Author: Huston, J.

1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Brown, D.; Carey, R.; Sullivan, D.; Elder, C.; Ayer, F.; Thomas, D.; Sivertz, M.; Paar, H.; Ong, B.; Branson, J.; Acosta, D.; Webb, R.; Sanzgiri, A.; Zaman, S.; Diaczenko, N.; David, A.; Yosef, C.; Miller, R.; Huston, J.; Bromberg, C.; Winn, D.R.; Wall, D.; Segall, K.; Scrofani, D.; Boccuzzi, D.; Lane, C.; Worstell, W.; Dye, S.T.; Hazen, E.; Higby, D.; Miller, J.P.; Roberts, B.L.; Sulak, L.; Wang, C.;

1995 / IEEE
By: de Barbaro, P.; Bodek, A.; Iwa, J.; Suzuki, J.; Uchida, T.; Shen, Q.; Ross, J.; Laasanen, A.; Fahling, M.; Barnes, V.; Yosef, C.; Richards, R.; Miller, R.; Mansour, J.P.; Huston, J.; Bromberg, C.; Strait, J.; Nobrega, F.; Limon, P.J.; Koska, W.; Kerby, J.; Preeman, J.; Ewald, K.; Delchamps, S.; Bossert, R.; Albrow, M.; Sakumoto, W.K.; Pillai, M.; Olsson, M.; Budd, H.S.; Fan, Q.; Kim, B.J.; Michaud, K.;

1993 / IEEE / 0-7803-1487-5
By: Koehn, P.; Sakumoto, W.K.; Bodek, A.; Budd, H.; Fan, Q.; Koehn, P.; Olsson, M.; Pillai, M.; Walker, R.; Winer, B.; Freeman, J.; Ozelis, J.; Huston, J.; Mansour, J.; Richards, R.; Skup, E.; Tannenbaum, B.; de Barbaro, P.;

2004 / IEEE / 0-7803-8248-X
By: Ukegawa, F.; Turini, N.; Paoletti, R.; Miller, R.; Huston, J.; Kuhlmann, S.; Iori, M.; Lami, S.;

2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Huston, J.; Iori, M.; Chlachidze, G.; Chang, S.; Goulianos, K.; Byrum, K.; Budagov, J.; Bromberg, C.; Artikov, A.; Gallinaro, M.; Wagner, R.; Ukegawa, F.; Turini, N.; Suh, J.; Roser, R.; Proudfoot, J.; Penzo, A.; Pauletta, G.; Nodulman, L.; Miller, R.; Lytken, E.; Lindgren, M.; Lami, S.; Kuhlmann, S.; Kim, M.;

2006 / IEEE
By: Adragna, P.; Alexa, C.; Anderson, K.; Antonaki, A.; Batusov, V.; Bednar, P.; Binet, S.; Biscarat, C.; Blanchot, G.; Bogush, A.; Bohm, C.; Boldea, V.; Bosman, M.; Bromberg, C.; Budagov, J.; Caloba, L.; Calvet, D.; Carvalho, J.; Castelo, J.; Castillo, M.V.; Sforza, M.C.; Cavasinni, V.; Cerqueira, A.S.; Chadelas, R.; Costanzo, D.; Cogswell, F.; Constantinescu, S.; Crouau, M.; Cuenca, C.; Damazio, D.O.; Daudon, F.; David, M.; Davidek, T.; De, K.; Del Prete, T.; Di Girolamo, B.; Dita, S.; Dolejsi, J.; Dolezal, Z.; Dotti, A.; Downing, R.; Efthymiopoulos, I.; Errede, D.; Errede, S.; Farbin, A.; Fassouliotis, D.; Fedorko, I.; Fenyuk, A.; Ferdi, C.; Ferrer, A.; Flaminio, V.; Fullana, E.; Garde, V.; Giakoumopoulou, V.; Gildemeister, O.; Gilewsky, V.; Giangiobbe, V.; Giokaris, N.; Gomes, A.; Gonzalez, V.; Grabsky, V.; Grenier, P.; Gris, P.; Guarino, V.; Guicheney, C.; Gupta, A.; Hakobyan, H.; Haney, M.; Henriques, A.; Higon, E.; Holmgren, S.; Hurwitz, M.; Huston, J.; Iglesias, C.; And, K.J.; Junk, T.; Karyukhin, A.; Khubua, J.; Klereborn, J.; Korolkov, I.; Krivkova, P.; Kulchitsky, Y.; Kurochkin, Yu.; Kuzhir, P.; Lambert, D.; Le Compte, T.; Lefevre, R.; Leitner, R.; Lembesi, M.; Li, J.; Liablin, M.; Lokajicek, M.; Lomakin, Y.; Amengual, J.M.L.; Lupi, A.; Maidantchik, C.; Maio, A.; Maliukov, S.; Manousakis, A.; Marques, C.; Marroquim, F.; Martin, F.; Mazzoni, E.; Montarou, G.; Merritt, F.; Miagkov, A.; Miller, R.; Minashvili, I.; Miralles, L.; Nemecek, S.; Nessi, M.; Nodulman, L.; Norniella, O.; Onofre, A.; Oreglia, M.; Pantea, D.; Pallin, D.; Pilcher, J.; Pina, J.; Pinhao, J.; Podlyski, F.; Portell, X.; Poveda, J.; Price, L.E.; Pribyl, L.; Proudfoot, J.; Ramstedt, M.; Reinmuth, G.; Richards, R.; Roda, C.; Romanov, V.; Rosnet, P.; Roy, P.; Rumiantsau, V.; Russakovich, N.; Salto, O.; Salvachua, B.; Sanchis, E.; Sanders, H.; Santoni, C.; Santos, J.; Saraiva, J.G.; Sarri, F.; Satsunkevitch, I.; Says, L.-P.; Schlager, G.; Schlereth, J.; Seixas, J.M.; Sellden, B.; Shevtsov, P.; Shochet, M.; Da Silva, P.; Silva, J.; Simaitis, V.; Sissakian, A.; Solodkov, A.; Solovianov, O.; Sosebee, M.; Spano, F.; Stanek, R.; Starchenko, E.; Starovoitov, P.; Suk, M.; Sykora, I.; Tang, F.; Tas, P.; Teuscher, R.; Tokar, S.; Topilin, N.; Torres, J.; Tsulaia, V.; Underwood, D.; Usai, G.; Valkar, S.; Valls, J.A.; Vartapetian, A.; Vazeille, F.; Vichou, I.; Vinogradov, V.; Vivarelli, I.; Volpi, M.; White, A.; Zaitsev, A.; Zenine, A.; Zenis, T.;