Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Bolotnikov, A.
Results
2012 / IEEE / 978-1-4577-1597-6
By: Stum, Z.; Sandvik, P.; Elasser, A.; Lei Wang; Arthur, S.; Nasadoski, J.; Glaser, J.; Matocha, K.; Losee, P.; Bolotnikov, A.; Stevanovic, L.; Sabate, J.; Johnson, T.; Sui, Y.;
By: Stum, Z.; Sandvik, P.; Elasser, A.; Lei Wang; Arthur, S.; Nasadoski, J.; Glaser, J.; Matocha, K.; Losee, P.; Bolotnikov, A.; Stevanovic, L.; Sabate, J.; Johnson, T.; Sui, Y.;
2012 / IEEE
By: Babentsov, V.; Sizov, F.; Franc, J.; Fochuk, P.; Yang, G.; Bolotnikov, A.; James, R. B.;
By: Babentsov, V.; Sizov, F.; Franc, J.; Fochuk, P.; Yang, G.; Bolotnikov, A.; James, R. B.;
2014 / IEEE
By: Lee, K.; James, R. B.; Kim, K.; Dedic, V.; Yang, G.; Bolotnikov, A.; Cui, Y.; Petryk, M.; Camarda, G.; Roy, U.; Bae, S.; Hossain, A.;
By: Lee, K.; James, R. B.; Kim, K.; Dedic, V.; Yang, G.; Bolotnikov, A.; Cui, Y.; Petryk, M.; Camarda, G.; Roy, U.; Bae, S.; Hossain, A.;
2014 / IEEE
By: Losee, P.; Bolotnikov, A.; Stevanovic, L.; Stolkarts, V.; Zhu, X.; Olson, R.; Sandvik, P.; Hartig, M.; Gowda, A.; Esler, D.; Yu, L.; Beaupre, R.; Stum, Z.; Kennerly, S.; Dunne, G.; Sui, Y.; Kretchmer, J.; Johnson, A.; Arthur, S.; Saia, R.; McMahon, J.; Lilienfeld, D.;
By: Losee, P.; Bolotnikov, A.; Stevanovic, L.; Stolkarts, V.; Zhu, X.; Olson, R.; Sandvik, P.; Hartig, M.; Gowda, A.; Esler, D.; Yu, L.; Beaupre, R.; Stum, Z.; Kennerly, S.; Dunne, G.; Sui, Y.; Kretchmer, J.; Johnson, A.; Arthur, S.; Saia, R.; McMahon, J.; Lilienfeld, D.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Arodzero, A.; Richards, J.; Proctor, A.; Bolotnikov, A.; Bolozdynya, A.;
By: Arodzero, A.; Richards, J.; Proctor, A.; Bolotnikov, A.; Bolozdynya, A.;
2005 / IEEE / 0-7803-9221-3
By: Park, S.-J.; Dilmanian, F.A.; Pratte, J.-F.; Camarda, G.; James, R.B.; Bolotnikov, A.; Vaska, P.; Carini, G.;
By: Park, S.-J.; Dilmanian, F.A.; Pratte, J.-F.; Camarda, G.; James, R.B.; Bolotnikov, A.; Vaska, P.; Carini, G.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Cui, Y.-G.; Pratte, J.-F.; Kim, D.-H.; Lee, W.; Dragone, A.; Vaska, P.; Fried, J.; Dilmanian, F.A.; O'Connor, P.; James, R.B.; Park, S.-J.; Bolotnikov, A.; Krishnamoorthy, S.;
By: Cui, Y.-G.; Pratte, J.-F.; Kim, D.-H.; Lee, W.; Dragone, A.; Vaska, P.; Fried, J.; Dilmanian, F.A.; O'Connor, P.; James, R.B.; Park, S.-J.; Bolotnikov, A.; Krishnamoorthy, S.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0922-8
By: Fried, J.; De Geronimo, G.; James, R.B.; Hossain, A.; Camarda, G.; O'Connor, P.; Cui, Y.; McGregor, D.S.; Bolotnikov, A.; Harrison, M.J.; Kargar, A.;
By: Fried, J.; De Geronimo, G.; James, R.B.; Hossain, A.; Camarda, G.; O'Connor, P.; Cui, Y.; McGregor, D.S.; Bolotnikov, A.; Harrison, M.J.; Kargar, A.;
2008 / IEEE
By: Bolotnikov, A.; Yonggang Cui; McGregor, D.S.; Harrison, M.J.; Kargar, A.; O'Connor, P.; Fried, J.; De Geronimo, G.; James, R.B.; Hossain, A.; Camarda, G.;
By: Bolotnikov, A.; Yonggang Cui; McGregor, D.S.; Harrison, M.J.; Kargar, A.; O'Connor, P.; Fried, J.; De Geronimo, G.; James, R.B.; Hossain, A.; Camarda, G.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2347-7
By: Bolotnikov, A.; Cui, Y.; James, R.B.; Yang, G.; Hossain, A.; Camarda, G.;
By: Bolotnikov, A.; Cui, Y.; James, R.B.; Yang, G.; Hossain, A.; Camarda, G.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-2347-7
By: Camarda, G.; Bolotnikov, A.; Hossain, A.; James, R.B.; Yang, G.; Cui, Y.;
By: Camarda, G.; Bolotnikov, A.; Hossain, A.; James, R.B.; Yang, G.; Cui, Y.;
2009 / IEEE
By: Bolotnikov, A.; Rozenfeld, A.; Luke, P.; Moses, B.; Derenzo, S.; Burger, A.; Archer, D.; Sturm, B.; Sjoden, G.; Sellin, P.; Boston, A.; Fabris, L.; Franks, L.; Friedrich, L.; Iwanczyk, J. S.; Kernan, W.; Payne, S.; Rockett, P.; Royle, G.;
By: Bolotnikov, A.; Rozenfeld, A.; Luke, P.; Moses, B.; Derenzo, S.; Burger, A.; Archer, D.; Sturm, B.; Sjoden, G.; Sellin, P.; Boston, A.; Fabris, L.; Franks, L.; Friedrich, L.; Iwanczyk, J. S.; Kernan, W.; Payne, S.; Rockett, P.; Royle, G.;
2009 / IEEE
By: Verzhak, Y.; Nykonyuk, Y.; Fochuk, P.; James, R.B.; Bolotnikov, A.; Panchuk, O.; Kopach, O.;
By: Verzhak, Y.; Nykonyuk, Y.; Fochuk, P.; James, R.B.; Bolotnikov, A.; Panchuk, O.; Kopach, O.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-3680-4
By: Verghese, S.; Frechette, J.; Bolotnikov, A.; Vert, A.V.; Grossmann, P.; Sandvik, P.M.; Soloviev, S.I.; Shaw, G.A.;
By: Verghese, S.; Frechette, J.; Bolotnikov, A.; Vert, A.V.; Grossmann, P.; Sandvik, P.M.; Soloviev, S.I.; Shaw, G.A.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-6030-4
By: Soloviev, S.; Bolotnikov, A.; Sandvik, P.; Rowland, L.; Vert, A.;
By: Soloviev, S.; Bolotnikov, A.; Sandvik, P.; Rowland, L.; Vert, A.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9105-6
By: Zha, M.; Zappettini, A.; Marchini, L.; James, R.B.; Camarda, G.; Bolotnikov, A.; Zambelli, N.;
By: Zha, M.; Zappettini, A.; Marchini, L.; James, R.B.; Camarda, G.; Bolotnikov, A.; Zambelli, N.;