Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Greco, S.
Results
2012 / IEEE / 978-1-4673-1036-9
By: Yanagisawa, T.; Economikos, L.; Wei-tsu Tseng; JenPin Weng; Bashaboina, P.; Gower-Hall, A.; Gbondo-Tugbawa, T.; Greco, S.;
By: Yanagisawa, T.; Economikos, L.; Wei-tsu Tseng; JenPin Weng; Bashaboina, P.; Gower-Hall, A.; Gbondo-Tugbawa, T.; Greco, S.;
1994 / IEEE / 0-7803-2111-1
By: Schulz, R.; Greco, S.; Ray, A.; Acovic, A.; Snare, J.; Sun, J.; McFarland, P.; Newman, T.; Ng, H.; McCord, M.; Martin, B.; Agnello, P.; Wu, S.; Comfort, J.; Crabbe, E.; Ganin, E.; Subbanna, S.; Gehres, R.; Lamberti, A.; DellaGuardia, R.; Liebmann, L.; Beyer, E.;
By: Schulz, R.; Greco, S.; Ray, A.; Acovic, A.; Snare, J.; Sun, J.; McFarland, P.; Newman, T.; Ng, H.; McCord, M.; Martin, B.; Agnello, P.; Wu, S.; Comfort, J.; Crabbe, E.; Ganin, E.; Subbanna, S.; Gehres, R.; Lamberti, A.; DellaGuardia, R.; Liebmann, L.; Beyer, E.;
1996 / IEEE / 0-7803-3393-4
By: Subbanna, S.; Davari, B.; Crabbe, E.; Schulz, R.; Wu, S.; Tallman, K.; Saccamango, M.J.; Greco, S.; McGahay, V.; Allen, A.J.; Chen, B.; Cotler, T.; Eld, E.; Lasky, J.; Ng, H.; Ray, A.; Snare, J.; Su, L.; Sunderland, D.; Sun, J.; Agnello, P.;
By: Subbanna, S.; Davari, B.; Crabbe, E.; Schulz, R.; Wu, S.; Tallman, K.; Saccamango, M.J.; Greco, S.; McGahay, V.; Allen, A.J.; Chen, B.; Cotler, T.; Eld, E.; Lasky, J.; Ng, H.; Ray, A.; Snare, J.; Su, L.; Sunderland, D.; Sun, J.; Agnello, P.;
1996 / IEEE / 0-9651577-0-9
By: Abadeer, W.; Greco, S.; McGahay, V.; Beyer, K.; Geiger, R.; Furukawa, T.; Herman, J.; Sun, J.; Ray, A.; Acovic, A.;
By: Abadeer, W.; Greco, S.; McGahay, V.; Beyer, K.; Geiger, R.; Furukawa, T.; Herman, J.; Sun, J.; Ray, A.; Acovic, A.;
1999 / IEEE / 4-930813-93-X
By: Ng, H.; Ray, A.; Greco, S.; Crowder, S.; Davari, B.; Su, L.; Goldblatt, R.; Agnello, P.; Crabbe, E.; McGahay, V.; Wagner, T.; Tallman, K.; Ryan, D.; Barth, E.; Oberschmidt, J.; Logan, R.; Purtell, R.; McLaughlin, P.; Nowak, E.; Hargrove, M.; Chen, X.; Ferguson, R.; DeWan, C.; Connolly, J.; Biery, G.; Beyer, K.;
By: Ng, H.; Ray, A.; Greco, S.; Crowder, S.; Davari, B.; Su, L.; Goldblatt, R.; Agnello, P.; Crabbe, E.; McGahay, V.; Wagner, T.; Tallman, K.; Ryan, D.; Barth, E.; Oberschmidt, J.; Logan, R.; Purtell, R.; McLaughlin, P.; Nowak, E.; Hargrove, M.; Chen, X.; Ferguson, R.; DeWan, C.; Connolly, J.; Biery, G.; Beyer, K.;
2002 / IEEE / 0-7803-7462-2
By: Khare, M.; Ku, S.H.; Donaton, R.A.; Greco, S.; Brodsky, C.; Chen, X.; Chou, A.; DellaGuardia, R.; Deshpande, S.; Doris, B.; Fung, S.K.H.; Gabor, A.; Gribelyuk, M.; Holmes, S.; Jamin, F.F.; Lai, W.L.; Lee, W.H.; Li, Y.; McFarland, P.; Mo, R.; Mittl, S.; Narasimha, S.; Nielsen, D.; Purtell, R.; Rausch, W.; Sankaran, S.; Snare, J.; Tsou, L.; Vayshenker, A.; Wagner, T.; Wehella-Gamage, D.; Wu, E.; Wu, S.; Yan, W.; Barth, E.; Ferguson, R.; Gilbert, P.; Schepis, D.; Sekiguchi, A.; Goldblatt, R.; Welser, J.; Muller, K.P.; Agnello, P.;
By: Khare, M.; Ku, S.H.; Donaton, R.A.; Greco, S.; Brodsky, C.; Chen, X.; Chou, A.; DellaGuardia, R.; Deshpande, S.; Doris, B.; Fung, S.K.H.; Gabor, A.; Gribelyuk, M.; Holmes, S.; Jamin, F.F.; Lai, W.L.; Lee, W.H.; Li, Y.; McFarland, P.; Mo, R.; Mittl, S.; Narasimha, S.; Nielsen, D.; Purtell, R.; Rausch, W.; Sankaran, S.; Snare, J.; Tsou, L.; Vayshenker, A.; Wagner, T.; Wehella-Gamage, D.; Wu, E.; Wu, S.; Yan, W.; Barth, E.; Ferguson, R.; Gilbert, P.; Schepis, D.; Sekiguchi, A.; Goldblatt, R.; Welser, J.; Muller, K.P.; Agnello, P.;
2005 / IEEE / 0-7695-2300-5
By: Greco, S.; Furfaro, F.; Mazzeo, G.M.; Sacca, D.; Masciari, E.; Cuzzocrea, A.;
By: Greco, S.; Furfaro, F.; Mazzeo, G.M.; Sacca, D.; Masciari, E.; Cuzzocrea, A.;
2006 / IEEE / 1-4244-0438-X
By: Narasimha, S.; Onishi, K.; Nayfeh, H.M.; Waite, A.; Weybright, M.; Johnson, J.; Fonseca, C.; Corliss, D.; Robinson, C.; Crouse, M.; Yang, D.; Wu, C.-H.J.; Gabor, A.; Adam, T.; Ahsan, I.; Belyansky, M.; Black, L.; Butt, S.; Cheng, J.; Chou, A.; Costrini, G.; Dimitrakopoulos, C.; Domenicucci, A.; Fisher, P.; Frye, A.; Gates, S.; Greco, S.; Grunow, S.; Hargrove, M.; Holt, J.; Jeng, S.-J.; Kelling, M.; Kim, B.; Landers, W.; Larosa, G.; Lea, D.; Lee, M.H.; Liu, X.; Lustig, N.; McKnight, A.; Nicholson, L.; Nielsen, D.; Nummy, K.; Ontalus, V.; Ouyang, C.; Ouyang, X.; Prindle, C.; Pal, R.; Rausch, W.; Restaino, D.; Sheraw, C.; Sim, J.; Simon, A.; Standaert, T.; Sung, C.Y.; Tabakman, K.; Tian, C.; Van Den Nieuwenhuizen, R.; Van Meer, H.; Vayshenker, A.; Wehella-Gamage, D.; Werking, J.; Wong, R.C.; Yu, J.; Wu, S.; Augur, R.; Brown, D.; Chen, X.; Edelstein, D.; Grill, A.; Khare, M.; Li, Y.; Luning, S.; Norum, J.; Sankaran, S.; Schepis, D.; Wachnik, R.; Wise, R.; Warm, C.; Ivers, T.; Agnello, P.;
By: Narasimha, S.; Onishi, K.; Nayfeh, H.M.; Waite, A.; Weybright, M.; Johnson, J.; Fonseca, C.; Corliss, D.; Robinson, C.; Crouse, M.; Yang, D.; Wu, C.-H.J.; Gabor, A.; Adam, T.; Ahsan, I.; Belyansky, M.; Black, L.; Butt, S.; Cheng, J.; Chou, A.; Costrini, G.; Dimitrakopoulos, C.; Domenicucci, A.; Fisher, P.; Frye, A.; Gates, S.; Greco, S.; Grunow, S.; Hargrove, M.; Holt, J.; Jeng, S.-J.; Kelling, M.; Kim, B.; Landers, W.; Larosa, G.; Lea, D.; Lee, M.H.; Liu, X.; Lustig, N.; McKnight, A.; Nicholson, L.; Nielsen, D.; Nummy, K.; Ontalus, V.; Ouyang, C.; Ouyang, X.; Prindle, C.; Pal, R.; Rausch, W.; Restaino, D.; Sheraw, C.; Sim, J.; Simon, A.; Standaert, T.; Sung, C.Y.; Tabakman, K.; Tian, C.; Van Den Nieuwenhuizen, R.; Van Meer, H.; Vayshenker, A.; Wehella-Gamage, D.; Werking, J.; Wong, R.C.; Yu, J.; Wu, S.; Augur, R.; Brown, D.; Chen, X.; Edelstein, D.; Grill, A.; Khare, M.; Li, Y.; Luning, S.; Norum, J.; Sankaran, S.; Schepis, D.; Wachnik, R.; Wise, R.; Warm, C.; Ivers, T.; Agnello, P.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4107-5
By: Greco, S.; D'Amore, M.; Tamburrano, A.; Sarto, M.S.; Lampasi, D.A.;
By: Greco, S.; D'Amore, M.; Tamburrano, A.; Sarto, M.S.; Lampasi, D.A.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap