Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Bourdelle, K.
Results
2000 / IEEE / 0-7803-6462-7
By: Agarwal, A.; Bourdelle, K.; Jacobson, D.C.; Horsky, T.; Perel, A.; Gossmann, H.-J.; Poate, J.M.; Babaram, V.; Albano, M.A.; Sosnowski, M.;
By: Agarwal, A.; Bourdelle, K.; Jacobson, D.C.; Horsky, T.; Perel, A.; Gossmann, H.-J.; Poate, J.M.; Babaram, V.; Albano, M.A.; Sosnowski, M.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2377-4
By: Weber, O.; Faynot, O.; Deleonibus, S.; Nguyen, B.-Y.; Bourdelle, K.; Delprat, D.; Boeuf, F.; Marin, M.; Fenouillet-Beranger, C.; Rozeau, O.; Brevard, L.; Tosti, L.; Lafond, D.; Daval, N.; Foucher, J.; Scheiblin, P.; Allain, F.; Buj-Dufournet, C.; Andrieu, F.;
By: Weber, O.; Faynot, O.; Deleonibus, S.; Nguyen, B.-Y.; Bourdelle, K.; Delprat, D.; Boeuf, F.; Marin, M.; Fenouillet-Beranger, C.; Rozeau, O.; Brevard, L.; Tosti, L.; Lafond, D.; Daval, N.; Foucher, J.; Scheiblin, P.; Allain, F.; Buj-Dufournet, C.; Andrieu, F.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4256-0
By: Nguyen, B.Y.; Bourdelle, K.; Dehdashti-Akhavan, N.; Lee, C.W.; Ferain, I.; Colinge, J.P.; Afzalian, A.; Razavi, P.; Duane, R.; Yan, R.;
By: Nguyen, B.Y.; Bourdelle, K.; Dehdashti-Akhavan, N.; Lee, C.W.; Ferain, I.; Colinge, J.P.; Afzalian, A.; Razavi, P.; Duane, R.; Yan, R.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4355-0
By: Fenouillet-Beranger, C.; Perreau, P.; Skotnicki, T.; Faynot, O.; Nguyen, B.-Y.; Bourdelle, K.; Boedt, F.; Delprat, D.; Margain, A.; Borowiak, C.; Vetier, J.; Pinzelli, L.; Laviron, C.; Torres, A.; Baron, F.; Abbate, F.; Gouraud, P.; Leverd, F.; Pham-Nguyen, L.; Gros, P.; de Buttet, C.; Perrot, C.; Beneyton, R.; Haendler, S.; Campidelli, Y.; Arvet, C.; Barnola, S.; Weber, O.; Andrieu, F.; Tosti, L.; Denorme, S.;
By: Fenouillet-Beranger, C.; Perreau, P.; Skotnicki, T.; Faynot, O.; Nguyen, B.-Y.; Bourdelle, K.; Boedt, F.; Delprat, D.; Margain, A.; Borowiak, C.; Vetier, J.; Pinzelli, L.; Laviron, C.; Torres, A.; Baron, F.; Abbate, F.; Gouraud, P.; Leverd, F.; Pham-Nguyen, L.; Gros, P.; de Buttet, C.; Perrot, C.; Beneyton, R.; Haendler, S.; Campidelli, Y.; Arvet, C.; Barnola, S.; Weber, O.; Andrieu, F.; Tosti, L.; Denorme, S.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-4351-2
By: Perreau, P.; Fenouillet-Beranger, C.; Tosti, L.; Andrieu, F.; Weber, O.; Barnola, S.; Arvet, C.; Campidelli, Y.; Haendler, S.; Beneyton, R.; Perrot, C.; de Buttet, C.; Gros, P.; Pham-Nguyen, L.; Leverd, F.; Gouraud, P.; Abbate, F.; Baron, F.; Torres, A.; Laviron, C.; Pinzelli, L.; Vetier, J.; Borowiak, C.; Margain, A.; Delprat, D.; Boedt, F.; Bourdelle, K.; Nguyen, B.-Y.; Faynot, O.; Skotnicki, T.; Denorme, S.;
By: Perreau, P.; Fenouillet-Beranger, C.; Tosti, L.; Andrieu, F.; Weber, O.; Barnola, S.; Arvet, C.; Campidelli, Y.; Haendler, S.; Beneyton, R.; Perrot, C.; de Buttet, C.; Gros, P.; Pham-Nguyen, L.; Leverd, F.; Gouraud, P.; Abbate, F.; Baron, F.; Torres, A.; Laviron, C.; Pinzelli, L.; Vetier, J.; Borowiak, C.; Margain, A.; Delprat, D.; Boedt, F.; Bourdelle, K.; Nguyen, B.-Y.; Faynot, O.; Skotnicki, T.; Denorme, S.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5641-3
By: Bidal, G.; Boeuf, F.; Skotnicki, T.; Ghibaudo, G.; Pantel, R.; Clement, L.; Borowiak, C.; Haendler, S.; Leyris, C.; Cros, A.; Kusiaku, K.; Fleury, D.; Huguenin, J.L.; Le-Gratiet, B.; Leverd, F.; Gouraud, P.; Perreau, P.; Salvetat, T.; Barnola, S.; Morin, P.; Fournel, F.; Moriceau, H.; Beneyton, R.; Campidelli, Y.; Loubet, N.; Bourdelle, K.; Laviron, C.; Denorme, S.;
By: Bidal, G.; Boeuf, F.; Skotnicki, T.; Ghibaudo, G.; Pantel, R.; Clement, L.; Borowiak, C.; Haendler, S.; Leyris, C.; Cros, A.; Kusiaku, K.; Fleury, D.; Huguenin, J.L.; Le-Gratiet, B.; Leverd, F.; Gouraud, P.; Perreau, P.; Salvetat, T.; Barnola, S.; Morin, P.; Fournel, F.; Moriceau, H.; Beneyton, R.; Campidelli, Y.; Loubet, N.; Bourdelle, K.; Laviron, C.; Denorme, S.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5641-3
By: Fenouillet-Beranger, C.; Perreau, P.; Pham-Nguyen, L.; Denorme, S.; Andrieu, F.; Tosti, L.; Brevard, L.; Weber, O.; Barnola, S.; Salvetat, T.; Garros, X.; Casse, M.; Leroux, C.; Noel, J.P.; Thomas, O.; Le-Gratiet, B.; Baron, F.; Gatefait, M.; Campidelli, Y.; Abbate, F.; Perrot, C.; de-Buttet, C.; Beneyton, R.; Pinzelli, L.; Leverd, F.; Gouraud, P.; Gros-Jean, M.; Bajolet, A.; Mezzomo, C.; Leyris, C.; Haendler, S.; Noblet, D.; Pantel, R.; Margain, A.; Borowiak, C.; Josse, E.; Planes, N.; Delprat, D.; Boedt, F.; Bourdelle, K.; Nguyen, B.Y.; Boeuf, F.; Faynot, O.; Skotnicki, T.;
By: Fenouillet-Beranger, C.; Perreau, P.; Pham-Nguyen, L.; Denorme, S.; Andrieu, F.; Tosti, L.; Brevard, L.; Weber, O.; Barnola, S.; Salvetat, T.; Garros, X.; Casse, M.; Leroux, C.; Noel, J.P.; Thomas, O.; Le-Gratiet, B.; Baron, F.; Gatefait, M.; Campidelli, Y.; Abbate, F.; Perrot, C.; de-Buttet, C.; Beneyton, R.; Pinzelli, L.; Leverd, F.; Gouraud, P.; Gros-Jean, M.; Bajolet, A.; Mezzomo, C.; Leyris, C.; Haendler, S.; Noblet, D.; Pantel, R.; Margain, A.; Borowiak, C.; Josse, E.; Planes, N.; Delprat, D.; Boedt, F.; Bourdelle, K.; Nguyen, B.Y.; Boeuf, F.; Faynot, O.; Skotnicki, T.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5308-5
By: Boedt, F.; Bourdelle, K.; Andrieu, F.; Boeuf, F.; Delprat, D.; Perreau, P.; Dura, J.; Jaud, M.-A.; Fenouillet-Beranger, C.; Noel, J.-P.; Thomas, O.; Amara, A.; Vladimirescu, A.; Nguyen, B.-Y.;
By: Boedt, F.; Bourdelle, K.; Andrieu, F.; Boeuf, F.; Delprat, D.; Perreau, P.; Dura, J.; Jaud, M.-A.; Fenouillet-Beranger, C.; Noel, J.-P.; Thomas, O.; Amara, A.; Vladimirescu, A.; Nguyen, B.-Y.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap