Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Hirano, M.
Results
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Buhl, L.L.; Sasaki, T.; Hirano, M.; Fontaine, N.K.; Doerr, C.R.; Winzer, P.J.;
By: Buhl, L.L.; Sasaki, T.; Hirano, M.; Fontaine, N.K.; Doerr, C.R.; Winzer, P.J.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Hirano, M.; Veljanovski, V.; van den Borne, D.; Kuschnerov, M.; Yamamoto, Y.; Sleiffer, V.A.J.M.; de Waardt, H.; Jansen, S.L.; Sasaki, T.;
By: Hirano, M.; Veljanovski, V.; van den Borne, D.; Kuschnerov, M.; Yamamoto, Y.; Sleiffer, V.A.J.M.; de Waardt, H.; Jansen, S.L.; Sasaki, T.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Sleiffer, V.A.J.M.; de Waardt, H.; Jansen, S.L.; Sasaki, T.; Veljanovski, V.; Yamamoto, Y.; Hirano, M.; Kuschnerov, M.; van den Borne, D.;
By: Sleiffer, V.A.J.M.; de Waardt, H.; Jansen, S.L.; Sasaki, T.; Veljanovski, V.; Yamamoto, Y.; Hirano, M.; Kuschnerov, M.; van den Borne, D.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0978-3
By: Sasaki, T.; Koyano, Y.; Tei, C.; Kawano, T.; Hirano, M.; Yamamoto, Y.; Saito, T.;
By: Sasaki, T.; Koyano, Y.; Tei, C.; Kawano, T.; Hirano, M.; Yamamoto, Y.; Saito, T.;
1988 / IEEE
By: Okada, H.; Chikaba, J.; Hirano, M.; Kawakami, M.; Takamatsu, M.; Terazono, K.; Ezaki, T.; Irie, F.; Sato, S.; Funaki, K.; Takeo, M.; Koba, H.; Ogawa, K.;
By: Okada, H.; Chikaba, J.; Hirano, M.; Kawakami, M.; Takamatsu, M.; Terazono, K.; Ezaki, T.; Irie, F.; Sato, S.; Funaki, K.; Takeo, M.; Koba, H.; Ogawa, K.;
1989 / IEEE
By: Endo, K.; Kubo, T.; Ohsawa, Y.; Takayama, K.; Hirano, M.; Mitsui, H.; Ozaki, T.; Kumazawa, R.; Chugun, T.;
By: Endo, K.; Kubo, T.; Ohsawa, Y.; Takayama, K.; Hirano, M.; Mitsui, H.; Ozaki, T.; Kumazawa, R.; Chugun, T.;
1991 / IEEE
By: Hayashida, H.; Nagamatsu, M.; Mori, J.; Maeguchi, K.; Hirano, M.; Hashimoto, K.; Toyoshima, Y.; Noda, M.; Tanaka, S.;
By: Hayashida, H.; Nagamatsu, M.; Mori, J.; Maeguchi, K.; Hirano, M.; Hashimoto, K.; Toyoshima, Y.; Noda, M.; Tanaka, S.;
1991 / IEEE
By: Yano, S.; Nagaishi, H.; Hatano, Y.; Hirano, M.; Kominami, S.; Yamada, H.; Nakahara, K.;
By: Yano, S.; Nagaishi, H.; Hatano, Y.; Hirano, M.; Kominami, S.; Yamada, H.; Nakahara, K.;
1991 / IEEE / 0-7803-0453-5
By: Tomiku, M.; Yokoyama, M.; Hirano, M.; Kawashima, Y.; Ogata, S.; Kuno, T.;
By: Tomiku, M.; Yokoyama, M.; Hirano, M.; Kawashima, Y.; Ogata, S.; Kuno, T.;
1993 / IEEE
By: Yamaoka, H.; Hirabayashi, H.; Yamamoto, A.; Kondo, M.; Ikeda, M.; Inoue, I.; Kawabata, S.; Ito, S.; Hirano, M.; Walckiers, L.; Perin, R.; Leroy, D.; Brianti, G.;
By: Yamaoka, H.; Hirabayashi, H.; Yamamoto, A.; Kondo, M.; Ikeda, M.; Inoue, I.; Kawabata, S.; Ito, S.; Hirano, M.; Walckiers, L.; Perin, R.; Leroy, D.; Brianti, G.;
1995 / IEEE
By: Kawabata, S.; Brianti, G.; Terashima, A.; Naihao Song; Yamaoka, H.; Kawamata, H.; Hirabayashi, H.; Higashi, N.; Shintomi, T.; Yamamoto, A.; Kondo, M.; Meguro, S.; Ikeda, M.; Inoue, I.; Makishima, K.; Origasa, T.; Hirano, M.; Walckiers, L.; Siemko, A.; Perin, R.; Leroy, D.; Buckley, J.;
By: Kawabata, S.; Brianti, G.; Terashima, A.; Naihao Song; Yamaoka, H.; Kawamata, H.; Hirabayashi, H.; Higashi, N.; Shintomi, T.; Yamamoto, A.; Kondo, M.; Meguro, S.; Ikeda, M.; Inoue, I.; Makishima, K.; Origasa, T.; Hirano, M.; Walckiers, L.; Siemko, A.; Perin, R.; Leroy, D.; Buckley, J.;
1995 / IEEE / 0-7803-2581-8
By: Hirano, M.; Yamasaki, K.; Sugitani, S.; Aoyama, S.; Toyoda, I.; Nishikawa, K.;
By: Hirano, M.; Yamasaki, K.; Sugitani, S.; Aoyama, S.; Toyoda, I.; Nishikawa, K.;
1995 / IEEE / 0-7803-2581-8
By: Yamaguchi, S.; Sano, E.; Hirano, M.; Otsuji, T.; Shibata, T.; Imai, Y.;
By: Yamaguchi, S.; Sano, E.; Hirano, M.; Otsuji, T.; Shibata, T.; Imai, Y.;
1997 / IEEE / 0-7803-3814-6
By: Toyoda, I.; Hirano, M.; Yamaguchi, C.; Nishikawa, K.; Kamogawa, K.; Tokumitsu, T.;
By: Toyoda, I.; Hirano, M.; Yamaguchi, C.; Nishikawa, K.; Kamogawa, K.; Tokumitsu, T.;
1997 / IEEE / 0-7803-4063-9
By: Tokumitsu, T.; Nishikawa, K.; Toyoda, I.; Aikawa, M.; Hirano, M.; Yamaguchi, C.; Kamogawa, K.;
By: Tokumitsu, T.; Nishikawa, K.; Toyoda, I.; Aikawa, M.; Hirano, M.; Yamaguchi, C.; Kamogawa, K.;
1997 / IEEE
By: Aikawa, M.; Hirano, M.; Yamaguchi, C.; Kamogawa, K.; Tokumitsu, T.; Nishikawa, K.; Toyoda, I.;
By: Aikawa, M.; Hirano, M.; Yamaguchi, C.; Kamogawa, K.; Tokumitsu, T.; Nishikawa, K.; Toyoda, I.;
1998 / IEEE / 0-7803-4344-1
By: Hirano, M.; Yamaguchi, C.; Tokumitsu, T.; Kamogawa, K.; Toyoda, I.; Nishikawa, K.;
By: Hirano, M.; Yamaguchi, C.; Tokumitsu, T.; Kamogawa, K.; Toyoda, I.; Nishikawa, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4439-1
By: Inoue, K.; Kamogawa, K.; Nishikawa, K.; Toyoda, I.; Tokumitsu, T.; Hirano, M.; Onodera, K.;
By: Inoue, K.; Kamogawa, K.; Nishikawa, K.; Toyoda, I.; Tokumitsu, T.; Hirano, M.; Onodera, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4439-1
By: Toyoda, I.; Tokumitsu, T.; Onodera, K.; Hirano, M.; Yamaguchi, C.; Kamogawa, K.; Nishikawa, K.;
By: Toyoda, I.; Tokumitsu, T.; Onodera, K.; Hirano, M.; Yamaguchi, C.; Kamogawa, K.; Nishikawa, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4471-5
By: Inoue, K.; Kamogawa, K.; Nishikawa, K.; Toyoda, I.; Tokumitsu, T.; Hirano, M.; Onodera, K.;
By: Inoue, K.; Kamogawa, K.; Nishikawa, K.; Toyoda, I.; Tokumitsu, T.; Hirano, M.; Onodera, K.;
1998 / IEEE / 0-7803-4471-5
By: Hirano, M.; Yamaguchi, C.; Kamogawa, K.; Nishikawa, K.; Toyoda, I.; Tokumitsu, T.; Onodera, K.;
By: Hirano, M.; Yamaguchi, C.; Kamogawa, K.; Nishikawa, K.; Toyoda, I.; Tokumitsu, T.; Onodera, K.;
1998 / IEEE / 84-89900-14-0
By: Makio, Y.; Sasaoka, E.; Onishi, M.; Hirano, M.; Kato, T.; Yokoyama, Y.; Nishimura, M.;
By: Makio, Y.; Sasaoka, E.; Onishi, M.; Hirano, M.; Kato, T.; Yokoyama, Y.; Nishimura, M.;
1999 / IEEE
By: Kamogawa, K.; Nishikawa, K.; Hirano, M.; Toyoda, I.; Inoue, R.; Tanaka, M.; Tokumitsu, T.; Onodera, K.;
By: Kamogawa, K.; Nishikawa, K.; Hirano, M.; Toyoda, I.; Inoue, R.; Tanaka, M.; Tokumitsu, T.; Onodera, K.;
2.44-GFLOPS 300-MHz floating-point vector-processing unit for high-performance 3D graphics computing
2000 / IEEEBy: Sato, T.; Kunimatsu, A.; Murakami, H.; Yoshioka, S.; Endo, Y.; Kamei, T.; Ide, N.; Suzuoki, M.; Hirano, M.; Okada, T.;
2000 / IEEE
By: Kamei, T.; Hirano, M.; Murakami, H.; Endo, Y.; Sato, T.; Ide, N.; Kunimatsu, A.; Suzuoki, M.; Okada, T.; Yutaka, T.; Ohba, A.; Oka, M.; Tago, H.; Ishihara, F.;
By: Kamei, T.; Hirano, M.; Murakami, H.; Endo, Y.; Sato, T.; Ide, N.; Kunimatsu, A.; Suzuoki, M.; Okada, T.; Yutaka, T.; Ohba, A.; Oka, M.; Tago, H.; Ishihara, F.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Toyoda, I.; Nishikawa, K.; Kamogawa, K.; Muraguchi, M.; Nakagawa, T.; Hirano, M.; Tokumitsu, M.;
By: Toyoda, I.; Nishikawa, K.; Kamogawa, K.; Muraguchi, M.; Nakagawa, T.; Hirano, M.; Tokumitsu, M.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Hirano, M.; Suzuki, Y.; Kozeki, T.; Hosono, H.; Sarukura, N.; Zhenlin Liu; Fukuda, T.; Shimamura, K.;
By: Hirano, M.; Suzuki, Y.; Kozeki, T.; Hosono, H.; Sarukura, N.; Zhenlin Liu; Fukuda, T.; Shimamura, K.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Hosono, H.; Suzuki, Y.; Kozeki, T.; Liu, Z.; Sarukura, N.; Hirano, M.; Fukuda, T.; Shimamura, K.;
By: Hosono, H.; Suzuki, Y.; Kozeki, T.; Liu, Z.; Sarukura, N.; Hirano, M.; Fukuda, T.; Shimamura, K.;
2001 / IEEE
By: Sarukura, N.; Liu, Z.; Kozeki, T.; Suzuki, Y.; Hosono, H.; Shimamura, K.; Fukuda, T.; Hirano, M.;
By: Sarukura, N.; Liu, Z.; Kozeki, T.; Suzuki, Y.; Hosono, H.; Shimamura, K.; Fukuda, T.; Hirano, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-6705-7
By: Onishi, M.; Kato, T.; Tada, A.; Hirano, M.; Nishimura, M.; Makio, Y.;
By: Onishi, M.; Kato, T.; Tada, A.; Hirano, M.; Nishimura, M.; Makio, Y.;
2002 / IEEE
By: Tamura, S.; Nakamura, H.; Takahashi, S.; Hori, M.; Narumi, Y.; Sato, Y.; Xin Chen; Hirano, M.;
By: Tamura, S.; Nakamura, H.; Takahashi, S.; Hori, M.; Narumi, Y.; Sato, Y.; Xin Chen; Hirano, M.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Okuno, T.; Tsuzaki, T.; Miyamoto, T.; Shigematsu, M.; Onishi, M.; Hirano, M.; Kakui, M.;
By: Okuno, T.; Tsuzaki, T.; Miyamoto, T.; Shigematsu, M.; Onishi, M.; Hirano, M.; Kakui, M.;
2002 / IEEE / 0-7803-7437-1
By: Hirano, M.; Takaku, N.; Hirano, F.; Saito, M.; Funahashi, K.; Uetake, A.; Yashiro, S.; Otsuka, M.; Kuwahara, K.; Matsumoto, S.; Fujitani, J.;
By: Hirano, M.; Takaku, N.; Hirano, F.; Saito, M.; Funahashi, K.; Uetake, A.; Yashiro, S.; Otsuka, M.; Kuwahara, K.; Matsumoto, S.; Fujitani, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7661-7
By: Aoki, M.; Hirano, M.; Urushidani, S.; Goshima, M.; Miyamura, T.; Kurimoto, T.; Matsuura, N.;
By: Aoki, M.; Hirano, M.; Urushidani, S.; Goshima, M.; Miyamura, T.; Kurimoto, T.; Matsuura, N.;
2004 / IEEE / 0-7695-2138-X
By: Itoh, S.; Tanaka, Y.; Takemiya, H.; Yamamoto, N.; Hirano, M.; Sekiguchi, S.;
By: Itoh, S.; Tanaka, Y.; Takemiya, H.; Yamamoto, N.; Hirano, M.; Sekiguchi, S.;
1999 / IEEE
By: Suzuoki, M.; Okada, T.; Kamei, T.; Sato, T.; Kunimatsu, A.; Murakami, H.; Yoshioka, S.; Yukio Endo; Hirano, M.; Nobuhiro Ide;
By: Suzuoki, M.; Okada, T.; Kamei, T.; Sato, T.; Kunimatsu, A.; Murakami, H.; Yoshioka, S.; Yukio Endo; Hirano, M.; Nobuhiro Ide;