Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Corti, G.
Results
2012 / IEEE
By: Lieng, M. H.; Levinsen, Y. I.; Corti, G.; Burkhardt, H.; Appleby, R. B.; Talanov, V.;
By: Lieng, M. H.; Levinsen, Y. I.; Corti, G.; Burkhardt, H.; Appleby, R. B.; Talanov, V.;
1991 / IEEE / 0-7803-0513-2
By: Spiegel, L.; Alexopoulos, T.; Antoniazzi, L.; Arenton, M.; Ballagh, C.; Bingham, H.; Blankman, A.; Block, M.; Boden, A.; Borodin, S.; Budagov, J.; Cao, Z.L.; Cataldi, G.; Chen, T.Y.; Clark, K.; Cline, D.; Conetti, S.; Cooper, M.; Corti, G.; Cox, B.; Creti, P.; Dukes, E.; Durandet, C.; Elia, V.; Erwin, A.; Fortney, L.; Golovatyuk, V.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Haire, M.; Hanlet, P.; He, M.; Introzzi, G.; Jenkins, M.; Jennings, J.; Judd, D.; Kaeding, T.; Kononenko, W.; Kowald, W.; Lanza, A.; Lau, K.; LeCompte, T.; Liguori, G.; Lys, J.; Mazur, P.; McManus, A.; Misawa, S.; Mo, G.; Murphy, C.T.; Nelson, K.; Newcomer, M.; Panareo, M.; Ramachandran, S.; Recagni, M.; Rhoades, J.; Rosen, J.; Segal, J.; Selove, W.; Smith, R.P.; Sun, J.; Tokar, S.; Torre, P.; Trischuk, J.; Trojak, T.; Tsyganov, E.; Turnbull, L.; VanBerg, R.; Wagoner, D.; Wang, C.; Wei, C.; Yang, W.; Yao, N.; Yao, T.; Zhang, N.; Zhang, S.N.; Zou, B.;
By: Spiegel, L.; Alexopoulos, T.; Antoniazzi, L.; Arenton, M.; Ballagh, C.; Bingham, H.; Blankman, A.; Block, M.; Boden, A.; Borodin, S.; Budagov, J.; Cao, Z.L.; Cataldi, G.; Chen, T.Y.; Clark, K.; Cline, D.; Conetti, S.; Cooper, M.; Corti, G.; Cox, B.; Creti, P.; Dukes, E.; Durandet, C.; Elia, V.; Erwin, A.; Fortney, L.; Golovatyuk, V.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Haire, M.; Hanlet, P.; He, M.; Introzzi, G.; Jenkins, M.; Jennings, J.; Judd, D.; Kaeding, T.; Kononenko, W.; Kowald, W.; Lanza, A.; Lau, K.; LeCompte, T.; Liguori, G.; Lys, J.; Mazur, P.; McManus, A.; Misawa, S.; Mo, G.; Murphy, C.T.; Nelson, K.; Newcomer, M.; Panareo, M.; Ramachandran, S.; Recagni, M.; Rhoades, J.; Rosen, J.; Segal, J.; Selove, W.; Smith, R.P.; Sun, J.; Tokar, S.; Torre, P.; Trischuk, J.; Trojak, T.; Tsyganov, E.; Turnbull, L.; VanBerg, R.; Wagoner, D.; Wang, C.; Wei, C.; Yang, W.; Yao, N.; Yao, T.; Zhang, N.; Zhang, S.N.; Zou, B.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Mato, P.; Koppenburg, P.; Cattaneo, M.; Frank, M.; Charpentier, P.; Ranjard, F.; Corti, G.; Barrand, G.; Belyaev, I.; Roiser, S.;
By: Mato, P.; Koppenburg, P.; Cattaneo, M.; Frank, M.; Charpentier, P.; Ranjard, F.; Corti, G.; Barrand, G.; Belyaev, I.; Roiser, S.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Easo, S.; Robbe, P.; Ranjard, F.; Pokorski, W.; Belyaev, I.; Papanestis, A.; Jones, C.; Corti, G.;
By: Easo, S.; Robbe, P.; Ranjard, F.; Pokorski, W.; Belyaev, I.; Papanestis, A.; Jones, C.; Corti, G.;
2005 / IEEE
By: Pokorski, W.; Papanestis, A.; Corti, G.; Jones, C.; Ranjard, F.; Belyaev, I.; Easo, S.; Robbe, P.;
By: Pokorski, W.; Papanestis, A.; Corti, G.; Jones, C.; Ranjard, F.; Belyaev, I.; Easo, S.; Robbe, P.;
2006 / IEEE
By: Corti, G.; Barrand, G.; Belyaev, I.; Roiser, S.; Ranjard, F.; Cattaneo, M.; Mato, P.; Koppenburg, P.; Frank, M.; Charpentier, P.;
By: Corti, G.; Barrand, G.; Belyaev, I.; Roiser, S.; Ranjard, F.; Cattaneo, M.; Mato, P.; Koppenburg, P.; Frank, M.; Charpentier, P.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9105-6
By: Levinsen, Y.I.; Corti, G.; Burkhardt, H.; Appleby, R.B.; Talanov, V.; Lieng, M.H.;
By: Levinsen, Y.I.; Corti, G.; Burkhardt, H.; Appleby, R.B.; Talanov, V.; Lieng, M.H.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9105-6
By: Jones, C.R.; Lieng, M.; He, J.; Harrison, P.F.; Ilten, P.H.; Harrison, K.; Corti, G.; Gauvin, N.; Brook, N.H.; Brambach, T.; Beiyaev, I.; Wishahi, J.; Whitehead, M.; Vagnoni, V.; Robbe, P.; Miglioranzi, S.; Manca, G.;
By: Jones, C.R.; Lieng, M.; He, J.; Harrison, P.F.; Ilten, P.H.; Harrison, K.; Corti, G.; Gauvin, N.; Brook, N.H.; Brambach, T.; Beiyaev, I.; Wishahi, J.; Whitehead, M.; Vagnoni, V.; Robbe, P.; Miglioranzi, S.; Manca, G.;