Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Huang, R.K.
Results
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Huang, R.K.; Turner, G.W.; Goodhue, W.T.; Mull, D.E.; Plant, J.; Bailey, R.J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.; Donnelly, J.P.;
By: Huang, R.K.; Turner, G.W.; Goodhue, W.T.; Mull, D.E.; Plant, J.; Bailey, R.J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.; Donnelly, J.P.;
2003 / IEEE
By: Huang, R.K.; Donnelly, J.P.; Turner, G.W.; Goodhue, W.D.; Mull, D.E.; Bailey, R.J.; Plant, J.J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.;
By: Huang, R.K.; Donnelly, J.P.; Turner, G.W.; Goodhue, W.D.; Mull, D.E.; Bailey, R.J.; Plant, J.J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Walpole, J.N.;
2003 / IEEE
By: Mull, D.E.; Plant, J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Huang, R.K.; Goodhue, W.D.;
By: Mull, D.E.; Plant, J.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Huang, R.K.; Goodhue, W.D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Goodhue, W.T.; Mull, D.E.; Plant, J.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.;
By: Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Goodhue, W.T.; Mull, D.E.; Plant, J.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.;
By: Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Bailey, R.J.; Manfra, M.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Plant, J.J.; Bailey, L.J.;
By: Bailey, R.J.; Manfra, M.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Plant, J.J.; Bailey, L.J.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Juodawlkis, P.W.; Plant, J.; Missagia, L.J.; Huang, R.K.; Donnelly, J.P.;
By: Juodawlkis, P.W.; Plant, J.; Missagia, L.J.; Huang, R.K.; Donnelly, J.P.;
2004 / IEEE / 0-7803-8557-8
By: Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.; Goyal, A.K.; Liau, Z.L.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Chann, B.;
By: Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.; Goyal, A.K.; Liau, Z.L.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Chann, B.;
2005 / IEEE
By: Plant, J.J.; Ray, K.G.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Huang, R.K.; Juodawlkis, P.W.;
By: Plant, J.J.; Ray, K.G.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Huang, R.K.; Juodawlkis, P.W.;
2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Harris, C.T.;
By: Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Harris, C.T.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Huang, R.K.;
By: Missaggia, L.J.; O'Donnell, F.J.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Huang, R.K.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.; Goyal, A.K.; Liau, Z.L.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Chann, B.;
By: Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.; Goyal, A.K.; Liau, Z.L.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Chann, B.;
2006 / IEEE
By: Talamo, P.; Rahner, K.D.; Depoy, D.M.; Danielson, L.R.; Nichols, G.J.; Ehsani, H.; Beausang, J.F.; Dashiell, M.W.; Luryi, S.; Belenky, G.L.; Anikeev, S.; Donetski, D.; Martinelli, R.; Jizhong Li; Taylor, G.; Shellenbarger, Z.A.; Turner, G.W.; Connors, M.K.; Huang, R.K.; Wang, C.A.; Baldasaro, P.F.; Topper, W.F.; Fourspring, P.M.; Burger, S.R.; Brown, E.J.;
By: Talamo, P.; Rahner, K.D.; Depoy, D.M.; Danielson, L.R.; Nichols, G.J.; Ehsani, H.; Beausang, J.F.; Dashiell, M.W.; Luryi, S.; Belenky, G.L.; Anikeev, S.; Donetski, D.; Martinelli, R.; Jizhong Li; Taylor, G.; Shellenbarger, Z.A.; Turner, G.W.; Connors, M.K.; Huang, R.K.; Wang, C.A.; Baldasaro, P.F.; Topper, W.F.; Fourspring, P.M.; Burger, S.R.; Brown, E.J.;
2007 / IEEE
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Goyal, A.K.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.;
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Sanchez-Rubio, A.; Fan, T.Y.; Goyal, A.K.; Turner, G.W.; Harris, C.T.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.J.;
2007 / IEEE
By: Ripin, D.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.; Gopinath, J.T.; Plant, J.J.; Harris, C.; Huang, R.K.; Chann, B.;
By: Ripin, D.J.; Juodawlkis, P.W.; Donnelly, J.P.; Missaggia, L.; Gopinath, J.T.; Plant, J.J.; Harris, C.; Huang, R.K.; Chann, B.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0924-2
By: Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Swint, R.; Donnelly, J.P.; Bien Chann;
By: Missaggia, L.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Swint, R.; Donnelly, J.P.; Bien Chann;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Donnelly, J.P.; Swint, R.B.; Augst, S.J.; Missaggia, L.J.;
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Sanchez-Rubio, A.; Donnelly, J.P.; Swint, R.B.; Augst, S.J.; Missaggia, L.J.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Liau, Z.L.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Chann, B.; Huang, R.K.; Goyal, A.K.; Sanchez-Rubio, A.; Turner, G.W.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.;
By: Liau, Z.L.; Harris, C.T.; Missaggia, L.J.; Chann, B.; Huang, R.K.; Goyal, A.K.; Sanchez-Rubio, A.; Turner, G.W.; Fan, T.Y.; Donnelly, J.P.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Missaggia, L.; Harris, C.; Huang, R.K.; Bien Chann; Donnelly, J.P.; Gopinath, J.T.; Ripin, D.J.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.;
By: Missaggia, L.; Harris, C.; Huang, R.K.; Bien Chann; Donnelly, J.P.; Gopinath, J.T.; Ripin, D.J.; Plant, J.J.; Juodawlkis, P.W.;
2006 / IEEE / 978-1-55752-813-1
By: Ram, R.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Missaggia, L.J.; Connors, M.K.; Manfra, M.J.;
By: Ram, R.J.; Huang, R.K.; Turner, G.W.; Missaggia, L.J.; Connors, M.K.; Manfra, M.J.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Dorsch, F.; Miester, C.; Hostetler, J.L.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Sanchez-Rubio, A.; Turner, G.W.; Connors, M.K.; Augst, S.J.;
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Dorsch, F.; Miester, C.; Hostetler, J.L.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Sanchez-Rubio, A.; Turner, G.W.; Connors, M.K.; Augst, S.J.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: O'Donnell, F.J.; Ray, K.G.; Smith, G.M.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Connors, M.K.; Plant, J.J.; Huang, R.K.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.;
By: O'Donnell, F.J.; Ray, K.G.; Smith, G.M.; Loh, W.; Missaggia, L.J.; Donnelly, J.P.; Connors, M.K.; Plant, J.J.; Huang, R.K.; Klamkin, J.; Juodawlkis, P.W.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Missaggia, L.J.; Turner, G.W.; Brattain, M.A.; Sanchez-Rubio, A.; Caissie, J.M.; Creedon, K.J.; Connors, M.K.;
By: Chann, B.; Huang, R.K.; Missaggia, L.J.; Turner, G.W.; Brattain, M.A.; Sanchez-Rubio, A.; Caissie, J.M.; Creedon, K.J.; Connors, M.K.;