Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Clarke, J.
Results
2010 / IEEE / 978-1-61284-986-7
By: Mark, E.; Hoffman, B.; Kirk, K.; Vines, J.; Clarke, J.; Angelini, R.; Leiter, K.; Martin, J.; Waisbrot, N.; Spear, C.;
By: Mark, E.; Hoffman, B.; Kirk, K.; Vines, J.; Clarke, J.; Angelini, R.; Leiter, K.; Martin, J.; Waisbrot, N.; Spear, C.;
1989 / IEEE
By: Clarke, J.; Wellstood, F.C.; Johnson, M.; Ferrari, M.J.; Beasley, M.R.; Hammond, R.H.; Rosenthal, P.A.;
By: Clarke, J.; Wellstood, F.C.; Johnson, M.; Ferrari, M.J.; Beasley, M.R.; Hammond, R.H.; Rosenthal, P.A.;
1989 / IEEE
By: Bielecki, A.; Heaney, M.B.; Fan, N.Q.; Pines, A.; Clarke, J.; Hahn, E.L.; Wald, L.L.; Newitt, D.;
By: Bielecki, A.; Heaney, M.B.; Fan, N.Q.; Pines, A.; Clarke, J.; Hahn, E.L.; Wald, L.L.; Newitt, D.;
1991 / IEEE
By: Eddy, M.M.; Olson, W.L.; Bourne, L.C.; Cardona, A.H.; Miklich, A.H.; Clarke, J.; Kingston, J.J.; Wellstood, F.C.; Colclough, M.S.;
By: Eddy, M.M.; Olson, W.L.; Bourne, L.C.; Cardona, A.H.; Miklich, A.H.; Clarke, J.; Kingston, J.J.; Wellstood, F.C.; Colclough, M.S.;
1993 / IEEE
By: Clarke, J.; Kromann, R.F.; Kingston, J.J.; Nemeth, D.T.; Dantsker, E.; Koelle, D.; Miklich, A.H.;
By: Clarke, J.; Kromann, R.F.; Kingston, J.J.; Nemeth, D.T.; Dantsker, E.; Koelle, D.; Miklich, A.H.;
1995 / IEEE
By: Dantsker, E.; Wellstood, F.C.; Black, R.C.; Clarke, J.; Ludwig, F.; Koelle, D.; Miklich, A.H.;
By: Dantsker, E.; Wellstood, F.C.; Black, R.C.; Clarke, J.; Ludwig, F.; Koelle, D.; Miklich, A.H.;
1995 / IEEE
By: Miklich, A.H.; Kleiner, R.; Koelle, D.; Dantsker, E.; Clarke, J.; Nemeth, D.T.; Koch, H.; Knappe, S.; Drung, D.; Ludwig, F.;
By: Miklich, A.H.; Kleiner, R.; Koelle, D.; Dantsker, E.; Clarke, J.; Nemeth, D.T.; Koch, H.; Knappe, S.; Drung, D.; Ludwig, F.;
1997 / IEEE / 1-55752-501-3
By: Budiarto, E.; Eckstein, J.; BOZOVOC, I.; Clarke, J.; Dankster, E.; Bokor, J.; Orenstein, J.; Mallozzi, R.; Corson, J.;
By: Budiarto, E.; Eckstein, J.; BOZOVOC, I.; Clarke, J.; Dankster, E.; Bokor, J.; Orenstein, J.; Mallozzi, R.; Corson, J.;
1999 / IEEE
By: Oh, B.; McDermott, R.; Cho, H.-M.; Clarke, J.; Miller, J.H., Jr.; Kittel, A.; Kouznetsov, K.A.;
By: Oh, B.; McDermott, R.; Cho, H.-M.; Clarke, J.; Miller, J.H., Jr.; Kittel, A.; Kouznetsov, K.A.;
1999 / IEEE
By: Shaw, T.J.; Morris, J.W., Jr.; Kang, S.-H.; Chan, J.W.; Clarke, J.; McDermott, R.; Schlenga, K.;
By: Shaw, T.J.; Morris, J.W., Jr.; Kang, S.-H.; Chan, J.W.; Clarke, J.; McDermott, R.; Schlenga, K.;
1999 / IEEE
By: McDermott, R.F.; Schlenga, K.; Pines, A.; Annjoe Wong-Foy; De Souza, R.E.; Clarke, J.;
By: McDermott, R.F.; Schlenga, K.; Pines, A.; Annjoe Wong-Foy; De Souza, R.E.; Clarke, J.;
2001 / IEEE
By: Clatterbuck, D.M.; Morris, J.W., Jr.; Clarke, J.; Hsiao-Mei Cho; Heinig, N.F.; Shaw, T.J.; Tae-Kyu Lee;
By: Clatterbuck, D.M.; Morris, J.W., Jr.; Clarke, J.; Hsiao-Mei Cho; Heinig, N.F.; Shaw, T.J.; Tae-Kyu Lee;
1979 / IEEE
By: Jassby, D.; File, J.; Gaines, A.; Fuller, G.; Paulson, C.; Lind, K.; Hay, R.; Murphy, J.; Gaberson, P.; Eckels, P.; Sedgeley, D.; Marino, J.; Luzzi, T.; Gralnick, S.; Bundy, J.; Bronner, G.; Clarke, J.; Johnson, H.; Martin, G.; Murray, J.; Okabayashi, M.; Price, W.; Rogoff, P.; Singer, C.; Stewart, L.;
By: Jassby, D.; File, J.; Gaines, A.; Fuller, G.; Paulson, C.; Lind, K.; Hay, R.; Murphy, J.; Gaberson, P.; Eckels, P.; Sedgeley, D.; Marino, J.; Luzzi, T.; Gralnick, S.; Bundy, J.; Bronner, G.; Clarke, J.; Johnson, H.; Martin, G.; Murray, J.; Okabayashi, M.; Price, W.; Rogoff, P.; Singer, C.; Stewart, L.;
2003 / IEEE
By: Lanting, T.M.; Richards, P.L.; Spieler, H.G.; Smith, A.D.; Hsiao-Mei Cho; Lee, A.T.; Dobbs, M.; Clarke, J.;
By: Lanting, T.M.; Richards, P.L.; Spieler, H.G.; Smith, A.D.; Hsiao-Mei Cho; Lee, A.T.; Dobbs, M.; Clarke, J.;
2003 / IEEE
By: Lee, A.T.; Lanting, T.M.; Clarke, J.; Labov, S.E.; Miyazaki, T.; Richards, P.L.; Ullom, J.N.; Spieler, H.; Cunningham, M.F.; Jongsoo Yoon;
By: Lee, A.T.; Lanting, T.M.; Clarke, J.; Labov, S.E.; Miyazaki, T.; Richards, P.L.; Ullom, J.N.; Spieler, H.; Cunningham, M.F.; Jongsoo Yoon;
2005 / IEEE
By: Lee, A.T.; Holzapfel, W.L.; Hsiao-Mei Cho; Dobbs, M.A.; Clarke, J.; Lueker, M.; Lanting, T.M.; Spieler, H.G.; Smith, A.D.; Richards, P.L.;
By: Lee, A.T.; Holzapfel, W.L.; Hsiao-Mei Cho; Dobbs, M.A.; Clarke, J.; Lueker, M.; Lanting, T.M.; Spieler, H.G.; Smith, A.D.; Richards, P.L.;
2005 / IEEE
By: Hatridge, M.; Kelso, N.; Seung-Kyun Lee; Myers, W.R.; Mossle, M.; Clarke, J.; Pines, A.;
By: Hatridge, M.; Kelso, N.; Seung-Kyun Lee; Myers, W.R.; Mossle, M.; Clarke, J.; Pines, A.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0634-0
By: Bett, B.; Smith, K.L.; Bagley, P.M.; Walls, A.; Clarke, J.; Rowe, G.; Priede, I.G.;
By: Bett, B.; Smith, K.L.; Bagley, P.M.; Walls, A.; Clarke, J.; Rowe, G.; Priede, I.G.;
2007 / IEEE / 978-0-7695-3088-5
By: Clarke, J.; Adams, P.; Cedilnik, A.; Atkison, T.; Martin, J.; Dandass, Y.; Moorhead, R.; Fowler, J.E.; Vickery, R.J.;
By: Clarke, J.; Adams, P.; Cedilnik, A.; Atkison, T.; Martin, J.; Dandass, Y.; Moorhead, R.; Fowler, J.E.; Vickery, R.J.;
2011 / IEEE
By: Commisso, M.; Spataro, B.; Baglin, V.; Sikler, G.; Boffo, C.; Cimino, R.; Saez de Jauregui, D.; Hagelstein, M.; Grau, G.; Gerstl, S.; Baumbach, T.; Casalbuoni, S.; Jones, R.; Shinton, I.; Bradshaw, T.; Scott, D.; Clarke, J.; Weigel, R.; Wallen, E.; Schouten, J.; Cox, M.; Mostacci, A.;
By: Commisso, M.; Spataro, B.; Baglin, V.; Sikler, G.; Boffo, C.; Cimino, R.; Saez de Jauregui, D.; Hagelstein, M.; Grau, G.; Gerstl, S.; Baumbach, T.; Casalbuoni, S.; Jones, R.; Shinton, I.; Bradshaw, T.; Scott, D.; Clarke, J.; Weigel, R.; Wallen, E.; Schouten, J.; Cox, M.; Mostacci, A.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0502-1
By: McKerrow, A.J.; Reid, J.; Ponnuswamy, T.; Clarke, J.; Indukuri, T.; Akolkar, R.; Varadarajan, S.;
By: McKerrow, A.J.; Reid, J.; Ponnuswamy, T.; Clarke, J.; Indukuri, T.; Akolkar, R.; Varadarajan, S.;