Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Copel, M.
Results
2014 / IEEE
By: Ando, T.; Kannan, B.; Narayanan, V.; Krishnan, S. A.; Bruley, J.; Copel, M.; Haight, R.; Cartier, E. A.; Linder, B. P.; Kwon, U.; Lai, W. L.;
By: Ando, T.; Kannan, B.; Narayanan, V.; Krishnan, S. A.; Bruley, J.; Copel, M.; Haight, R.; Cartier, E. A.; Linder, B. P.; Kwon, U.; Lai, W. L.;
2000 / IEEE / 0-7803-6438-4
By: D'Emic, C.; Kozlowski, P.; Bojarczuk, N.; Guha, S.; Copel, M.; Ajmera, A.; Callegari, A.; Mocuta, A.; Gribelyuk, M.A.; Rim, K.; Okorn-Schmidt, H.; Cartier, E.; Gusev, E.P.; Buchanan, D.A.; Arndt, R.; Brown, I.; JAmison, P.C.; Fleming, R.J.; Chan, K.;
By: D'Emic, C.; Kozlowski, P.; Bojarczuk, N.; Guha, S.; Copel, M.; Ajmera, A.; Callegari, A.; Mocuta, A.; Gribelyuk, M.A.; Rim, K.; Okorn-Schmidt, H.; Cartier, E.; Gusev, E.P.; Buchanan, D.A.; Arndt, R.; Brown, I.; JAmison, P.C.; Fleming, R.J.; Chan, K.;
2001 / IEEE / 0-7803-6412-0
By: Copel, M.; Cartier, E.; Ma, T.P.; Luo, Z.J.; Halpern, B.; Tamagawa, T.;
By: Copel, M.; Cartier, E.; Ma, T.P.; Luo, Z.J.; Halpern, B.; Tamagawa, T.;
2001 / IEEE / 4-89114-012-7
By: Luo, Z.J.; Ma, T.P.; Halpern, B.; Copel, M.; Tamagawa, T.; Cartier, E.;
By: Luo, Z.J.; Ma, T.P.; Halpern, B.; Copel, M.; Tamagawa, T.; Cartier, E.;
2002 / IEEE / 0-7803-7312-X
By: Maes, J.; Chen, P.J.; Besling, W.F.A.; Copel, M.; Heyns, M.; De Gendt, S.; Vandervorst, W.; Caymax, M.; Kubicek, S.; Bajolet, P.; Young, E.; Tsai, W.; Kerber, A.; Xu, Z.; Cosnier, V.; Petry, J.; Zhao, C.; Kauerauf, T.; Carter, R.J.; Cartier, E.;
By: Maes, J.; Chen, P.J.; Besling, W.F.A.; Copel, M.; Heyns, M.; De Gendt, S.; Vandervorst, W.; Caymax, M.; Kubicek, S.; Bajolet, P.; Young, E.; Tsai, W.; Kerber, A.; Xu, Z.; Cosnier, V.; Petry, J.; Zhao, C.; Kauerauf, T.; Carter, R.J.; Cartier, E.;
2002 / IEEE / 0-7803-7462-2
By: Kozlowski, P.M.; Ott, J.A.; Copel, M.; Chan, K.K.; Okorn-Schmidt, H.; Steen, S.E.; Haensch, W.E.; Jones, E.C.; Huiling Shang; Wong, H.-S.P.; Cordes, S.A.;
By: Kozlowski, P.M.; Ott, J.A.; Copel, M.; Chan, K.K.; Okorn-Schmidt, H.; Steen, S.E.; Haensch, W.E.; Jones, E.C.; Huiling Shang; Wong, H.-S.P.; Cordes, S.A.;
2004 / IEEE
By: Bojarezuk, N.A., Jr.; James Jer-Hueih Chen; Guha, S.; Banerjee, S.K.; Copel, M.; Preisler, E.; Karasinski, J.; Hannon, J.B.; Huiling Shang;
By: Bojarezuk, N.A., Jr.; James Jer-Hueih Chen; Guha, S.; Banerjee, S.K.; Copel, M.; Preisler, E.; Karasinski, J.; Hannon, J.B.; Huiling Shang;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Jamison, P.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.P.; Narayanan, V.; Cartier, E.; Jammy, R.; Guha, S.; Lacey, D.; Newbury, J.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Linder, B.; Chudzik, M.P.; Gribelyuk, M.; Callegari, A.; Zafar, S.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Bojarczuk, N.; Frank, M.; Chan, K.K.; Steen, M.;
By: Jamison, P.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.P.; Narayanan, V.; Cartier, E.; Jammy, R.; Guha, S.; Lacey, D.; Newbury, J.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Linder, B.; Chudzik, M.P.; Gribelyuk, M.; Callegari, A.; Zafar, S.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Bojarczuk, N.; Frank, M.; Chan, K.K.; Steen, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Gusev, E.P.; Cabral, C., Jr.; Under, B.P.; Kim, Y.H.; Maitra, K.; Carrier, E.; Nayfeh, H.; Amos, R.; Biery, G.; Bojarczuk, N.; Callegari, A.; Carruthers, R.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Fang, S.; Frank, M.; Guha, S.; Gribelyuk, M.; Jamison, P.; Jammy, R.; Ieong, M.; Kedzierski, J.; Kozlowski, P.; Ku, K.; Lacey, D.; LaTulipe, D.; Narayanan, V.; Ng, H.; Nguyen, P.; Newbury, J.; Paruchuri, V.; Rengarajan, R.; Shahidi, G.; Steegen, A.; Steen, M.; Zafar, S.; Zhang, Y.;
By: Gusev, E.P.; Cabral, C., Jr.; Under, B.P.; Kim, Y.H.; Maitra, K.; Carrier, E.; Nayfeh, H.; Amos, R.; Biery, G.; Bojarczuk, N.; Callegari, A.; Carruthers, R.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Fang, S.; Frank, M.; Guha, S.; Gribelyuk, M.; Jamison, P.; Jammy, R.; Ieong, M.; Kedzierski, J.; Kozlowski, P.; Ku, K.; Lacey, D.; LaTulipe, D.; Narayanan, V.; Ng, H.; Nguyen, P.; Newbury, J.; Paruchuri, V.; Rengarajan, R.; Shahidi, G.; Steegen, A.; Steen, M.; Zafar, S.; Zhang, Y.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Jamison, P.; Gusev, E.P.; Bedell, S.; Chu, J.O.; Huiling Shang; Ying Zhang; Guarini, K.W.; Meikei Ieong; Sadana, D.; Copel, M.; Ott, J.A.;
By: Jamison, P.; Gusev, E.P.; Bedell, S.; Chu, J.O.; Huiling Shang; Ying Zhang; Guarini, K.W.; Meikei Ieong; Sadana, D.; Copel, M.; Ott, J.A.;
2005 / IEEE / 4-900784-00-1
By: Paruchuri, V.K.; Basker, V.S.; Linder, B.P.; Copel, M.; Jamison, P.; Narayanan, V.; McFeely, F.R.; Cartier, E.; Shahidi, G.; Jammy, R.; Guha, S.; Deligianni, H.; Rubino, J.; Sleight, J.; Steen, M.; Shaw, T.; Carruthers, R.; Lim, D.; Haight, R.;
By: Paruchuri, V.K.; Basker, V.S.; Linder, B.P.; Copel, M.; Jamison, P.; Narayanan, V.; McFeely, F.R.; Cartier, E.; Shahidi, G.; Jammy, R.; Guha, S.; Deligianni, H.; Rubino, J.; Sleight, J.; Steen, M.; Shaw, T.; Carruthers, R.; Lim, D.; Haight, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-9058-X
By: Ieong, M.; Jammy, R.; Guha, S.; Oldiges, P.; Medeiros, D.R.; Newbury, J.S.; Kozlowski, P.M.; Wang, X.; Maitra, K.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Steen, M.L.; Lee, K.L.; Jamison, P.C.; Gusev, E.P.; Cartier, E.A.; Zafar, S.; Linder, B.; Bojarczuk, N.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.K.; Frank, M.M.; Shahidi, G.;
By: Ieong, M.; Jammy, R.; Guha, S.; Oldiges, P.; Medeiros, D.R.; Newbury, J.S.; Kozlowski, P.M.; Wang, X.; Maitra, K.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Steen, M.L.; Lee, K.L.; Jamison, P.C.; Gusev, E.P.; Cartier, E.A.; Zafar, S.; Linder, B.; Bojarczuk, N.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.K.; Frank, M.M.; Shahidi, G.;
2005 / IEEE / 0-7803-9268-X
By: Cai, J.; Jammy, R.; Linder, B.; Jamison, P.; Acevedo, J.; Price, B.; Newbury, J.; Narayanan, V.; Natzle, W.; Copel, M.; Zafar, S.; Cartier, E.; Gribelyuk, M.; Gignac, L.; Carruthers, R.; Gusev, E.P.; Cabral, C.; Kim, Y.H.; Ieong, M.;
By: Cai, J.; Jammy, R.; Linder, B.; Jamison, P.; Acevedo, J.; Price, B.; Newbury, J.; Narayanan, V.; Natzle, W.; Copel, M.; Zafar, S.; Cartier, E.; Gribelyuk, M.; Gignac, L.; Carruthers, R.; Gusev, E.P.; Cabral, C.; Kim, Y.H.; Ieong, M.;
2006 / IEEE / 1-4244-0005-8
By: Paruchuri, V.K.; Bojarczuk, N.A.; Narayanan, V.; Chen, T.C.; Shahidi, G.; Guha, S.; Ieong, M.; Chudzik, M.P.; Jammy, R.; Ronsheim, P.; Batson, P.E.; Wang, Y.; Lacey, D.L.; Locquet, J.-P.; Jamison, P.; Callegari, A.; Cartier, E.; Steen, M.; Copel, M.; Arnold, J.; Brown, S.; Stathis, J.; Zafar, S.; Kim, Y.H.; Doris, B.; Linder, B.P.;
By: Paruchuri, V.K.; Bojarczuk, N.A.; Narayanan, V.; Chen, T.C.; Shahidi, G.; Guha, S.; Ieong, M.; Chudzik, M.P.; Jammy, R.; Ronsheim, P.; Batson, P.E.; Wang, Y.; Lacey, D.L.; Locquet, J.-P.; Jamison, P.; Callegari, A.; Cartier, E.; Steen, M.; Copel, M.; Arnold, J.; Brown, S.; Stathis, J.; Zafar, S.; Kim, Y.H.; Doris, B.; Linder, B.P.;
2006 / IEEE / 978-1-4244-3308-7
By: Narayanan, V.; Paruchuri, V.K.; Callegari, A.; Choi, C.; Haight, R.; Copel, M.; McFeely, F.R.; Kim, Y.H.; Newbury, J.S.; Frank, M.; Iijima, R.; Ando, T.; Linder, B.P.; Steen, M.; Cartier, E.;
By: Narayanan, V.; Paruchuri, V.K.; Callegari, A.; Choi, C.; Haight, R.; Copel, M.; McFeely, F.R.; Kim, Y.H.; Newbury, J.S.; Frank, M.; Iijima, R.; Ando, T.; Linder, B.P.; Steen, M.; Cartier, E.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6644-3
By: Copel, M.; Kuroda, M.A.; Tulevski, G.; Kasry, A.; Vyklicky, L.; Bol, A.A.; El Ashry, M.; Oida, S.; Menges, B.; Martyna, G.J.;
By: Copel, M.; Kuroda, M.A.; Tulevski, G.; Kasry, A.; Vyklicky, L.; Bol, A.A.; El Ashry, M.; Oida, S.; Menges, B.; Martyna, G.J.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap