Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Chowdhury, M.
Results
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Lee, S.; Springer, S.; Greene, B.; Chou, A.; Zhao, K.; Chowdhury, M.; Sim, J.; Kumar, A.; Kim, D.; Sutton, A.; Ku, S.; Liang, Y.; Wang, Y.; Slisher, D.; Duncan, K.; Hyde, P.; Thoma, R.; Deng, J.; Deng, Y.; Rupani, R.; Williams, R.; Wagner, L.; Wermer, C.; Li, H.; Johnson, B.; Daley, D.; Plouchart, J.O.; Narasimha, S.; Putnam, C.; Maciejewski, E.; Henson, W.; Johnson, J.;
By: Lee, S.; Springer, S.; Greene, B.; Chou, A.; Zhao, K.; Chowdhury, M.; Sim, J.; Kumar, A.; Kim, D.; Sutton, A.; Ku, S.; Liang, Y.; Wang, Y.; Slisher, D.; Duncan, K.; Hyde, P.; Thoma, R.; Deng, J.; Deng, Y.; Rupani, R.; Williams, R.; Wagner, L.; Wermer, C.; Li, H.; Johnson, B.; Daley, D.; Plouchart, J.O.; Narasimha, S.; Putnam, C.; Maciejewski, E.; Henson, W.; Johnson, J.;
1991 / IEEE / 0-87942-638-1
By: Sivakumar, R.; Dimopoulos, N.J.; Radvan, D.; Chowdhury, M.; Dimakopoulos, V.;
By: Sivakumar, R.; Dimopoulos, N.J.; Radvan, D.; Chowdhury, M.; Dimakopoulos, V.;
2004 / IEEE / 0-7695-2146-0
By: Mitchell, S.; Jeong, H.; Damiano, A.; Chowdhury, M.; Kerschberg, L.; Smith, S.; Si, J.;
By: Mitchell, S.; Jeong, H.; Damiano, A.; Chowdhury, M.; Kerschberg, L.; Smith, S.; Si, J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0879-5
By: Zollner, S.; Grudowski, P.; Bich-Yen Nguyen; Taylor, W.J.; Theodore, D.; Wang, X.-D.; Fejes, P.; Gregory, R.; Kottke, M.L.; Zhu, X.; Crabtree, P.; Laegu Kang; Da Zhang; Dhandapani, V.; Raymond, M.; Garcia, R.; Filipiak, S.; Goedeke, D.; Denning, D.; Rossow, M.; Lovejoy, L.; Noble, R.; Jahanbani, M.; Kyuhwan Chang; Chowdhury, M.; Thean, A.; Jawarani, D.; Karve, G.; White, T.; Bolton, S.; Desjardins, H.;
By: Zollner, S.; Grudowski, P.; Bich-Yen Nguyen; Taylor, W.J.; Theodore, D.; Wang, X.-D.; Fejes, P.; Gregory, R.; Kottke, M.L.; Zhu, X.; Crabtree, P.; Laegu Kang; Da Zhang; Dhandapani, V.; Raymond, M.; Garcia, R.; Filipiak, S.; Goedeke, D.; Denning, D.; Rossow, M.; Lovejoy, L.; Noble, R.; Jahanbani, M.; Kyuhwan Chang; Chowdhury, M.; Thean, A.; Jawarani, D.; Karve, G.; White, T.; Bolton, S.; Desjardins, H.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1802-2
By: Chen, X.; Samavedam, S.; Narayanan, V.; Stein, K.; Hobbs, C.; Baiocco, C.; Li, W.; Jaeger, D.; Zaleski, M.; Yang, H.S.; Kim, N.; Lee, Y.; Zhang, D.; Kang, L.; Chen, J.; Zhuang, H.; Sheikh, A.; Wallner, J.; Aquilino, M.; Han, J.; Jin, Z.; Li, J.; Massey, G.; Kalpat, S.; Jha, R.; Moumen, N.; Mo, R.; Kirshnan, S.; Wang, X.; Chudzik, M.; Chowdhury, M.; Nair, D.; Reddy, C.; Teh, Y.W.; Kothandaraman, C.; Coolbaugh, D.; Pandey, S.; Tekleab, D.; Thean, A.; Sherony, M.; Lage, C.; Sudijono, J.; Lindsay, R.; Ku, J.H.; Khare, M.; Steegen, A.;
By: Chen, X.; Samavedam, S.; Narayanan, V.; Stein, K.; Hobbs, C.; Baiocco, C.; Li, W.; Jaeger, D.; Zaleski, M.; Yang, H.S.; Kim, N.; Lee, Y.; Zhang, D.; Kang, L.; Chen, J.; Zhuang, H.; Sheikh, A.; Wallner, J.; Aquilino, M.; Han, J.; Jin, Z.; Li, J.; Massey, G.; Kalpat, S.; Jha, R.; Moumen, N.; Mo, R.; Kirshnan, S.; Wang, X.; Chudzik, M.; Chowdhury, M.; Nair, D.; Reddy, C.; Teh, Y.W.; Kothandaraman, C.; Coolbaugh, D.; Pandey, S.; Tekleab, D.; Thean, A.; Sherony, M.; Lage, C.; Sudijono, J.; Lindsay, R.; Ku, J.H.; Khare, M.; Steegen, A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2784-0
By: Park, D.-G.; Stein, K.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Steegen, A.; Lindsay, R.; Sherony, M.; Narayanan, V.; Samavedam, S.; Theon, V.-Y.; Chudzik, M.; Schepis, D.; Haetty, J.; Chowdhury, M.; Kanarsky, T.; Yan, W.; Chen, J.; Zhuang, H.; Jaeger, D.; Chen, X.; Loesing, R.; Tang, T.; Hatzistergos, M.; Moumen, N.; von Arnim, K.; Han, S.; Schruefer, K.; Lee, Y.; Han, J.-P.; Li, W.; Yin, H.; Pacha, C.; Kim, N.; Ostermayr, M.; Eller, M.; Kim, S.; Kim, K.;
By: Park, D.-G.; Stein, K.; Khare, M.; Divakaruni, R.; Steegen, A.; Lindsay, R.; Sherony, M.; Narayanan, V.; Samavedam, S.; Theon, V.-Y.; Chudzik, M.; Schepis, D.; Haetty, J.; Chowdhury, M.; Kanarsky, T.; Yan, W.; Chen, J.; Zhuang, H.; Jaeger, D.; Chen, X.; Loesing, R.; Tang, T.; Hatzistergos, M.; Moumen, N.; von Arnim, K.; Han, S.; Schruefer, K.; Lee, Y.; Han, J.-P.; Li, W.; Yin, H.; Pacha, C.; Kim, N.; Ostermayr, M.; Eller, M.; Kim, S.; Kim, K.;
2006 / IEEE / 978-1-4244-3308-7
By: Greene, B.; Liang, Q.; Amarnath, K.; Wang, Y.; Schaeffer, J.; Cai, M.; Liang, Y.; Saroop, S.; Cheng, J.; Rotondaro, A.; Han, S.-J.; Mo, R.; McStay, K.; Ku, S.; Pal, R.; Kumar, M.; Dirahoui, B.; Yang, B.; Tamweber, F.; Lee, W.-H.; Steigerwalt, M.; Weijtmans, H.; Holt, J.; Black, L.; Samavedam, S.; Turner, M.; Ramani, K.; Lee, D.; Belyansky, M.; Chowdhury, M.; Aime, D.; Min, B.; van Meer, H.; Yin, H.; Chan, K.; Angyal, M.; Zaleski, M.; Ogunsola, O.; Child, C.; Zhuang, L.; Yan, H.; Permanaa, D.; Sleight, J.; Guo, D.; Mittl, S.; Ioannou, D.; Wu, E.; Chudzik, M.; Park, D.-G.; Brown, D.; Luning, S.; Mocuta, D.; Maciejewski, E.; Henson, K.; Leobandung, E.;
By: Greene, B.; Liang, Q.; Amarnath, K.; Wang, Y.; Schaeffer, J.; Cai, M.; Liang, Y.; Saroop, S.; Cheng, J.; Rotondaro, A.; Han, S.-J.; Mo, R.; McStay, K.; Ku, S.; Pal, R.; Kumar, M.; Dirahoui, B.; Yang, B.; Tamweber, F.; Lee, W.-H.; Steigerwalt, M.; Weijtmans, H.; Holt, J.; Black, L.; Samavedam, S.; Turner, M.; Ramani, K.; Lee, D.; Belyansky, M.; Chowdhury, M.; Aime, D.; Min, B.; van Meer, H.; Yin, H.; Chan, K.; Angyal, M.; Zaleski, M.; Ogunsola, O.; Child, C.; Zhuang, L.; Yan, H.; Permanaa, D.; Sleight, J.; Guo, D.; Mittl, S.; Ioannou, D.; Wu, E.; Chudzik, M.; Park, D.-G.; Brown, D.; Luning, S.; Mocuta, D.; Maciejewski, E.; Henson, K.; Leobandung, E.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6036-6
By: Mozak, C.; Bhamidipati, S.; Kurd, N.A.; Chowdhury, M.; Nemani, M.; Wilson, T.M.; Miller, J.L.;
By: Mozak, C.; Bhamidipati, S.; Kurd, N.A.; Chowdhury, M.; Nemani, M.; Wilson, T.M.; Miller, J.L.;
2011 / IEEE
By: Chowdhury, M.; Nemani, M.; Aly, R.E.; Neidengard, M.; El-Husseini, A.M.; Wilson, T.M.; Kumar, R.; Mosalikanti, P.; Miller, J.L.; Mozak, C.; Bhamidipati, S.; Kurd, N.A.;
By: Chowdhury, M.; Nemani, M.; Aly, R.E.; Neidengard, M.; El-Husseini, A.M.; Wilson, T.M.; Kumar, R.; Mosalikanti, P.; Miller, J.L.; Mozak, C.; Bhamidipati, S.; Kurd, N.A.;