Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Dong, J.
Results
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Balla, A.; Bencivenni, G.; Schioppa, M.; Pelosi, A.; Capodiferro, M.; Di Domenico, A.; Valentino, V.; Ranieri, A.; Mongelli, M.; Loddo, F.; Liuzzi, R.; Lacalamita, N.; Fanizzi, G.; De Robertis, G.; Tskhadadze, E.; Quintieri, L.; Pistilli, M.; Patera, V.; Morello, G.; Lauciani, S.; Jacewicz, M.; Gatta, M.; Felici, G.; Dong, J.; Domenici, D.; De Lucia, E.; Ciambrone, P.; Cerioni, S.;
By: Balla, A.; Bencivenni, G.; Schioppa, M.; Pelosi, A.; Capodiferro, M.; Di Domenico, A.; Valentino, V.; Ranieri, A.; Mongelli, M.; Loddo, F.; Liuzzi, R.; Lacalamita, N.; Fanizzi, G.; De Robertis, G.; Tskhadadze, E.; Quintieri, L.; Pistilli, M.; Patera, V.; Morello, G.; Lauciani, S.; Jacewicz, M.; Gatta, M.; Felici, G.; Dong, J.; Domenici, D.; De Lucia, E.; Ciambrone, P.; Cerioni, S.;
2012 / IEEE / 978-1-55752-935-1
By: Masini, G.; Narasimha, A.; Liang, Y.; Xu, W.; Pinguet, T.; Yu, S.; Sahni, S.; Jackson, S.; Hovey, S.; Gloeckner, S.; Abdalla, S.; Leap, S.; LeBlanc, R.; De Dobbelaere, P.; Sharp, M.; Mack, M.; Saberi, M.; Peterson, M.; Harrison, M.; Yokoyama, K.; Redman, J.; Mekis, A.; Welch, B.; Ogden, C.; Bradbury, C.; Sohn, C.; Song, D.; Martinez, D.; Foltz, D.; Guckenberger, D.; Eicher, J.; Dong, J.; Schramm, J.; White, J.;
By: Masini, G.; Narasimha, A.; Liang, Y.; Xu, W.; Pinguet, T.; Yu, S.; Sahni, S.; Jackson, S.; Hovey, S.; Gloeckner, S.; Abdalla, S.; Leap, S.; LeBlanc, R.; De Dobbelaere, P.; Sharp, M.; Mack, M.; Saberi, M.; Peterson, M.; Harrison, M.; Yokoyama, K.; Redman, J.; Mekis, A.; Welch, B.; Ogden, C.; Bradbury, C.; Sohn, C.; Song, D.; Martinez, D.; Foltz, D.; Guckenberger, D.; Eicher, J.; Dong, J.; Schramm, J.; White, J.;
2012 / IEEE
By: Balla, A.; Bencivenni, G.; Valentino, V.; Tskhadadze, E.; Ranieri, A.; Quintieri, L.; Pelosi, A.; Branchini, P.; Budano, A.; Capodiferro, M.; Cerioni, S.; Ciambrone, P.; Czerwinski, E.; De Lucia, E.; De Robertis, G.; Di Domenico, A.; Domenici, D.; Dong, J.; Fanizzi, G.; Felici, G.; Gatta, M.; Lacalamita, N.; Liuzzi, R.; Loddo, F.; Mongelli, M.; Morello, G.;
By: Balla, A.; Bencivenni, G.; Valentino, V.; Tskhadadze, E.; Ranieri, A.; Quintieri, L.; Pelosi, A.; Branchini, P.; Budano, A.; Capodiferro, M.; Cerioni, S.; Ciambrone, P.; Czerwinski, E.; De Lucia, E.; De Robertis, G.; Di Domenico, A.; Domenici, D.; Dong, J.; Fanizzi, G.; Felici, G.; Gatta, M.; Lacalamita, N.; Liuzzi, R.; Loddo, F.; Mongelli, M.; Morello, G.;
2015 / IEEE
By: Zhang, X.; Zhang, S.; Liu, L.; Cui, G.; Zhang, Y.; Huang, L.; Wang, Y.; Dong, J.; Wu, J.; Cong, Y.; Zhao, N.; Han, D.; Chen, Z.; Zhao, F.;
By: Zhang, X.; Zhang, S.; Liu, L.; Cui, G.; Zhang, Y.; Huang, L.; Wang, Y.; Dong, J.; Wu, J.; Cong, Y.; Zhao, N.; Han, D.; Chen, Z.; Zhao, F.;
2015 / IEEE
By: Zhou, D.; Chen, F.; Liu, T.; Dong, J.; Dimov, A.; Spincemaille, P.; Cheng, Q.; Raj, A.; Wang, Y.;
By: Zhou, D.; Chen, F.; Liu, T.; Dong, J.; Dimov, A.; Spincemaille, P.; Cheng, Q.; Raj, A.; Wang, Y.;
2015 / IEEE
By: Han, D.; Zhao, N.; Wang, Y.; Zhang, X.; Chen, Z.; Zhao, F.; Dong, J.; Cong, Y.; Wu, J.; Zhang, S.;
By: Han, D.; Zhao, N.; Wang, Y.; Zhang, X.; Chen, Z.; Zhao, F.; Dong, J.; Cong, Y.; Wu, J.; Zhang, S.;
2014 / IEEE
By: Chen, Z.; Han, D.; Wang, Y.; Zhang, X.; Zhang, S.; Liu, L.; Zhao, F.; Dong, J.; Huang, L.; Zhao, N.; Cong, Y.; Wu, J.;
By: Chen, Z.; Han, D.; Wang, Y.; Zhang, X.; Zhang, S.; Liu, L.; Zhao, F.; Dong, J.; Huang, L.; Zhao, N.; Cong, Y.; Wu, J.;
1989 / IEEE
By: Carrera, R.; Barrington, M.; Woodson, H.; Werst, M.; Weldon, W.; Walls, A.; Varghese, P.; Van Dam, J.; Tesar, D.; Tamor, S.; Rosenbluth, M.; Parish, T.; Palmrose, D.; Ordonez, C.; Montalvo, E.; Miller, G.; Bickerton, R.; Booth, D.; Chen, Y.; Dong, J.; Driga, M.; Eways, S.; Fu, G.; Gully, J.; Hallock, G.; Helton, J.; Hertel, N.; Hively, L.; Howell, J.; Hsieh, K.; Ling, J.;
By: Carrera, R.; Barrington, M.; Woodson, H.; Werst, M.; Weldon, W.; Walls, A.; Varghese, P.; Van Dam, J.; Tesar, D.; Tamor, S.; Rosenbluth, M.; Parish, T.; Palmrose, D.; Ordonez, C.; Montalvo, E.; Miller, G.; Bickerton, R.; Booth, D.; Chen, Y.; Dong, J.; Driga, M.; Eways, S.; Fu, G.; Gully, J.; Hallock, G.; Helton, J.; Hertel, N.; Hively, L.; Howell, J.; Hsieh, K.; Ling, J.;
1989 / IEEE
By: Dong, J.; Van Dam, J.; Carrera, R.; Bickerton, R.; Fu, G.; Helton, J.; Tamor, S.; Rosenbluth, M.; Ordonez, C.; Montalvo, E.; Hively, L.;
By: Dong, J.; Van Dam, J.; Carrera, R.; Bickerton, R.; Fu, G.; Helton, J.; Tamor, S.; Rosenbluth, M.; Ordonez, C.; Montalvo, E.; Hively, L.;
Proposal of a GaInAs/GaInAsP/InP antiguided filter laser array operating in single longitudinal mode
1993 / IEEEBy: Arai, S.; Dong, J.; Ikeda, T.; Hotta, M.;
1993 / IEEE / 0-7803-1450-6
By: Li, J.; McVittie, J.P.; Chang, C.Y.; Dong, J.; Lassig, S.E.; Saraswat, K.C.;
By: Li, J.; McVittie, J.P.; Chang, C.Y.; Dong, J.; Lassig, S.E.; Saraswat, K.C.;
1995 / IEEE / 0-7803-2147-2
By: Dong, J.; Tanaka, A.; Egawa, T.; Umeno, M.; Jimbo, T.; Matsumoto, K.;
By: Dong, J.; Tanaka, A.; Egawa, T.; Umeno, M.; Jimbo, T.; Matsumoto, K.;
1999 / IEEE / 0-7803-5498-2
By: Wood, T.; Yankelevich, Y.; Bystritskii, V.; Dong, J.; Shim, S.; Isakov, I.; Chauhan, S.;
By: Wood, T.; Yankelevich, Y.; Bystritskii, V.; Dong, J.; Shim, S.; Isakov, I.; Chauhan, S.;
2002 / IEEE / 0-7803-7073-2
By: Oliaro, G.; Kugel, H.; Gernhardt, R.; Dong, J.; Blanchard, W.; Mastrovito, D.; Provost, T.;
By: Oliaro, G.; Kugel, H.; Gernhardt, R.; Dong, J.; Blanchard, W.; Mastrovito, D.; Provost, T.;
2003 / IEEE / 0-7803-7908-X
By: Kugel, H.; Gernhardt, R.; Dong, J.; Gettelfinger, G.; Timberlake, J.; Sichta, P.;
By: Kugel, H.; Gernhardt, R.; Dong, J.; Gettelfinger, G.; Timberlake, J.; Sichta, P.;
2005 / IEEE / 0-7803-8936-0
By: Boussalis, H.; Roberts, J.; Thienphrapa, P.; Fallorina, S.; Dong, J.; Rad, K.; Liu, C.;
By: Boussalis, H.; Roberts, J.; Thienphrapa, P.; Fallorina, S.; Dong, J.; Rad, K.; Liu, C.;
2005 / IEEE / 0-7803-8904-2
By: Dong, J.; Scott, D.; Clasen, H.; Blasquez, J.; Semino, G.; Bouetel, L.; Streeter, M.; Wagner, M.; Dahan, F.; Mair, H.; Royannez, P.; Uming Ko; Raibaut, C.; Pitts, B.;
By: Dong, J.; Scott, D.; Clasen, H.; Blasquez, J.; Semino, G.; Bouetel, L.; Streeter, M.; Wagner, M.; Dahan, F.; Mair, H.; Royannez, P.; Uming Ko; Raibaut, C.; Pitts, B.;
2005 / IEEE / 1-59593-058-2
By: Bouetel, L.; Blasquez, J.; Streeter, M.; Wagner, M.; Dahan, F.; Mair, H.; Royannez, P.; Uming Ko; Raibaut, C.; Pitts, B.; Scott, D.; Dong, J.; Semino, G.; Clasen, H.;
By: Bouetel, L.; Blasquez, J.; Streeter, M.; Wagner, M.; Dahan, F.; Mair, H.; Royannez, P.; Uming Ko; Raibaut, C.; Pitts, B.; Scott, D.; Dong, J.; Semino, G.; Clasen, H.;
2006 / IEEE / 1-4244-0097-X
By: Clasen, H.; Semino, G.; Bouetel, L.; Blasquez, J.; Streeter, M.; Wagner, M.; Dahan, F.; Mair, H.; Royannez, P.; Ko, U.; Raibaut, C.; Pitts, B.; Scott, D.; Dong, J.;
By: Clasen, H.; Semino, G.; Bouetel, L.; Blasquez, J.; Streeter, M.; Wagner, M.; Dahan, F.; Mair, H.; Royannez, P.; Ko, U.; Raibaut, C.; Pitts, B.; Scott, D.; Dong, J.;
1987 / IEEE
By: Lagin, L.; McEnerney, J.; Williams, M.; Walling, C.; Stark, W.; Snyder, J.; Sichta, P.; Shah, P.; Segers, R.; Schobert, J.; Rauch, W.; O'Conner, T.; Montague, J.; Kugel, H.; Kolinchak, G.; Arnold, N.; Chu, J.; Cropper, M.; Davis, S.; Dong, J.; Drucker, L.; Feng, H.; Fleming, G.; Grisham, L.; Johnson, G.; Kamperschroer, J.;
By: Lagin, L.; McEnerney, J.; Williams, M.; Walling, C.; Stark, W.; Snyder, J.; Sichta, P.; Shah, P.; Segers, R.; Schobert, J.; Rauch, W.; O'Conner, T.; Montague, J.; Kugel, H.; Kolinchak, G.; Arnold, N.; Chu, J.; Cropper, M.; Davis, S.; Dong, J.; Drucker, L.; Feng, H.; Fleming, G.; Grisham, L.; Johnson, G.; Kamperschroer, J.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Dong, J.; Plum, E.; Zheludev, N.I.; Soukoulis, C.; Koschny, T.; Fedotov, V.A.; Zhou, J.;
By: Dong, J.; Plum, E.; Zheludev, N.I.; Soukoulis, C.; Koschny, T.; Fedotov, V.A.; Zhou, J.;
2008 / IEEE / 978-0-7695-3279-0
By: Bastani, F.; I-Ling Yen; Paul, R.; Srivastava, J.; Dong, J.; Ghafoor, A.; Kavi, K.; Wei-Tek Tsai;
By: Bastani, F.; I-Ling Yen; Paul, R.; Srivastava, J.; Dong, J.; Ghafoor, A.; Kavi, K.; Wei-Tek Tsai;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2606-5
By: Zhang, X.; Sun, J.; Dong, J.; Yu, Y.; Huang, D.; Rosas-Fernandez, J.B.; White, I.H.; Wang, J.; Penty, R.V.;
By: Zhang, X.; Sun, J.; Dong, J.; Yu, Y.; Huang, D.; Rosas-Fernandez, J.B.; White, I.H.; Wang, J.; Penty, R.V.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2635-5
By: Mastrovito, D.; Dong, J.; Davis, W.; Sichta, P.; Zimmer, G.; Tchilinguirian, G.;
By: Mastrovito, D.; Dong, J.; Davis, W.; Sichta, P.; Zimmer, G.; Tchilinguirian, G.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5300-9
By: Wang, F.-J.; Zhang, W.; Dong, J.; Yen, I.-L.; Bastani, F.; Huang, J.; Hsu, H.-J.;
By: Wang, F.-J.; Zhang, W.; Dong, J.; Yen, I.-L.; Bastani, F.; Huang, J.; Hsu, H.-J.;
1990 / IEEE
By: Leuer, J.; Helton, J.; Booth, D.W.; Carrera, R.; Rosenbluth, M.N.; Montalvo, E.; Dong, J.; Khayrutdinov, R.;
By: Leuer, J.; Helton, J.; Booth, D.W.; Carrera, R.; Rosenbluth, M.N.; Montalvo, E.; Dong, J.; Khayrutdinov, R.;