Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Crowder, S.W.
Results
1995 / IEEE / 0-7803-2700-4
By: Scott, J.A.; Snyder, J.P.; Rousseau, P.M.; Crowder, S.W.; Plummer, J.D.; Griffin, P.B.;
By: Scott, J.A.; Snyder, J.P.; Rousseau, P.M.; Crowder, S.W.; Plummer, J.D.; Griffin, P.B.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Hohage, J.; Ruelke, H.; Klais, J.; Huebler, P.; Luning, S.; van Bentum, R.; Grasshoff, G.; Schwan, C.; Ehrichs, E.; Goad, S.; Buller, J.; Krishnan, S.; Greenlaw, D.; Raab, M.; Kepler, N.; Yang, H.S.; Malik, R.; Narasimha, S.; Li, Y.; Divakaruni, R.; Agnello, P.; Allen, S.; Antreasyan, A.; Arnold, J.C.; Bandy, K.; Belyansky, M.; Bonnoit, A.; Bronner, G.; Chan, V.; Chen, X.; Chen, Z.; Chidambarrao, D.; Chou, A.; Clark, W.; Crowder, S.W.; Engel, B.; Harifuchi, H.; Huang, S.F.; Jagannathan, R.; Jamin, F.F.; Kohyama, Y.; Kuroda, H.; Lai, C.W.; Lee, H.K.; Lee, W.-H.; Lim, E.H.; Lai, W.; Mallikarjunan, A.; Matsumoto, K.; McKnight, A.; Nayak, J.; Ng, H.Y.; Panda, S.; Rengarajan, R.; Steigerwalt, M.; Subbanna, S.; Subramanian, K.; Sudijono, J.; Sudo, G.; Sun, S.-P.; Tessier, B.; Toyoshima, Y.; Tran, P.; Wise, R.; Wong, R.; Yang, I.Y.; Wann, C.H.; Su, L.T.; Horstmann, M.; Feudel, Th.; Wei, A.; Frohberg, K.; Burbach, G.; Gerhardt, M.; Lenski, M.; Stephan, R.; Wieczorek, K.; Schaller, M.; Salz, H.;
By: Hohage, J.; Ruelke, H.; Klais, J.; Huebler, P.; Luning, S.; van Bentum, R.; Grasshoff, G.; Schwan, C.; Ehrichs, E.; Goad, S.; Buller, J.; Krishnan, S.; Greenlaw, D.; Raab, M.; Kepler, N.; Yang, H.S.; Malik, R.; Narasimha, S.; Li, Y.; Divakaruni, R.; Agnello, P.; Allen, S.; Antreasyan, A.; Arnold, J.C.; Bandy, K.; Belyansky, M.; Bonnoit, A.; Bronner, G.; Chan, V.; Chen, X.; Chen, Z.; Chidambarrao, D.; Chou, A.; Clark, W.; Crowder, S.W.; Engel, B.; Harifuchi, H.; Huang, S.F.; Jagannathan, R.; Jamin, F.F.; Kohyama, Y.; Kuroda, H.; Lai, C.W.; Lee, H.K.; Lee, W.-H.; Lim, E.H.; Lai, W.; Mallikarjunan, A.; Matsumoto, K.; McKnight, A.; Nayak, J.; Ng, H.Y.; Panda, S.; Rengarajan, R.; Steigerwalt, M.; Subbanna, S.; Subramanian, K.; Sudijono, J.; Sudo, G.; Sun, S.-P.; Tessier, B.; Toyoshima, Y.; Tran, P.; Wise, R.; Wong, R.; Yang, I.Y.; Wann, C.H.; Su, L.T.; Horstmann, M.; Feudel, Th.; Wei, A.; Frohberg, K.; Burbach, G.; Gerhardt, M.; Lenski, M.; Stephan, R.; Wieczorek, K.; Schaller, M.; Salz, H.;
2005 / IEEE / 0-7803-9268-X
By: Saenger, K.L.; Pfeiffer, G.; Ng, H.Y.; Haizhou Yin; Chun-Yung Sung; Wann, C.H.; Zhibin Ren; Rong Zhang; de Souza, J.P.; Sadana, D.; Rovedo, N.; Raccioppo, M.; Chan, V.; Nguyen, P.Y.; Mo, R.T.; Madan, A.; Zhijiong Luo; Lee, H.K.; Ku, V.; Kempisty, J.J.; Bendernagel, R.; Ott, J.A.; Jinghong Li; Crowder, S.W.;
By: Saenger, K.L.; Pfeiffer, G.; Ng, H.Y.; Haizhou Yin; Chun-Yung Sung; Wann, C.H.; Zhibin Ren; Rong Zhang; de Souza, J.P.; Sadana, D.; Rovedo, N.; Raccioppo, M.; Chan, V.; Nguyen, P.Y.; Mo, R.T.; Madan, A.; Zhijiong Luo; Lee, H.K.; Ku, V.; Kempisty, J.J.; Bendernagel, R.; Ott, J.A.; Jinghong Li; Crowder, S.W.;
2007 / IEEE / 978-4-900784-03-1
By: Haizhou Yin; Sung, C.Y.; Shahidi, G.; Khare, M.; Park, D.; Crowder, S.W.; Ishimaru, K.; Takayanagi, M.; Sadana, D.K.; Bendernagel, R.; Klemhenz, R.; Pfeiffer, G.; Fogel, K.; Rovedo, N.; Luo, Z.J.; Chen, X.; Ott, J.A.; Li, J.; Wallner, T.A.; Stein, K.J.; Zhang, R.; Ng, H.; Saenger, K.L.; Hamaguchr, M.; Hasumi, R.; Ohuchr, K.;
By: Haizhou Yin; Sung, C.Y.; Shahidi, G.; Khare, M.; Park, D.; Crowder, S.W.; Ishimaru, K.; Takayanagi, M.; Sadana, D.K.; Bendernagel, R.; Klemhenz, R.; Pfeiffer, G.; Fogel, K.; Rovedo, N.; Luo, Z.J.; Chen, X.; Ott, J.A.; Li, J.; Wallner, T.A.; Stein, K.J.; Zhang, R.; Ng, H.; Saenger, K.L.; Hamaguchr, M.; Hasumi, R.; Ohuchr, K.;