Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Bowes, D.
Results
Numerical investigation of pseudospark discharged electron beam and propagation for W-band radiation
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0By: Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; Cross, A.W.; He, W.; Li, D.; Bowes, D.; Yin, H.; Chen, X.;
2011 / IEEE / 978-1-4577-0509-0
By: Yin, H.; Cross, A.W.; Chen, X.; Li, D.; Bowes, D.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; He, W.;
By: Yin, H.; Cross, A.W.; Chen, X.; Li, D.; Bowes, D.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; He, W.;
2014 / IEEE
By: Bowes, D.; Yin, H.; Cross, A.W.; Li, D.; Chen, X.; Zhang, P.; Chen, D.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; He, W.;
By: Bowes, D.; Yin, H.; Cross, A.W.; Li, D.; Chen, X.; Zhang, P.; Chen, D.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; He, W.;
2013 / IEEE
By: Yin, H.; Bowes, D.; He, W.; Ronald, K.; Speirs, D.C; Zhang, L.; Liu, G; Chen, X.; Phelps, A.D.R.; Cross, A.W.; Li, D.;
By: Yin, H.; Bowes, D.; He, W.; Ronald, K.; Speirs, D.C; Zhang, L.; Liu, G; Chen, X.; Phelps, A.D.R.; Cross, A.W.; Li, D.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3500-5
By: Protz, J.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; Cross, A.W.; Bowes, D.; He, W.; Verdiel, M.; Yin, H.; Zhou, J.; Li, D.; Chen, X.; Schuhmann, T.; Reynolds, M.;
By: Protz, J.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; Cross, A.W.; Bowes, D.; He, W.; Verdiel, M.; Yin, H.; Zhou, J.; Li, D.; Chen, X.; Schuhmann, T.; Reynolds, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2617-1
By: Chen, X.; Zhou, J.; Li, D.; Phelps, A.D.R.; Bowes, D.; Ronald, K.; Protz, J.; He, W.; Yin, H.; Cross, A.W.; Schuhmann, T.; Reynolds, M.; Verdiel, M.;
By: Chen, X.; Zhou, J.; Li, D.; Phelps, A.D.R.; Bowes, D.; Ronald, K.; Protz, J.; He, W.; Yin, H.; Cross, A.W.; Schuhmann, T.; Reynolds, M.; Verdiel, M.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2617-1
By: Cross, A.W.; He, W.; Yin, H.; Bowes, D.; Ronald, K.; Chen, X.; Zhou, J.; Li, D.; Phelps, A.D.R.;
By: Cross, A.W.; He, W.; Yin, H.; Bowes, D.; Ronald, K.; Chen, X.; Zhou, J.; Li, D.; Phelps, A.D.R.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5416-7
By: Reynolds, M.; Verdiel, M.; Protz, J.; Chen, X.; Zhou, J.; Li, D.; Schuhmann, T.; Phelps, A.; He, W.; Bowes, D.; Cross, A.W.; Yin, H.; Ronald, K.;
By: Reynolds, M.; Verdiel, M.; Protz, J.; Chen, X.; Zhou, J.; Li, D.; Schuhmann, T.; Phelps, A.; He, W.; Bowes, D.; Cross, A.W.; Yin, H.; Ronald, K.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5476-1
By: Chen, X.; Zhou, J.; Li, D.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; Bowes, D.; Protz, J.; Yin, H.; Cross, A.W.; Schuhmann, T.; He, W.; Reynolds, M.; Verdiel, M.;
By: Chen, X.; Zhou, J.; Li, D.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; Bowes, D.; Protz, J.; Yin, H.; Cross, A.W.; Schuhmann, T.; He, W.; Reynolds, M.; Verdiel, M.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6657-3
By: Chen, X.; Li, D.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; Bowes, D.; He, W.; Cross, A.W.; Yin, H.;
By: Chen, X.; Li, D.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; Bowes, D.; He, W.; Cross, A.W.; Yin, H.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-6657-3
By: Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; Cross, A.W.; He, W.; Li, D.; Bowes, D.; Yin, H.; Chen, X.;
By: Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; Cross, A.W.; He, W.; Li, D.; Bowes, D.; Yin, H.; Chen, X.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-8661-8
By: Cross, A.W.; Chen, X.; Li, D.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; He, W.; Yin, H.; Bowes, D.;
By: Cross, A.W.; Chen, X.; Li, D.; Phelps, A.D.R.; Ronald, K.; He, W.; Yin, H.; Bowes, D.;