Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Fox, A.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4577-0708-7
By: Hartmann, J.-M.; Buca, D.; Richter, S.; Zhang, B.; Schmidt, M.; Luptak, R.; Yu, W.J.; Zhao, Q.T.; Mantl, S.; Bourdelle, K.K.; Fox, A.;
By: Hartmann, J.-M.; Buca, D.; Richter, S.; Zhang, B.; Schmidt, M.; Luptak, R.; Yu, W.J.; Zhao, Q.T.; Mantl, S.; Bourdelle, K.K.; Fox, A.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-166-3
By: Heinemann, B.; Fox, A.; Yamamoto, Y.; Wipf, C.; Marschmeyer, S.; Barth, R.;
By: Heinemann, B.; Fox, A.; Yamamoto, Y.; Wipf, C.; Marschmeyer, S.; Barth, R.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-166-3
By: Sibaja-Hernandez, A.; Fox, A.; Liebl, W.; Van Huylenbroeck, S.; Chantre, A.; Heinemann, B.; Meister, T.F.; Chevalier, P.;
By: Sibaja-Hernandez, A.; Fox, A.; Liebl, W.; Van Huylenbroeck, S.; Chantre, A.; Heinemann, B.; Meister, T.F.; Chevalier, P.;
2012 / IEEE
By: Buca, D.; Zhao, Q.T.; Zhang, B.; Yu, W.; Mantl, S.; Hartmann, J.-M.; Bourdelle, K.K.; Wang, X.; Fox, A.; Mussler, G.; Luptak, R.;
By: Buca, D.; Zhao, Q.T.; Zhang, B.; Yu, W.; Mantl, S.; Hartmann, J.-M.; Bourdelle, K.K.; Wang, X.; Fox, A.; Mussler, G.; Luptak, R.;
2014 / IEEE
By: Wirths, S.; Pampillon, M.A.; Buca, D.; Mantl, S.; Hartmann, J-M.; San Andres, E.; Stange, D.; Tiedemann, A. T.; Mussler, G.; Fox, A.; Breuer, U.;
By: Wirths, S.; Pampillon, M.A.; Buca, D.; Mantl, S.; Hartmann, J-M.; San Andres, E.; Stange, D.; Tiedemann, A. T.; Mussler, G.; Fox, A.; Breuer, U.;
1993 / IEEE / 0-7803-0993-6
By: Luth, H.; Meyer, R.; Hardtdegen, H.; Fox, A.; Kordos, P.; Marso, M.;
By: Luth, H.; Meyer, R.; Hardtdegen, H.; Fox, A.; Kordos, P.; Marso, M.;
1996 / IEEE
By: Rabaey, J.M.; Messerschmitt, D.G.; Long, A.C.; Katz, R.H.; Han, R.; Gilbert, J.M.; Fox, A.; Yuan-Chi Chang; Burstein, A.; Burghardt, F.; Brodersen, R.W.; Brewer, E.; Amir, E.; Seshan, S.; Narayanaswamy, S.;
By: Rabaey, J.M.; Messerschmitt, D.G.; Long, A.C.; Katz, R.H.; Han, R.; Gilbert, J.M.; Fox, A.; Yuan-Chi Chang; Burstein, A.; Burghardt, F.; Brodersen, R.W.; Brewer, E.; Amir, E.; Seshan, S.; Narayanaswamy, S.;
1996 / IEEE / 0-8186-7414-8
By: Katz, R.H.; Stemm, M.; Padmanabhan, V.; Giao Thanh Nguyen; Jiang, D.; Amir, E.; Hodes, T.; Gribble, S.; Fox, A.; Balakrishnan, H.; Brewer, E.A.;
By: Katz, R.H.; Stemm, M.; Padmanabhan, V.; Giao Thanh Nguyen; Jiang, D.; Amir, E.; Hodes, T.; Gribble, S.; Fox, A.; Balakrishnan, H.; Brewer, E.A.;
1998 / IEEE
By: Fox, A.; Chawathe, Y.; Katz, R.H.; Brewer, E.A.; Seshan, S.; Padmanabhan, V.N.; Gribble, S.D.; Balakrishnan, H.; Amir, E.; Henderson, T.; Stemm, M.; Giao Nguyen; Hodes, T.;
By: Fox, A.; Chawathe, Y.; Katz, R.H.; Brewer, E.A.; Seshan, S.; Padmanabhan, V.N.; Gribble, S.D.; Balakrishnan, H.; Amir, E.; Henderson, T.; Stemm, M.; Giao Nguyen; Hodes, T.;
1999 / IEEE
By: Marso, M.; Kordos, P.; Lambertini, R.; Hodel, U.; Forster, A.; Fox, A.; Gersdorf, P.;
By: Marso, M.; Kordos, P.; Lambertini, R.; Hodel, U.; Forster, A.; Fox, A.; Gersdorf, P.;
2000 / IEEE / 0-7803-6320-5
By: Kordos, P.; Forster, A.; Hart, A.V.D.; Fox, A.; Luth, H.; Marso, M.; Orzati, A.; Hodel, U.; Homan, O.;
By: Kordos, P.; Forster, A.; Hart, A.V.D.; Fox, A.; Luth, H.; Marso, M.; Orzati, A.; Hodel, U.; Homan, O.;
2000 / IEEE / 0-7803-5939-9
By: Moers, J.; Luth, H.; Kordos, P.; Marso, M.; Fox, A.; van der Hart, A.; Vescan, L.; Klaes, D.; Tonnesmann, A.;
By: Moers, J.; Luth, H.; Kordos, P.; Marso, M.; Fox, A.; van der Hart, A.; Vescan, L.; Klaes, D.; Tonnesmann, A.;
2001 / IEEE / 0-7803-7049-X
By: Javorka, P.; Kordos, P.; Heuken, M.; Marso, M.; Fox, A.; Alam, A.; Wolter, M.;
By: Javorka, P.; Kordos, P.; Heuken, M.; Marso, M.; Fox, A.; Alam, A.; Wolter, M.;
2001 / IEEE / 0-7803-7049-X
By: Bernat, J.; Wolter, M.; Marso, M.; Kordos, P.; Fox, A.; Javorka, P.;
By: Bernat, J.; Wolter, M.; Marso, M.; Kordos, P.; Fox, A.; Javorka, P.;
2001 / IEEE / 0-7803-7049-X
By: Wolter, M.; Kordos, P.; Luth, H.; Heuken, M.; Fox, A.; Carius, R.; Alam, A.; Marso, M.; Javorka, P.;
By: Wolter, M.; Kordos, P.; Luth, H.; Heuken, M.; Fox, A.; Carius, R.; Alam, A.; Marso, M.; Javorka, P.;
2001 / IEEE / 0-7803-7049-X
By: Mikulics, M.; Sobolewski, R.; Xu, Y.; Kordos, P.; Adam, R.; Forster, A.; Buca, D.; Fox, A.; Marso, M.;
By: Mikulics, M.; Sobolewski, R.; Xu, Y.; Kordos, P.; Adam, R.; Forster, A.; Buca, D.; Fox, A.; Marso, M.;
2002 / IEEE
By: Luth, H.; Heuken, M.; Marso, M.; Fox, A.; Kordos, P.; Alam, A.; Wolter, M.; Javorka, P.;
By: Luth, H.; Heuken, M.; Marso, M.; Fox, A.; Kordos, P.; Alam, A.; Wolter, M.; Javorka, P.;
2002 / IEEE / 0-7803-7276-X
By: Schafer, F.; Stuer, H.; Forster, A.; Marso, M.; Gusten, R.; Siebe, F.; Mikulics, M.; Fox, A.; Kordos, P.;
By: Schafer, F.; Stuer, H.; Forster, A.; Marso, M.; Gusten, R.; Siebe, F.; Mikulics, M.; Fox, A.; Kordos, P.;
2002 / IEEE / 0-7803-7276-X
By: Kordos, P.; Fox, A.; Bochem, H.P.; van der Hart, A.; Skriniarova, J.;
By: Kordos, P.; Fox, A.; Bochem, H.P.; van der Hart, A.; Skriniarova, J.;
2002 / IEEE / 0-7803-7276-X
By: Kordos, P.; Fox, A.; Javorka, P.; Wolter, A.; Bernat, J.; Marso, M.;
By: Kordos, P.; Fox, A.; Javorka, P.; Wolter, A.; Bernat, J.; Marso, M.;
2002 / IEEE / 0-7803-7462-2
By: Knoll, D.; Ehwald, K.E.; Winkler, W.; Wolansky, D.; Wulf, H.E.; Kopke, K.; Yamamoto, Y.; Tillack, B.; Scholz, R.; Schley, P.; Fursenko, O.; Kuck, B.; Grabolla, T.; Richter, H.H.; Marschmeyer, S.; Kurps, R.; Drews, J.; Hoppner, W.; Haak, U.; Barth, R.; Senapati, B.; Furnhammer, F.; Rucker, H.; Blum, K.; Fox, A.; Heinemann, B.;
By: Knoll, D.; Ehwald, K.E.; Winkler, W.; Wolansky, D.; Wulf, H.E.; Kopke, K.; Yamamoto, Y.; Tillack, B.; Scholz, R.; Schley, P.; Fursenko, O.; Kuck, B.; Grabolla, T.; Richter, H.H.; Marschmeyer, S.; Kurps, R.; Drews, J.; Hoppner, W.; Haak, U.; Barth, R.; Senapati, B.; Furnhammer, F.; Rucker, H.; Blum, K.; Fox, A.; Heinemann, B.;
2003 / IEEE / 0-7695-1995-4
By: Fox, A.; Vikram Vijayaraghavan; Johanson, B.; Hsieh, T.; Barton, J.J.; Shimizu, T.;
By: Fox, A.; Vikram Vijayaraghavan; Johanson, B.; Hsieh, T.; Barton, J.J.; Shimizu, T.;
2003 / IEEE / 0-7803-8139-4
By: Kordos, P.; Marso, M.; Fox, A.; Wolter, M.; Javorka, P.; Bernat, J.;
By: Kordos, P.; Marso, M.; Fox, A.; Wolter, M.; Javorka, P.; Bernat, J.;
2004 / IEEE / 0-7803-8618-3
By: Knoll, D.; Heinemann, B.; Zaumseil, P.; Yamamoto, Y.; Wulf, H.-E.; Wolf, C.; Wolansky, D.; Winkler, W.; Tillack, B.; Senapati, B.; Scholz, R.; Schmidt, D.; Schley, P.; Barth, R.; Blum, K.; Borngraber, J.; Drews, J.; Ehwald, K.-E.; Fischer, G.; Fox, A.; Grabolla, T.; Haak, U.; Hoppner, W.; Korndorfer, F.; Kuck, B.; Marschmeyer, S.; Richter, H.; Rucker, H.;
By: Knoll, D.; Heinemann, B.; Zaumseil, P.; Yamamoto, Y.; Wulf, H.-E.; Wolf, C.; Wolansky, D.; Winkler, W.; Tillack, B.; Senapati, B.; Scholz, R.; Schmidt, D.; Schley, P.; Barth, R.; Blum, K.; Borngraber, J.; Drews, J.; Ehwald, K.-E.; Fischer, G.; Fox, A.; Grabolla, T.; Haak, U.; Hoppner, W.; Korndorfer, F.; Kuck, B.; Marschmeyer, S.; Richter, H.; Rucker, H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8656-6
By: Hudyryev, A.; Gromovyy, A.; Stikanov, V.E.; Wolf, C.; Fox, A.; Barth, R.; Schley, P.; Ehwald, K.E.; Marschmeyer, S.;
By: Hudyryev, A.; Gromovyy, A.; Stikanov, V.E.; Wolf, C.; Fox, A.; Barth, R.; Schley, P.; Ehwald, K.E.; Marschmeyer, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8335-7
By: Javorka, P.; Bernat, J.; Marso, M.; Kordos, P.; Wolter, M.; Fox, A.;
By: Javorka, P.; Bernat, J.; Marso, M.; Kordos, P.; Wolter, M.; Fox, A.;
2004 / IEEE / 0-7803-8335-7
By: Mikulics, M.; Kordos, P.; Luth, H.; Gusten, R.; Forster, A.; Fox, A.; van der Hart, A.; Marso, M.; Camara, I.;
By: Mikulics, M.; Kordos, P.; Luth, H.; Gusten, R.; Forster, A.; Fox, A.; van der Hart, A.; Marso, M.; Camara, I.;
2005 / IEEE / 0-7965-2276-9
By: Fox, A.; Hui, J.; Tolle, G.; Patel, K.; Candea, G.; Jordan, M.I.; Biewald, L.; Friedman, G.; Bodik, P.; Levine, H.; Patterson, D.;
By: Fox, A.; Hui, J.; Tolle, G.; Patel, K.; Candea, G.; Jordan, M.I.; Biewald, L.; Friedman, G.; Bodik, P.; Levine, H.; Patterson, D.;
2001 / IEEE / 2-914601-01-8
By: Adde, R.; Enciso, M.; Hock, G.; Zeuner, M.; Fox, A.; Giguerre, L.; Crozat, P.; Aniel, F.;
By: Adde, R.; Enciso, M.; Hock, G.; Zeuner, M.; Fox, A.; Giguerre, L.; Crozat, P.; Aniel, F.;
2005 / IEEE / 0-7803-9309-0
By: Tillack, B.; Winkler, W.; Senapati, B.; Korndorfer, F.; Scholz, R.; Schley, P.; Stikanov, V.E.; Rucker, H.; Fischer, A.; Barth, R.; Heinemann, B.; Ehwald, K.E.; Fox, A.; Knoll, D.; Zaumseil, P.; Wolf, Ch.;
By: Tillack, B.; Winkler, W.; Senapati, B.; Korndorfer, F.; Scholz, R.; Schley, P.; Stikanov, V.E.; Rucker, H.; Fischer, A.; Barth, R.; Heinemann, B.; Ehwald, K.E.; Fox, A.; Knoll, D.; Zaumseil, P.; Wolf, Ch.;
2006 / IEEE
By: Heidelberger, G.; Marso, M.; Luth, H.; Kordos, P.; Fox, A.; Bernat, J.; Indlekofer, K.M.;
By: Heidelberger, G.; Marso, M.; Luth, H.; Kordos, P.; Fox, A.; Bernat, J.; Indlekofer, K.M.;
2006 / IEEE / 1-4244-0369-0
By: Schubert, J.; Fox, A.; Stefaniak, M.; Steins, R.; Roeckerath, M.; Kaluza, N.; Kordos, P.; Heidelberger, G.; Luth, H.; Marso, M.;
By: Schubert, J.; Fox, A.; Stefaniak, M.; Steins, R.; Roeckerath, M.; Kaluza, N.; Kordos, P.; Heidelberger, G.; Luth, H.; Marso, M.;
2006 / IEEE / 1-4244-0438-X
By: Richter, H.H.; Chaimanee, M.; Kuck, B.; Drews, J.; Haak, U.; Grabolla, T.; Marschmeyer, S.; Bolze, D.; Barth, R.; Rucker, H.; Fox, A.; Ehwald, K.E.; Heinemann, B.; Knoll, D.; Wolansky, D.; Wulf, H.E.; Yamamoto, Y.; Kopke, K.; Tillack, B.; Schley, P.; Fursenko, O.;
By: Richter, H.H.; Chaimanee, M.; Kuck, B.; Drews, J.; Haak, U.; Grabolla, T.; Marschmeyer, S.; Bolze, D.; Barth, R.; Rucker, H.; Fox, A.; Ehwald, K.E.; Heinemann, B.; Knoll, D.; Wolansky, D.; Wulf, H.E.; Yamamoto, Y.; Kopke, K.; Tillack, B.; Schley, P.; Fursenko, O.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Riicker, H.; Heinemann, B.; Yamamototo, Y.; Wulf, H.-E.; Wolansky, D.; Winkler, W.; Weidner, G.; Tillack, B.; Schulz, K.; Schmidt, D.; Schley, P.; Richter, H.H.; Morgenstern, T.; Marschmeyer, S.; Mai, A.; Kuck, B.; Kopke, K.; Knoll, D.; Hoppner, W.; Haak, U.; Barth, R.; Bauer, J.; Blum, D.B.K.; Bolze, D.; Drews, J.; Fischer, G.G.; Fox, A.; Fursenko, O.; Grabolla, T.;
By: Riicker, H.; Heinemann, B.; Yamamototo, Y.; Wulf, H.-E.; Wolansky, D.; Winkler, W.; Weidner, G.; Tillack, B.; Schulz, K.; Schmidt, D.; Schley, P.; Richter, H.H.; Morgenstern, T.; Marschmeyer, S.; Mai, A.; Kuck, B.; Kopke, K.; Knoll, D.; Hoppner, W.; Haak, U.; Barth, R.; Bauer, J.; Blum, D.B.K.; Bolze, D.; Drews, J.; Fischer, G.G.; Fox, A.; Fursenko, O.; Grabolla, T.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Drews, J.; Haak, U.; Bolze, D.; Barth, R.; Heinemann, B.; Fox, A.; Yamamoto, Y.; Wolansky, D.; Wipf, C.; Weidner, G.; Tillack, B.; Schmidt, D.; Schley, P.; Rucker, H.; Richter, H.H.; Marschmeyer, S.; Kurps, R.; Kuck, B.; Knoll, D.;
By: Drews, J.; Haak, U.; Bolze, D.; Barth, R.; Heinemann, B.; Fox, A.; Yamamoto, Y.; Wolansky, D.; Wipf, C.; Weidner, G.; Tillack, B.; Schmidt, D.; Schley, P.; Rucker, H.; Richter, H.H.; Marschmeyer, S.; Kurps, R.; Kuck, B.; Knoll, D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3422-0
By: Jordan, M.; Fox, A.; Wiener, J.L.; Dayal, U.; Kuno, H.; Ganapathi, A.; Patterson, D.;
By: Jordan, M.; Fox, A.; Wiener, J.L.; Dayal, U.; Kuno, H.; Ganapathi, A.; Patterson, D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4071-9
By: Meister, T.; Chantre, A.; Chevalier, P.; Fox, A.; Aufinger, K.; Heinemann, B.; Van Huylenbroeck, S.; Decoutere, S.; Schroter, M.;
By: Meister, T.; Chantre, A.; Chevalier, P.; Fox, A.; Aufinger, K.; Heinemann, B.; Van Huylenbroeck, S.; Decoutere, S.; Schroter, M.;