Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Engel, B.
Results
2000 / IEEE / 0-7803-5943-7
By: Chen, E.; Engel, B.; Tehrani, S.; Slaughter, J.M.; Durlam, M.; DeHerrera, M.;
By: Chen, E.; Engel, B.; Tehrani, S.; Slaughter, J.M.; Durlam, M.; DeHerrera, M.;
2000 / IEEE
By: Calder, J.; Janesky, J.; Whig, R.; Naji, P.; Durlam, M.; Tehrani, S.; Chen, E.; Slaughter, J.M.; Engel, B.; DeHerrera, M.;
By: Calder, J.; Janesky, J.; Whig, R.; Naji, P.; Durlam, M.; Tehrani, S.; Chen, E.; Slaughter, J.M.; Engel, B.; DeHerrera, M.;
2002 / IEEE / 0-7803-7310-3
By: Williams, R.; Tehrani, S.; Molla, J.; Ren, J.; Kyler, K.; Smith, K.; Tracy, C.; Butcher, B.; Feil, B.; Grynkewich, G.; Rizzo, N.; Engel, B.; Slaughter, J.M.; Calder, J.; DeHerrera, M.; Omair, A.; Naji, P.; Durlam, M.;
By: Williams, R.; Tehrani, S.; Molla, J.; Ren, J.; Kyler, K.; Smith, K.; Tracy, C.; Butcher, B.; Feil, B.; Grynkewich, G.; Rizzo, N.; Engel, B.; Slaughter, J.M.; Calder, J.; DeHerrera, M.; Omair, A.; Naji, P.; Durlam, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Hohage, J.; Ruelke, H.; Klais, J.; Huebler, P.; Luning, S.; van Bentum, R.; Grasshoff, G.; Schwan, C.; Ehrichs, E.; Goad, S.; Buller, J.; Krishnan, S.; Greenlaw, D.; Raab, M.; Kepler, N.; Yang, H.S.; Malik, R.; Narasimha, S.; Li, Y.; Divakaruni, R.; Agnello, P.; Allen, S.; Antreasyan, A.; Arnold, J.C.; Bandy, K.; Belyansky, M.; Bonnoit, A.; Bronner, G.; Chan, V.; Chen, X.; Chen, Z.; Chidambarrao, D.; Chou, A.; Clark, W.; Crowder, S.W.; Engel, B.; Harifuchi, H.; Huang, S.F.; Jagannathan, R.; Jamin, F.F.; Kohyama, Y.; Kuroda, H.; Lai, C.W.; Lee, H.K.; Lee, W.-H.; Lim, E.H.; Lai, W.; Mallikarjunan, A.; Matsumoto, K.; McKnight, A.; Nayak, J.; Ng, H.Y.; Panda, S.; Rengarajan, R.; Steigerwalt, M.; Subbanna, S.; Subramanian, K.; Sudijono, J.; Sudo, G.; Sun, S.-P.; Tessier, B.; Toyoshima, Y.; Tran, P.; Wise, R.; Wong, R.; Yang, I.Y.; Wann, C.H.; Su, L.T.; Horstmann, M.; Feudel, Th.; Wei, A.; Frohberg, K.; Burbach, G.; Gerhardt, M.; Lenski, M.; Stephan, R.; Wieczorek, K.; Schaller, M.; Salz, H.;
By: Hohage, J.; Ruelke, H.; Klais, J.; Huebler, P.; Luning, S.; van Bentum, R.; Grasshoff, G.; Schwan, C.; Ehrichs, E.; Goad, S.; Buller, J.; Krishnan, S.; Greenlaw, D.; Raab, M.; Kepler, N.; Yang, H.S.; Malik, R.; Narasimha, S.; Li, Y.; Divakaruni, R.; Agnello, P.; Allen, S.; Antreasyan, A.; Arnold, J.C.; Bandy, K.; Belyansky, M.; Bonnoit, A.; Bronner, G.; Chan, V.; Chen, X.; Chen, Z.; Chidambarrao, D.; Chou, A.; Clark, W.; Crowder, S.W.; Engel, B.; Harifuchi, H.; Huang, S.F.; Jagannathan, R.; Jamin, F.F.; Kohyama, Y.; Kuroda, H.; Lai, C.W.; Lee, H.K.; Lee, W.-H.; Lim, E.H.; Lai, W.; Mallikarjunan, A.; Matsumoto, K.; McKnight, A.; Nayak, J.; Ng, H.Y.; Panda, S.; Rengarajan, R.; Steigerwalt, M.; Subbanna, S.; Subramanian, K.; Sudijono, J.; Sudo, G.; Sun, S.-P.; Tessier, B.; Toyoshima, Y.; Tran, P.; Wise, R.; Wong, R.; Yang, I.Y.; Wann, C.H.; Su, L.T.; Horstmann, M.; Feudel, Th.; Wei, A.; Frohberg, K.; Burbach, G.; Gerhardt, M.; Lenski, M.; Stephan, R.; Wieczorek, K.; Schaller, M.; Salz, H.;
2006 / IEEE / 1-4244-0104-6
By: McGahay, V.; Bonilla, G.; Chen, F.; Christiansen, C.; Cohen, S.; Cullinan-Scholl, M.; Demarest, J.; Dunn, D.; Engel, B.; Fitzsimmons, J.; Gill, J.; Grunow, S.; Herbst, B.; Hichri, H.; Ida, K.; Klymko, N.; Kiene, M.; Labelle, C.; Lee, T.; Liniger, E.; Liu, X.H.; Madan, A.; Malone, K.; Martin, J.; McLaughlin, P.V.; Minami, P.; Molis, S.; Muzzy, C.; Nguyen, S.; Patel, J.C.; Restaino, D.; Sakamoto, A.; Shaw, T.M.; Shimooka, Y.; Shobha, H.; Simonyi, E.; Widodo, J.; Grill, A.; Hannon, R.; Lane, M.; Nye, H.; Spooner, T.; Wisnieff, R.; Ivers, T.;
By: McGahay, V.; Bonilla, G.; Chen, F.; Christiansen, C.; Cohen, S.; Cullinan-Scholl, M.; Demarest, J.; Dunn, D.; Engel, B.; Fitzsimmons, J.; Gill, J.; Grunow, S.; Herbst, B.; Hichri, H.; Ida, K.; Klymko, N.; Kiene, M.; Labelle, C.; Lee, T.; Liniger, E.; Liu, X.H.; Madan, A.; Malone, K.; Martin, J.; McLaughlin, P.V.; Minami, P.; Molis, S.; Muzzy, C.; Nguyen, S.; Patel, J.C.; Restaino, D.; Sakamoto, A.; Shaw, T.M.; Shimooka, Y.; Shobha, H.; Simonyi, E.; Widodo, J.; Grill, A.; Hannon, R.; Lane, M.; Nye, H.; Spooner, T.; Wisnieff, R.; Ivers, T.;