Author: Blanchot, G.

2009 / IEEE / 978-1-4577-0493-2
By: Allongue, B.; Faccio, F.; Sorge, R.; Orlandi, S.; Michelis, S.; Fuentes, C.; Blanchot, G.;

1998 / IEEE / 0-7803-5021-9
By: Pimpl, W.; Petry, D.; Ostankov, A.; Mirzoyan, R.; Martinez, M.; Lorenz, E.; Blanchot, G.; Llopart, X.; Fernandez, E.; Dosil, M.; Cavalli-Sforza, M.; Bosman, M.; Blanch, O.;

1999 / IEEE
By: Fernandez, E.; Dosil, M.; Cavalli-Sforza, M.; Bosman, M.; Blanchot, G.; Blanch, O.; Llopart, X.; Petry, D.; Ostankov, A.; Pimpl, W.; Mirzoyan, R.; Martinez, M.; Lorenz, E.;

2004 / IEEE / 0-7803-8248-X
By: Chmeissani, M.; Mullan, M.; Puigdengoles, C.; Martinez, R.; Lozano, M.; Garcia, J.; Pellegrini, G.; Blanchot, G.; Maiorino, M.;

2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Puigdengoles, C.; Chmeissani, M.; Pellegrini, G.; Casado, P.; Ullan, M.; Maiorino, M.; Martinez, R.; Lozano, M.; Garcia, J.; Blanchot, G.;

2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Cabruja, E.; Blanchot, G.; Chmeissani, M.; Lozano, M.; Ullan, M.; Garcia, J.; Pellegrini, G.; Puigdengoles, C.; Martinez, R.; Maiorino, M.;

2006 / IEEE
By: Lozano, M.; Garcia, J.; Chmeissani, M.; Blanchot, G.; Maiorino, M.; Martinez, R.; Pellegrini, G.; Casado, P.; Ullan, M.; Puigdengoles, C.;

2006 / IEEE
By: Adragna, P.; Alexa, C.; Anderson, K.; Antonaki, A.; Batusov, V.; Bednar, P.; Binet, S.; Biscarat, C.; Blanchot, G.; Bogush, A.; Bohm, C.; Boldea, V.; Bosman, M.; Bromberg, C.; Budagov, J.; Caloba, L.; Calvet, D.; Carvalho, J.; Castelo, J.; Castillo, M.V.; Sforza, M.C.; Cavasinni, V.; Cerqueira, A.S.; Chadelas, R.; Costanzo, D.; Cogswell, F.; Constantinescu, S.; Crouau, M.; Cuenca, C.; Damazio, D.O.; Daudon, F.; David, M.; Davidek, T.; De, K.; Del Prete, T.; Di Girolamo, B.; Dita, S.; Dolejsi, J.; Dolezal, Z.; Dotti, A.; Downing, R.; Efthymiopoulos, I.; Errede, D.; Errede, S.; Farbin, A.; Fassouliotis, D.; Fedorko, I.; Fenyuk, A.; Ferdi, C.; Ferrer, A.; Flaminio, V.; Fullana, E.; Garde, V.; Giakoumopoulou, V.; Gildemeister, O.; Gilewsky, V.; Giangiobbe, V.; Giokaris, N.; Gomes, A.; Gonzalez, V.; Grabsky, V.; Grenier, P.; Gris, P.; Guarino, V.; Guicheney, C.; Gupta, A.; Hakobyan, H.; Haney, M.; Henriques, A.; Higon, E.; Holmgren, S.; Hurwitz, M.; Huston, J.; Iglesias, C.; And, K.J.; Junk, T.; Karyukhin, A.; Khubua, J.; Klereborn, J.; Korolkov, I.; Krivkova, P.; Kulchitsky, Y.; Kurochkin, Yu.; Kuzhir, P.; Lambert, D.; Le Compte, T.; Lefevre, R.; Leitner, R.; Lembesi, M.; Li, J.; Liablin, M.; Lokajicek, M.; Lomakin, Y.; Amengual, J.M.L.; Lupi, A.; Maidantchik, C.; Maio, A.; Maliukov, S.; Manousakis, A.; Marques, C.; Marroquim, F.; Martin, F.; Mazzoni, E.; Montarou, G.; Merritt, F.; Miagkov, A.; Miller, R.; Minashvili, I.; Miralles, L.; Nemecek, S.; Nessi, M.; Nodulman, L.; Norniella, O.; Onofre, A.; Oreglia, M.; Pantea, D.; Pallin, D.; Pilcher, J.; Pina, J.; Pinhao, J.; Podlyski, F.; Portell, X.; Poveda, J.; Price, L.E.; Pribyl, L.; Proudfoot, J.; Ramstedt, M.; Reinmuth, G.; Richards, R.; Roda, C.; Romanov, V.; Rosnet, P.; Roy, P.; Rumiantsau, V.; Russakovich, N.; Salto, O.; Salvachua, B.; Sanchis, E.; Sanders, H.; Santoni, C.; Santos, J.; Saraiva, J.G.; Sarri, F.; Satsunkevitch, I.; Says, L.-P.; Schlager, G.; Schlereth, J.; Seixas, J.M.; Sellden, B.; Shevtsov, P.; Shochet, M.; Da Silva, P.; Silva, J.; Simaitis, V.; Sissakian, A.; Solodkov, A.; Solovianov, O.; Sosebee, M.; Spano, F.; Stanek, R.; Starchenko, E.; Starovoitov, P.; Suk, M.; Sykora, I.; Tang, F.; Tas, P.; Teuscher, R.; Tokar, S.; Topilin, N.; Torres, J.; Tsulaia, V.; Underwood, D.; Usai, G.; Valkar, S.; Valls, J.A.; Vartapetian, A.; Vazeille, F.; Vichou, I.; Vinogradov, V.; Vivarelli, I.; Volpi, M.; White, A.; Zaitsev, A.; Zenine, A.; Zenis, T.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-2893-9
By: Faccio, F.; Buso, S.; Blanchot, G.; Allongue, B.; Fuentes, C.; Spiazzi, G.; Orlandi, S.; Michelis, S.; Kayal, M.;

2009 / IEEE / 978-1-4244-3961-4
By: Spiazzi, G.; Orlandi, S.; Michelis, S.; Faccio, F.; Fuentes, C.; Buso, S.; Allongue, B.; Blanchot, G.;

2010 / IEEE
By: Blanchot, G.; Allongue, B.; Faccio, F.; Sorge, R.; Orlandi, S.; Michelis, S.; Fuentes, C.;

2010 / IEEE / 978-1-4244-6664-1
By: Saggini, S.; Orlandi, S.; Marchioro, A.; Fuentes, C.; Faccio, F.; Spiazzi, G.; Buso, S.; Blanchot, G.; Allongue, B.; Michelis, S.; Kayal, M.;

2011 / IEEE
By: Kayal, M.; Blanchot, G.; Allongue, B.; Fuentes, C.; Faccio, F.; Rodriguez, J.; Pontt, J.; Orlandi, S.; Michelis, S.;