Elshabini, A.; White, W.; Yaz, E.; Yeargan, J.; Ulrich, R.; Olejniczak, K.; Singh, S.; Selvam, R.; Schmidt, W.; Schaper, L.; Salamo, G.; Nutter, D.; Schmitt, N.; Brown, R.; Waite, W.; Jones, R.; Naseem, H.; Martin, T.; Mantooth, A.; Malstrom, R.; Malshe, A.; Coubillion, R.; Barlow, F.; Ang, S.; Balda, J.;
By: Brown, W.; Elshabini, A.; White, W.; Yaz, E.; Yeargan, J.; Ulrich, R.; Olejniczak, K.; Singh, S.; Selvam, R.; Schmidt, W.; Schaper, L.; Salamo, G.; Nutter, D.; Schmitt, N.; Brown, R.; Waite, W.; Jones, R.; Naseem, H.; Martin, T.; Mantooth, A.; Malstrom, R.; Malshe, A.; Coubillion, R.; Barlow, F.; Ang, S.; Balda, J.;
1999 / IEEE / 0-7803-5726-4
By: Chugg, A.M.; Jones, R.; Sanderson, C.; Dyer, C.S.; Duncan, P.H.; Jones, C.M.S.;
By: Chugg, A.M.; Jones, R.; Sanderson, C.; Dyer, C.S.; Duncan, P.H.; Jones, C.M.S.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: French, P.M.W.; Dainty, J.C.; Dowling, K.; Barry, N.P.; Lynn, M.; Jones, R.; Hyde, S.C.W.;
By: French, P.M.W.; Dainty, J.C.; Dowling, K.; Barry, N.P.; Lynn, M.; Jones, R.; Hyde, S.C.W.;
1996 / IEEE / 1-55752-443-2
By: Jones, R.; Melloch, M.R.; Nolte, D.D.; Kwolek, K.M.; Barry, N.P.; French, P.M.W.; Dainty, J.C.; Hyde, S.C.W.;
By: Jones, R.; Melloch, M.R.; Nolte, D.D.; Kwolek, K.M.; Barry, N.P.; French, P.M.W.; Dainty, J.C.; Hyde, S.C.W.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Nolte, D.D.; French, P.M.W.; Dowling, K.; Jones, R.; Melloch, M.R.; Parsons-Karavassilis, D.; Ansari, Z.; Gu, Y.; Tziraki, M.;
By: Nolte, D.D.; French, P.M.W.; Dowling, K.; Jones, R.; Melloch, M.R.; Parsons-Karavassilis, D.; Ansari, Z.; Gu, Y.; Tziraki, M.;
2001 / IEEE
By: Itoh, M.; Dunsby, C.W.; Ansari, Z.; Parsons-Karavassilis, D.; Siegel, J.; Gu, Y.; Tziraki, M.; Melloch, M.R.; Headley, W.; Nolte, D.D.; French, P.M.W.; Jones, R.;
By: Itoh, M.; Dunsby, C.W.; Ansari, Z.; Parsons-Karavassilis, D.; Siegel, J.; Gu, Y.; Tziraki, M.; Melloch, M.R.; Headley, W.; Nolte, D.D.; French, P.M.W.; Jones, R.;
2001 / IEEE / 0-7803-7324-3
By: Caprini, M.; Dobson, M.; Burckhart-Chromek, D.; Badescu, E.; Amorim, A.; Alexandrov, I.; Wolters, H.; Soloviev, I.; Schweiger, D.; Ryabov, Y.; Roumiantsev, V.; Ribeiro, A.; Pedro, L.; Nassiakou, M.; Moneta, L.; Mineev, M.; Mapelli, L.; Lucio, L.; Liko, D.; Kotov, V.; Kolos, S.; Kazarov, A.; Jones, R.; Hart, R.; Duval, P.Y.;
By: Caprini, M.; Dobson, M.; Burckhart-Chromek, D.; Badescu, E.; Amorim, A.; Alexandrov, I.; Wolters, H.; Soloviev, I.; Schweiger, D.; Ryabov, Y.; Roumiantsev, V.; Ribeiro, A.; Pedro, L.; Nassiakou, M.; Moneta, L.; Mineev, M.; Mapelli, L.; Lucio, L.; Liko, D.; Kotov, V.; Kolos, S.; Kazarov, A.; Jones, R.; Hart, R.; Duval, P.Y.;
2002 / IEEE / 0-7803-7231-X
By: Jones, R.; Zurek, R.; Graf, J.; Mateer, B., III; Jai, B.; Johnston, M.D.; Eisen, H.;
By: Jones, R.; Zurek, R.; Graf, J.; Mateer, B., III; Jai, B.; Johnston, M.D.; Eisen, H.;
2002 / IEEE
By: Steckl, A.J.; Heikenfeld, J.C.; Dong-Seon Lee; Jones, R.; Baker, C.C.; Yongqiang Wang; Garter, M.J.;
By: Steckl, A.J.; Heikenfeld, J.C.; Dong-Seon Lee; Jones, R.; Baker, C.C.; Yongqiang Wang; Garter, M.J.;
2002 / IEEE
By: Nieminen, P.; Jones, P.; Jones, R.; Chugg, A.M.; Lovell, K.; Robbins, M.S.; Mohammadzadeh, A.;
By: Nieminen, P.; Jones, P.; Jones, R.; Chugg, A.M.; Lovell, K.; Robbins, M.S.; Mohammadzadeh, A.;
2002 / IEEE
By: Alexandrov, I.; Amorim, A.; Wolters, H.; Soloviev, I.; Schweiger, D.; Ryabov, Y.; Roumiantsev, V.; Ribeiro, A.; Pedro, L.; Nassiakou, M.; Moneta, L.; Mineev, M.; Mapelli, L.; Lucio, L.; Liko, D.; Kotov, V.; Kolos, S.; Kazarov, A.; Jones, R.; Hart, R.; Duval, P.Y.; Dobson, M.; Caprini, M.; Burckhart-Chromek, D.; Badescu, E.;
By: Alexandrov, I.; Amorim, A.; Wolters, H.; Soloviev, I.; Schweiger, D.; Ryabov, Y.; Roumiantsev, V.; Ribeiro, A.; Pedro, L.; Nassiakou, M.; Moneta, L.; Mineev, M.; Mapelli, L.; Lucio, L.; Liko, D.; Kotov, V.; Kolos, S.; Kazarov, A.; Jones, R.; Hart, R.; Duval, P.Y.; Dobson, M.; Caprini, M.; Burckhart-Chromek, D.; Badescu, E.;