Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Jacoby, J.
Results
2000 / IEEE
By: Neuner, U.; Bock, R.; Sarfaty, M.; Maron, Y.; Varentsov, D.; Udrea, S.; Tauschwitz, A.; Tahir, N.A.; Roth, M.; Wahl, H.; Constantin, C.; Dewald, E.; Funk, U.N.; Geissel, M.; Hakuli, S.; Hoffmann, D.H.H.; Jacoby, J.; Knobloch, R.; Kozyreva, A.; Penache, D.; Pirzadeh, P.; Rosmej, F.B.; Rosmej, O.;
By: Neuner, U.; Bock, R.; Sarfaty, M.; Maron, Y.; Varentsov, D.; Udrea, S.; Tauschwitz, A.; Tahir, N.A.; Roth, M.; Wahl, H.; Constantin, C.; Dewald, E.; Funk, U.N.; Geissel, M.; Hakuli, S.; Hoffmann, D.H.H.; Jacoby, J.; Knobloch, R.; Kozyreva, A.; Penache, D.; Pirzadeh, P.; Rosmej, F.B.; Rosmej, O.;
2014 / IEEE
By: Fedjuschenko, A.; Cistakov, K.; Xu, G.; Loisch, G.; Jacoby, J.; Iberler, M.; Senzel, F.; Schonlein, A.; Rienecker, T.; Liu, Y.; Wiechula, J.;
By: Fedjuschenko, A.; Cistakov, K.; Xu, G.; Loisch, G.; Jacoby, J.; Iberler, M.; Senzel, F.; Schonlein, A.; Rienecker, T.; Liu, Y.; Wiechula, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2669-5
By: Jacoby, J.; Stowe, S.; Stetter, M.; Spiller, P.; Laux, W.; Dornik, M.; Hoffmann, D.H.H.; Seelig, W.; Wetzler, H.; Suss, W.; Roth, M.; Stockl, C.;
By: Jacoby, J.; Stowe, S.; Stetter, M.; Spiller, P.; Laux, W.; Dornik, M.; Hoffmann, D.H.H.; Seelig, W.; Wetzler, H.; Suss, W.; Roth, M.; Stockl, C.;
Progress In X-ray Laser Research With Glass And Krf Laser Drivers At The Serc Central Laser Facility
1992 / IEEE / 0-7803-0526-4By: Key, M.H.; Barbee, T.; Zhang, J.; Yuan, G.; Uhomoibin, J.; Trebes, J.; Tallents, G.J.; Smith, P.J.; Smith, C.; Stark, G.E.; Shiraga, H.; Shen, H.Z.; Raucourt, J.P.; Bilfort, P.; Browne, M.T.; Burge, R.E.; Carillon, A.; Carlo, D.; Carter, M.; Charalambous, P.; Dhez, P.; Dwivedi, L.; Jacoby, J.; Jaegle, P.; Jamelot, G.; Kato, Y.; Kidd, A.; Klisnick, A.; Kodama, R.; Krishnan, J.; Lewis, C.L.S.; Mrowka, S.; Murai, K.; Neely, D.; Norreys, P.; Nugent, K.; O'Neile, D.; Pert, G.J.; Ramsden, S.A.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Dewald, E.; Hoffmann, D.H.H.; Gei el, M.; Neff, S.; Penache, D.; Jacoby, J.; Tauschwitz, A.; Wahl, H.; Niemann, C.; Roth, M.; Knobloch, R.;
By: Dewald, E.; Hoffmann, D.H.H.; Gei el, M.; Neff, S.; Penache, D.; Jacoby, J.; Tauschwitz, A.; Wahl, H.; Niemann, C.; Roth, M.; Knobloch, R.;
Optical diagnostics of plasmas created by relativistic heavy ion beam interaction with solid targets
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0By: Dewald, E.; Tahir, N.; Roth, M.; Bock, R.; Constantin, C.; Niemann, C.; Udrea, S.; Varentsov, D.; Wieser, J.; Kozyreva, A.; Tauschwitz, A.; Hoffmann, D.H.; Neuner, U.; Shutov, A.; Jacoby, J.;
Optical diagnostics of plasmas created by relativistic heavy ion beam interaction with solid targets
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8By: Neuner, U.; Roth, M.; Tauschwitz, A.; Shutov, A.; Kozyreva, A.; Tahir, N.A.; Varentsov, D.; Wieser, J.; Jacoby, J.; Udrea, S.; Niemann, C.; Constantin, C.; Dewald, E.; Hoffmann, D.H.H.; Bock, R.;
2003 / IEEE
By: Dewald, E.; Constantin, C.; Niemann, C.; Udrea, S.; Jacoby, J.; Wieser, J.; Bock, R.; Tahir, N.A.; Kozyreva, A.; Shutov, A.; Schlegel, T.; Tauschwitz, A.; Hoffmann, D.H.H.; Varentsov, D.;
By: Dewald, E.; Constantin, C.; Niemann, C.; Udrea, S.; Jacoby, J.; Wieser, J.; Bock, R.; Tahir, N.A.; Kozyreva, A.; Shutov, A.; Schlegel, T.; Tauschwitz, A.; Hoffmann, D.H.H.; Varentsov, D.;
2005 / IEEE / 0-7803-9053-9
By: Wiley, E.; Gervasi, D.; Schweitzer, C.; Jacoby, J.; Schick, P.; Linn Roth, G.;
By: Wiley, E.; Gervasi, D.; Schweitzer, C.; Jacoby, J.; Schick, P.; Linn Roth, G.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1929-6
By: Klump, B.; Koubeck, B.; Jacoby, J.; Hock, C.; Fedjuschenko, A.; Esser, K.; Lee, B.J.; Schoenlein, A.; Rienecker, T.; Iberler, M.; Pfaff, M.; Otto, J.;
By: Klump, B.; Koubeck, B.; Jacoby, J.; Hock, C.; Fedjuschenko, A.; Esser, K.; Lee, B.J.; Schoenlein, A.; Rienecker, T.; Iberler, M.; Pfaff, M.; Otto, J.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Byung-Joon Lee; Jacoby, J.; Iberler, M.; Rienecker, T.; Wiechula, J.;
By: Byung-Joon Lee; Jacoby, J.; Iberler, M.; Rienecker, T.; Wiechula, J.;