Author: George, S.

2012 / IEEE
By: Nease, S.; Brink, S.; Koziol, S.; Hasler, P.; George, S.;

2011 / IEEE / 978-1-61284-486-2
By: May, M.; George, S.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-0628-8
By: George, D.; George, S.;

2011 / IEEE / 978-1-4244-9825-3
By: Pichappan, P.; George, D.; George, S.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: George, S.; Weinland, T.; Ellrich, F.; Molter, D.; Goiran, M.; Leotin, J.; Beigang, R.; Keilmann, F.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-1470-2
By: George, S.; Hasler, P.;

2011 / IEEE / 978-1-4673-0098-8
By: George, S.; Rajan, A.V.; Kirsal, Y.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-1516-7
By: Choi, C.J.; Cunningham, B.T.; George, S.; Weyhenmeyer, J.; Hsin-Yu Wu;

2011 / IEEE / 978-1-4577-1109-1
By: George, S.; Nafeesa, K.;

2011 / IEEE / 978-1-4673-0136-7
By: George, S.; Nafeesa, K.;

2012 / IEEE / 978-1-4673-0898-4
By: Capovilla, N.; Celetto, L.; Kurniawati, E.; George, S.;

1996 / IEEE
By: Das, K.; Yang, H.; George, S.; Alvarez, A. M.;

1994 / IEEE / 0-7803-1778-5
By: Tudor, S.; Roxana, P.; Eugenia, K.; Alexandru, D.; George, S.;

1997 / IEEE / 0-7803-3814-6
By: Graffeuil, J.; Tronche, C.; Drevon, C.; George, S.; Monfraix, P.; Ulian, P.; Llopis, O.; Coello Vera, A.;

1997 / IEEE / 0-7803-3857-X
By: Pouysegur, M.; Coello Vera, A.; George, S.; Drevon, C.; Cazaux, J.L.;

1998 / IEEE / 0-7803-4471-5
By: Drevon, C.; Ulian, P.; Monfraix, P.; Graffeuil, J.; George, S.; Llopis, O.; Cazaux, J.L.; Tronche, C.; Vera, A.C.;

1999 / IEEE / 0-7803-5293-9
By: George, S.; Gajendran, F.;

1999 / IEEE / 0-7695-0300-4
By: Davey, N.; Adams, R.; George, S.; Tabb, K.;

1999 / IEEE / 0-7803-5731-0
By: Stentz, R.M.; George, S.; Shankararaman, V.; Robertson, N.;

2000 / IEEE / 0-7803-6381-7
By: Elam, J.; Perez, I.; Van Zeghbroeck, B.; Torvik, J.T.; Groner, M.; George, S.;

2000 / IEEE / 0-7803-5968-2
By: Rolland, P.-A.; Vendier, O.; Petersen, R.; de Ceuninck, W.; Auxemery, P.; Doser, W.; Blanck, H.; Haese, N.; Caillas-Devignes, N.; Floriot, D.; Cazaux, J.-L.; Drevon, C.; Rogeaux, E.; Fraysse, J.-P.; George, S.;

2000 / IEEE / 0-7803-6514-3
By: Padhi, K.P.; George, S.; Absar, J.; Abeysekera, S.S.;

2001 / IEEE / 0-7803-6685-9
By: Absar, J.; Padhi, K.P.; Abeysekera, S.S.; George, S.;

2001 / IEEE / 0-7803-7044-9
By: Liaw, J.-S.; Dibazar, A.; George, S.; Berger, T.W.;

2001 / IEEE / 0-7803-7145-3
By: Absar, M.J.; George, S.;

2001 / IEEE / 0-7803-6538-0
By: Pons, D.; Fellon, P.; George, S.; Schaffauser, C.; Fraysse, J.-P.; Rogeaux, E.; Escotte, L.; Long, S.; Ngoya, E.; Baillargeat, D.; Quere, R.; Verdeyme, S.; Haese, N.; Theron, D.; Geiger, D.;

2002 / IEEE / 0-7803-7185-2
By: Lee, Y.C.; George, S.; Bright, V.M.; Linderman, R.; Elam, J.; Hoivik, N.;

2002 / IEEE
By: Radu, A.; Baines, J.T.M.; Baratella, A.; Caron, B.L.; Davis, R.A.; Di Mattia, S.; Elsing, M.; Epp, B.; Falciano, S.; Ghete, V.M.; Gonzalez Pineiro, B.; George, S.; Gonzalez, S.; Hauser, R.; Hutchcroft, D.; Hansl-Kozanecki, T.; Weidong Li; Mommsen, R.K.; Morettini, P.; Nairz, A.; Nikitine, N.; Negri, A.; Nisati, A.; Pinfold, J.; Parodi, F.; Polesello, G.; Sijin Qian; Rizatdinova, F.; Robins, S.; Shank, J.; Slowe, C.; Sherwood, P.; Smizanska, M.; Shears, T.; Sessler, M.; Sivoklokov, S.; Scannicchio, D.A.; Tapprogge, S.; Vercesi, V.; Wielers, M.; Wicke, D.; Wiedenmann, W.;

2002 / IEEE / 0-7803-7503-3
By: Lau, C.T.; George, S.; Absar, J.; Kurniawati, E.; Premkumar, B.;

2002 / IEEE / 0-7803-7503-3
By: Premkumar, B.; Lau, C.T.; George, S.; Absar, J.; Kurniawati, E.;

2002 / IEEE
By: Blair, R.; Dawson, J.; Haberichter, W.; Schlereth, J.; Bock, R.; Bogaerts, A.; Boosten, M.; Dobinson, R.; Dobson, M.; Ellis, N.; Elsing, M.; Giacomini, F.; Knezo, E.; Martin, B.; Shears, T.; Tapprogge, S.; Werner, P.; Hansen, J.R.; Waananen, A.; Korcyl, K.; Lokier, J.; George, S.; Green, B.; Strong, J.; Clarke, P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Sherwood, P.; Wheeler, S.; Hughes-Jones, R.; Kolya, S.; Mercer, D.; Hinkelbein, C.; Kornmesser, K.; Kugel, A.; Manner, R.; Muller, M.; Sessler, M.; Simmler, H.; Singpiel, H.; Abolins, M.; Ermoline, Y.; Gonzalez Pineiro, B.; Hauser, R.; Pope, B.; Sivoklokov, S.; Boterenbrood, H.; Jansweijer, P.; Kieft, G.; Scholte, R.; Slopsema, R.; Vermeulen, J.; Baines, J.T.; Belias, A.; Botterill, D.; Middleton, R.; Wickens, F.; Falciano, S.; Bystricky, J.; Calvet, D.; Gachelin, O.; Huet, M.; Le Du, P.; Mandjavidze, I.; Levinson, L.; Gonzalez, S.; Wiedenmann, W.; Zobernig, H.;

2002 / IEEE / 0-7803-7612-9
By: George, S.; Berger, T.W.; Dibazar, A.;

2002 / IEEE / 0-7803-7547-5
By: Wei Keng Ng; Premkumar, B.; Lau, C.T.; George, S.; Absar, J.;

2002 / IEEE / 0-7803-7474-6
By: Agarwal, V.; George, S.;

2003 / IEEE / 0-7803-7767-2
By: Alvarez, T.L.; George, S.; Berliner, S.; Koppel, N.;

2003 / IEEE / 0-7803-7898-9
By: George, S.; Berger, T.W.; Desai, V.; Dibazar, A.;

2003 / IEEE / 0-7803-7724-9
By: George, S.; Padhi, K.P.; David, K.B.H.;

2004 / IEEE / 0-7695-2086-3
By: Cao, Q.; Son, S.; Blum, B.; Abdelzaher, T.; Wood, A.; Stoleru, R.; Stankovic, J.; Chen, Y.; Luo, L.; Krishnamurthy, S.; He, T.; Gu, L.; George, S.; George, J.; Evans, D.;

2003 / IEEE / 0-7803-8185-8
By: George, S.; Kumar, S.; Padhi, K.P.;

2004 / IEEE
By: Premkumar, B.; Lau, C.T.; Kurniawati, E.; George, S.; Absar, J.;

2004 / IEEE
By: Armstrong, S.; Baines, J.T.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Konstantinidis, N.; Krasny, W.; Li, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Morettini, P.; Moyse, E.; Nairz, A.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Shears, T.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Stanescu, C.; Tapprogge, S.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;

2004 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Abolins, M.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Barisonzi, M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Beretta, M.; Biglietti, M.; Blair, R.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dobinson, R.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Ermoline, Y.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; George, S.; Ghete, V.; Golonka, P.; Gonzalez, S.; Gorini, B.; Green, B.; Grothe, M.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Kieft, G.; Knezo, E.; Konstantinidis, N.; Korcyl, K.; Krasny, W.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; LeVine, M.; Li, W.; Liu, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Misiejuk, A.; Mommsen, R.; Morettini, P.; Mornacchi, G.; Moyse, E.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nairz, A.; Nakayoshi, K.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Papadopoulos, I.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Pope, B.; Prigent, D.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Shears, T.; Shimojima, M.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stanescu, C.; Strong, J.; Tapprogge, S.; Tremblet, L.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Vermeulen, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Yasu, Y.; Yu, M.; Zobernig, H.; Zurek, M.;

2004 / IEEE
By: Tapprogge, S.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Konstantinidis, N.; Krasny, W.; Li, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Morettini, P.; Moyse, E.; Nairz, A.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Shears, T.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Stanescu, C.;

2004 / IEEE / 0-7803-8315-X
By: Herrmann, C.; Miller, D.; Gall, K.; Stoldt, C.; George, S.; Finch, D.; Spark, K.;

2004 / IEEE / 0-7803-8331-1
By: Brebels, S.; Monfraix, P.; Cazaux, J.L.; Cayrou, J.C.; George, S.; Drevon, C.; De Raedt, W.;

2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Abolins, M.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Barisonzi, M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Beretta, M.; Biglietti, M.; Blair, R.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dobinson, R.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Ermoline, Y.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; George, S.; Ghete, V.; Golonka, P.; Gonalez, S.; Gorini, B.; Green, B.; Grothe, M.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Kieft, G.; Knezo, E.; Konstantinidis, N.; Korcyl, K.; Krasny, W.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Le Vine, M.; Li, W.; Liu, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Misiejuk, A.; Mommsen, R.; Morettini, P.; Mornacchi, G.; Moyse, E.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nairz, A.; Nakayoshi, K.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Papadopoulos, I.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Pope, B.; Prigent, D.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Schoerner- Sadenius, T.; Segura, E.; Shears, T.; Shimojima, M.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stanescu, C.; Strong, J.; Tapprogge, S.; Tremblet, L.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Vermeulen, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Yasu, Y.; Yu, M.; Zobernig, H.; Zurek, M.;

2004 / IEEE / 0-7695-2181-9
By: George, S.;

2004 / IEEE / 0-7803-8549-7
By: Kurniawan, E.; Kurniawati, E.; George, S.; Absar, J.; Premkumar, B.; Lau, C.T.;

2004 / IEEE / 1-58053-992-0
By: Cazaux, J.-L.; Maynard, J.; Chabbert, P.; Bodereau, F.; Barbaste, R.; George, S.; Debarge, C.; Miquel, C.; Cayrou, J.-C.;

2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Armstrong, S.; Anjos, A.D.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;

2005 / IEEE / 0-7803-8994-8
By: George, S.; Hierold, C.; Herrmann, C.F.; Stampfer, C.; Tripp, M.K.; Bright, V.M.;

2005 / IEEE / 0-7695-2399-4
By: Manobianco, D.; Adams, M.; Manobianco, J.; George, S.; Bickford, J.;

2005 / IEEE
By: George, S.; Agarwal, V.;

2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.; Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.R.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sancheztt, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.;

2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Santamarina, C.; Muino, P.C.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Mello, A.G.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirkc, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.I.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usai, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;

2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Mello, A.G.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Muino, P.C.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirkc, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiav, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usaib, G.; Pintoc, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;

2005 / IEEE / 1-55752-796-2
By: Koay, C.-S.; Richardson, M.; Bakshi, V.; Al-Rabban, M.M.; Bernath, R.; George, S.; Takenoshita, K.;

2005 / IEEE
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;

2005 / IEEE / 0-7803-9221-3
By: Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Wu, X.; Woehring, E.; Wielers, M.; Watson, A.; Teixeira-Dias, R.; Thomas, E.; Sutton, M.; Stefanidis, E.; Sivoklokov, S.; Schiavi, C.; Santamarina, C.; Pretzl, K.; Perez Reale, V.; Parodi, F.; Padilla, C.; Osuna, C.; Mello, A.G.; McMahon, T.; Lowe, A.; Kootz, A.; Konstantinidis, N.; Kilvington, G.; Khomich, A.; Goncalo, R.; George, S.; Gaumer, O.; Casado, P.; Clark, A.; Conde-Muino, P.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Emeliyanovi, D.;

2005 / IEEE / 2-9600551-2-8
By: George, S.; Debarge, C.; Miquel, C.; Bodereau, F.; Cazaux, J.-L.; Cayrou, J.-C.;

2006 / IEEE
By: Armstrong, S.; Assamagan, K.A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Bellomo, M.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Carlino, G.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; Conventi, F.; De Santo, A.; de Seixas, J.M.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; dos Anjos, A.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Primavera, M.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;

2006 / IEEE
By: Santamarina, C.; Muino, P.C.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Mello, A.G.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usai, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;

2006 / IEEE
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kostantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luci, C.; Luminari, L.; Maeno, T.; Marzano, F.; Masik, J.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;

2006 / IEEE / 0-7803-9545-X
By: George, S.;

2006 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; de Santo, A.; Diaz-Gomez, M.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haeberli, C.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.;

2006 / IEEE
By: Rumsey, F.; Zielinski, S.; George, S.;

2006 / IEEE
By: Mello, A.G.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Muino, P.C.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usaib, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;

2006 / IEEE / 0-7803-9490-9
By: George, S.; Hyung-ook Park; Bangalore, A.; Dibazar, A.A.; Berger, T.W.; Yamada, W.;

2007 / IEEE
By: Agarwal, V.; George, S.;

2006 / IEEE / 0-7695-2731-0
By: Zukerman, I.; George, S.; Niemann, M.;

2006 / IEEE / 0-7695-2747-7
By: Prevot, P.; George, S.; May, M.;

2007 / IEEE
By: George, S.; Agarwal, V.;

1994 / IEEE
By: McGrath, W. R.; Febvre, P.; Beaudin, G.; Ruffie, G.; George, S.; LeDuc, H.G.; Bumble, B.;

1994 / IEEE
By: Beaudin, G.; Gheudin, M.; Dierich, P.; Michet, D.; Rosolen, C.; Montignac, G.; Lacroix, J.; Marechal, J.C.; Lemonnier, M.C.; Pernot, J.C.; Landry, P.; Germont, A.; Gausi, E.; Deschamps, A.; Ruffie, G.; Gadea, F.; Pagani, L.; Encrenaz, P.; Febvre, P.; Feautrier, P.; George, S.; Leridon, B.; Maoli, R.; Gac, C.;

2007 / IEEE
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J. T. M.; Bee, C. P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J. A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P. C.; De Santo, A.; Gomez, M. D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A. G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V. P.; Pinfold, J. L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D. A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J. M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B. V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F. J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;

2007 / IEEE / 0-7695-2988-7
By: Konstantinos, K.; George, S.; Panagiotis, K.; Apostolos, X.;

2007 / IEEE / 978-1-4244-1840-4
By: George, S.; May, M.; Prevot, P.;

2008 / IEEE / 978-1-4244-1923-4
By: George, S.; Chandra, V.;

2008 / IEEE
By: Stelzer, J.; Wu, X.; Risler, C.; Reale, V.P.; zur Nedden, M.; Masik, J.; Schiavi, C.; Hoecker, A.; Haller, J.; George, S.; Fischer, G.; Eifert, T.; Bold, T.; Berger, N.;

2008 / IEEE
By: George, S.; Agarwal, V.;

2006 / IEEE / 1-4244-0032-5
By: Giddens, D.P.; Tannenbaum, A.R.; Martin, D.R.; George, S.; Yan Yang;

2009 / IEEE / 978-1-4244-5108-1
By: Gutierrez-Osuna, R.; Stoleru, R.; George, S.; Pazarloglou, A.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-4190-7
By: Myongjai Lee; Lee, Y.C.; George, S.; Seghete, D.; Sanford, N.; Bertness, K.; Jen-Hau Cheng;

2009 / IEEE / 978-1-4244-3296-7
By: Bojovic, B.; Vajdic, B.; Shvilkin, A.; George, S.; Gussak, I.; Panescu, D.; Vukcevic, V.D.; Hadzievski, L.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-5764-9
By: Abdulagatov, A.; Yadong Zhang; Chingyi Lin; Lee, Y.C.; George, S.; Ronggui Yang;

2010 / IEEE
By: Muralidhar, K.; George, S.; Kwok Hung Li;

2010 / IEEE / 978-1-4503-0002-5
By: Singh, D.; Leventis, P.; Griffith, R.; George, S.; Kuehlmann, A.; Colgan, J.; Camposano, R.; Chilton, J.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-7917-7
By: George, S.; Sebastian, M.T.; Mohanan, P.; Raman, S.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-8621-2
By: Pandit, P.; George, S.; Gupta, A.B.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6918-5
By: George, S.; Dibazar, A.A.; Berger, T.W.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6657-3
By: Leotin, J.; Beigang, R.; Keilmann, F.; Goiran, M.; George, S.; Molter, D.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-4123-5
By: Vukcevic, V.; Panescu, D.; Bojovic, B.; George, S.; Gussak, I.; Giga, V.; Stankovic, I.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6048-9
By: George, S.; Bing Lu; Park, H.O.; Yousefi, A.; Dibazar, A.A.; Berger, T.W.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-7781-4
By: Nafeesa, K.; George, S.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-9074-5
By: George, S.; Nafeesa, K.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-0592-2
By: Wieland, F.; George, S.;

2011 / IEEE / 978-1-4577-0551-9
By: George, S.; Cunningham, K.; Nagvajara, P.;

2012 / IEEE
By: Xiaoxiao Wang; Tehranipoor, M.; George, S.; Tran, D.; Winemberg, L.;

2011 / IEEE / 978-1-4244-8679-3
By: Jidesh, P.; George, S.;

2011 / IEEE / 978-1-55752-911-4
By: Chaudhery, V.; Meng Lu; George, S.; Cheng-Sheng Huang; Cunningham, B.T.; Zangar, R.C.; Ruimin Tan;