Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Hendrickson, L.
Results
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: McCormick, D.; Hendrickson, L.; Bong, E.; Seeman, J.T.; Ross, M.C.; Sanchez-Chopitea, L.;
By: McCormick, D.; Hendrickson, L.; Bong, E.; Seeman, J.T.; Ross, M.C.; Sanchez-Chopitea, L.;
1991 / IEEE / 0-7803-0135-8
By: Castillo, S.; Allison, S.; Rouse, F.; Shoaee, H.; Sass, B.; Gromme, T.; Krauter, K.; Himel, T.; Hendrickson, L.; Hall, B.;
By: Castillo, S.; Allison, S.; Rouse, F.; Shoaee, H.; Sass, B.; Gromme, T.; Krauter, K.; Himel, T.; Hendrickson, L.; Hall, B.;
1993 / IEEE / 0-8186-4130-4
By: Hendrickson, L.; Grossberg, P.; Allison, S.; Himel, T.; Shoaee, H.; Sass, R.;
By: Hendrickson, L.; Grossberg, P.; Allison, S.; Himel, T.; Shoaee, H.; Sass, R.;
1993 / IEEE / 0-7803-1203-1
By: Allison, S.; Himel, T.; Shoaee, H.; Sass, R.; Hendrickson, L.; Grossberg, P.;
By: Allison, S.; Himel, T.; Shoaee, H.; Sass, R.; Hendrickson, L.; Grossberg, P.;
1995 / IEEE / 0-7803-2934-1
By: Sass, R.; Minty, M.; MacKenzie, R.; Krauter, K.; Grossberg, P.; Himel, T.; Shoaee, H.; Gromme, T.; Allison, S.; Adolphsen, C.; Hendrickson, L.; Woodley, M.;
By: Sass, R.; Minty, M.; MacKenzie, R.; Krauter, K.; Grossberg, P.; Himel, T.; Shoaee, H.; Gromme, T.; Allison, S.; Adolphsen, C.; Hendrickson, L.; Woodley, M.;
1997 / IEEE / 0-7803-4376-X
By: Zimmermann, F.; Yeremian, A.D.; Walz, D.; Thompson, K.; Tenenbaum, P.; Tang, H.; Spencer, J.; Ross, M.; Raimondi, P.; Phinney, N.; Minty, M.; Krejcik, P.; Jarvis, H.; Irwin, J.; Hertzbach, S.; Hendrickson, L.; Helm, R.; Emma, P.; Decker, F.J.; Burke, D.; Batte, K.; Assmann, R.; Adolphsen, C.;
By: Zimmermann, F.; Yeremian, A.D.; Walz, D.; Thompson, K.; Tenenbaum, P.; Tang, H.; Spencer, J.; Ross, M.; Raimondi, P.; Phinney, N.; Minty, M.; Krejcik, P.; Jarvis, H.; Irwin, J.; Hertzbach, S.; Hendrickson, L.; Helm, R.; Emma, P.; Decker, F.J.; Burke, D.; Batte, K.; Assmann, R.; Adolphsen, C.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Raubenheimer, T.O.; Phinney, N.; Hendrickson, L.; Emma, P.; Tenenbaum, P.; Woodley, M.;
By: Raubenheimer, T.O.; Phinney, N.; Hendrickson, L.; Emma, P.; Tenenbaum, P.; Woodley, M.;
1999 / IEEE / 0-7803-5573-3
By: Phinney, N.; Grossberg, P.; Minty, M.; Himel, T.; Raimondi, P.; Hendrickson, L.; Tenenbaum, P.; Shoaee, H.; Raubenheimer, T.;
By: Phinney, N.; Grossberg, P.; Minty, M.; Himel, T.; Raimondi, P.; Hendrickson, L.; Tenenbaum, P.; Shoaee, H.; Raubenheimer, T.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Eriksson, L.; Allison, S.; Seryi, A.; Luchini, K.; Himel, T.; Hendrickson, L.; Frisch, J.;
By: Eriksson, L.; Allison, S.; Seryi, A.; Luchini, K.; Himel, T.; Hendrickson, L.; Frisch, J.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Phinney, N.; Himel, T.; Hendrickson, L.; Woodley, M.; Tenenbaum, P.; Seryi, A.; Raubenheimer, T.;
By: Phinney, N.; Himel, T.; Hendrickson, L.; Woodley, M.; Tenenbaum, P.; Seryi, A.; Raubenheimer, T.;
2001 / IEEE / 0-7803-7191-7
By: Weathersby, S.; Murphy, B.; Krauter, K.E.; Hendrickson, L.; Fisher, A.; Decker, F.J.; Wienands, U.;
By: Weathersby, S.; Murphy, B.; Krauter, K.E.; Hendrickson, L.; Fisher, A.; Decker, F.J.; Wienands, U.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Emma, P.; Decker, F.J.; Krejcik, P.; Stanek, M.; Hacker, K.; Smith, H.; Schlarb, H.; O'Connell, C.L.; Hendrickson, L.;
By: Emma, P.; Decker, F.J.; Krejcik, P.; Stanek, M.; Hacker, K.; Smith, H.; Schlarb, H.; O'Connell, C.L.; Hendrickson, L.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Doyle, E.; Frisch, J.; Partridge, R.; Markiewicz, T.; Himel, T.; Hendrickson, L.; Eriksson, L.;
By: Doyle, E.; Frisch, J.; Partridge, R.; Markiewicz, T.; Himel, T.; Hendrickson, L.; Eriksson, L.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Tenenbaum, P.; Raubenheimer, T.O.; Hendrickson, L.; Seryi, A.; Schulte, D.; Woodley, M.;
By: Tenenbaum, P.; Raubenheimer, T.O.; Hendrickson, L.; Seryi, A.; Schulte, D.; Woodley, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Hayano, H.; Vogel, V.; McCormick, D.; Hendrickson, L.; Frisch, J.; Ross, M.; Urakawa, J.;
By: Hayano, H.; Vogel, V.; McCormick, D.; Hendrickson, L.; Frisch, J.; Ross, M.; Urakawa, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Woodley, M.; Tenenbaum, P.; Seryi, A.; Raubenheimer, T.O.; Himel, T.; Hendrickson, L.; Schulte, D.;
By: Woodley, M.; Tenenbaum, P.; Seryi, A.; Raubenheimer, T.O.; Himel, T.; Hendrickson, L.; Schulte, D.;
2003 / IEEE / 0-7803-7738-9
By: Schlarb, H.; O'Connell, C.L.; Krejcik, P.; Hendrickson, L.; Welch, J.; Decker, F.-J.; Bane, K.; Emma, P.; Woodley, M.;
By: Schlarb, H.; O'Connell, C.L.; Krejcik, P.; Hendrickson, L.; Welch, J.; Decker, F.-J.; Bane, K.; Emma, P.; Woodley, M.;