Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Beverina, A.
Results
1999 / IEEE / 0-7803-5174-6
By: Cochet, M.; Assous, M.; Roman, A.; Tabone, C.; Morand, Y.; Berruyer, P.; Demolliens, O.; Renaud, D.; Trouillet, Y.; Beverina, A.; Tardif, F.; Sicurani, E.; Ulmer, L.; Mourier, T.; Morel, T.; Cordeau, M.; Moussavi, M.; Jourdan, F.; Passemard, G.; Gobil, Y.; Lajoinie, E.; Arvet, C.; Louis, D.; Tabouret, E.; Blanc, R.; Feldis, H.;
By: Cochet, M.; Assous, M.; Roman, A.; Tabone, C.; Morand, Y.; Berruyer, P.; Demolliens, O.; Renaud, D.; Trouillet, Y.; Beverina, A.; Tardif, F.; Sicurani, E.; Ulmer, L.; Mourier, T.; Morel, T.; Cordeau, M.; Moussavi, M.; Jourdan, F.; Passemard, G.; Gobil, Y.; Lajoinie, E.; Arvet, C.; Louis, D.; Tabouret, E.; Blanc, R.; Feldis, H.;
2000 / IEEE / 0-7803-6327-2
By: Lee, S.; Maloney, D.; Holmes, D.; Peyne, C.; Lee, W.M.; Lajoinie, E.; Arvet, C.; Beverina, A.; Louis, D.;
By: Lee, S.; Maloney, D.; Holmes, D.; Peyne, C.; Lee, W.M.; Lajoinie, E.; Arvet, C.; Beverina, A.; Louis, D.;
2003 / IEEE / 4-89114-033-X
By: Arnaud, F.; Boeuf, F.; Salvetti, F.; Lenoble, D.; Wacquant, F.; Regnier, C.; Morin, P.; Emonet, N.; Denis, E.; Oberlin, J.C.; Ceccarelli, D.; Vannier, P.; Imbert, G.; Sicard, A.; Perrot, C.; Belmont, O.; Guilmeau, I.; Sassoulas, P.O.; Delmedico, S.; Palla, R.; Leverd, F.; Beverina, A.; DeJonghe, V.; Broekaart, M.; Pain, L.; Todeschini, J.; Charpin, M.; Laplanche, Y.; Neira, D.; Vachellerie, V.; Borot, B.; Devoivre, T.; Bicais, N.; Hinschberger, B.; Pantel, R.; Revil, N.; Parthasarathy, C.; Planes, N.; Brut, H.; Farkas, J.; Uginet, J.; Stolk, P.; Woo, M.;
By: Arnaud, F.; Boeuf, F.; Salvetti, F.; Lenoble, D.; Wacquant, F.; Regnier, C.; Morin, P.; Emonet, N.; Denis, E.; Oberlin, J.C.; Ceccarelli, D.; Vannier, P.; Imbert, G.; Sicard, A.; Perrot, C.; Belmont, O.; Guilmeau, I.; Sassoulas, P.O.; Delmedico, S.; Palla, R.; Leverd, F.; Beverina, A.; DeJonghe, V.; Broekaart, M.; Pain, L.; Todeschini, J.; Charpin, M.; Laplanche, Y.; Neira, D.; Vachellerie, V.; Borot, B.; Devoivre, T.; Bicais, N.; Hinschberger, B.; Pantel, R.; Revil, N.; Parthasarathy, C.; Planes, N.; Brut, H.; Farkas, J.; Uginet, J.; Stolk, P.; Woo, M.;
2003 / IEEE / 0-7803-7999-3
By: Muller, M.; Skotnicki, T.; Boeuf, F.; Pouydebasque, A.; Charbuillet, C.; Carron, V.; Morin, P.; Pantel, R.; Palla, R.; Beverina, A.; Froment, B.;
By: Muller, M.; Skotnicki, T.; Boeuf, F.; Pouydebasque, A.; Charbuillet, C.; Carron, V.; Morin, P.; Pantel, R.; Palla, R.; Beverina, A.; Froment, B.;
2003 / IEEE / 0-7803-7999-3
By: Muller, M.; Brut, H.; Froment, B.; Diedrick, J.; Olson, E.; Van, S.; Rabilloud, D.; Mandrekar, T.; Gravey, V.; Trentesaux, F.; Morin, P.; Tirard, V.; Lis, S.; Bard, K.; Leborgne, O.; Spinelli, P.; DeJonghe, V.; Beverina, A.; Palla, R.; Ceccarelli, D.; Regnier, C.; Wacquant, F.; Boeuf, F.; Halimaoui, A.; Achard, H.; Carron, V.; Pantel, R.;
By: Muller, M.; Brut, H.; Froment, B.; Diedrick, J.; Olson, E.; Van, S.; Rabilloud, D.; Mandrekar, T.; Gravey, V.; Trentesaux, F.; Morin, P.; Tirard, V.; Lis, S.; Bard, K.; Leborgne, O.; Spinelli, P.; DeJonghe, V.; Beverina, A.; Palla, R.; Ceccarelli, D.; Regnier, C.; Wacquant, F.; Boeuf, F.; Halimaoui, A.; Achard, H.; Carron, V.; Pantel, R.;
2003 / IEEE / 0-7803-7999-3
By: Carrere, J.-P.; Guyader, F.; Rosa, J.; Beverina, A.; Petitdidier, S.; Bernard, H.;
By: Carrere, J.-P.; Guyader, F.; Rosa, J.; Beverina, A.; Petitdidier, S.; Bernard, H.;
2003 / IEEE / 4-89114-040-2
By: Pain, L.; Charpin, M.; Arnaud, F.; Stolk, P.; Woo, M.; Henry, D.; Brun, P.; Hinsinger, O.; Josse, E.; De Jonghe, V.; Leverd, F.; Le Friec, Y.; Brosselin, K.; Judong, F.; Broekaart, M.; Beverina, A.; Palla, R.; Bossy, X.; Faure, R.; Tourniol, S.; Leininger, H.; Todeschini, J.; Laplanche, Y.;
By: Pain, L.; Charpin, M.; Arnaud, F.; Stolk, P.; Woo, M.; Henry, D.; Brun, P.; Hinsinger, O.; Josse, E.; De Jonghe, V.; Leverd, F.; Le Friec, Y.; Brosselin, K.; Judong, F.; Broekaart, M.; Beverina, A.; Palla, R.; Bossy, X.; Faure, R.; Tourniol, S.; Leininger, H.; Todeschini, J.; Laplanche, Y.;
2004 / IEEE / 0-7803-8289-7
By: Arnaud, F.; Duriez, B.; Woo, M.; Stolk, P.; Reber, D.; Vishnobulta, L.; Brut, H.; Planes, N.; Difrenza, R.; Rochereau, K.; Denais, M.; Roy, D.; Bicais, N.; Devoivre, T.; Borot, B.; Bianchi, R.A.; Vachellerie, V.; Broekaart, M.; DeJonghe, V.; Beverina, A.; Palla, R.; Guilmeau, I.; Tavel, B.; Pain, L.; Todeschini, J.; Jurdit, M.; Laplanche, Y.; Boeuf, F.; Salvetti, F.; Lenoble, D.; Reynard, J.P.; Wacquant, F.; Morin, P.; Emonet, N.; Barge, D.; Bidaud, M.; Ceccarelli, D.; Vannier, P.; Loquet, Y.; Leninger, H.; Judong, F.; Perrot, C.;
By: Arnaud, F.; Duriez, B.; Woo, M.; Stolk, P.; Reber, D.; Vishnobulta, L.; Brut, H.; Planes, N.; Difrenza, R.; Rochereau, K.; Denais, M.; Roy, D.; Bicais, N.; Devoivre, T.; Borot, B.; Bianchi, R.A.; Vachellerie, V.; Broekaart, M.; DeJonghe, V.; Beverina, A.; Palla, R.; Guilmeau, I.; Tavel, B.; Pain, L.; Todeschini, J.; Jurdit, M.; Laplanche, Y.; Boeuf, F.; Salvetti, F.; Lenoble, D.; Reynard, J.P.; Wacquant, F.; Morin, P.; Emonet, N.; Barge, D.; Bidaud, M.; Ceccarelli, D.; Vannier, P.; Loquet, Y.; Leninger, H.; Judong, F.; Perrot, C.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Delille, D.; Tavel, B.; Wacquez, R.; Beverina, A.; Bustos, J.; Leverd, F.; Cerutti, R.; Cros, A.; Coronel, P.; Harrison, S.; Skotnicki, T.; Autran, J.L.; Munteanu, D.; Maitrejean, S.; Martin, F.; Samson, M.P.; Bienacel, J.; Barge, D.;
By: Delille, D.; Tavel, B.; Wacquez, R.; Beverina, A.; Bustos, J.; Leverd, F.; Cerutti, R.; Cros, A.; Coronel, P.; Harrison, S.; Skotnicki, T.; Autran, J.L.; Munteanu, D.; Maitrejean, S.; Martin, F.; Samson, M.P.; Bienacel, J.; Barge, D.;
2002 / IEEE / 88-900847-8-2
By: Beverina, A.; Halimaoui, A.; Bidaud, M.; Carrere, J.P.; Grouillet, A.; Guyader, F.;
By: Beverina, A.; Halimaoui, A.; Bidaud, M.; Carrere, J.P.; Grouillet, A.; Guyader, F.;