Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Ishibashi, Y.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-1025-4
By: Anzai, H.; Kanamaru, Y.; Takata, S.; Hanaoka, R.; Ishibashi, Y.;
By: Anzai, H.; Kanamaru, Y.; Takata, S.; Hanaoka, R.; Ishibashi, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0255-6
By: Sugawara, S.; Fukushima, N.; Ishibashi, Y.; Miyashita, Y.; Psannis, K.E.;
By: Sugawara, S.; Fukushima, N.; Ishibashi, Y.; Miyashita, Y.; Psannis, K.E.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Hashimoto, K.; Yamada, T.; Hamamoto, T.; Kanai, H.; Aoki, M.; Ishibashi, Y.; Kawaguchiya, H.; Ishibashi, S.;
By: Hashimoto, K.; Yamada, T.; Hamamoto, T.; Kanai, H.; Aoki, M.; Ishibashi, Y.; Kawaguchiya, H.; Ishibashi, S.;
1995 / IEEE / 0-7803-3026-9
By: Ishibashi, Y.; Amasaki, J.; Uenishi, T.; Ohshima, K.; Tachibana, H.; Sakiyama, H.; Nagata, M.;
By: Ishibashi, Y.; Amasaki, J.; Uenishi, T.; Ohshima, K.; Tachibana, H.; Sakiyama, H.; Nagata, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2940-6
By: Orikasa, S.; Shibata, M.; Ishibashi, Y.; Fujimoto, K.; Suzuki, T.; Shirai, S.; Ioritani, N.; Aida, S.;
By: Orikasa, S.; Shibata, M.; Ishibashi, Y.; Fujimoto, K.; Suzuki, T.; Shirai, S.; Ioritani, N.; Aida, S.;
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Nakasugi, T.; Shibata, T.; Takashima, D.; Hamamoto, T.; Niiyama, H.; Shino, T.; Ishibashi, Y.; Aoki, H.; Habu, M.; Noauchi, M.; Ozaki, T.; Sugihara, K.; Yamaguchi, H.; Sato, S.; Magoshi, T.; Hattori, K.; Nishimura, E.; Kato, Y.;
By: Nakasugi, T.; Shibata, T.; Takashima, D.; Hamamoto, T.; Niiyama, H.; Shino, T.; Ishibashi, Y.; Aoki, H.; Habu, M.; Noauchi, M.; Ozaki, T.; Sugihara, K.; Yamaguchi, H.; Sato, S.; Magoshi, T.; Hattori, K.; Nishimura, E.; Kato, Y.;
1996 / IEEE / 0-7803-3342-X
By: Yamada, T.; Ozaki, T.; Aoki, M.; Hamamoto, T.; Ishibashi, Y.; Kawaguchiya, H.;
By: Yamada, T.; Ozaki, T.; Aoki, M.; Hamamoto, T.; Ishibashi, Y.; Kawaguchiya, H.;
1997 / IEEE / 4-930813-75-1
By: Kohyama, Y.; Ozaki, T.; Yoshida, S.; Ishibashi, Y.; Nitta, H.; Inoue, S.; Hayasaka, N.; Nakamura, K.; Aoyama, T.; Imai, K.;
By: Kohyama, Y.; Ozaki, T.; Yoshida, S.; Ishibashi, Y.; Nitta, H.; Inoue, S.; Hayasaka, N.; Nakamura, K.; Aoyama, T.; Imai, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4770-6
By: Tanaka, S.; Kawamura, D.; Itoh, M.; Azuma, T.; Ozaki, T.; Onishi, Y.; Ishibashi, Y.; Tsuchida, K.; Kohyama, Y.; Inoue, S.; Kondoh, T.; Kyoh, S.; Shiratake, S.;
By: Tanaka, S.; Kawamura, D.; Itoh, M.; Azuma, T.; Ozaki, T.; Onishi, Y.; Ishibashi, Y.; Tsuchida, K.; Kohyama, Y.; Inoue, S.; Kondoh, T.; Kyoh, S.; Shiratake, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Ishibashi, Y.; Kohyama, Y.; Niwa, S.; Izuha, M.; Yamazaki, S.; Fukuzumi, Y.; Kiyotoshi, M.; Natori, K.; Aoyama, T.; Fukushima, N.; Eguchi, K.; Hieda, K.; Okumura, K.; Arikado, T.;
By: Ishibashi, Y.; Kohyama, Y.; Niwa, S.; Izuha, M.; Yamazaki, S.; Fukuzumi, Y.; Kiyotoshi, M.; Natori, K.; Aoyama, T.; Fukushima, N.; Eguchi, K.; Hieda, K.; Okumura, K.; Arikado, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5735-3
By: Ibaraki, T.; Kikuchi, Y.; Takahashi, Y.; Ogawa, S.; Ishibashi, Y.; Oohara, T.;
By: Ibaraki, T.; Kikuchi, Y.; Takahashi, Y.; Ogawa, S.; Ishibashi, Y.; Oohara, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5410-9
By: Fukuzumi, Y.; Ishibashi, Y.; Asano, M.; Kubota, T.; Nakamura, K.; Shimada, A.; Lin, J.; Yamazaki, S.; Hosaka, K.; Tsunoda, K.; Niwa, S.; Aoyama, T.; Izuha, M.; Tomita, H.; Nakabayashi, M.; Kiyotoshi, M.; Nakahira, J.; Eguchi, K.; Hieda, K.; Kohyama, Y.;
By: Fukuzumi, Y.; Ishibashi, Y.; Asano, M.; Kubota, T.; Nakamura, K.; Shimada, A.; Lin, J.; Yamazaki, S.; Hosaka, K.; Tsunoda, K.; Niwa, S.; Aoyama, T.; Izuha, M.; Tomita, H.; Nakabayashi, M.; Kiyotoshi, M.; Nakahira, J.; Eguchi, K.; Hieda, K.; Kohyama, Y.;
2000 / IEEE / 0-7803-6438-4
By: Suzuki, T.; Sato, A.; Fukuzumi, Y.; Kohyama, Y.; Nakamura, S.; Hashimoto, K.; Hieda, K.; Matsunaga, D.; Tomita, H.; Kurahashi, T.; Shimada, A.; Minakata, H.; Nakabayashi, M.; Lin, J.; Fukuda, M.; Tsunoda, K.; Nakamura, K.; Hatada, A.; Ishibashi, Y.;
By: Suzuki, T.; Sato, A.; Fukuzumi, Y.; Kohyama, Y.; Nakamura, S.; Hashimoto, K.; Hieda, K.; Matsunaga, D.; Tomita, H.; Kurahashi, T.; Shimada, A.; Minakata, H.; Nakabayashi, M.; Lin, J.; Fukuda, M.; Tsunoda, K.; Nakamura, K.; Hatada, A.; Ishibashi, Y.;
2001 / IEEE / 0-7803-6520-8
By: Hatada, A.; Sato, A.; Kurahashi, T.; Fukuda, M.; Fukuzumi, Y.; Tsunoda, K.; Shimada, A.; Minakata, H.; Suzuki, T.; Lin, J.; Shiah, C.M.; Kohyama, Y.; Nakamura, S.; Hashimoto, K.; Hieda, K.; Matsunaga, D.; Nakabayashi, M.; Suzuki, R.; Chu, C.M.; Liu, W.C.; Ito, E.; Nishikawa, N.; Tomita, H.; Ishibashi, Y.; Sun, P.H.;
By: Hatada, A.; Sato, A.; Kurahashi, T.; Fukuda, M.; Fukuzumi, Y.; Tsunoda, K.; Shimada, A.; Minakata, H.; Suzuki, T.; Lin, J.; Shiah, C.M.; Kohyama, Y.; Nakamura, S.; Hashimoto, K.; Hieda, K.; Matsunaga, D.; Nakabayashi, M.; Suzuki, R.; Chu, C.M.; Liu, W.C.; Ito, E.; Nishikawa, N.; Tomita, H.; Ishibashi, Y.; Sun, P.H.;
2003 / IEEE / 0-7803-7661-7
By: Yasuda, H.; Aoki, T.; Hasegawa, F.; Kogure, T.; Ishibashi, Y.; Chih-Chang Hsu;
By: Yasuda, H.; Aoki, T.; Hasegawa, F.; Kogure, T.; Ishibashi, Y.; Chih-Chang Hsu;
2002 / IEEE / 0-7803-7631-5
By: Kogure, T.; Ito, M.; Hasegawa, F.; Tanno, Y.; Ishibashi, Y.; Hiki, H.;
By: Kogure, T.; Ito, M.; Hasegawa, F.; Tanno, Y.; Ishibashi, Y.; Hiki, H.;
2002 / IEEE / 0-7803-7414-2
By: Iwata, M.; Ishibashi, Y.; Ricinschi, D.; Okuyama, M.; Mitoseriu, L.;
By: Iwata, M.; Ishibashi, Y.; Ricinschi, D.; Okuyama, M.; Mitoseriu, L.;
2003 / IEEE / 0-7695-1873-7
By: Watabe, S.; Ishibashi, Y.; Hasegawa, F.; Chih-Chang Hsu; Mishima, H.; Kawabata, M.; Tanno, Y.; Hiki, H.; Kogure, T.; Ito, M.;
By: Watabe, S.; Ishibashi, Y.; Hasegawa, F.; Chih-Chang Hsu; Mishima, H.; Kawabata, M.; Tanno, Y.; Hiki, H.; Kogure, T.; Ito, M.;
2003 / IEEE / 4-89114-033-X
By: Ichige, M.; Takeuchi, Y.; Shirota, R.; Momodomi, M.; Hemink, G.; Pham, T.; Higashitani, M.; Iizuka, H.; Minami, T.; Kamata, H.; Arai, N.; Tamon, S.; Kawai, N.; Iguchi, T.; Takahashi, S.; Miwa, T.; Miyazaki, S.; Meguro, H.; Sugimae, K.; Sato, A.; Matsui, M.; Kamigaichi, T.; Kutsukake, H.; Ishibashi, Y.; Saito, M.; Mori, S.;
By: Ichige, M.; Takeuchi, Y.; Shirota, R.; Momodomi, M.; Hemink, G.; Pham, T.; Higashitani, M.; Iizuka, H.; Minami, T.; Kamata, H.; Arai, N.; Tamon, S.; Kawai, N.; Iguchi, T.; Takahashi, S.; Miwa, T.; Miyazaki, S.; Meguro, H.; Sugimae, K.; Sato, A.; Matsui, M.; Kamigaichi, T.; Kutsukake, H.; Ishibashi, Y.; Saito, M.; Mori, S.;
2006 / IEEE / 0-7803-9704-5
By: Sadiq, M.A.; Igarashi, K.; Tanaka, K.; Androuchko, L.; Kinoue, T.; Ishibashi, Y.; Tomioka, Y.; Juzoji, H.; Nakajima, I.;
By: Sadiq, M.A.; Igarashi, K.; Tanaka, K.; Androuchko, L.; Kinoue, T.; Ishibashi, Y.; Tomioka, Y.; Juzoji, H.; Nakajima, I.;
2006 / IEEE / 0-7803-9704-5
By: Ishibashi, Y.; Tomioka, Y.; Igarashi, K.; Tanaka, K.; Androuchko, V.; Jozuji, H.; Sadiq, M.A.; Nakajima, I.;
By: Ishibashi, Y.; Tomioka, Y.; Igarashi, K.; Tanaka, K.; Androuchko, V.; Jozuji, H.; Sadiq, M.A.; Nakajima, I.;
2007 / IEEE / 1-4244-0942-X
By: Ishibashi, Y.; Nakajima, I.; Chernyakov, S.; Mukarov, M.; Mikhail, V.; Okayasu, I.; Hara, A.;
By: Ishibashi, Y.; Nakajima, I.; Chernyakov, S.; Mukarov, M.; Mikhail, V.; Okayasu, I.; Hara, A.;
Photochromic Reaction Control by Laser-induced Multiphoton Absorption Process in Fulgide derivatives
2007 / IEEE / 978-1-4244-1173-3By: Irie, M.; Kobatake, S.; Miyasaka, H.; Ishibashi, Y.; Yokoyama, Y.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Noguchi, M.; Yaegashi, T.; Tanaka, S.; Tsunoda, H.; Shibata, H.; Ohshima, S.; Koyanagi, M.; Chan, J.; Mak, A.; Higashitani, M.; Hemink, G.; Ito, F.; Miyamoto, S.; Hosono, K.; Kanda, K.; Kishida, M.; Ito, E.; Kajita, A.; Maruyama, T.; Aoi, T.; Sawamura, K.; Ino, K.; Ishibashi, S.; Ishibashi, Y.; Morikado, M.; Koyama, H.;
By: Noguchi, M.; Yaegashi, T.; Tanaka, S.; Tsunoda, H.; Shibata, H.; Ohshima, S.; Koyanagi, M.; Chan, J.; Mak, A.; Higashitani, M.; Hemink, G.; Ito, F.; Miyamoto, S.; Hosono, K.; Kanda, K.; Kishida, M.; Ito, E.; Kajita, A.; Maruyama, T.; Aoi, T.; Sawamura, K.; Ino, K.; Ishibashi, S.; Ishibashi, Y.; Morikado, M.; Koyama, H.;
Collaborative work using heterogeneous haptic interface devices: Mapping workspaces to virtual space
2009 / IEEE / 978-1-4244-2975-2By: Sugawara, S.; Ishibashi, Y.; Tatematsu, A.;
2006 / IEEE / 978-1-4244-3308-7
By: Yaegashi, T.; Okamura, T.; Watanabe, T.; Aoki, N.; Kondo, M.; Izumida, T.; Koyama, H.; Sugimae, K.; Ishibashi, Y.; Maekawa, H.; Sakuma, M.; Kutsukake, H.; Umemura, M.; Narita, K.; Watanabe, S.; Sugi, M.; Ozawa, Y.; Kai, T.; Sekine, K.; Akahori, H.; Sakamoto, W.; Matsunaga, Y.; Toba, T.; Sakuma, K.; Gomikawa, K.; Komiya, K.; Nagashima, H.;
By: Yaegashi, T.; Okamura, T.; Watanabe, T.; Aoki, N.; Kondo, M.; Izumida, T.; Koyama, H.; Sugimae, K.; Ishibashi, Y.; Maekawa, H.; Sakuma, M.; Kutsukake, H.; Umemura, M.; Narita, K.; Watanabe, S.; Sugi, M.; Ozawa, Y.; Kai, T.; Sekine, K.; Akahori, H.; Sakamoto, W.; Matsunaga, Y.; Toba, T.; Sakuma, K.; Gomikawa, K.; Komiya, K.; Nagashima, H.;
1960 / IEEE
By: Goto, E.; Wada, E.; Soma, T.; Ishida, H.; Ishibashi, Y.; Matsuoka, Y.; Moto-Oka, T.; Nakagawa, K.; Nakazawa, K.; Murata, K.;
By: Goto, E.; Wada, E.; Soma, T.; Ishida, H.; Ishibashi, Y.; Matsuoka, Y.; Moto-Oka, T.; Nakagawa, K.; Nakazawa, K.; Murata, K.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5641-3
By: Komiya, K.; Sakuma, K.; Toba, T.; Okamura, T.; Yaegashi, T.; Sakamoto, W.; Watanabe, T.; Aoki, N.; Izumida, T.; Kondo, M.; Umemura, M.; Kawada, N.; Sugi, M.; Nagashima, H.; Ishibashi, Y.; Matsunaga, Y.;
By: Komiya, K.; Sakuma, K.; Toba, T.; Okamura, T.; Yaegashi, T.; Sakamoto, W.; Watanabe, T.; Aoki, N.; Izumida, T.; Kondo, M.; Umemura, M.; Kawada, N.; Sugi, M.; Nagashima, H.; Ishibashi, Y.; Matsunaga, Y.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-3543-2
By: Yamada, T.; Suganuma, H.; Iwata, D.; Ishibashi, Y.; Kyungmin Jang; Takemura, Y.;
By: Yamada, T.; Suganuma, H.; Iwata, D.; Ishibashi, Y.; Kyungmin Jang; Takemura, Y.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap