Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Biglietti, M.
Results
2004 / IEEE
By: Armstrong, S.; Baines, J.T.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Konstantinidis, N.; Krasny, W.; Li, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Morettini, P.; Moyse, E.; Nairz, A.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Shears, T.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Stanescu, C.; Tapprogge, S.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;
By: Armstrong, S.; Baines, J.T.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Konstantinidis, N.; Krasny, W.; Li, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Morettini, P.; Moyse, E.; Nairz, A.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Shears, T.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Stanescu, C.; Tapprogge, S.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;
2004 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Abolins, M.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Barisonzi, M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Beretta, M.; Biglietti, M.; Blair, R.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dobinson, R.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Ermoline, Y.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; George, S.; Ghete, V.; Golonka, P.; Gonzalez, S.; Gorini, B.; Green, B.; Grothe, M.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Kieft, G.; Knezo, E.; Konstantinidis, N.; Korcyl, K.; Krasny, W.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; LeVine, M.; Li, W.; Liu, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Misiejuk, A.; Mommsen, R.; Morettini, P.; Mornacchi, G.; Moyse, E.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nairz, A.; Nakayoshi, K.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Papadopoulos, I.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Pope, B.; Prigent, D.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Shears, T.; Shimojima, M.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stanescu, C.; Strong, J.; Tapprogge, S.; Tremblet, L.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Vermeulen, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Yasu, Y.; Yu, M.; Zobernig, H.; Zurek, M.;
By: dos Anjos, A.; Abolins, M.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Barisonzi, M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Beretta, M.; Biglietti, M.; Blair, R.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dobinson, R.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Ermoline, Y.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; George, S.; Ghete, V.; Golonka, P.; Gonzalez, S.; Gorini, B.; Green, B.; Grothe, M.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Kieft, G.; Knezo, E.; Konstantinidis, N.; Korcyl, K.; Krasny, W.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; LeVine, M.; Li, W.; Liu, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Misiejuk, A.; Mommsen, R.; Morettini, P.; Mornacchi, G.; Moyse, E.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nairz, A.; Nakayoshi, K.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Papadopoulos, I.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Pope, B.; Prigent, D.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Shears, T.; Shimojima, M.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stanescu, C.; Strong, J.; Tapprogge, S.; Tremblet, L.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Vermeulen, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Yasu, Y.; Yu, M.; Zobernig, H.; Zurek, M.;
2004 / IEEE
By: Tapprogge, S.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Konstantinidis, N.; Krasny, W.; Li, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Morettini, P.; Moyse, E.; Nairz, A.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Shears, T.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Stanescu, C.;
By: Tapprogge, S.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Konstantinidis, N.; Krasny, W.; Li, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Morettini, P.; Moyse, E.; Nairz, A.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schoerner-Sadenius, T.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Shears, T.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Stanescu, C.;
2004 / IEEE
By: Aielli, G.; Veneziano, S.; Alviggi, M.; Biglietti, M.; Bocci, V.; Brambilla, E.; Camarri, P.; Canale, V.; Caprio, M.; Cardarelli, R.; Carlino, G.; Cataldi, G.; Chiodini, G.; Conventi, F.; de Asmundis, R.; Della Pietra, M.; della Volpe, D.; Di Ciaccio, A.; Di Mattia, A.; Di Simone, A.; Falciano, S.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Iengo, P.; Liberti, B.; Luminari, L.; Nisati, A.; Pastore, F.; Patricelli, S.; Perrino, R.; Petrolo, E.; Primavera, M.; Sekhniaidze, G.; Spagnolo, S.; Salamon, A.; Santonico, R.; Vari, R.; Aloisio, A.;
By: Aielli, G.; Veneziano, S.; Alviggi, M.; Biglietti, M.; Bocci, V.; Brambilla, E.; Camarri, P.; Canale, V.; Caprio, M.; Cardarelli, R.; Carlino, G.; Cataldi, G.; Chiodini, G.; Conventi, F.; de Asmundis, R.; Della Pietra, M.; della Volpe, D.; Di Ciaccio, A.; Di Mattia, A.; Di Simone, A.; Falciano, S.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Iengo, P.; Liberti, B.; Luminari, L.; Nisati, A.; Pastore, F.; Patricelli, S.; Perrino, R.; Petrolo, E.; Primavera, M.; Sekhniaidze, G.; Spagnolo, S.; Salamon, A.; Santonico, R.; Vari, R.; Aloisio, A.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Abolins, M.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Barisonzi, M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Beretta, M.; Biglietti, M.; Blair, R.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dobinson, R.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Ermoline, Y.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; George, S.; Ghete, V.; Golonka, P.; Gonalez, S.; Gorini, B.; Green, B.; Grothe, M.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Kieft, G.; Knezo, E.; Konstantinidis, N.; Korcyl, K.; Krasny, W.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Le Vine, M.; Li, W.; Liu, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Misiejuk, A.; Mommsen, R.; Morettini, P.; Mornacchi, G.; Moyse, E.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nairz, A.; Nakayoshi, K.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Papadopoulos, I.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Pope, B.; Prigent, D.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Schoerner- Sadenius, T.; Segura, E.; Shears, T.; Shimojima, M.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stanescu, C.; Strong, J.; Tapprogge, S.; Tremblet, L.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Vermeulen, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Yasu, Y.; Yu, M.; Zobernig, H.; Zurek, M.;
By: Abolins, M.; Armstrong, S.; Baines, J.T.; Barisonzi, M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Beretta, M.; Biglietti, M.; Blair, R.; Bogaerts, A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Boterenbrood, H.; Botterill, D.; Brandt, S.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Corso-Radu, A.; Cortezon, E.P.; Cranfield, R.; Crone, G.; Dawson, J.; Di Girolamo, B.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dobinson, R.; dos Anjos, A.; Drohan, J.; Ellis, N.; Elsing, M.; Epp, B.; Ermoline, Y.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; Ferrer, M.L.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; George, S.; Ghete, V.; Golonka, P.; Gonalez, S.; Gorini, B.; Green, B.; Grothe, M.; Gruwe, M.; Haas, S.; Haeberli, C.; Hasegawa, Y.; Hauser, R.; Hinkelbein, C.; Hughes-Jones, R.; Jansweijer, P.; Joos, M.; Kaczmarska, A.; Karr, K.; Khomich, A.; Kieft, G.; Knezo, E.; Konstantinidis, N.; Korcyl, K.; Krasny, W.; Kugel, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Le Vine, M.; Li, W.; Liu, W.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Maia, M.L.; Mapelli, L.; Martin, B.; McLaren, R.; Meessen, C.; Meirosu, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Misiejuk, A.; Mommsen, R.; Morettini, P.; Mornacchi, G.; Moyse, E.; Muller, M.; Nagasaka, Y.; Nairz, A.; Nakayoshi, K.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Papadopoulos, I.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Polesello, G.; Pope, B.; Prigent, D.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Schlereth, J.; Schoerner- Sadenius, T.; Segura, E.; Shears, T.; Shimojima, M.; Sivoklokov, S.; Smizanska, M.; Soluk, R.; Spiwoks, R.; Stancu, S.; Stanescu, C.; Strong, J.; Tapprogge, S.; Tremblet, L.; Touchard, F.; Vercesi, V.; Vermeulen, V.; Watson, A.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Yasu, Y.; Yu, M.; Zobernig, H.; Zurek, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-8257-9
By: Merola, L.; Nairz, A.; Gorini, E.; Goldafarb, S.; Fisyak, Y.; Farilla, A.; Mair, K.; Conventi, F.; Cataldi, G.; Carlino, G.; Biglietti, M.; Assamagan, K.; Adams, D.; Lagouri, Th.; Wenaus, T.; Verducci, M.; Stavropoulos, G.; Spogli, L.; Spagnolo, S.; Shank, J.; Rosati, S.; Primavera, M.; Poppleton, A.;
By: Merola, L.; Nairz, A.; Gorini, E.; Goldafarb, S.; Fisyak, Y.; Farilla, A.; Mair, K.; Conventi, F.; Cataldi, G.; Carlino, G.; Biglietti, M.; Assamagan, K.; Adams, D.; Lagouri, Th.; Wenaus, T.; Verducci, M.; Stavropoulos, G.; Spogli, L.; Spagnolo, S.; Shank, J.; Rosati, S.; Primavera, M.; Poppleton, A.;
2004 / IEEE
By: Lagouri, T.; Wenaus, T.; Assamagan, K.; Biglietti, M.; Carlino, G.; Cataldi, G.; Conventi, F.; Farilla, A.; Fisyak, Y.; Goldfarb, S.; Gorini, E.; Mair, K.; Merola, L.; Nairz, A.; Poppleton, A.; Primavera, M.; Rosati, S.; Shank, J.; Spagnolo, S.; Spogli, L.; Stavropoulos, G.; Verducci, M.; Adams, D.;
By: Lagouri, T.; Wenaus, T.; Assamagan, K.; Biglietti, M.; Carlino, G.; Cataldi, G.; Conventi, F.; Farilla, A.; Fisyak, Y.; Goldfarb, S.; Gorini, E.; Mair, K.; Merola, L.; Nairz, A.; Poppleton, A.; Primavera, M.; Rosati, S.; Shank, J.; Spagnolo, S.; Spogli, L.; Stavropoulos, G.; Verducci, M.; Adams, D.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Aielli, G.; Alviggi, M.; Zaets, V.; Veneziano, S.; Vari, R.; Sviridov, Yu.; Spagnolo, S.; Solfaroli, E.; Sekhniaidze, G.; Santonico, R.; Primavera, M.; Perrino, R.; Patricelli, S.; Pastore, Fr.; Nisati, A.; Liberti, B.; Iengo, P.; Grancagnolo, F.; Gorini, E.; Di Simone, A.; Di Ciaccio, A.; Della Volpe, D.; Della Pietra, M.; de Asmundis, R.; Conventi, F.; Chiodini, G.; Carlino, G.; Cardarelli, R.; Caprio, M.; Ammosov, V.; Bianco, M.; Biglietti, M.; Camarri, P.; Canale, V.;
By: Aielli, G.; Alviggi, M.; Zaets, V.; Veneziano, S.; Vari, R.; Sviridov, Yu.; Spagnolo, S.; Solfaroli, E.; Sekhniaidze, G.; Santonico, R.; Primavera, M.; Perrino, R.; Patricelli, S.; Pastore, Fr.; Nisati, A.; Liberti, B.; Iengo, P.; Grancagnolo, F.; Gorini, E.; Di Simone, A.; Di Ciaccio, A.; Della Volpe, D.; Della Pietra, M.; de Asmundis, R.; Conventi, F.; Chiodini, G.; Carlino, G.; Cardarelli, R.; Caprio, M.; Ammosov, V.; Bianco, M.; Biglietti, M.; Camarri, P.; Canale, V.;
2004 / IEEE / 0-7803-8700-7
By: Armstrong, S.; Anjos, A.D.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
By: Armstrong, S.; Anjos, A.D.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.; Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.R.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sancheztt, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.;
By: Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.; Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.R.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sancheztt, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.;
2005 / IEEE / 0-7803-9183-7
By: Santamarina, C.; Muino, P.C.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Mello, A.G.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirkc, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.I.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usai, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
By: Santamarina, C.; Muino, P.C.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Mello, A.G.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirkc, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.I.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usai, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
Overview of the high-level trigger electron and photon selection for the ATLAS experiment at the LHC
2005 / IEEE / 0-7803-9183-7By: Mello, A.G.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Muino, P.C.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirkc, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiav, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usaib, G.; Pintoc, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
2005 / IEEE
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
2006 / IEEE
By: Armstrong, S.; Assamagan, K.A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Bellomo, M.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Carlino, G.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; Conventi, F.; De Santo, A.; de Seixas, J.M.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; dos Anjos, A.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Primavera, M.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;
By: Armstrong, S.; Assamagan, K.A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Bellomo, M.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Carlino, G.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; Conventi, F.; De Santo, A.; de Seixas, J.M.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; dos Anjos, A.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Perez-Reale, V.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Primavera, M.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;
2006 / IEEE
By: Aielli, G.; Alviggi, M.; Zaets, V.; Veneziano, S.; Vari, R.; Sviridov, Yu.; Spagnolo, S.; Solfaroli, E.; Sekhniaidze, G.; Santonico, R.; Primavera, M.; Perrino, R.; Patricelli, S.; Pastore, F.; Nisati, A.; Liberti, B.; Iengo, P.; Grancagnolo, F.; Gorini, E.; Di Simone, A.; Di Ciaccio, A.; Della Volpe, D.; Ammosov, V.; Bianco, M.; Biglietti, M.; Camarri, P.; Canale, V.; Caprio, M.; Cardarelli, R.; Carlino, G.; Chiodini, G.; Conventi, F.; de Asmundis, R.; Della Pietra, M.;
By: Aielli, G.; Alviggi, M.; Zaets, V.; Veneziano, S.; Vari, R.; Sviridov, Yu.; Spagnolo, S.; Solfaroli, E.; Sekhniaidze, G.; Santonico, R.; Primavera, M.; Perrino, R.; Patricelli, S.; Pastore, F.; Nisati, A.; Liberti, B.; Iengo, P.; Grancagnolo, F.; Gorini, E.; Di Simone, A.; Di Ciaccio, A.; Della Volpe, D.; Ammosov, V.; Bianco, M.; Biglietti, M.; Camarri, P.; Canale, V.; Caprio, M.; Cardarelli, R.; Carlino, G.; Chiodini, G.; Conventi, F.; de Asmundis, R.; Della Pietra, M.;
2006 / IEEE
By: Santamarina, C.; Muino, P.C.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Mello, A.G.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usai, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
By: Santamarina, C.; Muino, P.C.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Mello, A.G.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usai, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
2006 / IEEE
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kostantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luci, C.; Luminari, L.; Maeno, T.; Marzano, F.; Masik, J.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P.C.; De Santo, A.; Di Mattia, A.; Gomez, M.D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kostantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luci, C.; Luminari, L.; Maeno, T.; Marzano, F.; Masik, J.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B.V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, H.;
2006 / IEEE
By: dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; de Santo, A.; Diaz-Gomez, M.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haeberli, C.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.;
By: dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Beck, H.P.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Burckhart, D.; Caprini, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Ciobotaru, M.; Comune, G.; Conde, P.; Corso-Radu, A.; Crone, G.; Damazio, D.; de Santo, A.; Diaz-Gomez, M.; Di Mattia, A.; Dobson, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Ferrari, R.; Francis, D.; Gadomski, S.; Gameiro, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Gorini, B.; Gruwe, M.; Haeberli, C.; Haller, J.; Joos, M.; Kabana, S.; Kazarov, A.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Kolos, S.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.; Lehmann, G.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meirosu, C.; Meessen, C.; Mello, A.G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Petersen, J.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sloper, J.; Sobreira, A.; Soloviev, I.; Soluk, R.; Stancu, S.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Tremblet, L.; Unel, G.; Usai, G.; Vandelli, W.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Wiesmann, M.; Yasu, Y.; Zobernig, G.;
Overview of the High-Level Trigger Electron and Photon Selection for the ATLAS Experiment at the LHC
2006 / IEEEBy: Mello, A.G.; dos Anjos, A.; Armstrong, S.; Baines, J.T.M.; Bee, C.P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J.A.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Comune, G.; Muino, P.C.; Crone, G.; Damazio, D.; De Santo, A.; Gomez, M.D.; Di Mattia, A.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Falciano, S.; Garitaonandia, H.; George, S.; Ghete, V.; Goncalo, R.; Haller, J.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Kirk, J.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lankford, A.J.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; Meessen, C.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Osuna, C.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Pasqualucci, E.; Reale, V.P.; Pinfold, J.L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D.A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J.M.; Sivoklokov, S.; Sobreira, A.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Tarem, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Usaib, G.; Pinto, B.V.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Wengler, T.; Werner, P.; Wheeler, S.J.; Wickens, F.J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
2006 / IEEE / 1-4244-0560-2
By: Biglietti, M.; Carlino, G.; Lagouri, T.; Kanaya, N.; Yamazaki, Y.; Tokushuku, T.; Nagano, K.; Del Prete, T.; Vercesi, V.; Scannicchio, D.A.; Bellomo, M.; Kohno, T.; Ventura, A.; Spagnolo, S.; Siragusa, G.; Primavera, M.; Grancagnolo, S.; Gorini, E.; Cataldi, G.; Tarem, S.; Panikashvili, N.; Tarem, Z.; Krasznahorkay, A.; Usai, G.; Sidoti, A.; Pasqualucci, E.; Nisati, A.; Marzano, F.; Luminari, L.; Luci, C.; Falciano, S.; Conventi, F.; Migliaccio, A.; Di Mattia, D.;
By: Biglietti, M.; Carlino, G.; Lagouri, T.; Kanaya, N.; Yamazaki, Y.; Tokushuku, T.; Nagano, K.; Del Prete, T.; Vercesi, V.; Scannicchio, D.A.; Bellomo, M.; Kohno, T.; Ventura, A.; Spagnolo, S.; Siragusa, G.; Primavera, M.; Grancagnolo, S.; Gorini, E.; Cataldi, G.; Tarem, S.; Panikashvili, N.; Tarem, Z.; Krasznahorkay, A.; Usai, G.; Sidoti, A.; Pasqualucci, E.; Nisati, A.; Marzano, F.; Luminari, L.; Luci, C.; Falciano, S.; Conventi, F.; Migliaccio, A.; Di Mattia, D.;
2006 / IEEE / 1-4244-0560-2
By: Antonelli, S.; Bellagamba, L.; Boscherini, D.; Bruni, A.; Bruni, G.; Corradi, M.; Giusti, P.; Iacobucci, G.; Mazzanti, P.; Ciapetti, A.; Polini G; De Pedis, D.; Di Mattia, A.; Di Girolamo, A.; Gennari, E.; Luci, C.; Nisati, A.; Pasqualucci, E.; Pastore, Fr.; Petrolo, E.; Spila, F.; Vari, R.; Veneziano, S.; Zanello, L.; Aielli, G.; Cardarelli, R.; Camarri, P.; Delle Fratte, P.; Di Ciaccio, A.; Di Simone, A.; Liberti, B.; Martinelli, A.; Salamon, A.; Santonico, R.; Solfaroli, E.; Aloisio, A.; Alviggi, M.G.; Biglietti, M.; Canale, V.; Carlino, G.; Conventi, F.; De Asmundis, R.; Della Pietra, M.; Dellavolpe, D.; Iengo, P.; Izzo, V.; Patricelli, S.; Sekhniaidze, G.; Brambilla, E.; Aprodu, V.; Bartos, D.; Buda, S.; Constantin, S.; Bianco, M.; Chiodini, G.; Coluccia, M.R.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Perrino, R.; Primavera, M.; Siragusa, G.; Ventura, A.; Dogaru, M.; Magureanu, C.; Pectu, M.; Prodan, L.; Rusu, A.; Uroseviteanu, C.;
By: Antonelli, S.; Bellagamba, L.; Boscherini, D.; Bruni, A.; Bruni, G.; Corradi, M.; Giusti, P.; Iacobucci, G.; Mazzanti, P.; Ciapetti, A.; Polini G; De Pedis, D.; Di Mattia, A.; Di Girolamo, A.; Gennari, E.; Luci, C.; Nisati, A.; Pasqualucci, E.; Pastore, Fr.; Petrolo, E.; Spila, F.; Vari, R.; Veneziano, S.; Zanello, L.; Aielli, G.; Cardarelli, R.; Camarri, P.; Delle Fratte, P.; Di Ciaccio, A.; Di Simone, A.; Liberti, B.; Martinelli, A.; Salamon, A.; Santonico, R.; Solfaroli, E.; Aloisio, A.; Alviggi, M.G.; Biglietti, M.; Canale, V.; Carlino, G.; Conventi, F.; De Asmundis, R.; Della Pietra, M.; Dellavolpe, D.; Iengo, P.; Izzo, V.; Patricelli, S.; Sekhniaidze, G.; Brambilla, E.; Aprodu, V.; Bartos, D.; Buda, S.; Constantin, S.; Bianco, M.; Chiodini, G.; Coluccia, M.R.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Perrino, R.; Primavera, M.; Siragusa, G.; Ventura, A.; Dogaru, M.; Magureanu, C.; Pectu, M.; Prodan, L.; Rusu, A.; Uroseviteanu, C.;
2007 / IEEE
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J. T. M.; Bee, C. P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J. A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P. C.; De Santo, A.; Gomez, M. D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A. G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V. P.; Pinfold, J. L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D. A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J. M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B. V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F. J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
By: Armstrong, S.; dos Anjos, A.; Baines, J. T. M.; Bee, C. P.; Biglietti, M.; Bogaerts, J. A.; Boisvert, V.; Bosman, M.; Caron, B.; Casado, P.; Cataldi, G.; Cavalli, D.; Cervetto, M.; Comune, G.; Muino, P. C.; De Santo, A.; Gomez, M. D.; Dosil, M.; Ellis, N.; Emeliyanov, D.; Epp, B.; Etienne, F.; Falciano, S.; Farilla, A.; George, S.; Ghete, V.; Gonzalez, S.; Grothe, M.; Kabana, S.; Khomich, A.; Kilvington, G.; Konstantinidis, N.; Kootz, A.; Lowe, A.; Luminari, L.; Maeno, T.; Masik, J.; di Mattia, A.; Meessen, C.; Mello, A. G.; Merino, G.; Moore, R.; Morettini, P.; Negri, A.; Nikitin, N.; Nisati, A.; Padilla, C.; Panikashvili, N.; Parodi, F.; Reale, V. P.; Pinfold, J. L.; Pinto, P.; Qian, Z.; Resconi, S.; Rosati, S.; Sanchez, C.; Santamarina, C.; Scannicchio, D. A.; Schiavi, C.; Segura, E.; de Seixas, J. M.; Sivoklokov, S.; Soluk, R.; Stefanidis, E.; Sushkov, S.; Sutton, M.; Tapprogge, S.; Thomas, E.; Touchard, F.; Pinto, B. V.; Vercesi, V.; Werner, P.; Wheeler, S.; Wickens, F. J.; Wiedenmann, W.; Wielers, M.; Zobernig, G.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-0866-5
By: Sidoti, A.; Bellomo, M.; Biglietti, M.; Carlino, G.; Cataldi, G.; Conventi, F.; De Cecco, S.; Di Mattia, A.; Dionisi, C.; Falciano, S.; Giagu, S.; Gorini, E.; Grancagnolo, S.; Inada, M.; Kanaya, M.; Kohno, T.; Krasznahorkay, A.; Kiyamura, H.; Kurasige, H.; Kuwabara, T.; Luci, C.; Luminari, L.; Marzano, F.; Migliaccio, A.; Nagano, K.; Nisati, A.; Omachi, C.; Panikashvili, N.; Pasqualucci, E.; Primavera, M.; Rescigno, M.; Riu, I.; Ryan, P.; Scannicchio, D.A.; Siragusa, G.; Spagnolo, S.; Tarem, S.; Tarem, Z.; Tokushuku, K.; Usai, G.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Yamazaki, Y.;
By: Sidoti, A.; Bellomo, M.; Biglietti, M.; Carlino, G.; Cataldi, G.; Conventi, F.; De Cecco, S.; Di Mattia, A.; Dionisi, C.; Falciano, S.; Giagu, S.; Gorini, E.; Grancagnolo, S.; Inada, M.; Kanaya, M.; Kohno, T.; Krasznahorkay, A.; Kiyamura, H.; Kurasige, H.; Kuwabara, T.; Luci, C.; Luminari, L.; Marzano, F.; Migliaccio, A.; Nagano, K.; Nisati, A.; Omachi, C.; Panikashvili, N.; Pasqualucci, E.; Primavera, M.; Rescigno, M.; Riu, I.; Ryan, P.; Scannicchio, D.A.; Siragusa, G.; Spagnolo, S.; Tarem, S.; Tarem, Z.; Tokushuku, K.; Usai, G.; Ventura, A.; Vercesi, V.; Yamazaki, Y.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2714-7
By: Anulli, F.; Ciapetti, G.; De Pedis, D.; Luci, C.; Nisati, A.; Pasqualucci, E.; Pastore, F.; Petrolo, E.; Rosati, S.; Vari, R.; Veneziano, S.; Zanello, L.; Aielli, G.; Camarri, P.; Cardarelli, R.; Di Ciaccio, A.; Liberti, B.; Marchese, F.; Salamon, A.; Santonico, R.; Aloisio, A.; Alviggi, M.G.; Biglietti, M.; Canale, V.; Carlino, G.; Conventi, F.; De Asmundis, R.; Della Pietra, M.; Della Volpe, D.; Iengo, P.; Izzo, V.; Patricelli, S.; Sekhniaidze, G.; Bianco, M.; Chiodini, G.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Perrino, R.; Primavera, M.; Spagnolo, S.; Antonelli, S.; Bellagamba, L.; Boscherini, D.; Bruni, A.; Bruni, G.; Corradi, M.; Giusti, P.; Iacobucci, G.; Polini, A.; Buda, S.; Constantin, S.; Dogaru, M.; Pectu, M.;
By: Anulli, F.; Ciapetti, G.; De Pedis, D.; Luci, C.; Nisati, A.; Pasqualucci, E.; Pastore, F.; Petrolo, E.; Rosati, S.; Vari, R.; Veneziano, S.; Zanello, L.; Aielli, G.; Camarri, P.; Cardarelli, R.; Di Ciaccio, A.; Liberti, B.; Marchese, F.; Salamon, A.; Santonico, R.; Aloisio, A.; Alviggi, M.G.; Biglietti, M.; Canale, V.; Carlino, G.; Conventi, F.; De Asmundis, R.; Della Pietra, M.; Della Volpe, D.; Iengo, P.; Izzo, V.; Patricelli, S.; Sekhniaidze, G.; Bianco, M.; Chiodini, G.; Gorini, E.; Grancagnolo, F.; Perrino, R.; Primavera, M.; Spagnolo, S.; Antonelli, S.; Bellagamba, L.; Boscherini, D.; Bruni, A.; Bruni, G.; Corradi, M.; Giusti, P.; Iacobucci, G.; Polini, A.; Buda, S.; Constantin, S.; Dogaru, M.; Pectu, M.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap