Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Delfyett, P.J.
Results
2011 / IEEE
By: Davila-Rodriguez, J.; Hernandez-Romano, I.; Delfyett, P.J.; May-Arrioja, D.A.; Sanchez-Mondragon, J.J.; Mandridis, D.;
By: Davila-Rodriguez, J.; Hernandez-Romano, I.; Delfyett, P.J.; May-Arrioja, D.A.; Sanchez-Mondragon, J.J.; Mandridis, D.;
2012 / IEEE
By: Plant, J.J.; Delfyett, P.J.; Bagnell, M.; Ozdur, I.T.; Davila-Rodriguez, J.; Juodawlkis, P.W.;
By: Plant, J.J.; Delfyett, P.J.; Bagnell, M.; Ozdur, I.T.; Davila-Rodriguez, J.; Juodawlkis, P.W.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8939-8
By: Mandridis, D.; Williams, C.; Delfyett, P.J.; Klee, A.; Davila-Rodriguez, J.;
By: Mandridis, D.; Williams, C.; Delfyett, P.J.; Klee, A.; Davila-Rodriguez, J.;
1992 / IEEE
By: Andreadakis, N.C.; Florez, L.T.; Gmitter, T.; Stoffel, N.; Silberberg, Y.; Delfyett, P.J.; Alphonse, G.A.; Heritage, J.P.;
By: Andreadakis, N.C.; Florez, L.T.; Gmitter, T.; Stoffel, N.; Silberberg, Y.; Delfyett, P.J.; Alphonse, G.A.; Heritage, J.P.;
1993 / IEEE / 0-7803-1263-5
By: Heritage, J.P.; Delfyett, P.J.; Chang, Y.H.; Hong, M.Y.; Dienes, A.;
By: Heritage, J.P.; Delfyett, P.J.; Chang, Y.H.; Hong, M.Y.; Dienes, A.;
1996 / IEEE
By: Heritage, J.P.; Dienes, A.; Chang, Y.H.; Hong, M.Y.; Patterson, F.G.; Dijaili, S.; Delfyett, P.J.;
By: Heritage, J.P.; Dienes, A.; Chang, Y.H.; Hong, M.Y.; Patterson, F.G.; Dijaili, S.; Delfyett, P.J.;
1994 / IEEE / 0-7803-1470-0
By: Heritage, J.P.; Le Sage, G.P.; Fochs, S.N.; Delfyett, P.J.; McNally, J.D.; Ferry, M.D.; Luhmann, N.C., Jr.; Hartemann, F.V.;
By: Heritage, J.P.; Le Sage, G.P.; Fochs, S.N.; Delfyett, P.J.; McNally, J.D.; Ferry, M.D.; Luhmann, N.C., Jr.; Hartemann, F.V.;
1997 / IEEE / 0-7803-3889-8
By: Shi, H.; Gee, S.; Delfyett, P.J.; Connolly, J.; Alphonse, G.; Mathason, B.;
By: Shi, H.; Gee, S.; Delfyett, P.J.; Connolly, J.; Alphonse, G.; Mathason, B.;
1994 / IEEE / 0-7803-1789-0
By: Hyde, S.; Mellish, R.; Florez, L.T.; Delfyett, P.J.; Taylor, J.R.; French, P.M.W.; Barry, N.;
By: Hyde, S.; Mellish, R.; Florez, L.T.; Delfyett, P.J.; Taylor, J.R.; French, P.M.W.; Barry, N.;
1999 / IEEE
By: Delfyett, P.J.; Connolly, J.C.; Abeles, J.; Alphonse, G.A.; Nitta, I.; Shi, H.; Mathason, B.K.;
By: Delfyett, P.J.; Connolly, J.C.; Abeles, J.; Alphonse, G.A.; Nitta, I.; Shi, H.; Mathason, B.K.;
1999 / IEEE / 1-55752-595-1
By: Alphonse, G.A.; Shi, H.; Nitta, I.; Mathason, B.K.; Delfyett, P.J.; Connolly, J.C.;
By: Alphonse, G.A.; Shi, H.; Nitta, I.; Mathason, B.K.; Delfyett, P.J.; Connolly, J.C.;
2000 / IEEE / 0-7803-5916-X
By: Lei, S.; Chow, L.C.; Huddle, J.J.; Delfyett, P.J.; Bass, M.; Lindauer, S.J., II; Rini, D.P.; Marcos, A.;
By: Lei, S.; Chow, L.C.; Huddle, J.J.; Delfyett, P.J.; Bass, M.; Lindauer, S.J., II; Rini, D.P.; Marcos, A.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Park, E.; Nitta, I.; DePreist, C.; Delfyett, P.J.; Connolly, J.; Abeles, J.;
By: Park, E.; Nitta, I.; DePreist, C.; Delfyett, P.J.; Connolly, J.; Abeles, J.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Yilmaz, T.; Delfyett, P.J.; Braun, A.; Abeles, J.H.; DePriest, C.M.;
By: Yilmaz, T.; Delfyett, P.J.; Braun, A.; Abeles, J.H.; DePriest, C.M.;
2003 / IEEE / 1-55752-748-2
By: Bechtle, D.; Price, B.B.; Braun, A.M.; Delfyett, P.J.; Yilmaz, T.; Abeles, J.R.;
By: Bechtle, D.; Price, B.B.; Braun, A.M.; Delfyett, P.J.; Yilmaz, T.; Abeles, J.R.;
2003 / IEEE / 1-55752-748-2
By: Abeles, J.H.; Braun, A.; DePriest, C.M.; Yilmaz, T.; Delfyett, P.J.;
By: Abeles, J.H.; Braun, A.; DePriest, C.M.; Yilmaz, T.; Delfyett, P.J.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Lepore, A.N.; Kwakernaak, M.H.; Shellenbarger, Z.A.; An, H.; Mohseni, H.; Delfyett, P.J.; Abeles, J.H.;
By: Lepore, A.N.; Kwakernaak, M.H.; Shellenbarger, Z.A.; An, H.; Mohseni, H.; Delfyett, P.J.; Abeles, J.H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8722-8
By: Lee, W.; Delfyett, P.J.; Izadpanah, H.; Gee, S.; Mielke, M.; Ozharar, S.; Choi, M.; Depriest, C.; Yilmaz, T.;
By: Lee, W.; Delfyett, P.J.; Izadpanah, H.; Gee, S.; Mielke, M.; Ozharar, S.; Choi, M.; Depriest, C.; Yilmaz, T.;
2005 / IEEE / 0-7803-8981-6
By: Quinlan, F.; Gee, S.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Delfyett, P.J.; Ozharar, S.;
By: Quinlan, F.; Gee, S.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Delfyett, P.J.; Ozharar, S.;
2005 / IEEE / 0-7803-8981-6
By: Etemad, S.; Delfyett, P.J.; Izadpanah, H.; Ozharar, S.; Choi, M.; Lee, W.; Menendez, S.E.;
By: Etemad, S.; Delfyett, P.J.; Izadpanah, H.; Ozharar, S.; Choi, M.; Lee, W.; Menendez, S.E.;
2005 / IEEE / 0-7803-9217-5
By: Lee, S.; Kim, K.; Quinlan, F.; Ozharar, S.; Gee, S.; Delfyett, P.J.; Lee, W.;
By: Lee, S.; Kim, K.; Quinlan, F.; Ozharar, S.; Gee, S.; Delfyett, P.J.; Lee, W.;
2005 / IEEE / 0-7803-9217-5
By: Quinlan, F.; Gee, S.; Juodawlkis, W.; Plant, J.J.; Delfyett, P.J.; Ozharar, S.;
By: Quinlan, F.; Gee, S.; Juodawlkis, W.; Plant, J.J.; Delfyett, P.J.; Ozharar, S.;
Supermode suppression of harmonically modelocked slab coupled optical waveguide amplifier ring laser
2005 / IEEE / 1-55752-795-4By: Quinlan, F.; Gee, S.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Delfyett, P.J.; Ozharar, S.;
2006 / IEEE
By: Agarwal, A.; Delfyett, P.J.; Menendez, R.; Etemad, S.; Jackel, J.; Young, J.; Banwell, T.; Little, B.E.; Chu, S.T.; Wei Chen; Wenlu Chen; Hryniewicz, J.; Johnson, F.; Gill, D.; King, O.; Davidson, R.; Donovan, K.; Toliver, P.;
By: Agarwal, A.; Delfyett, P.J.; Menendez, R.; Etemad, S.; Jackel, J.; Young, J.; Banwell, T.; Little, B.E.; Chu, S.T.; Wei Chen; Wenlu Chen; Hryniewicz, J.; Johnson, F.; Gill, D.; King, O.; Davidson, R.; Donovan, K.; Toliver, P.;
2006 / IEEE
By: Delfyett, P.J.; Gee, S.; Myoung-Taek Choi; Izadpanah, H.; Wangkuen Lee; Ozharar, S.; Quinlan, F.; Yilmaz, T.;
By: Delfyett, P.J.; Gee, S.; Myoung-Taek Choi; Izadpanah, H.; Wangkuen Lee; Ozharar, S.; Quinlan, F.; Yilmaz, T.;
2006 / IEEE / 0-7803-9556-5
By: Choi, M.; Delfyett, P.J.; Quinlan, F.; Ozharar, S.; Lee, W.; Kim, J.; Gee, S.;
By: Choi, M.; Delfyett, P.J.; Quinlan, F.; Ozharar, S.; Lee, W.; Kim, J.; Gee, S.;
2006 / IEEE / 0-7803-9556-5
By: Izadpanah, H.; Choi, M.; Lee, W.; Etemad, S.; Menendez, R.; Delfyett, P.J.;
By: Izadpanah, H.; Choi, M.; Lee, W.; Etemad, S.; Menendez, R.; Delfyett, P.J.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Delfyett, P.J.; Quinlan, F.; Ozharar, S.; Gee, S.;
By: Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Delfyett, P.J.; Quinlan, F.; Ozharar, S.; Gee, S.;
2008 / IEEE / 978-1-55752-859-9
By: Lee, S.; Mandridis, D.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Delfyett, P.J.; Quinlan, F.;
By: Lee, S.; Mandridis, D.; Juodawlkis, P.W.; Plant, J.J.; Delfyett, P.J.; Quinlan, F.;