Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Hubing, T.H.
Results
1996 / IEEE
By: Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Hockanson, D.M.; Wilhelm, M.J.; Fei Sha; Van Doren, T.P.;
By: Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Hockanson, D.M.; Wilhelm, M.J.; Fei Sha; Van Doren, T.P.;
1996 / IEEE / 0-7803-3207-5
By: Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Lam, C.-W.; Hockanson, D.M.; Van Doren, T.P.;
By: Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Lam, C.-W.; Hockanson, D.M.; Van Doren, T.P.;
1996 / IEEE / 0-7803-3207-5
By: Yuan, F.; Shi, H.; Van Doren, T.P.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Sha, F.;
By: Yuan, F.; Shi, H.; Van Doren, T.P.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Sha, F.;
1997 / IEEE
By: Min Li; Van Doren, T.P.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Hockanson, D.M.; Kuang-Ping Ma;
By: Min Li; Van Doren, T.P.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Hockanson, D.M.; Kuang-Ping Ma;
1997 / IEEE
By: Dreniak, J.L.; Hockanson, D.M.; Cheung-Wei Lam; Fei Sha; van Doren, T.P.; Hubing, T.H.;
By: Dreniak, J.L.; Hockanson, D.M.; Cheung-Wei Lam; Fei Sha; van Doren, T.P.; Hubing, T.H.;
1997 / IEEE / 0-7803-4140-6
By: Van Doren, T.P.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Sha, F.; Hockanson, D.M.; Britt, D.S.;
By: Van Doren, T.P.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Sha, F.; Hockanson, D.M.; Britt, D.S.;
1997 / IEEE / 0-7803-4140-6
By: Van Doren, T.P.; Drewniak, J.L.; Nuebel, J.; Ji, Y.; Radu, S.; Hubing, T.H.;
By: Van Doren, T.P.; Drewniak, J.L.; Nuebel, J.; Ji, Y.; Radu, S.; Hubing, T.H.;
1997 / IEEE / 0-7803-4140-6
By: Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Ji, Y.; Hockanson, D.M.; VanDoren, T.P.; Li, M.; Radu, S.; Nuebel, J.;
By: Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Ji, Y.; Hockanson, D.M.; VanDoren, T.P.; Li, M.; Radu, S.; Nuebel, J.;
1997 / IEEE / 0-7803-4140-6
By: Cui, W.; Nuebel, J.; Radu, S.; Ji, Y.; Drewniak, J.L.; VanDoren, T.P.; Li, M.; Hubing, T.H.;
By: Cui, W.; Nuebel, J.; Radu, S.; Ji, Y.; Drewniak, J.L.; VanDoren, T.P.; Li, M.; Hubing, T.H.;
1998 / IEEE / 0-7803-4965-2
By: Drewniak, J.L.; Shi, H.; Fan, J.; Van Doren, T.P.; DuBroff, R.E.; Hubing, T.H.;
By: Drewniak, J.L.; Shi, H.; Fan, J.; Van Doren, T.P.; DuBroff, R.E.; Hubing, T.H.;
1998 / IEEE / 0-7803-5015-4
By: DuBroff, R.E.; Drewniak, J.L.; Hockanson, D.; Van Doren, T.P.; Hubing, T.H.;
By: DuBroff, R.E.; Drewniak, J.L.; Hockanson, D.; Van Doren, T.P.; Hubing, T.H.;
1998 / IEEE / 0-7803-5015-4
By: Radu, S.; Hubing, T.H.; Van Doren, T.P.; Drewniak, J.L.; Nuebel, J.; Zeeff, T.;
By: Radu, S.; Hubing, T.H.; Van Doren, T.P.; Drewniak, J.L.; Nuebel, J.; Zeeff, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-5015-4
By: Drewniak, J.L.; Neubel, J.; Radu, S.; Li, M.; VanDoren, T.P.; Hubing, T.H.;
By: Drewniak, J.L.; Neubel, J.; Radu, S.; Li, M.; VanDoren, T.P.; Hubing, T.H.;
1999 / IEEE / 4-9980748-4-9
By: Xiao Luo; Wei Cui; Tanaka, M.; DuBroff, R.E.; van Doren, T.P.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.;
By: Xiao Luo; Wei Cui; Tanaka, M.; DuBroff, R.E.; van Doren, T.P.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.;
1999 / IEEE / 0-7803-5057-X
By: Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Nadolny, J.; Ye, X.; DuBroff, D.E.; Vaudoren, T.P.;
By: Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Nadolny, J.; Ye, X.; DuBroff, D.E.; Vaudoren, T.P.;
1999 / IEEE / 0-7803-5057-X
By: Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Hockanson, D.M.; Hao Shi; Van Doren, T.P.; Juan Chen; Yong Ren; Jun Fan; DuBroff, R.E.;
By: Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Hockanson, D.M.; Hao Shi; Van Doren, T.P.; Juan Chen; Yong Ren; Jun Fan; DuBroff, R.E.;
1999 / IEEE / 0-7803-5057-X
By: Drewniak, J.L.; Li, M.; VanDoren, T.P.; DuBroff, R.E.; Hubing, T.H.;
By: Drewniak, J.L.; Li, M.; VanDoren, T.P.; DuBroff, R.E.; Hubing, T.H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5057-X
By: Cui, W.; Du Broff, R.E.; VanDoren, T.P.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Luo, X.; Li, M.;
By: Cui, W.; Du Broff, R.E.; VanDoren, T.P.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Luo, X.; Li, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5057-X
By: Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Knighten, J.L.; Radu, S.; Xu, M.; DiBene, J.T., II.; Hoeft, L.O.;
By: Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Knighten, J.L.; Radu, S.; Xu, M.; DiBene, J.T., II.; Hoeft, L.O.;
2000 / IEEE / 0-7803-5677-2
By: Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; Ji, Y.; Wang, H.; DuBroff, R.E.; van Doren, T.P.;
By: Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; Ji, Y.; Wang, H.; DuBroff, R.E.; van Doren, T.P.;
2000 / IEEE / 0-7803-5677-2
By: Drewniak, J.L.; Nadolny, J.; Xiaoning Ye; Hubing, T.H.; VanDoren, T.P.; DuBroff, R.E.;
By: Drewniak, J.L.; Nadolny, J.; Xiaoning Ye; Hubing, T.H.; VanDoren, T.P.; DuBroff, R.E.;
2000 / IEEE / 0-7803-5677-2
By: Hubing, T.H.; VanDoren, T.P.; Drewniak, J.L.; Radu, S.; DuBroff, R.E.; Min Li; Hockanson, D.M.; Xiaoning Ye; Wei Cui;
By: Hubing, T.H.; VanDoren, T.P.; Drewniak, J.L.; Radu, S.; DuBroff, R.E.; Min Li; Hockanson, D.M.; Xiaoning Ye; Wei Cui;
2000 / IEEE / 0-7803-5677-2
By: Van Doren, T.P.; Ji, Y.; Tanaka, M.; Berg, D.; Ye, X.; Dussrof, R.E.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.;
By: Van Doren, T.P.; Ji, Y.; Tanaka, M.; Berg, D.; Ye, X.; Dussrof, R.E.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.;
2000 / IEEE / 0-7803-5677-2
By: Zeeff, T.M.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Dussroff, R.E.; Van Doren, T.P.;
By: Zeeff, T.M.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Dussroff, R.E.; Van Doren, T.P.;
2000 / IEEE / 0-7803-5677-2
By: Juan Chen; DuBroff, R.E.; Van Doren, T.P.; Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; Minjia Xu;
By: Juan Chen; DuBroff, R.E.; Van Doren, T.P.; Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; Minjia Xu;
2001 / IEEE
By: Hockanson, D.M.; Dubroff, R.E.; Van Doren, T.P.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Xiaoning Ye;
By: Hockanson, D.M.; Dubroff, R.E.; Van Doren, T.P.; Hubing, T.H.; Drewniak, J.L.; Xiaoning Ye;
2001 / IEEE
By: de Sorgo, M.; Butler, J.E.; Yu Huang; van Doren, T.P.; Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; DuBroff, R.E.;
By: de Sorgo, M.; Butler, J.E.; Yu Huang; van Doren, T.P.; Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; DuBroff, R.E.;
2001 / IEEE
By: Hubing, T.H.; Nuebel, J.; Radu, S.; Drewniak, J.L.; Min Li; van Doren, T.P.; DuBroff, R.E.;
By: Hubing, T.H.; Nuebel, J.; Radu, S.; Drewniak, J.L.; Min Li; van Doren, T.P.; DuBroff, R.E.;
2001 / IEEE / 0-7803-6569-0
By: DuBroff, R.E.; Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; Van Doren, T.P.; Olsen, C.N.;
By: DuBroff, R.E.; Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; Van Doren, T.P.; Olsen, C.N.;
2001 / IEEE / 0-7803-6569-0
By: Van Doren, T.P.; Drewniak, J.L.; Juan Chen; Hubing, T.H.; Minjia Xu; DuBroff, R.E.;
By: Van Doren, T.P.; Drewniak, J.L.; Juan Chen; Hubing, T.H.; Minjia Xu; DuBroff, R.E.;
2001 / IEEE
By: Knighten, J.L.; Drewniak, J.L.; Jun Fan; DuBroff, R.E.; Smith, N.W.; Hubing, T.H.; Van Doren, T.P.; Orlandi, A.;
By: Knighten, J.L.; Drewniak, J.L.; Jun Fan; DuBroff, R.E.; Smith, N.W.; Hubing, T.H.; Van Doren, T.P.; Orlandi, A.;
2002 / IEEE / 0-7803-7264-6
By: Guo, C.L.; Wang, H.; DuBroff, R.E.; Van Doren, T.P.; Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.;
By: Guo, C.L.; Wang, H.; DuBroff, R.E.; Van Doren, T.P.; Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.;
The development of a closed-form expression for the input impedance of power-return plane structures
2003 / IEEEBy: Hubing, T.H.; Minjia Xu;
2004 / IEEE / 0-7803-8443-1
By: Xiaopeng Dong; Hubing, T.H.; Beetmer, D.G.; Haixiao Weng; McCallum, J.; Wiese, R.;
By: Xiaopeng Dong; Hubing, T.H.; Beetmer, D.G.; Haixiao Weng; McCallum, J.; Wiese, R.;
2004 / IEEE / 0-7803-8443-1
By: Knighten, J.L.; Jun Fan; Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; Smith, N.W.; Shaowei Deng; Jingkun Mao; Alexander, R.;
By: Knighten, J.L.; Jun Fan; Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; Smith, N.W.; Shaowei Deng; Jingkun Mao; Alexander, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-9380-5
By: Beetner, D.G.; Shaowei Deng; Xiaopeng Dong; Van Doren, T.P.; Hubing, T.H.;
By: Beetner, D.G.; Shaowei Deng; Xiaopeng Dong; Van Doren, T.P.; Hubing, T.H.;
2005 / IEEE / 0-7803-9380-5
By: Hubing, T.H.; Beetner, D.G.; Shaowei Deng; Xiaopeng Dong; Van Doren, T.P.;
By: Hubing, T.H.; Beetner, D.G.; Shaowei Deng; Xiaopeng Dong; Van Doren, T.P.;
2005 / IEEE / 0-7803-9220-5
By: Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; Shaowei Deng; Smith, N.W.; Knighten, J.L.; Jun Fan;
By: Drewniak, J.L.; Hubing, T.H.; Shaowei Deng; Smith, N.W.; Knighten, J.L.; Jun Fan;
2006 / IEEE / 1-4244-0293-X
By: Hubing, T.H.; Xiaopeng Dong; Haixiao Weng; Shaik, A.; Beetner, D.G.;
By: Hubing, T.H.; Xiaopeng Dong; Haixiao Weng; Shaik, A.; Beetner, D.G.;
2006 / IEEE
By: Xiaopeng Dong; Moss, B.; Goksu, H.; Noll, M.; Haixiao Weng; Wunsch, D.C.; Hubing, T.H.; Beetner, D.G.;
By: Xiaopeng Dong; Moss, B.; Goksu, H.; Noll, M.; Haixiao Weng; Wunsch, D.C.; Hubing, T.H.; Beetner, D.G.;