Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Bolle, C.
Results
2012 / IEEE
By: Chen, E.Y.; Gomez, L.T.; Pardo, F.; Cappuzzo, M.A.; Earnshaw, M.P.; Kun-Yii Tu; Chen, Y.; Rasras, M.S.; DeSalvo, R.; Middleton, C.; Meredith, S.; Peach, R.; Wu, M.C.; Wyrwas, J.M.; Buhl, L.; Bolle, C.; Keller, B.; Klemens, F.;
By: Chen, E.Y.; Gomez, L.T.; Pardo, F.; Cappuzzo, M.A.; Earnshaw, M.P.; Kun-Yii Tu; Chen, Y.; Rasras, M.S.; DeSalvo, R.; Middleton, C.; Meredith, S.; Peach, R.; Wu, M.C.; Wyrwas, J.M.; Buhl, L.; Bolle, C.; Keller, B.; Klemens, F.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-932-9
By: Charlet, G.; Bigo, S.; Sillard, P.; Bolle, C.; Koebele, C.; Ryf, R.; Milord, L.; Salsi, M.;
By: Charlet, G.; Bigo, S.; Sillard, P.; Bolle, C.; Koebele, C.; Ryf, R.; Milord, L.; Salsi, M.;
2011 / IEEE / 978-1-61284-718-4
By: Keller, R.; Earnshaw, M.P.; Gomez, L.T.; Klemens, F.; Chen, E.Y.; Cappuzzo, M.A.; Chen, Y.K.; Rasras, M.S.; Wyrwas, J.M.; Wu, M.C.; DeSalvo, R.; Middleton, C.; Peach, R.; Bolle, C.; Padro, F.;
By: Keller, R.; Earnshaw, M.P.; Gomez, L.T.; Klemens, F.; Chen, E.Y.; Cappuzzo, M.A.; Chen, Y.K.; Rasras, M.S.; Wyrwas, J.M.; Wu, M.C.; DeSalvo, R.; Middleton, C.; Peach, R.; Bolle, C.; Padro, F.;
2012 / IEEE
By: Essiambre, R.; Burrows, E.C.; Esmaeelpour, M.; Mumtaz, S.; Bolle, C.; Sierra, A.; Winzer, P.J.; Gnauck, A.H.; Randel, S.; Ryf, R.; Lingle, R.; McCurdy, A.H.; Peckham, D.W.;
By: Essiambre, R.; Burrows, E.C.; Esmaeelpour, M.; Mumtaz, S.; Bolle, C.; Sierra, A.; Winzer, P.J.; Gnauck, A.H.; Randel, S.; Ryf, R.; Lingle, R.; McCurdy, A.H.; Peckham, D.W.;
2012 / IEEE
By: Bernasconi, P.; Buhl, L.; Neilson, D.T.; Sinsky, J.H.; Basavanhally, N.; Bolle, C.; Cappuzzo, M.A.; Chen, E.Y.; Earnshaw, M.; Farah, R.; Frahm, R.; Gasparyan, A.; Gill, D.; Gomez, L.; Keller, R.; Klemens, F.; Kolodner, P.; Low, Y.; Papazian, R.; Pardo, F.; Ramsey, D.; Rasras, M.S.; Salamon, T.; Simon, E.M.; Sutter, E.; Achouche, M.; Barbet, S.; Blanche, F.; Brillouet, F.; Chimot, N.; Decobert, J.; Debregeas, H.; Drisse, O.; Franchin, F.; Gariah, H.; Gentner, J.; Glastre, G.; Lagay, N.; Lanteri, D.; Lelarge, F.; Mallecot, F.; Pommereau, F.; Provost, J.; Azzini, G.; Fratta, L.; Galli, P.; Guja, V.; Jovane, S.; Palmisano, D.; Perego, F.; Peruta, R.;
By: Bernasconi, P.; Buhl, L.; Neilson, D.T.; Sinsky, J.H.; Basavanhally, N.; Bolle, C.; Cappuzzo, M.A.; Chen, E.Y.; Earnshaw, M.; Farah, R.; Frahm, R.; Gasparyan, A.; Gill, D.; Gomez, L.; Keller, R.; Klemens, F.; Kolodner, P.; Low, Y.; Papazian, R.; Pardo, F.; Ramsey, D.; Rasras, M.S.; Salamon, T.; Simon, E.M.; Sutter, E.; Achouche, M.; Barbet, S.; Blanche, F.; Brillouet, F.; Chimot, N.; Decobert, J.; Debregeas, H.; Drisse, O.; Franchin, F.; Gariah, H.; Gentner, J.; Glastre, G.; Lagay, N.; Lanteri, D.; Lelarge, F.; Mallecot, F.; Pommereau, F.; Provost, J.; Azzini, G.; Fratta, L.; Galli, P.; Guja, V.; Jovane, S.; Palmisano, D.; Perego, F.; Peruta, R.;
2012 / IEEE
By: Bolle, C.; Neilson, D.T.; Bernasconi, P.; Earnshaw, M.P.; Pardo, F.; Rasras, M.; Chen, E.; Low, Y.; Klemens, F.; Keller, R.; Gomez, L.T.; Ferrari, C.; Cappuzzo, M.A.;
By: Bolle, C.; Neilson, D.T.; Bernasconi, P.; Earnshaw, M.P.; Pardo, F.; Rasras, M.; Chen, E.; Low, Y.; Klemens, F.; Keller, R.; Gomez, L.T.; Ferrari, C.; Cappuzzo, M.A.;
2000 / IEEE / 0-7803-6472-4
By: Giles, R.; Bolle, C.; Aksyuk, V.; Bishop, D.; Walker, J.; Pardo, F.;
By: Giles, R.; Bolle, C.; Aksyuk, V.; Bishop, D.; Walker, J.; Pardo, F.;
2001 / IEEE / 0-7803-6705-7
By: Ryf, R.; Bernasconi, P.; Kolodner, P.; Kim, J.; Hickey, J.P.; Carr, D.; Pardo, F.; Bolle, C.; Frahm, R.; Basavanhally, N.; Yoh, C.; Ramsey, D.; George, R.; Kraus, J.; Lichtenwalner, C.; Papazian, R.; Gates, J.; Shea, H.R.; Gasparyan, A.; Muratov, V.; Griffith, J.E.; Prybyla, J.A.; Goyal, S.; White, C.D.; Lin, M.T.; Ruel, R.; Nijander, C.; Amey, S.; Neilson, D.T.; Bishop, D.J.; Pau, S.; Nuzman, C.; Weis, A.; Kumar, B.; Lieuwen, D.; Aksyuk, V.; Greywall, D.S.; Lee, T.C.; Soh, H.T.; Mansfield, W.M.; Jin, S.; Lai, W.Y.; Huggins, H.A.; Barr, D.L.; Cirelli, R.A.; Bogart, G.R.; Teffeau, K.; Vella, R.; Mavoori, H.; Ramirez, A.; Ciampa, N.A.; Klemens, F.P.; Morris, M.D.; Boone, T.; Liu, J.Q.; Rosamilia, J.M.; Giies, C.R.;
By: Ryf, R.; Bernasconi, P.; Kolodner, P.; Kim, J.; Hickey, J.P.; Carr, D.; Pardo, F.; Bolle, C.; Frahm, R.; Basavanhally, N.; Yoh, C.; Ramsey, D.; George, R.; Kraus, J.; Lichtenwalner, C.; Papazian, R.; Gates, J.; Shea, H.R.; Gasparyan, A.; Muratov, V.; Griffith, J.E.; Prybyla, J.A.; Goyal, S.; White, C.D.; Lin, M.T.; Ruel, R.; Nijander, C.; Amey, S.; Neilson, D.T.; Bishop, D.J.; Pau, S.; Nuzman, C.; Weis, A.; Kumar, B.; Lieuwen, D.; Aksyuk, V.; Greywall, D.S.; Lee, T.C.; Soh, H.T.; Mansfield, W.M.; Jin, S.; Lai, W.Y.; Huggins, H.A.; Barr, D.L.; Cirelli, R.A.; Bogart, G.R.; Teffeau, K.; Vella, R.; Mavoori, H.; Ramirez, A.; Ciampa, N.A.; Klemens, F.P.; Morris, M.D.; Boone, T.; Liu, J.Q.; Rosamilia, J.M.; Giies, C.R.;
2002 / IEEE / 1-55752-701-6
By: Ryf, R.; Neilson, D.T.; Kolodner, P.R.; Kim, J.; Hickey, J.P.; Carr, D.; Aksyuk, V.; Greywall, D.S.; Pardo, F.; Bolle, C.; Frahm, R.; Basavanhally, N.R.; Ramsey, D.A.; George, R.; Kraus, J.; Lichtenwalner, C.; Papazian, R.; Nuzman, C.; Weiss, A.; Kumar, B.; Lieuwen, D.; Gates, J.; Shea, H.R.; Gasparyan, A.; Lifton, V.A.; Prybyla, J.A.; Goyal, S.; Ruel, R.; Nijander, C.; Arney, S.; Bishop, D.J.; Giles, C.R.; Pau, S.; Mansfield, W.M.; Jin, S.; Lai, W.Y.; Barr, D.L.; Cirelli, R.A.; Bogart, G.R.; Teffeau, K.; Vella, R.; Ramirez, A.; Klemens, F.P.; Liu, J.Q.; Rosamilia, J.M.; Soh, H.T.; Lee, T.C.;
By: Ryf, R.; Neilson, D.T.; Kolodner, P.R.; Kim, J.; Hickey, J.P.; Carr, D.; Aksyuk, V.; Greywall, D.S.; Pardo, F.; Bolle, C.; Frahm, R.; Basavanhally, N.R.; Ramsey, D.A.; George, R.; Kraus, J.; Lichtenwalner, C.; Papazian, R.; Nuzman, C.; Weiss, A.; Kumar, B.; Lieuwen, D.; Gates, J.; Shea, H.R.; Gasparyan, A.; Lifton, V.A.; Prybyla, J.A.; Goyal, S.; Ruel, R.; Nijander, C.; Arney, S.; Bishop, D.J.; Giles, C.R.; Pau, S.; Mansfield, W.M.; Jin, S.; Lai, W.Y.; Barr, D.L.; Cirelli, R.A.; Bogart, G.R.; Teffeau, K.; Vella, R.; Ramirez, A.; Klemens, F.P.; Liu, J.Q.; Rosamilia, J.M.; Soh, H.T.; Lee, T.C.;
2003 / IEEE
By: Arney, S.; Frahm, R.; Lifton, V.; Shea, H.; Gasparyan, A.; Bolle, C.; Simon, M.E.; Chan, H.B.; Greywall, D.; Carr, D.; Pardo, F.; Aksyuk, V.A.; Bishop, D.; Giles, C.R.; Kim, J.; Neilson, D.T.; Ryf, R.; Haueis, M.; Paczkowski, M.;
By: Arney, S.; Frahm, R.; Lifton, V.; Shea, H.; Gasparyan, A.; Bolle, C.; Simon, M.E.; Chan, H.B.; Greywall, D.; Carr, D.; Pardo, F.; Aksyuk, V.A.; Bishop, D.; Giles, C.R.; Kim, J.; Neilson, D.T.; Ryf, R.; Haueis, M.; Paczkowski, M.;
2004 / IEEE / 0-7803-8557-8
By: Ferry, E.; Sorsch, T.; Bolle, C.; Klemens, F.; Laskowsld, E.; Wong-Foy, A.; Cirelli, R.; Chen, E.; Gomez, L.; Cappuzzo, M.; Doerr, C.R.; Kang, L.; Dorrer, C.; Marom, D.M.; Lopez, D.; Pardo, F.; Simon, M.E.; Bower, E.; Miner, J.;
By: Ferry, E.; Sorsch, T.; Bolle, C.; Klemens, F.; Laskowsld, E.; Wong-Foy, A.; Cirelli, R.; Chen, E.; Gomez, L.; Cappuzzo, M.; Doerr, C.R.; Kang, L.; Dorrer, C.; Marom, D.M.; Lopez, D.; Pardo, F.; Simon, M.E.; Bower, E.; Miner, J.;
2006 / IEEE / 0-7803-9562-X
By: Cirelli, R.; Ferry, E.; Mansfield, W.; Klemens, F.; Simon, M.E.; Watson, G.; Aksyuk, V.; Lopez, D.; Tennant, D.; Sorsch, T.; Miner, J.; Bower, J.; Basavanhally, N.; Bolle, C.; Pardo, F.; Papazian, A.;
By: Cirelli, R.; Ferry, E.; Mansfield, W.; Klemens, F.; Simon, M.E.; Watson, G.; Aksyuk, V.; Lopez, D.; Tennant, D.; Sorsch, T.; Miner, J.; Bower, J.; Basavanhally, N.; Bolle, C.; Pardo, F.; Papazian, A.;
2011 / IEEE / 978-1-55752-906-0
By: McCurdy, A.; Peckham, D.W.; Winzer, P.J.; Essiambre, R.; Lingle, R.; Bolle, C.; Gnauck, A.H.; Randel, S.; Ryf, R.;
By: McCurdy, A.; Peckham, D.W.; Winzer, P.J.; Essiambre, R.; Lingle, R.; Bolle, C.; Gnauck, A.H.; Randel, S.; Ryf, R.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap