Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Cohen, S.A.
Results
2014 / IEEE
By: Plawsky, Joel L.; Borja, Juan; Bonilla, G.; Cohen, S.A.; Liniger, E.G.; Laibowitz, R. B.; Shaw, T. M.; Gill, William N.; Lu, T-M.; Bakhru, Hassaram; Rosenberg, R.;
By: Plawsky, Joel L.; Borja, Juan; Bonilla, G.; Cohen, S.A.; Liniger, E.G.; Laibowitz, R. B.; Shaw, T. M.; Gill, William N.; Lu, T-M.; Bakhru, Hassaram; Rosenberg, R.;
1991 / IEEE / 0-7803-0243-5
By: Verdonckt-Vandebroek, S.; Ronsheim, P.A.; Cohen, S.A.; Acovic, A.; Sun, J.Y.-C.; Comfort, J.H.; Restle, P.J.; Harame, D.L.; Furkay, S.A.; Johnson, J.B.; Ganin, E.; Saccamango, M.J.; Ratanaphanyarat, S.;
By: Verdonckt-Vandebroek, S.; Ronsheim, P.A.; Cohen, S.A.; Acovic, A.; Sun, J.Y.-C.; Comfort, J.H.; Restle, P.J.; Harame, D.L.; Furkay, S.A.; Johnson, J.B.; Ganin, E.; Saccamango, M.J.; Ratanaphanyarat, S.;
1993 / IEEE / 0-7803-1412-3
By: Cohen, S.A.; Weissenburger, D.W.; Swinton, J.H.; Gentzlinger, R.C.; Phillips, M.W.; Motley, R.W.; Majeski, R.;
By: Cohen, S.A.; Weissenburger, D.W.; Swinton, J.H.; Gentzlinger, R.C.; Phillips, M.W.; Motley, R.W.; Majeski, R.;
1993 / IEEE / 0-7803-1412-3
By: Diesso, M.; Cohen, S.A.; Gentzlinger, R.; Phillips, M.; Majeski, R.; Mendelsohn, S.; Zakharov, L.; Post, D.; Motley, R.;
By: Diesso, M.; Cohen, S.A.; Gentzlinger, R.; Phillips, M.; Majeski, R.; Mendelsohn, S.; Zakharov, L.; Post, D.; Motley, R.;
1997 / IEEE / 0-9651-5771-7
By: Wang, Z.; Jaeyoung Park; Bennett, T.K.; Goeckner, M.J.; Cohen, S.A.;
By: Wang, Z.; Jaeyoung Park; Bennett, T.K.; Goeckner, M.J.; Cohen, S.A.;
2000 / IEEE / 0-7803-6305-1
By: Linder, B.P.; Vayshenker, A.; Ray, A.; Cohen, S.A.; Wu, E.; Wachnik, R.A.; Stathis, J.H.;
By: Linder, B.P.; Vayshenker, A.; Ray, A.; Cohen, S.A.; Wu, E.; Wachnik, R.A.; Stathis, J.H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Jamison, P.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.P.; Narayanan, V.; Cartier, E.; Jammy, R.; Guha, S.; Lacey, D.; Newbury, J.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Linder, B.; Chudzik, M.P.; Gribelyuk, M.; Callegari, A.; Zafar, S.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Bojarczuk, N.; Frank, M.; Chan, K.K.; Steen, M.;
By: Jamison, P.; Cabral, C., Jr.; Gusev, E.P.; Narayanan, V.; Cartier, E.; Jammy, R.; Guha, S.; Lacey, D.; Newbury, J.; D'Emic, C.; Carruthers, R.; Linder, B.; Chudzik, M.P.; Gribelyuk, M.; Callegari, A.; Zafar, S.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Bojarczuk, N.; Frank, M.; Chan, K.K.; Steen, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Gusev, E.P.; Cabral, C., Jr.; Under, B.P.; Kim, Y.H.; Maitra, K.; Carrier, E.; Nayfeh, H.; Amos, R.; Biery, G.; Bojarczuk, N.; Callegari, A.; Carruthers, R.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Fang, S.; Frank, M.; Guha, S.; Gribelyuk, M.; Jamison, P.; Jammy, R.; Ieong, M.; Kedzierski, J.; Kozlowski, P.; Ku, K.; Lacey, D.; LaTulipe, D.; Narayanan, V.; Ng, H.; Nguyen, P.; Newbury, J.; Paruchuri, V.; Rengarajan, R.; Shahidi, G.; Steegen, A.; Steen, M.; Zafar, S.; Zhang, Y.;
By: Gusev, E.P.; Cabral, C., Jr.; Under, B.P.; Kim, Y.H.; Maitra, K.; Carrier, E.; Nayfeh, H.; Amos, R.; Biery, G.; Bojarczuk, N.; Callegari, A.; Carruthers, R.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Fang, S.; Frank, M.; Guha, S.; Gribelyuk, M.; Jamison, P.; Jammy, R.; Ieong, M.; Kedzierski, J.; Kozlowski, P.; Ku, K.; Lacey, D.; LaTulipe, D.; Narayanan, V.; Ng, H.; Nguyen, P.; Newbury, J.; Paruchuri, V.; Rengarajan, R.; Shahidi, G.; Steegen, A.; Steen, M.; Zafar, S.; Zhang, Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-9058-X
By: Ieong, M.; Jammy, R.; Guha, S.; Oldiges, P.; Medeiros, D.R.; Newbury, J.S.; Kozlowski, P.M.; Wang, X.; Maitra, K.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Steen, M.L.; Lee, K.L.; Jamison, P.C.; Gusev, E.P.; Cartier, E.A.; Zafar, S.; Linder, B.; Bojarczuk, N.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.K.; Frank, M.M.; Shahidi, G.;
By: Ieong, M.; Jammy, R.; Guha, S.; Oldiges, P.; Medeiros, D.R.; Newbury, J.S.; Kozlowski, P.M.; Wang, X.; Maitra, K.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Steen, M.L.; Lee, K.L.; Jamison, P.C.; Gusev, E.P.; Cartier, E.A.; Zafar, S.; Linder, B.; Bojarczuk, N.; Narayanan, V.; Paruchuri, V.K.; Frank, M.M.; Shahidi, G.;
2006 / IEEE
By: Cohen, S.A.; Scime, E.E.; Ferraro, N.M.; Xuan Sun; Miah, M.; Boivin, R.F.; Siefert, N.S.; Stange, S.;
By: Cohen, S.A.; Scime, E.E.; Ferraro, N.M.; Xuan Sun; Miah, M.; Boivin, R.F.; Siefert, N.S.; Stange, S.;