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Author: Honda, T.
Results
2004 / IEEE / 978-5-87911-088-3
By: Matsuura, K.; Hoshizuki, H.; Mitsudo, S.; Nishi, H.; Ishibashi, J.; Kitano, A.; Saji, T.; Iwai, Y.; Honda, T.; Eremeev, A.G.; Glyavin, M.Y.; Idehara, T.;
By: Matsuura, K.; Hoshizuki, H.; Mitsudo, S.; Nishi, H.; Ishibashi, J.; Kitano, A.; Saji, T.; Iwai, Y.; Honda, T.; Eremeev, A.G.; Glyavin, M.Y.; Idehara, T.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0978-3
By: Yamaguchi, T.; Amiya, R.; Nanishi, Y.; Araki, T.; Uematsu, N.; Honda, T.; Sugiura, Y.; Hayashi, M.; Tajimi, D.;
By: Yamaguchi, T.; Amiya, R.; Nanishi, Y.; Araki, T.; Uematsu, N.; Honda, T.; Sugiura, Y.; Hayashi, M.; Tajimi, D.;
1989 / IEEE
By: Tada, E.; Shibanuma, K.; Sugihara, M.; Yoshida, K.; Tsuji, H.; Shimomura, Y.; Matsuda, S.; Abe, T.; Fujisawa, N.; Hasegawa, M.; Honda, T.; Horie, T.; Hosobuchi, H.; Iida, H.; Ishida, S.; Kashihara, S.; Kimura, H.; Koizumi, K.; Kuroda, T.; Kusama, Y.; Maki, K.; Matoba, T.; Matsuoka, F.; Mizoguchi, T.; Mori, M.; Naruse, H.; Nishio, T.; Ohara, Y.; Ohkawa, Y.; Okuno, K.; Sato, K.; Seki, S.; Seki, Y.; Shinya, Y.; Takatsu, H.; Tanaka, S.; Takizuka, T.; Tsunematsu, T.; Yamamoto, S.; Yoshida, H.;
By: Tada, E.; Shibanuma, K.; Sugihara, M.; Yoshida, K.; Tsuji, H.; Shimomura, Y.; Matsuda, S.; Abe, T.; Fujisawa, N.; Hasegawa, M.; Honda, T.; Horie, T.; Hosobuchi, H.; Iida, H.; Ishida, S.; Kashihara, S.; Kimura, H.; Koizumi, K.; Kuroda, T.; Kusama, Y.; Maki, K.; Matoba, T.; Matsuoka, F.; Mizoguchi, T.; Mori, M.; Naruse, H.; Nishio, T.; Ohara, Y.; Ohkawa, Y.; Okuno, K.; Sato, K.; Seki, S.; Seki, Y.; Shinya, Y.; Takatsu, H.; Tanaka, S.; Takizuka, T.; Tsunematsu, T.; Yamamoto, S.; Yoshida, H.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Yokoyama, M.; Tadano, M.; Kobayashi, Y.; Katoh, M.; Nakamura, N.; Kasuga, T.; Honda, T.; Haga, K.;
By: Yokoyama, M.; Tadano, M.; Kobayashi, Y.; Katoh, M.; Nakamura, N.; Kasuga, T.; Honda, T.; Haga, K.;
1996 / IEEE / 0-7803-3339-X
By: Honda, T.; Hirano, H.; Sumi, T.; Chaya, S.; Nakane, G.; Inoue, A.; Nakakuma, T.; Moriwaki, N.;
By: Honda, T.; Hirano, H.; Sumi, T.; Chaya, S.; Nakane, G.; Inoue, A.; Nakakuma, T.; Moriwaki, N.;
1996 / IEEE
By: Shimamoto, S.; Tsuji, H.; Kato, T.; Nakajima, H.; Isono, T.; Hiyama, T.; Oshikiri, M.; Kawano, K.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.; Nunoya, K.; Seki, S.; Hanawa, H.; Wakabayashi, H.; Nishida, K.; Honda, T.; Matsui, H.; Uno, Y.; Takano, K.; Ando, T.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Sekiguchi, S.; Ohuchi, T.; Tajiri, F.; Okayama, J.; Takaya, Y.; Kawasaki, T.; Imahashi, K.; Ohtsu, K.; Hamada, K.;
By: Shimamoto, S.; Tsuji, H.; Kato, T.; Nakajima, H.; Isono, T.; Hiyama, T.; Oshikiri, M.; Kawano, K.; Sugimoto, M.; Koizumi, N.; Nunoya, K.; Seki, S.; Hanawa, H.; Wakabayashi, H.; Nishida, K.; Honda, T.; Matsui, H.; Uno, Y.; Takano, K.; Ando, T.; Nishi, M.; Takahashi, Y.; Sekiguchi, S.; Ohuchi, T.; Tajiri, F.; Okayama, J.; Takaya, Y.; Kawasaki, T.; Imahashi, K.; Ohtsu, K.; Hamada, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2584-2
By: Sumi, T.; Honda, T.; Maejima, T.; Chaya, S.; Hirano, H.; Michiyama, J.; Watanabe, S.; Fukumoto, T.; Akashi, T.; Ariga, R.;
By: Sumi, T.; Honda, T.; Maejima, T.; Chaya, S.; Hirano, H.; Michiyama, J.; Watanabe, S.; Fukumoto, T.; Akashi, T.; Ariga, R.;
1993 / IEEE / 0-7803-1412-3
By: Kondoh, M.; Kakudate, S.; Shibanuma, K.; Honda, T.; Obama, M.; Ogawa, H.; Sasaki, N.;
By: Kondoh, M.; Kakudate, S.; Shibanuma, K.; Honda, T.; Obama, M.; Ogawa, H.; Sasaki, N.;
1995 / IEEE / 0-7803-2400-5
By: Munekata, H.; Inoue, K.; Honda, T.; Iga, K.; Koyama, F.; Kukimoto, H.;
By: Munekata, H.; Inoue, K.; Honda, T.; Iga, K.; Koyama, F.; Kukimoto, H.;
1997 / IEEE
By: Nakakuma, T.; Hirano, H.; Moriwaki, N.; Honda, T.; Inoue, A.; Sumi, T.; Chaya, S.; Nakane, G.;
By: Nakakuma, T.; Hirano, H.; Moriwaki, N.; Honda, T.; Inoue, A.; Sumi, T.; Chaya, S.; Nakane, G.;
1996 / IEEE / 0-8186-7620-5
By: Kollensperger, P.; Listl, L.; Schick, A.; Ninomiya, T.; Sasazawa, H.; Nomoto, M.; Spriegel, D.; Yamamura, H.; Honda, T.; Matsuyama, Y.; Schneider, R.; Mengel, P.;
By: Kollensperger, P.; Listl, L.; Schick, A.; Ninomiya, T.; Sasazawa, H.; Nomoto, M.; Spriegel, D.; Yamamura, H.; Honda, T.; Matsuyama, Y.; Schneider, R.; Mengel, P.;
1993 / IEEE / 0-7803-0823-9
By: Kondoh, M.; Terakado, T.; Oka, K.; Kakudate, S.; Shibanuma, K.; Munakata, T.; Honda, T.; Nakagaki, S.; Matsumoto, Y.; Murakami, S.;
By: Kondoh, M.; Terakado, T.; Oka, K.; Kakudate, S.; Shibanuma, K.; Munakata, T.; Honda, T.; Nakagaki, S.; Matsumoto, Y.; Murakami, S.;
1994 / IEEE / 0-7803-1470-0
By: Yanashima, K.; Honda, T.; Lim, S.W.; Iga, K.; Kukimoto, H.; Koyama, F.;
By: Yanashima, K.; Honda, T.; Lim, S.W.; Iga, K.; Kukimoto, H.; Koyama, F.;
1997 / IEEE / 0-7803-4226-7
By: Aoki, I.; Kunugi, T.; Teruyama, K.; Seki, Y.; Yoshino, R.; Honda, T.; Okazaki, T.; Hiratsuka, H.;
By: Aoki, I.; Kunugi, T.; Teruyama, K.; Seki, Y.; Yoshino, R.; Honda, T.; Okazaki, T.; Hiratsuka, H.;
1992 / IEEE / 0-7803-0479-9
By: Vanagawa, K.; Okamoto, T.; Honda, T.; Watanabe, M.; Kozima, Y.; Nakamura, T.;
By: Vanagawa, K.; Okamoto, T.; Honda, T.; Watanabe, M.; Kozima, Y.; Nakamura, T.;
A theory for analyzing the flap motion of wings of small flying elements driven by a magnetic torque
1998 / IEEEBy: Arai, K.I.; Inoue, M.; Shimasaki, K.; Honda, T.;
1990 / IEEE / 0-8169-0490-1
By: Negishl, A.; Masuda, T.; Tanaka, K.; Homma, A.T.; Hori, Y.; Honda, T.;
By: Negishl, A.; Masuda, T.; Tanaka, K.; Homma, A.T.; Hori, Y.; Honda, T.;
1998 / IEEE / 0-7803-4947-4
By: Iwata, M.; Shirasawa, T.; Inoue, A.; Mochida, N.; Honda, T.; Sakaguchi, T.; Iga, K.; Koyama, F.;
By: Iwata, M.; Shirasawa, T.; Inoue, A.; Mochida, N.; Honda, T.; Sakaguchi, T.; Iga, K.; Koyama, F.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Tadano, M.; Ueda, A.; Katoh, M.; Honda, T.; Mitsuhashi, T.; Kobayashi, Y.;
By: Tadano, M.; Ueda, A.; Katoh, M.; Honda, T.; Mitsuhashi, T.; Kobayashi, Y.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Honda, T.; Kamiya, Y.; Nakamura, N.; Koseki, T.; Shinow, K.; Kudo, H.;
By: Honda, T.; Kamiya, Y.; Nakamura, N.; Koseki, T.; Shinow, K.; Kudo, H.;
1999 / IEEE / 0-7803-5126-6
By: Baba, T.; Mitsuyama, Y.; Asari, K.; Meng, T.; Onoye, T.; Otsuki, T.; Honda, T.; Hirano, H.; Shirakawa, I.;
By: Baba, T.; Mitsuyama, Y.; Asari, K.; Meng, T.; Onoye, T.; Otsuki, T.; Honda, T.; Hirano, H.; Shirakawa, I.;
1999 / IEEE / 0-7695-0256-3
By: Honda, T.; Hirano, H.; Shirakawa, I.; Onoye, T.; Otsuki, T.; Asari, K.; Meng, T.; Mitsuyama, Y.; Baba, T.;
By: Honda, T.; Hirano, H.; Shirakawa, I.; Onoye, T.; Otsuki, T.; Asari, K.; Meng, T.; Mitsuyama, Y.; Baba, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5769-8
By: Yoshida, M.; Yamamoto, M.; Nakaoka, M.; Kouno, I.; Sugimoto, S.; Hiraki, E.; Iwamoto, H.; Honda, T.;
By: Yoshida, M.; Yamamoto, M.; Nakaoka, M.; Kouno, I.; Sugimoto, S.; Hiraki, E.; Iwamoto, H.; Honda, T.;
1999 / IEEE / 0-7803-5170-3
By: Honda, T.; Oonishi, M.; Bea, J.C.; Song, Y.H.; Koyanagi, M.; Kurino, H.;
By: Honda, T.; Oonishi, M.; Bea, J.C.; Song, Y.H.; Koyanagi, M.; Kurino, H.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Kitamura, I.; Honda, T.; Shiotani, M.; Takao, K.; Masugata, K.; Takahashi, T.;
By: Kitamura, I.; Honda, T.; Shiotani, M.; Takao, K.; Masugata, K.; Takahashi, T.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Takao, K.; Masugata, K.; Takahashi, T.; Kitamura, I.; Honda, T.; Shiotani, M.;
By: Takao, K.; Masugata, K.; Takahashi, T.; Kitamura, I.; Honda, T.; Shiotani, M.;
2002 / IEEE / 0-7803-7310-3
By: Tahara, S.; Hada, H.; Numata, H.; Miura, S.; Sugibayashi, T.; Sakimura, N.; Honda, T.;
By: Tahara, S.; Hada, H.; Numata, H.; Miura, S.; Sugibayashi, T.; Sakimura, N.; Honda, T.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Colvin, J.; Valera, J.; Liu, A.C.; Honda, T.; Sawyer, K.; McLeod, R.R.;
By: Colvin, J.; Valera, J.; Liu, A.C.; Honda, T.; Sawyer, K.; McLeod, R.R.;
2002 / IEEE / 0-7803-7540-8
By: Shiotani, M.; Takao, K.; Masugata, K.; Takahashi, T.; Kitamura, I.; Tejima, R.; Honda, T.;
By: Shiotani, M.; Takao, K.; Masugata, K.; Takahashi, T.; Kitamura, I.; Tejima, R.; Honda, T.;
2003 / IEEE / 0-7803-7911-X
By: Mitsudo, S.; Kuroda, T.; Hoshizuki, H.; Iwai, Y.; Idehara, T.; Honda, T.; Tanahashi, F.; Eremeev, A.; Glyavin, M.;
By: Mitsudo, S.; Kuroda, T.; Hoshizuki, H.; Iwai, Y.; Idehara, T.; Honda, T.; Tanahashi, F.; Eremeev, A.; Glyavin, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7707-9
By: Sugibayashi, T.; Sakimura, N.; Tahara, S.; Hada, H.; Numata, H.; Miura, S.; Honda, T.;
By: Sugibayashi, T.; Sakimura, N.; Tahara, S.; Hada, H.; Numata, H.; Miura, S.; Honda, T.;
2004 / IEEE
By: Imagawa, S.; Yanagi, N.; Motojima, O.; Kakui, H.; Satoh, M.; Yoshinaga, S.; Shinba, T.; Honda, T.; Seo, K.; Hishinuma, Y.; Hamaguchi, S.; Iwamoto, A.; Tamura, H.; Chikaraishi, H.; Takahata, K.; Yamada, S.; Nishimura, A.; Mito, T.;
By: Imagawa, S.; Yanagi, N.; Motojima, O.; Kakui, H.; Satoh, M.; Yoshinaga, S.; Shinba, T.; Honda, T.; Seo, K.; Hishinuma, Y.; Hamaguchi, S.; Iwamoto, A.; Tamura, H.; Chikaraishi, H.; Takahata, K.; Yamada, S.; Nishimura, A.; Mito, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8411-3
By: Hoshizuki, H.; Mitsudo, S.; Ishibashi, J.; Kitano, A.; Nishi, H.; Saji, T.; Matsuura, K.; Honda, T.; Eremeev, A.; Glyavin, M.; Idehara, T.; Iwai, Y.;
By: Hoshizuki, H.; Mitsudo, S.; Ishibashi, J.; Kitano, A.; Nishi, H.; Saji, T.; Matsuura, K.; Honda, T.; Eremeev, A.; Glyavin, M.; Idehara, T.; Iwai, Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-8859-3
By: Honda, T.; Asaoka, S.; Yamamoto, S.; Umemori, K.; Ueda, A.; Uchiyama, T.; Tsuchiya, K.; Tanimoto, Y.; Takahashi, T.; Tadano, M.; Shioya, T.; Sato, Y.; Sakanaka, S.; Cheng, W.X.; Haga, K.; Harada, K.; Hori, Y.; Izawa, M.; Kasuga, T.; Kobayashi, Y.; Maezawa, H.; Mishina, A.; Mitsuhashi, T.; Miyajima, T.; Miyauchi, H.; Nagahashi, S.; Nogami, T.; Obina, T.; Pak, C.O.;
By: Honda, T.; Asaoka, S.; Yamamoto, S.; Umemori, K.; Ueda, A.; Uchiyama, T.; Tsuchiya, K.; Tanimoto, Y.; Takahashi, T.; Tadano, M.; Shioya, T.; Sato, Y.; Sakanaka, S.; Cheng, W.X.; Haga, K.; Harada, K.; Hori, Y.; Izawa, M.; Kasuga, T.; Kobayashi, Y.; Maezawa, H.; Mishina, A.; Mitsuhashi, T.; Miyajima, T.; Miyauchi, H.; Nagahashi, S.; Nogami, T.; Obina, T.; Pak, C.O.;
2005 / IEEE / 0-7803-9221-3
By: Itoh, T.; Kokubun, M.; Takashima, T.; Yanagida, T.; Hirakuri, S.; Honda, T.; Takahashi, H.; Makishima, K.; Tanaka, T.; Nakazawa, K.; Takahashi, T.; Miyawaki, R.;
By: Itoh, T.; Kokubun, M.; Takashima, T.; Yanagida, T.; Hirakuri, S.; Honda, T.; Takahashi, H.; Makishima, K.; Tanaka, T.; Nakazawa, K.; Takahashi, T.; Miyawaki, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-8397-4
By: Honda, T.; Rochanachirapar, W.; Murakami, K.; Ohsumi, K.; Shimizu, N.; Abo, S.; Wakaya, F.; Takai, M.;
By: Honda, T.; Rochanachirapar, W.; Murakami, K.; Ohsumi, K.; Shimizu, N.; Abo, S.; Wakaya, F.; Takai, M.;
2006 / IEEE / 1-4244-0006-6
By: Ishiwata, N.; Suzuki, T.; Saito, S.; Honjo, H.; Tahara, S.; Sugibayashi, T.; Sakimura, N.; Honda, T.;
By: Ishiwata, N.; Suzuki, T.; Saito, S.; Honjo, H.; Tahara, S.; Sugibayashi, T.; Sakimura, N.; Honda, T.;
2006 / IEEE
By: Miyawaki, R.; Kokubun, M.; Itoh, T.; Takahashi, T.; Nakazawa, K.; Takahashi, H.; Takashima, T.; Hirakuri, S.; Yanagida, T.; Tanaka, T.; Makishima, K.; Honda, T.;
By: Miyawaki, R.; Kokubun, M.; Itoh, T.; Takahashi, T.; Nakazawa, K.; Takahashi, H.; Takashima, T.; Hirakuri, S.; Yanagida, T.; Tanaka, T.; Makishima, K.; Honda, T.;
2006 / IEEE / 1-4244-0401-0
By: Oh, C.B.; Kim, W.S.; Honda, T.; Ohsumi, K.; Murakami, K.; Takai, M.; Wakaya, F.; Abo, S.;
By: Oh, C.B.; Kim, W.S.; Honda, T.; Ohsumi, K.; Murakami, K.; Takai, M.; Wakaya, F.; Abo, S.;
2006 / IEEE / 1-4244-0401-0
By: Ohsumi, K.; Oh, C.B.; Honda, T.; Kim, W.S.; Murakami, K.; Takai, M.; Wakaya, R.; Abo, S.;
By: Ohsumi, K.; Oh, C.B.; Honda, T.; Kim, W.S.; Murakami, K.; Takai, M.; Wakaya, R.; Abo, S.;
2007 / IEEE
By: Ishiwata, N.; Suzuki, T.; Saito, S.; Honjo, H.; Tahara, S.; Sugibayashi, T.; Honda, T.; Sakimura, N.;
By: Ishiwata, N.; Suzuki, T.; Saito, S.; Honjo, H.; Tahara, S.; Sugibayashi, T.; Honda, T.; Sakimura, N.;
2006 / IEEE / 0-7803-9734-7
By: Nagahara, K.; Mori, K.; Honda, T.; Sakimura, N.; Sugibayashi, T.; Tahara, S.; Kasai, N.; Ishiwata, N.; Hada, H.; Fukami, S.; Nebashi, R.; Tsuji, K.; Mukai, T.; Suemitsu, K.; Suzuki, T.; Honjo, H.; Fukumoto, Y.; Saito, S.; Kato, Y.; Shimura, K.-i.; Miura, S.; Numata, H.;
By: Nagahara, K.; Mori, K.; Honda, T.; Sakimura, N.; Sugibayashi, T.; Tahara, S.; Kasai, N.; Ishiwata, N.; Hada, H.; Fukami, S.; Nebashi, R.; Tsuji, K.; Mukai, T.; Suemitsu, K.; Suzuki, T.; Honjo, H.; Fukumoto, Y.; Saito, S.; Kato, Y.; Shimura, K.-i.; Miura, S.; Numata, H.;
2007 / IEEE
By: Fukunaga, H.; Yanai, T.; Fidler, J.; Itakura, M.; Ishiyama, K.; Nakano, M.; Honda, T.; Yamashita, F.; Sato, S.; Yamasaki, J.;
By: Fukunaga, H.; Yanai, T.; Fidler, J.; Itakura, M.; Ishiyama, K.; Nakano, M.; Honda, T.; Yamashita, F.; Sato, S.; Yamasaki, J.;