Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Jamison, P.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Seo, S.; Edge, L.F.; Paruchuri, V.K.; Narayanan, V.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Doris, B.; Stathis, J.H.; Park, D.; Cartier, E.A.; Chang, J.; Brown, S.L.; Hopstaken, M.; Bruley, J.; Haran, B.; Vo, T.; Li, J.T.; Horak, D.; Fan, S.; Sankarapandian, M.; Ariyoshi, K.; Jamison, P.; Watanabe, K.; Wang, M.M.; Adam, L.; Inada, A.; Frank, M.; Kanakasabapathy, S.;
By: Seo, S.; Edge, L.F.; Paruchuri, V.K.; Narayanan, V.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Doris, B.; Stathis, J.H.; Park, D.; Cartier, E.A.; Chang, J.; Brown, S.L.; Hopstaken, M.; Bruley, J.; Haran, B.; Vo, T.; Li, J.T.; Horak, D.; Fan, S.; Sankarapandian, M.; Ariyoshi, K.; Jamison, P.; Watanabe, K.; Wang, M.M.; Adam, L.; Inada, A.; Frank, M.; Kanakasabapathy, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Jamison, P.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.P.; Narayanan, V.; Cartier, E.; Jammy, R.; Guha, S.; Lacey, D.; Newbury, J.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Linder, B.; Chudzik, M.P.; Gribelyuk, M.; Callegari, A.; Zafar, S.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Bojarczuk, N.; Frank, M.; Chan, K.K.; Steen, M.;
By: Jamison, P.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.P.; Narayanan, V.; Cartier, E.; Jammy, R.; Guha, S.; Lacey, D.; Newbury, J.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Linder, B.; Chudzik, M.P.; Gribelyuk, M.; Callegari, A.; Zafar, S.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Bojarczuk, N.; Frank, M.; Chan, K.K.; Steen, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Park, D.-G.; Luo, Z.J.; Wann, C.H.; Sekiguchi, A.; Ng, H.; Rengarajan, R.; Jammy, R.; Wise, R.; Steegen, A.; Narayanan, V.; D'Emic, C.; Kozlowski, P.; Duch, E.; Kim, H.; Ku, V.; Mitchell, R.; Chakravarti, A.; Ronsheim, P.; Gluschenkov, O.; Bruley, J.; Chudzik, M.; Chou, A.; Lee, B.H.; Jamison, P.; Edleman, N.; Zhu, W.; Nguyen, P.; Wong, K.; Cabral, C.;
By: Park, D.-G.; Luo, Z.J.; Wann, C.H.; Sekiguchi, A.; Ng, H.; Rengarajan, R.; Jammy, R.; Wise, R.; Steegen, A.; Narayanan, V.; D'Emic, C.; Kozlowski, P.; Duch, E.; Kim, H.; Ku, V.; Mitchell, R.; Chakravarti, A.; Ronsheim, P.; Gluschenkov, O.; Bruley, J.; Chudzik, M.; Chou, A.; Lee, B.H.; Jamison, P.; Edleman, N.; Zhu, W.; Nguyen, P.; Wong, K.; Cabral, C.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Nakamura, K.; Li, Y.; McFeely, F.R.; Callegari, A.; Narayanan, V.; Shahidi, G.; Ieong, M.; Jammy, R.; Wann, C.; Ng, H.; Duch, F.; Sikorski, E.; Jamison, P.; Lacey, D.; Kawano, Y.; Wajda, C.; Gribelyuk, M.; Cabral, C., Jr.; Milkove, K.; Nguyen, P.; Ku, V.; Steegen, A.; Cartier, E.; Zafar, S.;
By: Nakamura, K.; Li, Y.; McFeely, F.R.; Callegari, A.; Narayanan, V.; Shahidi, G.; Ieong, M.; Jammy, R.; Wann, C.; Ng, H.; Duch, F.; Sikorski, E.; Jamison, P.; Lacey, D.; Kawano, Y.; Wajda, C.; Gribelyuk, M.; Cabral, C., Jr.; Milkove, K.; Nguyen, P.; Ku, V.; Steegen, A.; Cartier, E.; Zafar, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Gusev, E.P.; Cabral, C., Jr.; Under, B.P.; Kim, Y.H.; Maitra, K.; Carrier, E.; Nayfeh, H.; Amos, R.; Biery, G.; Bojarczuk, N.; Callegari, A.; Carruthers, R.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Fang, S.; Frank, M.; Guha, S.; Gribelyuk, M.; Jamison, P.; Jammy, R.; Ieong, M.; Kedzierski, J.; Kozlowski, P.; Ku, K.; Lacey, D.; LaTulipe, D.; Narayanan, V.; Ng, H.; Nguyen, P.; Newbury, J.; Paruchuri, V.; Rengarajan, R.; Shahidi, G.; Steegen, A.; Steen, M.; Zafar, S.; Zhang, Y.;
By: Gusev, E.P.; Cabral, C., Jr.; Under, B.P.; Kim, Y.H.; Maitra, K.; Carrier, E.; Nayfeh, H.; Amos, R.; Biery, G.; Bojarczuk, N.; Callegari, A.; Carruthers, R.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Fang, S.; Frank, M.; Guha, S.; Gribelyuk, M.; Jamison, P.; Jammy, R.; Ieong, M.; Kedzierski, J.; Kozlowski, P.; Ku, K.; Lacey, D.; LaTulipe, D.; Narayanan, V.; Ng, H.; Nguyen, P.; Newbury, J.; Paruchuri, V.; Rengarajan, R.; Shahidi, G.; Steegen, A.; Steen, M.; Zafar, S.; Zhang, Y.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Jamison, P.; Gusev, E.P.; Bedell, S.; Chu, J.O.; Huiling Shang; Ying Zhang; Guarini, K.W.; Meikei Ieong; Sadana, D.; Copel, M.; Ott, J.A.;
By: Jamison, P.; Gusev, E.P.; Bedell, S.; Chu, J.O.; Huiling Shang; Ying Zhang; Guarini, K.W.; Meikei Ieong; Sadana, D.; Copel, M.; Ott, J.A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Maitra, K.; McFeely, F.R.; Kozlowski, P.; Jamison, P.; Duch, E.; D'Emic, C.; Chudzik, M.; LaTulipe, D.; Carruthers, R.; Callegari, A.; Bojarczuk, N.; Carrier, E.; Cabral, C., Jr.; Zafar, S.; Narayanan, V.; Gusev, E.P.; Steen, M.; Paruchuri, V.; Newbury, J.;
By: Maitra, K.; McFeely, F.R.; Kozlowski, P.; Jamison, P.; Duch, E.; D'Emic, C.; Chudzik, M.; LaTulipe, D.; Carruthers, R.; Callegari, A.; Bojarczuk, N.; Carrier, E.; Cabral, C., Jr.; Zafar, S.; Narayanan, V.; Gusev, E.P.; Steen, M.; Paruchuri, V.; Newbury, J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Andreoni, W.; Curioni, A.; Gribelyuk, M.; Jammy, R.; Feely, F.M.; Lacey, D.; Shepard, J.; D'Emic, C.; Narayanan, V.; Gusev, E.; Zafar, S.; Carrier, E.; Jamison, P.; Callegari, A.; Pignedoli, C.;
By: Andreoni, W.; Curioni, A.; Gribelyuk, M.; Jammy, R.; Feely, F.M.; Lacey, D.; Shepard, J.; D'Emic, C.; Narayanan, V.; Gusev, E.; Zafar, S.; Carrier, E.; Jamison, P.; Callegari, A.; Pignedoli, C.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Zafar, S.; Jammy, R.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.; Narayanan, V.; Jamison, P.; McFeely, F.R.; Callegari, A.;
By: Zafar, S.; Jammy, R.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.; Narayanan, V.; Jamison, P.; McFeely, F.R.; Callegari, A.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Paruchuri, V.K.; Basker, V.S.; Linder, B.P.; Copel, M.; Jamison, P.; Narayanan, V.; McFeely, F.R.; Cartier, E.; Shahidi, G.; Jammy, R.; Guha, S.; Deligianni, H.; Rubino, J.; Sleight, J.; Steen, M.; Shaw, T.; Carruthers, R.; Lim, D.; Haight, R.;
By: Paruchuri, V.K.; Basker, V.S.; Linder, B.P.; Copel, M.; Jamison, P.; Narayanan, V.; McFeely, F.R.; Cartier, E.; Shahidi, G.; Jammy, R.; Guha, S.; Deligianni, H.; Rubino, J.; Sleight, J.; Steen, M.; Shaw, T.; Carruthers, R.; Lim, D.; Haight, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-9058-X
By: Li, Y.; Hagan, J.; Boyd, D.; Jamison, P.; Settlemyer, K.; Park, D.G.; Doris, B.; Leong, M.; Jammy, R.; Guarini, K.; Gousev, E.; Callegari, S.; Narayanan, V.; Linder, B.; Dobuzinsky, D.; Mezzapelli, J.; Staendert, T.;
By: Li, Y.; Hagan, J.; Boyd, D.; Jamison, P.; Settlemyer, K.; Park, D.G.; Doris, B.; Leong, M.; Jammy, R.; Guarini, K.; Gousev, E.; Callegari, S.; Narayanan, V.; Linder, B.; Dobuzinsky, D.; Mezzapelli, J.; Staendert, T.;
2005 / IEEE / 0-7803-9268-X
By: Cai, J.; Jammy, R.; Linder, B.; Jamison, P.; Acevedo, J.; Price, B.; Newbury, J.; Narayanan, V.; Natzle, W.; Copel, M.; Zafar, S.; Cartier, E.; Gribelyuk, M.; Gignac, L.; Carruthers, R.; Gusev, E.P.; Cabral, C.; Kim, Y.H.; Ieong, M.;
By: Cai, J.; Jammy, R.; Linder, B.; Jamison, P.; Acevedo, J.; Price, B.; Newbury, J.; Narayanan, V.; Natzle, W.; Copel, M.; Zafar, S.; Cartier, E.; Gribelyuk, M.; Gignac, L.; Carruthers, R.; Gusev, E.P.; Cabral, C.; Kim, Y.H.; Ieong, M.;
2006 / IEEE
By: Jamison, P.; Gusev, E.P.; Paruchuri, V.K.; Linder, B.P.; Maitra, K.; Narayanan, V.; Frank, M.M.; Lacey, D.L.; Carruthers, R.; Cartier, E.; Arnold, J.; La Tulipe, D.; Steen, M.L.;
By: Jamison, P.; Gusev, E.P.; Paruchuri, V.K.; Linder, B.P.; Maitra, K.; Narayanan, V.; Frank, M.M.; Lacey, D.L.; Carruthers, R.; Cartier, E.; Arnold, J.; La Tulipe, D.; Steen, M.L.;
2006 / IEEE / 1-4244-0005-8
By: Singco, G.; Narayanan, V.; Gribelyuk, M.; Flaitz, P.; Sikorski, E.; Newbury, J.; Kozlowski, P.; Jamison, P.; Steen, M.; Rubino, J.; Wang, X.; Bojarczuk, N.; Linder, B.; Cartier, E.; Paruchuri, V.; Frank, M.M.; Lee, K.L.; Ieong, M.; Jammy, R.; Oldiges, P.; Guha, S.; Zafar, S.;
By: Singco, G.; Narayanan, V.; Gribelyuk, M.; Flaitz, P.; Sikorski, E.; Newbury, J.; Kozlowski, P.; Jamison, P.; Steen, M.; Rubino, J.; Wang, X.; Bojarczuk, N.; Linder, B.; Cartier, E.; Paruchuri, V.; Frank, M.M.; Lee, K.L.; Ieong, M.; Jammy, R.; Oldiges, P.; Guha, S.; Zafar, S.;
2006 / IEEE / 1-4244-0005-8
By: Paruchuri, V.K.; Bojarczuk, N.A.; Narayanan, V.; Chen, T.C.; Shahidi, G.; Guha, S.; Ieong, M.; Chudzik, M.P.; Jammy, R.; Ronsheim, P.; Batson, P.E.; Wang, Y.; Lacey, D.L.; Locquet, J.-P.; Jamison, P.; Callegari, A.; Cartier, E.; Steen, M.; Copel, M.; Arnold, J.; Brown, S.; Stathis, J.; Zafar, S.; Kim, Y.H.; Doris, B.; Linder, B.P.;
By: Paruchuri, V.K.; Bojarczuk, N.A.; Narayanan, V.; Chen, T.C.; Shahidi, G.; Guha, S.; Ieong, M.; Chudzik, M.P.; Jammy, R.; Ronsheim, P.; Batson, P.E.; Wang, Y.; Lacey, D.L.; Locquet, J.-P.; Jamison, P.; Callegari, A.; Cartier, E.; Steen, M.; Copel, M.; Arnold, J.; Brown, S.; Stathis, J.; Zafar, S.; Kim, Y.H.; Doris, B.; Linder, B.P.;
2006 / IEEE / 978-1-4244-3308-7
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; O'Neill, J.; Doris, B.; Bu, H.; Kozlowski, P.; Sadana, D.; Wang, J.; Di, M.; Herman, J.; Smalley, M.; Levin, T.; Upham, A.; Johnson, R.; Zhu, Z.; Loesing, R.; Li, X.; Holt, J.; Jamison, P.; Seo, S.-C.; Haran, B.; Edge, L.F.; Furukawa, T.; Faltermeier, J.; Li, J.; Zhu, Y.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kulkarni, P.; Kanakasabapathy, S.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; O'Neill, J.; Doris, B.; Bu, H.; Kozlowski, P.; Sadana, D.; Wang, J.; Di, M.; Herman, J.; Smalley, M.; Levin, T.; Upham, A.; Johnson, R.; Zhu, Z.; Loesing, R.; Li, X.; Holt, J.; Jamison, P.; Seo, S.-C.; Haran, B.; Edge, L.F.; Furukawa, T.; Faltermeier, J.; Li, J.; Zhu, Y.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kulkarni, P.; Kanakasabapathy, S.;
2006 / IEEE / 978-1-4244-3308-7
By: Choi, C.; Callegari, A.; Jagannathan, H.; Choi, K.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.; Iacoponi, J.; Stathis, J.; Brown, S.; Yang, Q.; Edge, L.; Linder, B.; Kerber, A.; Bruley, J.; Zafar, S.; Cartier, E.; Wang, M.; Jamison, P.; Frank, M.; Ando, T.;
By: Choi, C.; Callegari, A.; Jagannathan, H.; Choi, K.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.; Iacoponi, J.; Stathis, J.; Brown, S.; Yang, Q.; Edge, L.; Linder, B.; Kerber, A.; Bruley, J.; Zafar, S.; Cartier, E.; Wang, M.; Jamison, P.; Frank, M.; Ando, T.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5641-3
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Edge, L.F.; Kimball, A.; Kanakasabapathy, S.; Xiu, K.; Schmitz, S.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Holmes, S.; Mehta, S.; Yang, D.; Upham, A.; Seo, S.-C.; Herman, J.L.; Johnson, R.; Zhu, Y.; Jamison, P.; Haran, B.S.; Zhu, Z.; Vanamurth, L.H.; Fan, S.; Horak, D.; Bu, H.; Oldiges, P.J.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; McHerron, D.; O'Neill, J.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Edge, L.F.; Kimball, A.; Kanakasabapathy, S.; Xiu, K.; Schmitz, S.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Holmes, S.; Mehta, S.; Yang, D.; Upham, A.; Seo, S.-C.; Herman, J.L.; Johnson, R.; Zhu, Y.; Jamison, P.; Haran, B.S.; Zhu, Z.; Vanamurth, L.H.; Fan, S.; Horak, D.; Bu, H.; Oldiges, P.J.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; McHerron, D.; O'Neill, J.; Doris, B.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5063-3
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Shahidi, G.; Leobondung, E.; Haensch, W.; Doris, B.; O'Neill, J.; McHerron, D.; Kozlowski, P.; Sadana, D.K.; Bu, H.; Horak, D.; Fan, S.; Faltermeier, J.; Vanamurth, L.H.; Zhu, Z.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.-C.; Upham, A.; Yang, D.; Majumdar, A.; Kulkarni, P.; Cai, J.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Haran, B.S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Mehta, S.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Holmes, S.; Jagannathan, B.;
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Shahidi, G.; Leobondung, E.; Haensch, W.; Doris, B.; O'Neill, J.; McHerron, D.; Kozlowski, P.; Sadana, D.K.; Bu, H.; Horak, D.; Fan, S.; Faltermeier, J.; Vanamurth, L.H.; Zhu, Z.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.-C.; Upham, A.; Yang, D.; Majumdar, A.; Kulkarni, P.; Cai, J.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Haran, B.S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Mehta, S.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Holmes, S.; Jagannathan, B.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9129-2
By: Zhu, Z.; Haran, B.S.; Bu, H.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; O'Neill, J.; Doris, B.; Shahidi, G.; Fan, S.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.; Upham, A.; Mehta, S.; He, H.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kanakasabapathy, S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Kuss, J.; Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.;
By: Zhu, Z.; Haran, B.S.; Bu, H.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; O'Neill, J.; Doris, B.; Shahidi, G.; Fan, S.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.; Upham, A.; Mehta, S.; He, H.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kanakasabapathy, S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Kuss, J.; Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap