Author: Haas, S.

2012 / IEEE
By: Aloisio, A.; Della Volpe, D.; Giordano, R.; Haas, S.; Izzo, V.; Perrella, S.;

2013 / IEEE
By: Reuter, D.; Haas, S.; Horstmann, J. T.; Loebel, K.-U.; Schramm, M.; Gessner, T.; Bertz, A.;

1990 / IEEE
By: Dinero, T.E.; Domm, D.R.; Haas, S.;

1995 / IEEE
By: Jacobs, K.; Honingh, C.E.; Stutzki, J.; Hottgenroth, D.; Haas, S.;

1995 / IEEE / 0-8186-7019-3
By: Asok, S.K.; Jasnoch, U.; Haas, S.;

1997 / IEEE / 0-7803-3721-2
By: Simon, L.; Lievre, B.; Laberl, S.; Haas, S.; Feri, E.; Dutein, C.; Talayssat, J.; Dejean, C.; Bellier, A.; Tychon, P.; Darbel, N.; Lafage, A.; Pacalet, R.;

1997 / IEEE
By: Haas, S.; Honingh, C.E.; Stutzki, J.; Jacobs, K.; Hottgenroth, D.;

1998 / IEEE / 1-55752-541-2
By: Kuhl, J.; Ploog, K.; Hey, R.; Gibbs, H.; Khitrova, G.; Koch, S.W.; Knorr, A.; Haas, S.; Stroucken, T.; Grote, B.; Ammerlahn, D.; Hubner, M.;

1998 / IEEE / 1-55752-541-2
By: Hubner, M.; Koch, S.W.; Knorr, A.; Haas, S.; Stroucken, T.; Grote, B.; Kuhl, J.;

1994 / IEEE / 0-7803-1791-2
By: Leitenstorfer, A.; Lohner, A.; Weimann, G.; Traenkle, G.; Boehm, G.; Klein, W.; Kuhn, T.; Elsaesser, T.; Haas, S.; Rossi, F.;

1998 / IEEE / 0-7803-4950-4
By: Stroucken, T.; Ammerlahn, D.; Hubner, M.; Kuhl, J.; Ploog, K.; Grote, B.; Gibbs, H.; Hey, R.; Khitrova, G.; Koch, S.W.; Haas, S.;

1998 / IEEE
By: Dobinson, R.W.; Thornley, D.A.; Zhu, M.; Anderson, C.R.; Pech, J.; Haas, S.; Heeley, R.; Madsen, N.H.; Martin, B.;

2001 / IEEE
By: Saka, F.; Meirosu, C.; Martin, B.; Lokier, J.; Vella, K.; Korcyl, K.; Haas, S.; Dobinson, R.W.; LeVine, M.J.;

2004 / IEEE
By: Beck, H.P.; Abolins, M.; Dos Anjos, A.; Barisonzi, M.; Beretta, M.M.; Blair, R.; Bogaerts, J.A.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Ciobotaru, M.D.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Dobinson, R.W.; Ermoline, Y.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.M.; Golonka, P.; Gorini, B.; Green, B.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Knezo, E.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Kieft, G.; Korcyl, K.; Kugel, A.; Lankford, A.J.; Lehmann, G.; LeVine, M.J.; Weiyue Liu; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meirosu, C.; Misiejuk, A.S.; Mommsen, R.; Mornacchi, G.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nakayoshi, K.; Papadopoulos, I.; Petersen, J.; Pinto, Pd.M.L.; Prigent, D.; Reale, V.P.; Schlereth, J.; Shimojima, M.; Spiwoks, R.; Stancu, S.N.; Strong, J.; Tremblet, L.; Vermeulen, J.; Werner, P.; Wickens, F.J.; Yasu, Y.; Maoyuan Yu; Zobernig, H.; Zurek, M.;

2004 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Abolins, M.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Barisonzi, M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Beretta, M.; Biglietti, M.; Blair, R.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dobinson, R.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Ermoline, Y.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; George, S.; Ghete, V.; Golonka, P.; Gonzalez, S.; Gorini, B.; Green, B.; Grothe, M.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Kieft, G.; Knezo, E.; Konstantinidis, N.; Korcyl, K.; Krasny, W.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; LeVine, M.; Li, W.; Liu, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Misiejuk, A.; Mommsen, R.; Morettini, P.; Mornacchi, G.; Moyse, E.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nairz, A.; Nakayoshi, K.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Papadopoulos, I.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Pope, B.; Prigent, D.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Shears, T.; Shimojima, M.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stanescu, C.; Strong, J.; Tapprogge, S.; Tremblet, L.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Vermeulen, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Yasu, Y.; Yu, M.; Zobernig, H.; Zurek, M.;

2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Abolins, M.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Barisonzi, M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Beretta, M.; Biglietti, M.; Blair, R.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dobinson, R.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Ermoline, Y.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; George, S.; Ghete, V.; Golonka, P.; Gonalez, S.; Gorini, B.; Green, B.; Grothe, M.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Kieft, G.; Knezo, E.; Konstantinidis, N.; Korcyl, K.; Krasny, W.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Le Vine, M.; Li, W.; Liu, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Misiejuk, A.; Mommsen, R.; Morettini, P.; Mornacchi, G.; Moyse, E.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nairz, A.; Nakayoshi, K.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Papadopoulos, I.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Pope, B.; Prigent, D.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Schoerner- Sadenius, T.; Segura, E.; Shears, T.; Shimojima, M.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stanescu, C.; Strong, J.; Tapprogge, S.; Tremblet, L.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Vermeulen, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Yasu, Y.; Yu, M.; Zobernig, H.; Zurek, M.;

2004 / IEEE / 0-7803-8478-4
By: Krellner, C.; Goldmann, C.; Batlogg, B.; Gundlach, D.J.; Haas, S.; Pernstich, K.P.;

2004 / IEEE / 0-7803-8284-6
By: Gundlach, D.J.; Haas, S.; Pernstich, K.P.; Krellner, C.; Goldmann, C.; Batlogg, B.;

2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Joos, M.; Haas, S.; Iwanski, W.;

2005 / IEEE / 0-7803-9205-1
By: Charlon, O.; Bracey, M.; Visser, H.; Duperray, D.; Cherr, J.; Judson, M.; Landesman, A.; Hritz, C.; Kohlschuetter, U.; Zhang, Y.; Ramesh, C.; Daanen, A.; Gao, M.; Haas, S.; Maheshwari, V.; Bury, A.; Nitsche, G.; Wrzyszcz, A.; Redman-White, W.; Bonakdar, H.; El Waffaoui, R.; Locher, M.;

2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Vermeulen, J.; Abolins, M.; Alexandrav, I.; Amorim, A.; Dos Anjos, A.; Badescu, E.; Barros, N.; Beck, H.P.; Blair, R.; Burckhart-Chromek, D.; Caprini, M.; Ciobotaru, M.; Corso-Radu, A.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Dobinson, R.; Dobson, M.; Drake, G.; Ermoline, Y.; Ferrari, R.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Gorini, B.; Green B; Gruwe, M.; Haas, S.; Haberichter, W.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Joos, M.; Kazarov, A.; Kieft, G.; Klose D; Kolos, S.; Korcyl, K.; Kordas, K.; Kotov, V.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; LeVine, M.J.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meirosu, C.; Mineev, M.; Misiejuk, A.; Mornacchi, G.; Muller, M.; Murillo, R.; Nagasaka, Y.; Petersen, J.; Pope, B.; Prigent, D.; Ryabov, Y.; Schlereth, J.; Sloper, J.E.; Soloviev, I.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Strong, J.; Trembler, L.; Unel, G.; Vandelli, W.; Werner, P.; Wickens, F.; Wiesmann, M.; Wu, M.; Yasu, Y.;

2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Gadomski, S.; Abolins, M.; Alexandrov, I.; Amorim, A.; Padilla-Aranda, C.; Badescu, E.; Barros, N.; Beck, H.P.; Blair, R.; Burckhart-Chromek, D.; Caprini, M.; Ciobotaru, M.; Conde-Muino, P.; Corso-Radu, A.; Di Girolamo, B.; Diaz-Gomez, M.; Dobinson, R.; Dobson, M.; Ferrari, R.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gameiro, S.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hauser, R.; Hughes-Jones, R.; Joos, M.; Kazarov, A.; Klose, D.; Kolos, S.; Kotov, V.; Lehmann, G.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meirosu, C.; Mineev, M.; Negri, A.; Pasqualucci, E.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Prigent, D.; Ryabov, Y.; Sanchez, C.; Santamarina-Rios, C.; Schlereth, J.; Sloper, J.E.; Soloviev, I.; Stancu, S.; Tremblet, L.; Unel, G.; Vandelli, W.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Gorini, B.;

2005 / IEEE
By: Joos, M.; Haas, S.; Iwanski, W.;

2006 / IEEE
By: Charlon, O.; Bracey, M.; Visser, H.A.; Duperray, D.; Chen, J.; Judson, M.; Landesman, A.L.; Hritz, C.; Kohlschuetter, U.; Yifeng Zhang; Ramesh, C.; Daanen, A.; Minzhan Gao; Haas, S.; Maheshwari, V.; Bury, A.; Nitsche, G.; Wrzyszcz, A.; Redman-White, W.; Bonakdar, H.; Rachid El Waffaoui; Locher, M.;

2006 / IEEE
By: Vermeulen, J.; Abolins, M.; Alexandrov, I.; Amorim, A.; Dos Anjos, A.; Badescu, E.; Barros, N.; Beck, H.P.; Blair, R.; Burckhart-Chromek, D.; Caprini, M.; Ciobotaru, M.; Corso-Radu, A.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Dobinson, R.; Dobson, M.; Drake, G.; Ermoline, Y.; Ferrari, R.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Gorini, B.; Green, B.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haberichter, W.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Joos, M.; Kazarov, A.; Kieft, G.; Klose, D.; Kolos, S.; Korcyl, K.; Kordas, K.; Kotov, V.; Kugel, A.; Lankford, A.; Miotto, G.L.; LeVine, M.J.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meirosu, C.; Mineev, M.; Misiejuk, A.; Mornacchi, G.; Muller, M.; Murillo, R.; Nagasaka, Y.; Petersen, J.; Pope, B.; Prigent, D.; Ryabov, Y.; Schlereth, J.; Sloper, J.E.; Soloviev, I.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Strong, J.; Tremblet, L.; Unel, G.; Vandelli, W.; Werner, P.; Wickens, F.; Wiesmann, M.; Wu, M.; Yasu, Y.;

2006 / IEEE
By: Gadomski, S.; Abolins, M.; Alexandrov, I.; Amorim, A.; Padilla-Aranda, C.; Badescu, E.; Barros, N.; Beck, H.P.; Blair, R.; Burckhart-Chromek, D.; Caprini, M.; Ciobotaru, M.; Conde-Muino, P.; Corso-Radu, A.; Di Girolamo, B.; Diaz-Gomez, M.; Dobinson, R.; Dobson, M.; Ferrari, R.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gameiro, S.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hauser, R.; Hughes-Jones, R.; Joos, M.; Kazarov, A.; Klose, D.; Kolos, S.; Kotov, V.; Lehmann, G.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meirosu, C.; Mineev, M.; Negri, A.; Pasqualucci, E.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Prigent, D.; Ryabov, Y.; Sanchez, C.; Santamarina-Rios, C.; Schlereth, J.; Sloper, J.E.; Soloviev, I.; Stancu, S.; Tremblet, L.; Unel, G.; Vandelli, W.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-0866-5
By: Aielli, G.; Aloisio, A.; Alviggi, M.G.; Antonelli, S.; Ask, S.; Bellagamba, L.; Ben Ami, S.; Benhammou, Y.; Berge, D.; Bianco, M.; Biglietti, M.G.; Boscherini, D.; Bressler, S.; Bruni, A.; Bruni, G.; Buda, S.; Camarri, P.; Canale, V.; Caracinha, D.; Cardarelli, R.; Carlino, G.; Chiodini, G.; Ciapetti, G.; Coluccia, M.R.; Constantin, S.; Conventi, F.; DeAsmundis, R.; DellaPietra, M.; DellaVolpe, D.; Dogaru, M.; De Pedis, D.; Di Girolamo, A.; DiCiaccio, A.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Etzion, E.; Farthouat, P.; Fukunaga, C.; Gallno, P.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Giusti, P.; Haas, S.; Haller, J.; Hasegawa, Y.; Iacobucci, G.; Ikeno, M.; Iengo, P.; Ishino, M.; Iwasaki, H.; Izzo, V.; Kadosaka, T.; Kajomovitz, E.; Kanaya, N.; Kawagoe, K.; Kawamoto, T.; Kiyamura, H.; Klofver, P.; Kobayashi, T.; Kohno, T.; Krasznahorkay, A.; Kubota, T.; Kurashige, H.; Kuwabara, T.; Lellouch, D.; Mikenberg, G.; Liberti, B.; Lifshitz, R.; Luci, C.; Lupu, N.; Marchese, F.; Messina, A.; Migliaccio, A.; Nagano, K.; Nisati, A.; Niwa, T.; Nomachi, M.; Nomoto, H.; Nozaki, M.; Ochi, A.; Ohm, C.; Okumura, Y.; Omachi, C.; Oshita, H.; Patricelli, S.; Pauly, T.; Perantoni, M.; Lima, H.P.; Petrolo, E.; Pasqualucci, E.; Pastore, F.; Pectu, M.; Perrino, R.; Polini, A.; Primavera, M.; Roich, A.; Rosati, S.; Salamon, A.; Sakamoto, H.; Santonico, R.; Sasaki, O.; Schuler, G.; de Seixas, J.M.; Sekhniaidze, G.; Solfaroli, E.; Spagnolo, S.; Spila, F.; Spiwoks, R.; Sugaya, Y.; Sugimoto, T.; Takahashi, Y.; Takeda, H.; Takeshita, T.; Tanaka, S.; Tarem, S.; Tomoto, M.; Treidel, O.B.; Vari, R.; Veneziano, S.; Wengler, T.; Yamaguchi, Y.; Yasu, Y.; Zanello, L.;

2008 / IEEE
By: Aielli, G.; Aloisio, A.; Alviggi, M.G.; Antonelli, S.; Ask, S.; Bellagamba, L.; Ben Amii, S.; Benhammou, Y.; Berge, D.; Bianco, M.; Biglietti, M.G.; Boscherini, D.; Bressler, S.; Bruni, A.; Bruni, G.; Buda, S.; Camarri, P.; Canale, V.; Caracinha, D.; Cardarelli, R.; Carlino, G.; Chiodini, G.; Ciapetti, G.; Coluccia, M.R.; Constantin, S.; Conventi, F.; De Asmundis, R.; Della Pietra, M.; Della Volpe, D.; Dogaru, M.; De Pedis, D.; Di Girolamo, A.; DiCiaccio, A.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Etzion, E.; Farthouat, P.; Fukunaga, C.; Gallno, P.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Giusti, P.; Haas, S.; Haller, J.; Hasegawa, Y.; Iacobucci, G.; Ikeno, M.; Iengo, P.; Ishino, M.; Iwasaki, H.; Izzo, V.; Kadosaka, T.; Kajomovitz, E.; Kanaya, N.; Kawagoe, K.; Kawamoto, T.; Kiyamura, H.; Klofver, P.; Kobayashi, T.; Kohno, T.; Krasznahorkay, A.; Kubota, T.; Kurashige, H.; Kuwabara, T.; Lellouch, D.; Levinson, L.; Liberti, B.; Lifshitz, R.; Luci, C.; Lupu, N.; Marchese, F.; Messina, A.; Mikenberg, G.; Migliaccio, A.; Nagano, K.; Nisati, A.; Niwa, T.; Nomachi, M.; Nomoto, H.; Nozaki, M.; Ochi, A.; Ohm, C.; Okumura, Y.; Omachi, C.; Oshita, H.; Patricelli, S.; Pauly, T.; Perantoni, M.; Lima, H.P.; Petrolo, E.; Pasqualucci, E.; Pastore, F.; Pectu, M.; Perrino, R.; Polini, A.; Primavera, M.; Roich, A.; Rosati, S.; Salamon, A.; Sakamoto, H.; Santonico, R.; Sasaki, O.; Schuler, G.; de Seixas, J.M.; Sekhniaidze, G.; Solfaroli, E.; Spagnolo, S.; Spila, F.; Spiwoks, R.; Sugaya, Y.; Sugimoto, T.; Takahashi, Y.; Takeda, H.; Takeshita, T.; Tanaka, S.; Tarem, S.; Tomoto, M.; Treidel, O.B.; Vari, R.; Veneziano, S.; Wengler, T.; Yamaguchi, Y.; Yasu, Y.; Zanello, L.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-0188-7
By: Kramer, B.; Peitscher, D.; Dalluge, L.; Driesen, J.; Dohmen, C.; Vasylyev, A.; Wistuba, G.; Haas, S.; Henkel, F.;