Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Choi, Y.
Results
2011 / IEEE / 978-1-61284-329-2
By: Stoltz, P.; Choi, Y.; Mahalingam, S.; Williams, J.D.; Rand, L.P.;
By: Stoltz, P.; Choi, Y.; Mahalingam, S.; Williams, J.D.; Rand, L.P.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8340-2
By: Lee, B.S.; Byun, H.I.; Park, Y.D.; Chung, C.H.; Ha, K.H.; Hong, S.Y.; Choi, Y.; Shin, Y.H.; Suh, S.D.; Joe, I.S.; Kim, S.G.; Cho, K.S.; Na, K.W.; Ji, H.-C.; Lee, K.-H.; Shin, D.J.; Pyo, J.;
By: Lee, B.S.; Byun, H.I.; Park, Y.D.; Chung, C.H.; Ha, K.H.; Hong, S.Y.; Choi, Y.; Shin, Y.H.; Suh, S.D.; Joe, I.S.; Kim, S.G.; Cho, K.S.; Na, K.W.; Ji, H.-C.; Lee, K.-H.; Shin, D.J.; Pyo, J.;
2011 / IEEE / 978-1-4673-0120-6
By: Huh, Y.; Kim, B.T.; Jung, J.; Kim, S.S.; Kang, J.H.; Hu, W.; Jung, J.H.; Choi, Y.;
By: Huh, Y.; Kim, B.T.; Jung, J.; Kim, S.S.; Kang, J.H.; Hu, W.; Jung, J.H.; Choi, Y.;
1994 / IEEE / 0-7803-2544-3
By: Schelbert, H.R.; Hsiao-Ming Wu; Buxton, D.B.; Hoh, C.K.; Choi, Y.; Sung-Cheng Huang; Phelps, M.E.; Hawkins, R.A.;
By: Schelbert, H.R.; Hsiao-Ming Wu; Buxton, D.B.; Hoh, C.K.; Choi, Y.; Sung-Cheng Huang; Phelps, M.E.; Hawkins, R.A.;
1995 / IEEE / 0-7800-2599-0
By: Kim, D.; Choi, Y.; Kwon, K.; Ma, Y.; Kim, J.; Frayer, J.E.; Tsao, S.C.; Pang, C.S.; Park, J.;
By: Kim, D.; Choi, Y.; Kwon, K.; Ma, Y.; Kim, J.; Frayer, J.E.; Tsao, S.C.; Pang, C.S.; Park, J.;
1998 / IEEE / 0-7803-4984-9
By: Kirby, R.C.; Bowen, D.J.; Garodnick, J.; Schilling, D.L.; Gerakoulis, D.P.; Milsten, L.; Choi, Y.; Lee, K.K.; Fisher, R.;
By: Kirby, R.C.; Bowen, D.J.; Garodnick, J.; Schilling, D.L.; Gerakoulis, D.P.; Milsten, L.; Choi, Y.; Lee, K.K.; Fisher, R.;
2003 / IEEE / 1-55752-746-6
By: Byun, Y.; Woo, D.; Lee, S.; Choi, Y.; Choi, W.; Kim, J.; Kim, D.; Nakano, Y.; Lee, H.; Kim, S.;
By: Byun, Y.; Woo, D.; Lee, S.; Choi, Y.; Choi, W.; Kim, J.; Kim, D.; Nakano, Y.; Lee, H.; Kim, S.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Ziemons, K.; Auffray, E.; Barbier, R.; Brandenburg, G.; Bruyndonckx, P.; Choi, Y.; Christ, D.; Costes, N.; Declais, Y.; Devroede, O.; Dujardin, C.; Fedorov, A.A.; Heinrichs, U.; Hollendung, A.; Korjhik, M.J.; Krieguer, M.; Kuntner, C.; Largeron, G.; Lartizien, C.; Larue, H.; Lecoq, P.; Leonard, S.; Martcau, J.; Morel, Ch.; Mosset, J.B.; Parl, Ch.; Pedrini, Ch.; Petrosyan, A.G.; Pietrzyk, U.; Rey, M.; Saladino, S.; Sappey-Marinier, D.; Simon, L.; Streun, M.; Tavernier, S.; Vieira, J.M.;
By: Ziemons, K.; Auffray, E.; Barbier, R.; Brandenburg, G.; Bruyndonckx, P.; Choi, Y.; Christ, D.; Costes, N.; Declais, Y.; Devroede, O.; Dujardin, C.; Fedorov, A.A.; Heinrichs, U.; Hollendung, A.; Korjhik, M.J.; Krieguer, M.; Kuntner, C.; Largeron, G.; Lartizien, C.; Larue, H.; Lecoq, P.; Leonard, S.; Martcau, J.; Morel, Ch.; Mosset, J.B.; Parl, Ch.; Pedrini, Ch.; Petrosyan, A.G.; Pietrzyk, U.; Rey, M.; Saladino, S.; Sappey-Marinier, D.; Simon, L.; Streun, M.; Tavernier, S.; Vieira, J.M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Ziemons, K.; Zilles, K.; Auffray, E.; Bauer, A.; Brandenburg, G.; Bruyndonckx, P.; Choi, Y.; Daemen, J.; Dehnhardt, M.; Devroede, O.; Fleischer, M.; Fuss, L.; Heinrichs, U.; Hollendung, A.; Holschbach, M.; Khodaverdi, M.; Kirchner, P.; Kleines, H.; Krieguer, M.; Larue, H.; Lecoq, P.; Leyendecker, M.; Moeller, R.; Morel, C.; Mosset, J.-B.; Parl, C.; Pietrzyk, U.; Schmitz, J.; Streun, M.; Tavernier, S.; Veggian, M.; Zimmermann, E.; Coenen, H.H.; Halling, H.; Sievering, R.; Achten, R.;
By: Ziemons, K.; Zilles, K.; Auffray, E.; Bauer, A.; Brandenburg, G.; Bruyndonckx, P.; Choi, Y.; Daemen, J.; Dehnhardt, M.; Devroede, O.; Fleischer, M.; Fuss, L.; Heinrichs, U.; Hollendung, A.; Holschbach, M.; Khodaverdi, M.; Kirchner, P.; Kleines, H.; Krieguer, M.; Larue, H.; Lecoq, P.; Leyendecker, M.; Moeller, R.; Morel, C.; Mosset, J.-B.; Parl, C.; Pietrzyk, U.; Schmitz, J.; Streun, M.; Tavernier, S.; Veggian, M.; Zimmermann, E.; Coenen, H.H.; Halling, H.; Sievering, R.; Achten, R.;
2005 / IEEE / 0-7803-9203-5
By: Jang, J.E.; Cha, S.N.; Amaratunga, G.A.J.; Welland, M.E.; Choi, Y.; Hasko, D.G.; Kang, D.-J.; Ho, G.W.;
By: Jang, J.E.; Cha, S.N.; Amaratunga, G.A.J.; Welland, M.E.; Choi, Y.; Hasko, D.G.; Kang, D.-J.; Ho, G.W.;
2005 / IEEE / 0-7803-9203-5
By: Cha, S.N.; Jang, J.E.; Amaratunga, G.A.J.; Haskot, D.G.; Kang, D.J.; Choi, Y.;
By: Cha, S.N.; Jang, J.E.; Amaratunga, G.A.J.; Haskot, D.G.; Kang, D.J.; Choi, Y.;
2005 / IEEE / 0-7803-9214-0
By: Cha, S.N.; Ho, G.W.; Amaratunga, G.A.J.; Kim, J.M.; Welland, M.E.; Hasko, D.; Milne, W.I.; Rupesinghe, N.L.; Teh, A.S.; Kang, D.J.; Dalal, S.H.; Teo, K.B.K.; Choi, Y.; Yang, Y.; Jang, J.E.;
By: Cha, S.N.; Ho, G.W.; Amaratunga, G.A.J.; Kim, J.M.; Welland, M.E.; Hasko, D.; Milne, W.I.; Rupesinghe, N.L.; Teh, A.S.; Kang, D.J.; Dalal, S.H.; Teo, K.B.K.; Choi, Y.; Yang, Y.; Jang, J.E.;
2005 / IEEE / 0-7803-9221-3
By: Khodaverdi, M.; Weber, S.; Streun, M.; Parl, Ch.; Larue, H.; Brandenburg, G.; Bauer, A.; Dehnhardt, M.; Auffray, E.; Boutemeur, M.; Bruyndonckx, P.; Choi, Y.; D'Asseler, Y.; Devroede, O.; Dujardin, C.; Fedorov, A.; Heinrichs, U.; Janier, M.; Jung, J.H.; Korjik, M.; Krieguer, M.; Largeron, G.; Lartizien, C.; Lecoq, P.; Lemaitre, C.; Leonard, S.; Loude, J.-F.; Morel, C.; Mosset, J.-B.; Pedrini, C.; Petrosyan, A.G.; Rey, M.; Sappey-Marinier, D.; Roldan, P.S.; Simon, L.; Song, T.Y.; Staelens, S.; Tavernier, S.; Trummer, J.; Van Holen, R.; Vieira, J.-M.; Wieers, E.; Wisniewska, M.; Wisniewski, D.; Wu, Y.; Pietrzyk, U.; Ziemons, K.;
By: Khodaverdi, M.; Weber, S.; Streun, M.; Parl, Ch.; Larue, H.; Brandenburg, G.; Bauer, A.; Dehnhardt, M.; Auffray, E.; Boutemeur, M.; Bruyndonckx, P.; Choi, Y.; D'Asseler, Y.; Devroede, O.; Dujardin, C.; Fedorov, A.; Heinrichs, U.; Janier, M.; Jung, J.H.; Korjik, M.; Krieguer, M.; Largeron, G.; Lartizien, C.; Lecoq, P.; Lemaitre, C.; Leonard, S.; Loude, J.-F.; Morel, C.; Mosset, J.-B.; Pedrini, C.; Petrosyan, A.G.; Rey, M.; Sappey-Marinier, D.; Roldan, P.S.; Simon, L.; Song, T.Y.; Staelens, S.; Tavernier, S.; Trummer, J.; Van Holen, R.; Vieira, J.-M.; Wieers, E.; Wisniewska, M.; Wisniewski, D.; Wu, Y.; Pietrzyk, U.; Ziemons, K.;
2005 / IEEE / 0-7803-9268-X
By: Jang, J.E.; Amaratunga, G.A.J.; Kim, J.M.; Jung, J.E.; Choi, Y.; Hasko, D.G.; Kang, D.J.; Butler, T.P.; Cha, S.N.;
By: Jang, J.E.; Amaratunga, G.A.J.; Kim, J.M.; Jung, J.E.; Choi, Y.; Hasko, D.G.; Kang, D.J.; Butler, T.P.; Cha, S.N.;
2006 / IEEE / 0-7803-9357-0
By: Jang, J.E.; Amaratunga, G.A.J.; Kim, J.M.; Jung, J.E.; Hasko, D.G.; Butler, T.P.; Kang, D.J.; Choi, Y.; Cha, S.N.;
By: Jang, J.E.; Amaratunga, G.A.J.; Kim, J.M.; Jung, J.E.; Hasko, D.G.; Butler, T.P.; Kang, D.J.; Choi, Y.; Cha, S.N.;
2006 / IEEE / 1-4244-0076-7
By: Hasko, D.G.; Butler, T.P.; Kang, D.J.; Choi, Y.; Kim, J.M.; Jang, J.E.; Cha, S.N.; Amaratunga, G.A.J.;
By: Hasko, D.G.; Butler, T.P.; Kang, D.J.; Choi, Y.; Kim, J.M.; Jang, J.E.; Cha, S.N.; Amaratunga, G.A.J.;
2006 / IEEE / 1-4244-1479-2
By: Yamashita, E.; Choi, Y.; Takemura, Y.; Lee, S.; Bae, S.; Kim, C.; Kunisaki, J.;
By: Yamashita, E.; Choi, Y.; Takemura, Y.; Lee, S.; Bae, S.; Kim, C.; Kunisaki, J.;
2007 / IEEE / 1-4244-0841-5
By: Fogleman, N.; Rowe, L.; Lee, K.; Ross, J.; Choi, Y.; Brewer, G.J.; Frazier, A.B.; DeWeerth, S.P.; Glezer, A.; Vukasinovic, J.;
By: Fogleman, N.; Rowe, L.; Lee, K.; Ross, J.; Choi, Y.; Brewer, G.J.; Frazier, A.B.; DeWeerth, S.P.; Glezer, A.; Vukasinovic, J.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1507-6
By: Milne, W.I.; Oh, S.Y.; Moon, S.E.; Kim, K.C.; Kim, S.H.; Kim, H.Y.; Vieira, S.M.C.; Park, K.H.; Guha, P.K.; Choi, Y.; Ali, S.Z.; Haque, M.S.; Park, J.; Gardner, J.W.; Maeng, S.; Udrea, F.;
By: Milne, W.I.; Oh, S.Y.; Moon, S.E.; Kim, K.C.; Kim, S.H.; Kim, H.Y.; Vieira, S.M.C.; Park, K.H.; Guha, P.K.; Choi, Y.; Ali, S.Z.; Haque, M.S.; Park, J.; Gardner, J.W.; Maeng, S.; Udrea, F.;
2000 / IEEE / 978-1-4244-2712-3
By: Kubota, Y.; Choi, Y.; Iyota, T.; Suzuki, A.; Yamane, A.; Watanabe, K.;
By: Kubota, Y.; Choi, Y.; Iyota, T.; Suzuki, A.; Yamane, A.; Watanabe, K.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3961-4
By: Jung, J.H.; Park, H.W.; Hong, K.J.; Choi, Y.; Huh, Y.S.; Hu, W.; Song, M.S.; Lim, H.K.; Shin, S.H.; Min, B.J.; Kang, J.H.;
By: Jung, J.H.; Park, H.W.; Hong, K.J.; Choi, Y.; Huh, Y.S.; Hu, W.; Song, M.S.; Lim, H.K.; Shin, S.H.; Min, B.J.; Kang, J.H.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3961-4
By: Hu, W.; Chung, Y.H.; Lim, H.K.; Shin, S.H.; Huh, Y.S.; Min, B.J.; Kang, J.H.; Jung, J.H.; Choi, Y.;
By: Hu, W.; Chung, Y.H.; Lim, H.K.; Shin, S.H.; Huh, Y.S.; Min, B.J.; Kang, J.H.; Jung, J.H.; Choi, Y.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9634-1
By: Dahmardeh, M.; Takahata, K.; Nojeh, A.; Yaghoobi, P.; Choi, Y.; Mohamed Ali, M.S.; Khalid, W.;
By: Dahmardeh, M.; Takahata, K.; Nojeh, A.; Yaghoobi, P.; Choi, Y.; Mohamed Ali, M.S.; Khalid, W.;
2011 / IEEE
By: You Seung Rim; Dong Lim Kim; Woong Hee Jeong; Kyung Min Kim; Choi, Y.; Hyun Jae Kim; Kyung-Bae Park; Myung-Kwan Ryu;
By: You Seung Rim; Dong Lim Kim; Woong Hee Jeong; Kyung Min Kim; Choi, Y.; Hyun Jae Kim; Kyung-Bae Park; Myung-Kwan Ryu;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap