Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Horiuchi, T.
Results
1989 / IEEE
By: Enomoto, T.; Nakamura, K.; Horiuchi, T.; Yamada, H.; Yamashina, M.; Ando, K.; Okamoto, F.; Goto, J.;
By: Enomoto, T.; Nakamura, K.; Horiuchi, T.; Yamada, H.; Yamashina, M.; Ando, K.; Okamoto, F.; Goto, J.;
1989 / IEEE
By: Okamoto, F.; Goto, J.; Yamashina, M.; Enomoto, T.; Nakamura, K.; Horiuchi, T.; Yamada, H.;
By: Okamoto, F.; Goto, J.; Yamashina, M.; Enomoto, T.; Nakamura, K.; Horiuchi, T.; Yamada, H.;
1991 / IEEE
By: Magoroku, H.; Horiuchi, T.; Takeda, H.; Ikegame, H.; Kobayashi, A.; Sampei, M.; Koyama, M.; Uchida, T.; Nakagaki, S.; Ohkubo, H.;
By: Magoroku, H.; Horiuchi, T.; Takeda, H.; Ikegame, H.; Kobayashi, A.; Sampei, M.; Koyama, M.; Uchida, T.; Nakagaki, S.; Ohkubo, H.;
1990 / IEEE / 0-8186-2039-0
By: Dohi, T.; Tsuzuki, M.; Hashimoto, D.; Horiuchi, T.; Chinzei, K.; Suzuki, M.; Ohta, Y.;
By: Dohi, T.; Tsuzuki, M.; Hashimoto, D.; Horiuchi, T.; Chinzei, K.; Suzuki, M.; Ohta, Y.;
1991 / IEEE / 0-87942-636-5
By: Yoshimi, M.; Horiuchi, T.; Ma, W.; Hamakawa, Y.; Okamoto, H.; Hattori, K.;
By: Yoshimi, M.; Horiuchi, T.; Ma, W.; Hamakawa, Y.; Okamoto, H.; Hattori, K.;
1991 / IEEE / 0-8186-2153-2
By: Bishofberger, B.; Horiuchi, T.; Bair, W.; Moore, A.; Koch, C.; Lazzaro, J.;
By: Bishofberger, B.; Horiuchi, T.; Bair, W.; Moore, A.; Koch, C.; Lazzaro, J.;
1994 / IEEE
By: Suzuki, K.; Inoue, T.; Goto, J.; Yamashina, M.; Nomura, M.; Yamada, H.; Motomura, M.; Kumagai, K.; Enomoto, T.; Hamatake, N.; Horiuchi, T.; Shih, B.S.; Koseki, Y.;
By: Suzuki, K.; Inoue, T.; Goto, J.; Yamashina, M.; Nomura, M.; Yamada, H.; Motomura, M.; Kumagai, K.; Enomoto, T.; Hamatake, N.; Horiuchi, T.; Shih, B.S.; Koseki, Y.;
1993 / IEEE / 0-7803-0987-1
By: Goto, J.; Yamashina, M.; Takada, M.; Yamada, H.; Enomoto, T.; Kumagai, K.; Hamatake, N.; Horiuchi, T.; Inoue, T.; Shih, B.S.; Motomura, M.; Atsumo, T.; Kimura, T.; Koseki, Y.; Nomura, M.; Suzuki, K.;
By: Goto, J.; Yamashina, M.; Takada, M.; Yamada, H.; Enomoto, T.; Kumagai, K.; Hamatake, N.; Horiuchi, T.; Inoue, T.; Shih, B.S.; Motomura, M.; Atsumo, T.; Kimura, T.; Koseki, Y.; Nomura, M.; Suzuki, K.;
1994 / IEEE / 0-7803-1921-4
By: Wakabayashi, H.; Horiuchi, T.; Okumura, K.; Kunio, T.; Mogami, T.; Nakamura, H.; Iskigami, T.;
By: Wakabayashi, H.; Horiuchi, T.; Okumura, K.; Kunio, T.; Mogami, T.; Nakamura, H.; Iskigami, T.;
1993 / IEEE / 0-7803-1220-1
By: Hamakawa, Y.; Okamoto, I.I.; Goda, K.; Lim, C.C.; Horiuchi, T.; Ma, W.;
By: Hamakawa, Y.; Okamoto, I.I.; Goda, K.; Lim, C.C.; Horiuchi, T.; Ma, W.;
1995 / IEEE / 0-7803-2584-2
By: Igura, H.; Yamashina, M.; Horiuchi, T.; Mogami, T.; Nakajima, K.; Wakabayashi, H.; Ito, H.; Furuta, K.; Izumikawa, M.;
By: Igura, H.; Yamashina, M.; Horiuchi, T.; Mogami, T.; Nakajima, K.; Wakabayashi, H.; Ito, H.; Furuta, K.; Izumikawa, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2602-4
By: Boulin, D.M.; Mansfield, W.M.; O'Connor, K.J.; Bevk, J.; Brasen, D.; Cheng, M.; Cirelli, R.A.; Eshraghi, S.A.; Green, M.L.; Guinn, K.V.; Hillenius, S.J.; Ibbotson, D.E.; Jacobson, D.C.; Kim, Y.O.; King, C.A.; Kistler, R.C.; Klemens, F.P.; Krisch, K.S.; Kornblit, A.; Lee, J.T.C.; Manchanda, L.; McNevin, S.C.; Moccio, S.V.; Monroe, D.P.; Ng, K.K.; O'Malley, M.L.; Rafferty, C.S.; Schwartz, G.P.; Vaidya, S.; Weber, G.R.; Feldman, L.C.; Pinto, M.R.; Itani, T.; Tounai, T.; Kasama, K.; Miyamoto, H.; Ikawa, E.; Hasagawa, E.; Ishitani, A.; Ito, H.; Horiuchi, T.; Saito, S.; Nakamae, M.;
By: Boulin, D.M.; Mansfield, W.M.; O'Connor, K.J.; Bevk, J.; Brasen, D.; Cheng, M.; Cirelli, R.A.; Eshraghi, S.A.; Green, M.L.; Guinn, K.V.; Hillenius, S.J.; Ibbotson, D.E.; Jacobson, D.C.; Kim, Y.O.; King, C.A.; Kistler, R.C.; Klemens, F.P.; Krisch, K.S.; Kornblit, A.; Lee, J.T.C.; Manchanda, L.; McNevin, S.C.; Moccio, S.V.; Monroe, D.P.; Ng, K.K.; O'Malley, M.L.; Rafferty, C.S.; Schwartz, G.P.; Vaidya, S.; Weber, G.R.; Feldman, L.C.; Pinto, M.R.; Itani, T.; Tounai, T.; Kasama, K.; Miyamoto, H.; Ikawa, E.; Hasagawa, E.; Ishitani, A.; Ito, H.; Horiuchi, T.; Saito, S.; Nakamae, M.;
1995 / IEEE / 0-7803-2495-1
By: Yamashina, M.; Horiuchi, T.; Mogami, T.; Nakajima, K.; Izumikawa, M.; Ito, H.; Furuta, K.; Igura, H.; Wakabayashi, H.;
By: Yamashina, M.; Horiuchi, T.; Mogami, T.; Nakajima, K.; Izumikawa, M.; Ito, H.; Furuta, K.; Igura, H.; Wakabayashi, H.;
1997 / IEEE
By: Horiuchi, T.; Mogami, T.; Nakajima, K.; Wakabayashi, H.; Yamashina, M.; Ito, H.; Furuta, K.; Igura, H.; Izumikawa, M.;
By: Horiuchi, T.; Mogami, T.; Nakajima, K.; Wakabayashi, H.; Yamashina, M.; Ito, H.; Furuta, K.; Igura, H.; Izumikawa, M.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Tatsumi, T.; Endo, K.; Matsubara, Y.; Horiuchi, T.; Sugai, K.; Ueno, H.;
By: Tatsumi, T.; Endo, K.; Matsubara, Y.; Horiuchi, T.; Sugai, K.; Ueno, H.;
1996 / IEEE / 0-7803-3355-1
By: Nishida, T.; Sakai, T.; Ibrahim, R.C.; Matsushige, K.; Shiosaki, T.; Horiuchi, T.;
By: Nishida, T.; Sakai, T.; Ibrahim, R.C.; Matsushige, K.; Shiosaki, T.; Horiuchi, T.;
1997 / IEEE / 4-930813-75-1
By: Onishi, H.; Imai, K.; Nakamura, H.; Matsubara, Y.; Yamada, Y.; Horiuchi, T.; Tamura, T.; Sakai, T.;
By: Onishi, H.; Imai, K.; Nakamura, H.; Matsubara, Y.; Yamada, Y.; Horiuchi, T.; Tamura, T.; Sakai, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-4067-1
By: Nakaoka, M.; Nishida, Y.; Kurokawa, M.; Shimizu, T.; Horiuchi, T.; Sugawara, Y.;
By: Nakaoka, M.; Nishida, Y.; Kurokawa, M.; Shimizu, T.; Horiuchi, T.; Sugawara, Y.;
1997 / IEEE / 0-7803-3938-X
By: Furosawa, S.; Onishi, H.; Imai, K.; Nakamura, I.; Horiuchi, T.; Kumagai, K.; Ishigami, T.; Matsubara, Y.; Iwaki, K.; Yamada, T.;
By: Furosawa, S.; Onishi, H.; Imai, K.; Nakamura, I.; Horiuchi, T.; Kumagai, K.; Ishigami, T.; Matsubara, Y.; Iwaki, K.; Yamada, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-4100-7
By: Watanuki, S.; Sasaki, M.; Ito, H.; Horiuchi, T.; Ueda, T.; Kimizuka, N.; Tsuboi, A.; Goto, Y.; Ito, T.; Uwasawa, K.;
By: Watanuki, S.; Sasaki, M.; Ito, H.; Horiuchi, T.; Ueda, T.; Kimizuka, N.; Tsuboi, A.; Goto, Y.; Ito, T.; Uwasawa, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4770-6
By: Onishi, H.; Imai, K.; Horiuchi, T.; Ono, A.; Matsubara, Y.; Inoue, K.; Yamaguchi, K.;
By: Onishi, H.; Imai, K.; Horiuchi, T.; Ono, A.; Matsubara, Y.; Inoue, K.; Yamaguchi, K.;
Suppression of topography-dependent charging damage to MOS devices using pulse-time-modulated plasma
1998 / IEEE / 0-9651577-2-5By: Horiuchi, T.; Samukawa, S.; Ohtake, H.; Noguchi, K.;
1998 / IEEE / 0-9651577-2-5
By: Nagase, M.; Araki, M.; Tokashiki, K.; Horiuchi, T.; Miyamoto, H.; Noguchi, K.;
By: Nagase, M.; Araki, M.; Tokashiki, K.; Horiuchi, T.; Miyamoto, H.; Noguchi, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4774-9
By: Horiuchi, T.; Gomi, H.; Tatsumi, T.; Iguchi, M.; Endo, K.; Kishimoto, K.; Tzou, E.; Matsubara, Y.; Moghadam, F.; Tribula, D.; Cheng, L.Y.; Xi, M.;
By: Horiuchi, T.; Gomi, H.; Tatsumi, T.; Iguchi, M.; Endo, K.; Kishimoto, K.; Tzou, E.; Matsubara, Y.; Moghadam, F.; Tribula, D.; Cheng, L.Y.; Xi, M.;
1993 / IEEE
By: Matsubara, Y.; Sekine, M.; Nishio, N.; Shinmura, T.; Noguchi, K.; Kitano, T.; Horiuchi, T.; Yamada, Y.;
By: Matsubara, Y.; Sekine, M.; Nishio, N.; Shinmura, T.; Noguchi, K.; Kitano, T.; Horiuchi, T.; Yamada, Y.;
1999 / IEEE / 4-930813-93-X
By: Horiuchi, T.; Onishi, H.; Kimizuka, N.; Yamaguchi, K.; Shishiguchi, S.; Imai, K.;
By: Horiuchi, T.; Onishi, H.; Kimizuka, N.; Yamaguchi, K.; Shishiguchi, S.; Imai, K.;
1999 / IEEE / 4-930813-93-X
By: Imai, K.; Yamaguchi, K.; Mogami, T.; Yamamoto, T.; Kimizuka, N.; Horiuchi, T.;
By: Imai, K.; Yamaguchi, K.; Mogami, T.; Yamamoto, T.; Kimizuka, N.; Horiuchi, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5735-3
By: Hiraki, E.; Yamamoto, H.; Nakaoka, M.; Sugawara, Y.; Horiuchi, T.; Nishida, K.; Konishi, Y.;
By: Hiraki, E.; Yamamoto, H.; Nakaoka, M.; Sugawara, Y.; Horiuchi, T.; Nishida, K.; Konishi, Y.;
1999 / IEEE / 0-7803-5410-9
By: Kuwata, T.; Horiuchi, T.; Kazama, K.; Ikeda, M.; Fujii, H.; Goto, Y.; Maruyama, S.; Noda, K.; Ono, A.; Kudo, T.; Onishi, H.; Kimizuka, N.; Yamaguchi, K.; Imai, K.;
By: Kuwata, T.; Horiuchi, T.; Kazama, K.; Ikeda, M.; Fujii, H.; Goto, Y.; Maruyama, S.; Noda, K.; Ono, A.; Kudo, T.; Onishi, H.; Kimizuka, N.; Yamaguchi, K.; Imai, K.;
2000 / IEEE / 0-7803-5853-8
By: Takeda, K.; Takahashi, H.; Shimogawa, K.; Nakagawa, A.; Horiuchi, T.; Masuoka, S.; Nakamura, N.; Itoh, S.; Matsui, K.; Noda, K.; Iwasaki, T.; Toyoshima, H.; Aimoto, Y.;
By: Takeda, K.; Takahashi, H.; Shimogawa, K.; Nakagawa, A.; Horiuchi, T.; Masuoka, S.; Nakamura, N.; Itoh, S.; Matsui, K.; Noda, K.; Iwasaki, T.; Toyoshima, H.; Aimoto, Y.;
2000 / IEEE / 0-7803-5853-8
By: Horiuchi, T.; Mogami, T.; Wakabayashi, H.; Surni, Y.; Anjo, K.; Mizuno, M.; Yamashina, M.;
By: Horiuchi, T.; Mogami, T.; Wakabayashi, H.; Surni, Y.; Anjo, K.; Mizuno, M.; Yamashina, M.;
2000 / IEEE / 0-7803-5853-8
By: Nishi, N.; Inoue, T.; Fukuma, M.; Yamashina, M.; Motomura, M.; Horiuchi, T.; Ono, A.; Kazama, K.; Ikeda, M.; Kobinata, H.; Onoda, N.; Yamada, Y.; Hirota, Y.; Nakazawa, Y.; Yamazaki, T.; Manabe, T.; Inoue, H.; Matsuo, O.; Minami, K.; Mizuno, M.; Edahiro, M.; Ito, Y.; Shimada, S.; Nakamura, Y.; Ohsawa, T.; Sakai, J.; Shibayama, A.; Torii, S.; Matsushita, S.; Nomura, M.;
By: Nishi, N.; Inoue, T.; Fukuma, M.; Yamashina, M.; Motomura, M.; Horiuchi, T.; Ono, A.; Kazama, K.; Ikeda, M.; Kobinata, H.; Onoda, N.; Yamada, Y.; Hirota, Y.; Nakazawa, Y.; Yamazaki, T.; Manabe, T.; Inoue, H.; Matsuo, O.; Minami, K.; Mizuno, M.; Edahiro, M.; Ito, Y.; Shimada, S.; Nakamura, Y.; Ohsawa, T.; Sakai, J.; Shibayama, A.; Torii, S.; Matsushita, S.; Nomura, M.;
2000 / IEEE / 0-7803-5809-0
By: Nakamura, N.; Aimoto, Y.; Takeda, K.; Ikezawa, N.; Kawamoto, H.; Masuoka, S.; Toyoshima, H.; Matsui, K.; Noda, K.; Horiuchi, T.; Ito, S.; Iwasaki, T.;
By: Nakamura, N.; Aimoto, Y.; Takeda, K.; Ikezawa, N.; Kawamoto, H.; Masuoka, S.; Toyoshima, H.; Matsui, K.; Noda, K.; Horiuchi, T.; Ito, S.; Iwasaki, T.;
2000 / IEEE / 0-7803-6305-1
By: Ono, A.; Horiuchi, T.; Imai, K.; Ikezawa, N.; Fukai, T.; Matsuda, T.; Fukasaku, K.;
By: Ono, A.; Horiuchi, T.; Imai, K.; Ikezawa, N.; Fukai, T.; Matsuda, T.; Fukasaku, K.;
2000 / IEEE / 0-7803-6305-1
By: Liu, C.T.; Iizuka, T.; Imai, K.; Yamaguchi, K.; Kimizuka, N.; Horiuchi, T.; Keller, R.C.;
By: Liu, C.T.; Iizuka, T.; Imai, K.; Yamaguchi, K.; Kimizuka, N.; Horiuchi, T.; Keller, R.C.;
2000 / IEEE / 0-7803-6305-1
By: Hamanaka, N.; Toda, T.; Ohashi, T.; Kimizuka, N.; Horiuchi, T.; Hasegawa, E.; Imai, K.; Goto, Y.;
By: Hamanaka, N.; Toda, T.; Ohashi, T.; Kimizuka, N.; Horiuchi, T.; Hasegawa, E.; Imai, K.; Goto, Y.;