Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Hasegawa, J.
Results
2000 / IEEE
By: Horioka, K.; Watanabe, M.; Takayama, K.; Kishiro, J.; Ogawa, M.; Hasegawa, J.; Shiho, M.; Hotta, E.; Nakajima, M.;
By: Horioka, K.; Watanabe, M.; Takayama, K.; Kishiro, J.; Ogawa, M.; Hasegawa, J.; Shiho, M.; Hotta, E.; Nakajima, M.;
1991 / IEEE
By: Sasago, M.; Shibayama, A.; Amano, N.; Hasegawa, J.; Nakata, Y.; Matsuo, N.; Inoue, M.; Okada, S.; Yamada, T.; Matsumoto, S.; Yabu, T.;
By: Sasago, M.; Shibayama, A.; Amano, N.; Hasegawa, J.; Nakata, Y.; Matsuo, N.; Inoue, M.; Okada, S.; Yamada, T.; Matsumoto, S.; Yabu, T.;
1991 / IEEE / 0-87942-644-6
By: Okada, S.; Matsumoto, S.; Yabu, T.; Malsuo, N.; Sasago, M.; Shibayama, A.; Amano, N.; Hasegawa, J.; Nalkata, Y.; Yamada, T.; Inoue, M.;
By: Okada, S.; Matsumoto, S.; Yabu, T.; Malsuo, N.; Sasago, M.; Shibayama, A.; Amano, N.; Hasegawa, J.; Nalkata, Y.; Yamada, T.; Inoue, M.;
1998 / IEEE / 0-8186-8512-3
By: Ohmatsu, H.; Hasegawa, J.; Hirano, Y.; Eguchi, K.; Toriwaki, J.; Mekada, Y.;
By: Ohmatsu, H.; Hasegawa, J.; Hirano, Y.; Eguchi, K.; Toriwaki, J.; Mekada, Y.;
1999 / IEEE / 0-7803-5126-6
By: Nagamatsu, T.; Sasaki, T.; Shimojo, Y.; Saito, T.; Kanuma, A.; Miyazawa, Y.; Nomura, S.; Kabaya, Y.; Matsushita, H.; Baba, H.; Hasegawa, J.; Hayashida, H.; Satoh, K.; Sakaue, K.; Hanagama, Y.; Shinohara, K.; Irie, H.; Oyamada, Y.; Yoshida, N.; Miyama, Y.; Fujisawa, T.;
By: Nagamatsu, T.; Sasaki, T.; Shimojo, Y.; Saito, T.; Kanuma, A.; Miyazawa, Y.; Nomura, S.; Kabaya, Y.; Matsushita, H.; Baba, H.; Hasegawa, J.; Hayashida, H.; Satoh, K.; Sakaue, K.; Hanagama, Y.; Shinohara, K.; Irie, H.; Oyamada, Y.; Yoshida, N.; Miyama, Y.; Fujisawa, T.;
1999 / IEEE / 0-7695-0185-0
By: Yokoi, S.; Yasuda, T.; Ozeki, T.; Hasegawa, J.; Hoshino, T.; Miyazaki, S.; Yoshida, S.;
By: Yokoi, S.; Yasuda, T.; Ozeki, T.; Hasegawa, J.; Hoshino, T.; Miyazaki, S.; Yoshida, S.;
1998 / IEEE / 0-7803-4287-9
By: Yoshida, M.; Watanabe, M.; Hashimoto, D.; Nakajima, M.; Horioka, K.; Kawasaki, S.; Hasegawa, J.; Shiho, M.; Maebara, S.; Kishiro, J.; Takayama, K.; Ogawa, M.;
By: Yoshida, M.; Watanabe, M.; Hashimoto, D.; Nakajima, M.; Horioka, K.; Kawasaki, S.; Hasegawa, J.; Shiho, M.; Maebara, S.; Kishiro, J.; Takayama, K.; Ogawa, M.;
2000 / IEEE / 0-7803-6338-8
By: Tanaka, E.; Kita, H.; Suzuki, T.; Hara, R.; Iyoda, I.; Hasegawa, J.;
By: Tanaka, E.; Kita, H.; Suzuki, T.; Hara, R.; Iyoda, I.; Hasegawa, J.;
2001 / IEEE / 0-7695-1402-2
By: Shimizu, A.; Xiang-Rong Zhou; Fujita, H.; Hara, T.; Toriwaki, J.; Hasegawa, J.;
By: Shimizu, A.; Xiang-Rong Zhou; Fujita, H.; Hara, T.; Toriwaki, J.; Hasegawa, J.;
2003 / IEEE / 0-7803-7707-9
By: Fujita, T.; Seki-Fukuda, K.; Shiozawa, T.; Tsuchie, K.; Hasegawa, J.; Fujisawa, T.; Aikawa, T.; Unekawa, Y.; Saito, T.; Noguchiz, K.; Hatanoz, H.; Watanabe, T.; Shinohara, K.; Yoshida, N.; Bandar, R.; Higashi, T.;
By: Fujita, T.; Seki-Fukuda, K.; Shiozawa, T.; Tsuchie, K.; Hasegawa, J.; Fujisawa, T.; Aikawa, T.; Unekawa, Y.; Saito, T.; Noguchiz, K.; Hatanoz, H.; Watanabe, T.; Shinohara, K.; Yoshida, N.; Bandar, R.; Higashi, T.;
2003 / IEEE
By: Fujisawa, T.; Unekawa, Y.; Saito, T.; Fujita, T.; Shiozawa, T.; Tsuchie, K.; Hasegawa, J.;
By: Fujisawa, T.; Unekawa, Y.; Saito, T.; Fujita, T.; Shiozawa, T.; Tsuchie, K.; Hasegawa, J.;
2004 / IEEE / 0-7695-2140-1
By: Endo, M.; Miyazaki, S.; Yokoi, S.; Yasuda, T.; Hasegawa, J.; Yamada, M.;
By: Endo, M.; Miyazaki, S.; Yokoi, S.; Yasuda, T.; Hasegawa, J.; Yamada, M.;
2005 / IEEE / 0-7695-2421-4
By: Davis, P.; Hasegawa, A.; Hasegawa, J.; Itaya, S.; Obana, S.; Kadowaki, N.;
By: Davis, P.; Hasegawa, A.; Hasegawa, J.; Itaya, S.; Obana, S.; Kadowaki, N.;
2007 / IEEE / 0-7695-3000-1
By: Obana, S.; Suzuki, R.; Davis, P.; Kondo, Y.; Hasegawa, J.; Itaya, S.;
By: Obana, S.; Suzuki, R.; Davis, P.; Kondo, Y.; Hasegawa, J.; Itaya, S.;
2008 / IEEE / 978-0-85825-807-5
By: Nara, K.; Yokouchi, N.; Hasegawa, H.; Funabashi, M.; Hasegawa, J.; Akutsu, T.;
By: Nara, K.; Yokouchi, N.; Hasegawa, H.; Funabashi, M.; Hasegawa, J.; Akutsu, T.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3435-0
By: Kondo, Y.; Yomo, H.; Hasegawa, J.; Sakakibara, K.; Obana, S.; Suzuki, R.; Davis, P.;
By: Kondo, Y.; Yomo, H.; Hasegawa, J.; Sakakibara, K.; Obana, S.; Suzuki, R.; Davis, P.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4488-5
By: Hasegawa, J.; Kondo, Y.; Yomo, H.; Obana, S.; Sakai, T.; Miura, R.; Shagdar, O.; Ohyama, T.;
By: Hasegawa, J.; Kondo, Y.; Yomo, H.; Obana, S.; Sakai, T.; Miura, R.; Shagdar, O.; Ohyama, T.;
2009 / IEEE
By: Miura, R.; Shagdar, O.; Yomo, H.; Obana, S.; Ohyama, T.; Sakai, T.; Hasegawa, J.; Kondo, Y.; Miyamoto, M.;
By: Miura, R.; Shagdar, O.; Yomo, H.; Obana, S.; Ohyama, T.; Sakai, T.; Hasegawa, J.; Kondo, Y.; Miyamoto, M.;