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Author: Conti, M.
Results
2011 / IEEE / 978-3-927535-28-2
By: Berizzi, F.; Martorella, M.; Capria, A.; Petri, D.; Conti, M.; Dalle Mese, E.;
By: Berizzi, F.; Martorella, M.; Capria, A.; Petri, D.; Conti, M.; Dalle Mese, E.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1561-6
By: Brunoi, R.; Valcarenghi, L.; Gharbaoui, M.; Castoldi, P.; Conti, M.; Martini, B.;
By: Brunoi, R.; Valcarenghi, L.; Gharbaoui, M.; Castoldi, P.; Conti, M.; Martini, B.;
2012 / IEEE
By: Eriksson, L.; Cho, S.; Aykac, M.; Melcher, C.L.; Conti, M.; Eriksson, M.; Michel, C.;
By: Eriksson, L.; Cho, S.; Aykac, M.; Melcher, C.L.; Conti, M.; Eriksson, M.; Michel, C.;
2014 / IEEE
By: Solanas, A.; Patsakis, C.; Martinez-Balleste, A.; Perrea, D.N.; Di Pietro, R.; Perez-Martinez, P.A.; Postolache, O.; Falcone, F.; Ramos, V.; Vlachos, I.S.; Conti, M.;
By: Solanas, A.; Patsakis, C.; Martinez-Balleste, A.; Perrea, D.N.; Di Pietro, R.; Perez-Martinez, P.A.; Postolache, O.; Falcone, F.; Ramos, V.; Vlachos, I.S.; Conti, M.;
1989 / IEEE / 0-8186-1912-0
By: Pietri, F.; Conti, M.; Cardile, B.; Burlon, R.; Torrigiani, P.; Puncello, P.;
By: Pietri, F.; Conti, M.; Cardile, B.; Burlon, R.; Torrigiani, P.; Puncello, P.;
1990 / IEEE
By: Cho, G.; Street, R.A.; Qureshi, S.; Perez-Mendez, V.; Conti, M.; Kaplan, S.N.; Fujieda, I.; Drewery, J.S.;
By: Cho, G.; Street, R.A.; Qureshi, S.; Perez-Mendez, V.; Conti, M.; Kaplan, S.N.; Fujieda, I.; Drewery, J.S.;
1990 / IEEE
By: Street, R.A.; Qureshi, S.; Perez-Mendez, V.; Kaplan, S.N.; Fujieda, I.; Conti, M.; Cho, G.; Drewery, J.;
By: Street, R.A.; Qureshi, S.; Perez-Mendez, V.; Kaplan, S.N.; Fujieda, I.; Conti, M.; Cho, G.; Drewery, J.;
1990 / IEEE
By: Maiano, P.; De Pascalis, G.; Conti, M.; Bandettini, A.; Del Guerra, A.; Rizzo, C.; Perez Mendez, V.;
By: Maiano, P.; De Pascalis, G.; Conti, M.; Bandettini, A.; Del Guerra, A.; Rizzo, C.; Perez Mendez, V.;
1993 / IEEE
By: Bandettini, A.; Stefanini, A.; Russo, P.; Rosso, V.; Randaccio, P.; Fantacci, M.E.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Bottigli, U.; Bertolucci, E.; Bencivelli, W.;
By: Bandettini, A.; Stefanini, A.; Russo, P.; Rosso, V.; Randaccio, P.; Fantacci, M.E.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Bottigli, U.; Bertolucci, E.; Bencivelli, W.;
1993 / IEEE
By: Del Guerra, A.; Fantacci, M.E.; Bottigli, U.; Bertolucci, E.; Bencivelli, W.; Bandettini, A.; Alfano, B.; Stefanini, A.; Russo, P.; Rosso, V.; Conti, M.; Randaccio, P.; Marziani, M.; Larobina, M.; Gambaccini, M.;
By: Del Guerra, A.; Fantacci, M.E.; Bottigli, U.; Bertolucci, E.; Bencivelli, W.; Bandettini, A.; Alfano, B.; Stefanini, A.; Russo, P.; Rosso, V.; Conti, M.; Randaccio, P.; Marziani, M.; Larobina, M.; Gambaccini, M.;
1993 / IEEE
By: Conti, M.; Scarlatella, A.; Russo, S.; Russo, P.; Mazzocca, N.; Mazzeo, A.; Del Guerra, A.;
By: Conti, M.; Scarlatella, A.; Russo, S.; Russo, P.; Mazzocca, N.; Mazzeo, A.; Del Guerra, A.;
1992 / IEEE / 0-7803-0884-0
By: Stefanini, A.; Russo, P.; Rosso, V.; Randaccio, P.; Fantacci, M.E.; Bencivelli, W.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Bottigli, U.; Bertolucci, E.; Bandettini, A.;
By: Stefanini, A.; Russo, P.; Rosso, V.; Randaccio, P.; Fantacci, M.E.; Bencivelli, W.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Bottigli, U.; Bertolucci, E.; Bandettini, A.;
1992 / IEEE / 0-7803-0884-0
By: Bandettini, A.; Stefanini, A.; Russo, P.; Rosso, V.; Randaccio, P.; Bertolucci, E.; Fantacci, M.E.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Bottigli, U.; Bencivelli, W.;
By: Bandettini, A.; Stefanini, A.; Russo, P.; Rosso, V.; Randaccio, P.; Bertolucci, E.; Fantacci, M.E.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Bottigli, U.; Bencivelli, W.;
1992 / IEEE / 0-7803-0884-0
By: Mazzocca, N.; Mazzeo, A.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Scarlatella, A.; Russo, S.; Russo, P.;
By: Mazzocca, N.; Mazzeo, A.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Scarlatella, A.; Russo, S.; Russo, P.;
1992 / IEEE / 0-7803-0884-0
By: Marziani, M.; Randaccio, P.; Gambaccini, M.; Fantacci, M.E.; Del Guerra, A.; Larobina, M.; Conti, M.; Bottigli, U.; Bertolucci, E.; Bencivelli, W.; Bandettini, A.; Alfano, B.; Stefanini, A.; Russo, P.; Rosso, V.;
By: Marziani, M.; Randaccio, P.; Gambaccini, M.; Fantacci, M.E.; Del Guerra, A.; Larobina, M.; Conti, M.; Bottigli, U.; Bertolucci, E.; Bencivelli, W.; Bandettini, A.; Alfano, B.; Stefanini, A.; Russo, P.; Rosso, V.;
1994 / IEEE
By: Rosso, V.; Russo, P.; Marziani, M.; Larobina, M.; Gambaccini, M.; Randaccio, P.; Fantacci, M.E.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Bottigli, U.; Bertolucci, E.; Bencivelli, W.; Stefanini, A.; Scarlatella, A.; Russo, S.;
By: Rosso, V.; Russo, P.; Marziani, M.; Larobina, M.; Gambaccini, M.; Randaccio, P.; Fantacci, M.E.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Bottigli, U.; Bertolucci, E.; Bencivelli, W.; Stefanini, A.; Scarlatella, A.; Russo, S.;
1993 / IEEE / 0-7803-1487-5
By: Rosso, V.; Russo, P.; Marziani, M.; Larobina, M.; Gambaccini, M.; Randaccio, P.; Fantacci, M.E.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Bottigli, U.; Bertolucci, E.; Bencivelli, W.; Stefanini, A.; Scarlatella, A.; Russo, S.;
By: Rosso, V.; Russo, P.; Marziani, M.; Larobina, M.; Gambaccini, M.; Randaccio, P.; Fantacci, M.E.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Bottigli, U.; Bertolucci, E.; Bencivelli, W.; Stefanini, A.; Scarlatella, A.; Russo, S.;
1995 / IEEE / 0-7803-3180-X
By: Conti, M.; Russo, P.; Tripiccione, A.S.R.; Rosso, V.; Fantacci, E.; Bertolucci, E.; Bottigli, U.; Bisogni, M.G.; Taibi, A.; Marchesini, R.; Marziani, M.; Gambaccini, M.; Del Guerra, A.; Beccherle, R.;
By: Conti, M.; Russo, P.; Tripiccione, A.S.R.; Rosso, V.; Fantacci, E.; Bertolucci, E.; Bottigli, U.; Bisogni, M.G.; Taibi, A.; Marchesini, R.; Marziani, M.; Gambaccini, M.; Del Guerra, A.; Beccherle, R.;
1995 / IEEE / 0-7803-2065-4
By: Turchetti, C.; Orcioni, S.; Conti, M.; Soncini, G.; Zorzi, N.; Zen, M.; Bellutti, P.L.;
By: Turchetti, C.; Orcioni, S.; Conti, M.; Soncini, G.; Zorzi, N.; Zen, M.; Bellutti, P.L.;
1997 / IEEE / 0-7803-3243-1
By: Turchetti, C.; Soncini, G.; Orcioni, S.; Dalla Betta, G.F.; Conti, M.; Zorzi, N.;
By: Turchetti, C.; Soncini, G.; Orcioni, S.; Dalla Betta, G.F.; Conti, M.; Zorzi, N.;
1996 / IEEE / 0-7803-3534-1
By: Bertolucci, E.; Stefanini, O.A.; Grossi, G.; Mancini, E.; Russo, P.; Campbell, M.; Chesi, E.; Heijne, E.; Middelkamp, P.; Scharfetter, L.; Randaccio, P.; Beccherle, R.; Del Guerra, A.; Gambaccini, M.; Marchesini, R.; Da Via, C.; D'Auria, S.; O'Shea, V.; Smith, K.; Snoeys, W.; Amedolia, S.R.; Bisogni, M.G.; Bottigli, U.; Ciocci, M.A.; Fantacci, M.E.; Romeo, N.; Rosso, V.; Conti, M.;
By: Bertolucci, E.; Stefanini, O.A.; Grossi, G.; Mancini, E.; Russo, P.; Campbell, M.; Chesi, E.; Heijne, E.; Middelkamp, P.; Scharfetter, L.; Randaccio, P.; Beccherle, R.; Del Guerra, A.; Gambaccini, M.; Marchesini, R.; Da Via, C.; D'Auria, S.; O'Shea, V.; Smith, K.; Snoeys, W.; Amedolia, S.R.; Bisogni, M.G.; Bottigli, U.; Ciocci, M.A.; Fantacci, M.E.; Romeo, N.; Rosso, V.; Conti, M.;
1997 / IEEE
By: Amendolia, S.R.; Stefanini, A.; Bertolucci, E.; Bisogni, M.G.; Bottigli, U.; Campbell, M.; Chesi, E.; Ciocci, M.A.; Conti, M.; Da Via, C.; Del Guerra, A.; D'Auria, S.; Fantacci, M.E.; Gambaccini, M.; Grossi, G.; Heijen, E.; Mancini, E.; Marchesini, R.; Middelkamp, P.; O'Shea, V.; Randaccio, P.; Romeo, N.; Rosso, V.; Russo, P.; Scharfetter, L.; Smith, K.; Snoeys, W.; Beccherle, R.;
By: Amendolia, S.R.; Stefanini, A.; Bertolucci, E.; Bisogni, M.G.; Bottigli, U.; Campbell, M.; Chesi, E.; Ciocci, M.A.; Conti, M.; Da Via, C.; Del Guerra, A.; D'Auria, S.; Fantacci, M.E.; Gambaccini, M.; Grossi, G.; Heijen, E.; Mancini, E.; Marchesini, R.; Middelkamp, P.; O'Shea, V.; Randaccio, P.; Romeo, N.; Rosso, V.; Russo, P.; Scharfetter, L.; Smith, K.; Snoeys, W.; Beccherle, R.;
1997 / IEEE / 0-7803-4258-5
By: Chirco, P.; Bertolucci, E.; Russo, P.; Rossi, M.; Marcello, L.; Conti, M.;
By: Chirco, P.; Bertolucci, E.; Russo, P.; Rossi, M.; Marcello, L.; Conti, M.;
1991 / IEEE / 0-7803-0216-8
By: Barone, F.; Russo, P.; Russo, G.; Milano, L.; Maddalena, P.; Di Fiore, L.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Bemini, U.;
By: Barone, F.; Russo, P.; Russo, G.; Milano, L.; Maddalena, P.; Di Fiore, L.; Del Guerra, A.; Conti, M.; Bemini, U.;
1998 / IEEE / 0-7803-5021-9
By: Cola, A.; Stefanini, A.; Fantacci, M.E.; Bottigli, U.; Bisogni, M.G.; Russo, P.; Quaranta, F.; Conti, M.; Bertolucci, E.; Stefanini, G.; Mettivier, G.; Vasanelli, L.;
By: Cola, A.; Stefanini, A.; Fantacci, M.E.; Bottigli, U.; Bisogni, M.G.; Russo, P.; Quaranta, F.; Conti, M.; Bertolucci, E.; Stefanini, G.; Mettivier, G.; Vasanelli, L.;
1998 / IEEE / 0-7803-5021-9
By: Rossi, R.; Melone, G.; Fucci, R.; Quaranta, F.; Cola, A.; Passaseo, A.; Bisogni, M.G.; Fantacci, M.E.; Russo, P.; Mettivier, G.; Conti, M.;
By: Rossi, R.; Melone, G.; Fucci, R.; Quaranta, F.; Cola, A.; Passaseo, A.; Bisogni, M.G.; Fantacci, M.E.; Russo, P.; Mettivier, G.; Conti, M.;
1999 / IEEE
By: Quaranta, F.; Cola, A.; Stefanini, A.; Fantacci, M.E.; Bottigli, U.; Bisogni, M.G.; Vasanelli, L.; Mettivier, G.; Conti, M.; Bertolucci, E.; Russo, P.; Stefanini, G.;
By: Quaranta, F.; Cola, A.; Stefanini, A.; Fantacci, M.E.; Bottigli, U.; Bisogni, M.G.; Vasanelli, L.; Mettivier, G.; Conti, M.; Bertolucci, E.; Russo, P.; Stefanini, G.;
1999 / IEEE
By: Mettivier, G.; Conti, M.; Passaseo, A.; Rossi, R.; Melone, G.; Russo, P.; Quaranta, F.; Cola, A.; Fantacci, M.E.; Fucci, R.; Bisogni, M.G.;
By: Mettivier, G.; Conti, M.; Passaseo, A.; Rossi, R.; Melone, G.; Russo, P.; Quaranta, F.; Cola, A.; Fantacci, M.E.; Fucci, R.; Bisogni, M.G.;
1999 / IEEE / 0-7803-5696-9
By: Russo, P.; Montesi, M.C.; Mettivier, G.; Di Cristo, C.; Abate, L.; Conti, M.; Bertolucci, E.; Di Cosmo, A.;
By: Russo, P.; Montesi, M.C.; Mettivier, G.; Di Cristo, C.; Abate, L.; Conti, M.; Bertolucci, E.; Di Cosmo, A.;
1999 / IEEE / 0-7803-5696-9
By: Vasanelli, L.; Quaranta, F.; Russo, P.; Mettivier, G.; Bertolucci, E.; Conti, M.; Cola, A.; De Luca, A.;
By: Vasanelli, L.; Quaranta, F.; Russo, P.; Mettivier, G.; Bertolucci, E.; Conti, M.; Cola, A.; De Luca, A.;
2000 / IEEE
By: Mettivier, G.; Cola, A.; De Luca, A.; Conti, M.; Russo, P.; Bertolucci, E.; Vasanelli, L.; Quaranta, F.;
By: Mettivier, G.; Cola, A.; De Luca, A.; Conti, M.; Russo, P.; Bertolucci, E.; Vasanelli, L.; Quaranta, F.;