Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Bauer, T.
Results
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Borsutzky, A.; Bauer, T.; Bader, U.; Meyn, J.-P.; Peltz, M.; Rytz, D.; Wallenstein, R.;
By: Borsutzky, A.; Bauer, T.; Bader, U.; Meyn, J.-P.; Peltz, M.; Rytz, D.; Wallenstein, R.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Wallenstein, R.; Borsutzky, A.; Meyn, J.-P.; Laue, C.; Mattern, T.; Knappe, R.; Bartschke, J.; Bauer, T.; Bader, U.;
By: Wallenstein, R.; Borsutzky, A.; Meyn, J.-P.; Laue, C.; Mattern, T.; Knappe, R.; Bartschke, J.; Bauer, T.; Bader, U.;
2001 / IEEE / 1-55752-662-1
By: Borsutzky, A.; Wallenstein, R.; Bauer, T.; Bitz, G.; L'huillier, J.; Salva, T.; Peltz, M.; Wesemann, V.; Rytz, D.; Vernay, S.;
By: Borsutzky, A.; Wallenstein, R.; Bauer, T.; Bitz, G.; L'huillier, J.; Salva, T.; Peltz, M.; Wesemann, V.; Rytz, D.; Vernay, S.;
2002 / IEEE / 0-7803-7317-0
By: Stritzker, B.; Kubovic, M.; Aleksov, A.; Kohn, E.; Kaeb, N.; Schreck, M.; Bauer, T.; Daumiller, I.; Spitzberg, U.;
By: Stritzker, B.; Kubovic, M.; Aleksov, A.; Kohn, E.; Kaeb, N.; Schreck, M.; Bauer, T.; Daumiller, I.; Spitzberg, U.;
2002 / IEEE / 1-55752-708-3
By: Hummel, A.B.; Kohler, K.; Kosevich, Yu.A.; Roskos, H.G.; Kolb, J.S.; Bauer, T.;
By: Hummel, A.B.; Kohler, K.; Kosevich, Yu.A.; Roskos, H.G.; Kolb, J.S.; Bauer, T.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Kolb, J.S.; Bauer, T.; Hummel, A.B.; Kohler, K.; Pernisz, U.C.; Roskos, H.G.; Mohler, E.;
By: Kolb, J.S.; Bauer, T.; Hummel, A.B.; Kohler, K.; Pernisz, U.C.; Roskos, H.G.; Mohler, E.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Roskos, H.G.; Siebert, K.J.; Bauer, T.; Loffler, T.; Czasch, S.; Fitzgerald, A.;
By: Roskos, H.G.; Siebert, K.J.; Bauer, T.; Loffler, T.; Czasch, S.; Fitzgerald, A.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Loffler, T.; Leonhardt, R.; Quast, H.; Siebert, K.J.; Thomson, M.; Czasch, S.; Roskos, H.G.; Bauer, T.;
By: Loffler, T.; Leonhardt, R.; Quast, H.; Siebert, K.J.; Thomson, M.; Czasch, S.; Roskos, H.G.; Bauer, T.;
2005 / IEEE / 0-7803-8963-8
By: Bauer, T.; Rack, C.; Shigetoshi Yokoyama; Tatsuya Nakamura; Weckerle, C.; Tadaaki Arimura; Taro Nakao; Arbanowski, S.; Steglich, S.;
By: Bauer, T.; Rack, C.; Shigetoshi Yokoyama; Tatsuya Nakamura; Weckerle, C.; Tadaaki Arimura; Taro Nakao; Arbanowski, S.; Steglich, S.;
2005 / IEEE / 1-55752-795-4
By: Rahm, M.; Wallenstein, R.; Beigang, R.; Bauer, T.; Bartschke, J.; Anstett, G.;
By: Rahm, M.; Wallenstein, R.; Beigang, R.; Bauer, T.; Bartschke, J.; Anstett, G.;
2007 / IEEE / 0-7695-2968-2
By: Beletski, T.; Bauer, T.; Poore, J.; Landmann, D.; Eschbach, R.; Bohr, F.;
By: Beletski, T.; Bauer, T.; Poore, J.; Landmann, D.; Eschbach, R.; Bohr, F.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1630-1
By: Yuanjie Zheng; Kambhamettu, C.; Dinggang Shen; Jingyi Yu; Bauer, T.; Steiner, K.;
By: Yuanjie Zheng; Kambhamettu, C.; Dinggang Shen; Jingyi Yu; Bauer, T.; Steiner, K.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Bauer, T.; Nittmann, M.; Raab, M.; Anstett, G.; Bartschke, J.; Lowis of Menar, P. v.; L'huillier, J. A.;
By: Bauer, T.; Nittmann, M.; Raab, M.; Anstett, G.; Bartschke, J.; Lowis of Menar, P. v.; L'huillier, J. A.;
2007 / IEEE / 978-1-55752-834-6
By: Bauer, T.; Nittmann, M.; Raab, M.; Anstett, G.; Bartschke, J.; Lowis of Menar, P.v.; L'huillier, J.A.;
By: Bauer, T.; Nittmann, M.; Raab, M.; Anstett, G.; Bartschke, J.; Lowis of Menar, P.v.; L'huillier, J.A.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-2242-5
By: Kambhamettu, C.; Yuanjie Zheng; Steiner, K.; Bauer, T.; Jingyi Yu;
By: Kambhamettu, C.; Yuanjie Zheng; Steiner, K.; Bauer, T.; Jingyi Yu;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1954-8
By: Platzbecker, M.R.; Resnick, P.J.; Okandan, M.; Nordquist, C.D.; Nielson, G.N.; McCormick, F.B.; Hudgens, J.J.; Olsson, R.H.; Hetherington, D.L.; Galambos, P.C.; Garcia, E.J.; Dondero, R.; Dodd, P.E.; Blain, M.G.; Bauer, T.; Herrera, G.V.; Watts, M.R.; Sullivan, C.T.; Shaw, M.J.; Shul, R.J.;
By: Platzbecker, M.R.; Resnick, P.J.; Okandan, M.; Nordquist, C.D.; Nielson, G.N.; McCormick, F.B.; Hudgens, J.J.; Olsson, R.H.; Hetherington, D.L.; Galambos, P.C.; Garcia, E.J.; Dondero, R.; Dodd, P.E.; Blain, M.G.; Bauer, T.; Herrera, G.V.; Watts, M.R.; Sullivan, C.T.; Shaw, M.J.; Shul, R.J.;
2009 / IEEE / 978-1-55752-869-8
By: L'huillier, J.A.; Bartschke, J.; Bauer, T.; Nittmann, M.; Lenhardt, F.;
By: L'huillier, J.A.; Bartschke, J.; Bauer, T.; Nittmann, M.; Lenhardt, F.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-3973-7
By: Rebenklau, L.; Uhlemann, J.; Schirmer, M.; Wolter, K.J.; Bauer, T.;
By: Rebenklau, L.; Uhlemann, J.; Schirmer, M.; Wolter, K.J.; Bauer, T.;
2010 / IEEE / 978-1-55752-890-2
By: Bauer, T.; Nittmann, M.; Ruebel, F.; Koch, P.; L'huillier, J.A.; Bartschke, J.;
By: Bauer, T.; Nittmann, M.; Ruebel, F.; Koch, P.; L'huillier, J.A.; Bartschke, J.;