Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Honma, H.
Results
1995 / IEEE
By: Honma, H.; Noto, K.; Matsukawa, M.; Kouno, Y.; Kohno, O.; Tatsuki, T.; Goto, K.; Uchiyama, K.; Sadakata, N.; Saito, T.;
By: Honma, H.; Noto, K.; Matsukawa, M.; Kouno, Y.; Kohno, O.; Tatsuki, T.; Goto, K.; Uchiyama, K.; Sadakata, N.; Saito, T.;
1995 / IEEE / 0-7803-2584-2
By: Ohta, M.; Miyamoto, Y.; Miyazaki, T.; Tamitani, I.; Honma, H.; Tokuda, N.; Kitsuki, T.; Ikegami, S.; Ooi, Y.; Oobuchi, K.; Yokoyama, T.; Shiraishi, T.; Hayashi, N.;
By: Ohta, M.; Miyamoto, Y.; Miyazaki, T.; Tamitani, I.; Honma, H.; Tokuda, N.; Kitsuki, T.; Ikegami, S.; Ooi, Y.; Oobuchi, K.; Yokoyama, T.; Shiraishi, T.; Hayashi, N.;
1999 / IEEE / 0-7803-5443-5
By: Kawamoto, K.; Ohira, H.; Ishihara, K.; Matsumura, T.; Kumaki, S.; Yoshida, T.; Asano, K.; Sato, H.; Watanabe, T.; Segawa, H.; Honma, H.; Wada, T.; Hattori, T.; Sato, H.; Shimada, T.;
By: Kawamoto, K.; Ohira, H.; Ishihara, K.; Matsumura, T.; Kumaki, S.; Yoshida, T.; Asano, K.; Sato, H.; Watanabe, T.; Segawa, H.; Honma, H.; Wada, T.; Hattori, T.; Sato, H.; Shimada, T.;
2001 / IEEE / 0-7803-7031-7
By: Uratsuka, S.; Maeno, H.; Nadai, A.; Umehara, T.; Satake, M.; Honma, H.; Matsuoka, T.;
By: Uratsuka, S.; Maeno, H.; Nadai, A.; Umehara, T.; Satake, M.; Honma, H.; Matsuoka, T.;
2002 / IEEE / 0-7803-7185-2
By: Ishikawa, K.; Suga, T.; Itoh, T.; Kawamura, S.; Kataoka, K.; Honma, H.;
By: Ishikawa, K.; Suga, T.; Itoh, T.; Kawamura, S.; Kataoka, K.; Honma, H.;
2002 / IEEE / 0-7803-7379-0
By: Honma, H.; Kubota, M.; Nakano, M.; Ohkubo, S.; Iwanaga, T.; Katayama, R.; Ide, T.;
By: Honma, H.; Kubota, M.; Nakano, M.; Ohkubo, S.; Iwanaga, T.; Katayama, R.; Ide, T.;
2006 / IEEE / 1-4244-0125-9
By: Oshima, N.; Jiang, W.; Tokuchi, A.; Shimizu, N.; Yokoo, T.; Takayama, K.; Honma, H.; Nakahiro, K.;
By: Oshima, N.; Jiang, W.; Tokuchi, A.; Shimizu, N.; Yokoo, T.; Takayama, K.; Honma, H.; Nakahiro, K.;
2006 / IEEE / 1-4244-0018-X
By: Nakanishi, K.; Yoshida, S.; Shimizu, N.; Honma, H.; Sugiyama, A.; Jiang, W.; Takayama, K.; Nakahiro, K.; Wake, M.;
By: Nakanishi, K.; Yoshida, S.; Shimizu, N.; Honma, H.; Sugiyama, A.; Jiang, W.; Takayama, K.; Nakahiro, K.; Wake, M.;
2007 / IEEE / 1-4244-0633-1
By: Akemoto, M.; Matsumoto, S.; Yoshida, M.; Shidara, T.; Higo, T.; Fukuda, S.; Kudoh, N.; Kazakov, S.; Honma, H.; Nakajima, H.;
By: Akemoto, M.; Matsumoto, S.; Yoshida, M.; Shidara, T.; Higo, T.; Fukuda, S.; Kudoh, N.; Kazakov, S.; Honma, H.; Nakajima, H.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0915-0
By: Yokoo, T.; Oshima, N.; Weihua Jiang; Tokuchi, A.; Nakahiro, K.; Shimizu, N.; Wake, M.; Takayama, K.; Honma, H.;
By: Yokoo, T.; Oshima, N.; Weihua Jiang; Tokuchi, A.; Nakahiro, K.; Shimizu, N.; Wake, M.; Takayama, K.; Honma, H.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Abe, T.; Akai, K.; Akemoto, M.; Akiyama, A.; Arinaga, M.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuda, S.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Hara, K.; Higo, T.; Hiramatsu, S.; Hisamatsu, H.; Honma, H.; Honma, T.; Hosoyama, K.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Ikeda, M.; Inagaki, S.; Isagawa, S.; Ishii, H.; Kabe, A.; Kadokura, E.; Kageyama, T.; Kakihara, K.; Kako, E.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kanazawa, K.; Katagiri, H.; Kato, S.; Kawamoto, T.; Kazakov, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Kitagawa, K.; Koiso, H.; Kojima, Y.; Komada, I.; Kubo, T.; Kudo, K.; Kudo, N.; Marutsuka, K.; Masuzawa, M.; Matsumoto, S.; Matsumoto, T.; Michizono, S.; Mikawa, K.; Mimashi, T.; Mitsunobu, S.; Mori, K.; Morita, A.; Morita, Y.; Nakai, H.; Nakajima, H.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, H.; Nakanishi, K.; Nakao, K.; Ninomiya, S.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohsawa, S.; Ohsawa, Y.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Ozaki, T.; Saito, K.; Sakai, H.; Sakamoto, Y.; Sato, M.; Satoh, M.; Shibata, K.; Shidara, T.; Shirai, M.; Shirakawa, A.; Sueno, T.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugahara, R.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tajima, O.; Takano, S.; Takasaki, S.; Takenaka, T.; Takeuchi, Y.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshino, K.; Perevedentsev, E.; Shatilov, D.N.;
By: Abe, T.; Akai, K.; Akemoto, M.; Akiyama, A.; Arinaga, M.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuda, S.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Furuya, T.; Hara, K.; Higo, T.; Hiramatsu, S.; Hisamatsu, H.; Honma, H.; Honma, T.; Hosoyama, K.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Ikeda, M.; Inagaki, S.; Isagawa, S.; Ishii, H.; Kabe, A.; Kadokura, E.; Kageyama, T.; Kakihara, K.; Kako, E.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kanazawa, K.; Katagiri, H.; Kato, S.; Kawamoto, T.; Kazakov, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Kitagawa, K.; Koiso, H.; Kojima, Y.; Komada, I.; Kubo, T.; Kudo, K.; Kudo, N.; Marutsuka, K.; Masuzawa, M.; Matsumoto, S.; Matsumoto, T.; Michizono, S.; Mikawa, K.; Mimashi, T.; Mitsunobu, S.; Mori, K.; Morita, A.; Morita, Y.; Nakai, H.; Nakajima, H.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, H.; Nakanishi, K.; Nakao, K.; Ninomiya, S.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohsawa, S.; Ohsawa, Y.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Ozaki, T.; Saito, K.; Sakai, H.; Sakamoto, Y.; Sato, M.; Satoh, M.; Shibata, K.; Shidara, T.; Shirai, M.; Shirakawa, A.; Sueno, T.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugahara, R.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tajima, O.; Takano, S.; Takasaki, S.; Takenaka, T.; Takeuchi, Y.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshino, K.; Perevedentsev, E.; Shatilov, D.N.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Akemoto, M.; Furuya, K.; Mori, H.; Shidara, T.; Nakajima, H.; Honma, H.; Fukuda, S.;
By: Akemoto, M.; Furuya, K.; Mori, H.; Shidara, T.; Nakajima, H.; Honma, H.; Fukuda, S.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0916-7
By: Abe, T.; Agho, T.; Akai, K.; Akemoto, M.; Akiyama, A.; Arinaga, M.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuda, S.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Funiya, T.; Hara, K.; Higo, T.; Hiramatsu, S.; Hisamatsu, H.; Honma, H.; Honma, T.; Hosoyama, K.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Ikeda, M.; Inagaki, S.; Isagawa, S.; Ishii, H.; Kabe, A.; Kadokura, E.; Kageyama, T.; Kakihara, K.; Kako, E.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kanazawa, K.; Katagiri, H.; Kato, S.; Kawamoto, T.; Kazakov, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Kitagawa, K.; Koiso, H.; Kojima, Y.; Komada, I.; Kubo, T.; Kudo, K.; Kudo, N.; Marutsuka, K.; Masuzawa, M.; Matsumoto, S.; Matsumoto, T.; Michizono, S.; Mikawa, K.; Mimashi, T.; Mitsunobu, S.; Mori, K.; Morita, A.; Morita, Y.; Nakai, H.; Nakajima, H.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, H.; Nakanishi, K.; Nakao, K.; Ninomiya, S.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohsawa, S.; Ohsawa, Y.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Ozaki, T.; Saito, K.; Sakai, H.; Sakamoto, Y.; Sato, M.; Satoh, M.; Shibata, K.; Shidara, T.; Shirai, M.; Shirakawa, A.; Sueno, T.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugahara, R.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tajima, O.; Takano, S.; Takasaki, S.; Takenaka, T.; Takeuchi, Y.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshino, K.; Perevedentsev, E.; Shatilov, D.N.;
By: Abe, T.; Agho, T.; Akai, K.; Akemoto, M.; Akiyama, A.; Arinaga, M.; Ebihara, K.; Egawa, K.; Enomoto, A.; Flanagan, J.; Fukuda, S.; Fukuma, H.; Funakoshi, Y.; Furukawa, K.; Funiya, T.; Hara, K.; Higo, T.; Hiramatsu, S.; Hisamatsu, H.; Honma, H.; Honma, T.; Hosoyama, K.; Ieiri, T.; Iida, N.; Ikeda, H.; Ikeda, M.; Inagaki, S.; Isagawa, S.; Ishii, H.; Kabe, A.; Kadokura, E.; Kageyama, T.; Kakihara, K.; Kako, E.; Kamada, S.; Kamitani, T.; Kanazawa, K.; Katagiri, H.; Kato, S.; Kawamoto, T.; Kazakov, S.; Kikuchi, M.; Kikutani, E.; Kitagawa, K.; Koiso, H.; Kojima, Y.; Komada, I.; Kubo, T.; Kudo, K.; Kudo, N.; Marutsuka, K.; Masuzawa, M.; Matsumoto, S.; Matsumoto, T.; Michizono, S.; Mikawa, K.; Mimashi, T.; Mitsunobu, S.; Mori, K.; Morita, A.; Morita, Y.; Nakai, H.; Nakajima, H.; Nakamura, T.T.; Nakanishi, H.; Nakanishi, K.; Nakao, K.; Ninomiya, S.; Ogawa, Y.; Ohmi, K.; Ohsawa, S.; Ohsawa, Y.; Ohnishi, Y.; Ohuchi, N.; Oide, K.; Ono, M.; Ozaki, T.; Saito, K.; Sakai, H.; Sakamoto, Y.; Sato, M.; Satoh, M.; Shibata, K.; Shidara, T.; Shirai, M.; Shirakawa, A.; Sueno, T.; Suetake, M.; Suetsugu, Y.; Sugahara, R.; Sugimura, T.; Suwada, T.; Tajima, O.; Takano, S.; Takasaki, S.; Takenaka, T.; Takeuchi, Y.; Tawada, M.; Tejima, M.; Tobiyama, M.; Tokuda, N.; Uehara, S.; Uno, S.; Yamamoto, Y.; Yano, Y.; Yokoyama, K.; Yoshida, M.; Yoshida, M.; Yoshimoto, S.; Yoshino, K.; Perevedentsev, E.; Shatilov, D.N.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0913-6
By: Wake, M.; Takayama, K.; Honma, H.; Nakahiro, K.; Yokoo, T.; Oshima, N.; Jiang, W.; Shimizu, N.;
By: Wake, M.; Takayama, K.; Honma, H.; Nakahiro, K.; Yokoo, T.; Oshima, N.; Jiang, W.; Shimizu, N.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0156-6
By: Dasai, F.; Futagawa, M.; Takahashi, K.; Miyao, H.; Honma, H.; Sawada, K.; Ishida, M.;
By: Dasai, F.; Futagawa, M.; Takahashi, K.; Miyao, H.; Honma, H.; Sawada, K.; Ishida, M.;