Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!

Author: Asakawa, K.
Results
2011 / IEEE / 978-2-908849-25-7
By: Saito, T.; Kasaya, T.; Asakawa, K.; Ochi, H.; Okamoto, S.; Hyakudome, T.; Ishibashi, S.; Yoshida, H.;
By: Saito, T.; Kasaya, T.; Asakawa, K.; Ochi, H.; Okamoto, S.; Hyakudome, T.; Ishibashi, S.; Yoshida, H.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-1164-9
By: Yamashita, S.; Nakamura, M.; Suhara, M.; Okazaki, T.; Asakawa, K.; Takahagi, S.; Itagaki, Y.; Tegude, F.-J.; Prost, W.; Poloczek, A.; Keller, G.; Tchegho, A.; Saito, M.;
By: Yamashita, S.; Nakamura, M.; Suhara, M.; Okazaki, T.; Asakawa, K.; Takahagi, S.; Itagaki, Y.; Tegude, F.-J.; Prost, W.; Poloczek, A.; Keller, G.; Tchegho, A.; Saito, M.;
1992 / IEEE / 0-7803-0559-0
By: Kaji, T.; Watanabe, N.; Okada, H.; Narita, M.; Kawamura, A.; Ishida, K.; Taira, T.; Asakawa, K.;
By: Kaji, T.; Watanabe, N.; Okada, H.; Narita, M.; Kawamura, A.; Ishida, K.; Taira, T.; Asakawa, K.;
1994 / IEEE / 0-7803-1808-0
By: Kojima, J.; Kato, N.; Ito, Y.; Shirasaki, Y.; Asakawa, K.; Takagi, S.;
By: Kojima, J.; Kato, N.; Ito, Y.; Shirasaki, Y.; Asakawa, K.; Takagi, S.;
1996 / IEEE / 0-7803-3185-0
By: Shirasaki, Y.; Takagi, S.; Ito, Y.; Kojima, J.; Asakawa, K.; Kato, N.;
By: Shirasaki, Y.; Takagi, S.; Ito, Y.; Kojima, J.; Asakawa, K.; Kato, N.;
1996 / IEEE
By: Shikawa, S.; Maemura, Y.; Kuno, T.; Sugiura, H.; Yoshikawa, S.; Okuno, Y.; Asakawa, K.; Nagayama, T.; Inamura, M.; Someya, J.; Watabu, K.; Tamano, K.; Ishida, K.; Ishitani, H.;
By: Shikawa, S.; Maemura, Y.; Kuno, T.; Sugiura, H.; Yoshikawa, S.; Okuno, Y.; Asakawa, K.; Nagayama, T.; Inamura, M.; Someya, J.; Watabu, K.; Tamano, K.; Ishida, K.; Ishitani, H.;
1997 / IEEE / 0-7803-4108-2
By: Asakawa, K.; Kato, Y.; Kojima, J.; Kato, N.; Takagi, S.; Matumoto, S.;
By: Asakawa, K.; Kato, Y.; Kojima, J.; Kato, N.; Takagi, S.; Matumoto, S.;
1997 / IEEE / 0-7803-3734-4
By: Kuno, T.; Sugiura, H.; Matoba, N.; Kakuta, Y.; Asakawa, K.; Oka, S.;
By: Kuno, T.; Sugiura, H.; Matoba, N.; Kakuta, Y.; Asakawa, K.; Oka, S.;
1999 / IEEE / 0-7803-5661-6
By: Katayama, Y.; Yamada, S.; Abe, S.; Asakawa, K.; Inoue, K.; Carlsson, N.; Ikeda, N.; Sasada, M.; Kawai, N.;
By: Katayama, Y.; Yamada, S.; Abe, S.; Asakawa, K.; Inoue, K.; Carlsson, N.; Ikeda, N.; Sasada, M.; Kawai, N.;
2000 / IEEE / 0-7803-6320-5
By: Geogiev, N.; Mozume, T.; Akiyama, T.; Neogi, A.; Yoshida, H.; Wada, O.; Asakawa, K.;
By: Geogiev, N.; Mozume, T.; Akiyama, T.; Neogi, A.; Yoshida, H.; Wada, O.; Asakawa, K.;
2000 / IEEE / 1-55752-608-7
By: Asakawa, K.; Abe, S.; Carlsson, N.; Ikeda, N.; Yamada, S.; Inoue, K.; Kawai, N.; Sasada, M.; Katayama, Y.;
By: Asakawa, K.; Abe, S.; Carlsson, N.; Ikeda, N.; Yamada, S.; Inoue, K.; Kawai, N.; Sasada, M.; Katayama, Y.;
2000 / IEEE / 1-55752-634-6
By: Ikeda, N.; Sasada, M.; Inoue, K.; Kawai, N.; Abe, S.; Katayama, Y.; Yamada, S.; Asakawa, K.; Carlsson, N.;
By: Ikeda, N.; Sasada, M.; Inoue, K.; Kawai, N.; Abe, S.; Katayama, Y.; Yamada, S.; Asakawa, K.; Carlsson, N.;
2002 / IEEE / 1-55752-706-7
By: Sugimoto, Y.; Xinbing Liu; Ishizuka, M.; Ming Li; Asakawa, K.; Ikeda, N.;
By: Sugimoto, Y.; Xinbing Liu; Ishizuka, M.; Ming Li; Asakawa, K.; Ikeda, N.;
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Simoyama, T.; Gopal, A.V.; Yoshida, H.; Asakawa, K.; Ishikawa, H.; Mozume, T.;
By: Simoyama, T.; Gopal, A.V.; Yoshida, H.; Asakawa, K.; Ishikawa, H.; Mozume, T.;
2002 / IEEE / 0-7803-7500-9
By: Ishikawa, H.; Sugimoto, Y.; Tanaka, Y.; Ikeda, N.; Asakawa, K.; Nakamura, Y.; Kanamoto, K.; Nakamura, H.; Ohkouchi, S.;
By: Ishikawa, H.; Sugimoto, Y.; Tanaka, Y.; Ikeda, N.; Asakawa, K.; Nakamura, Y.; Kanamoto, K.; Nakamura, H.; Ohkouchi, S.;
2002 / IEEE / 4-89114-031-3
By: Hiraoka, T.; Asakawa, K.; Naito, K.; Kamata, Y.; Sakurai, M.; Hieda, H.;
By: Hiraoka, T.; Asakawa, K.; Naito, K.; Kamata, Y.; Sakurai, M.; Hieda, H.;
2002 / IEEE / 0-7803-7534-3
By: Kawaguchi, K.; Tamaya, M.; Horiuchi, Y.; Muramatsu, J.; Asakawa, K.; Yoshida, M.; Nishida, T.; Shirasaki, Y.;
By: Kawaguchi, K.; Tamaya, M.; Horiuchi, Y.; Muramatsu, J.; Asakawa, K.; Yoshida, M.; Nishida, T.; Shirasaki, Y.;
2003 / IEEE / 0-7803-7775-3
By: Asakawa, K.; Iwase, R.; Kaiho, Y.; Hirata, K.; Mikada, H.; Kawaguchi, K.; Mitsuzawa, K.; Goto, T.;
By: Asakawa, K.; Iwase, R.; Kaiho, Y.; Hirata, K.; Mikada, H.; Kawaguchi, K.; Mitsuzawa, K.; Goto, T.;
2003 / IEEE / 0-7803-7775-3
By: Kawaguchi, K.; Nishida, T.; Yoshida, M.; Shirasaki, Y.; Asakawa, K.; Mikada, H.;
By: Kawaguchi, K.; Nishida, T.; Yoshida, M.; Shirasaki, Y.; Asakawa, K.; Mikada, H.;
2003 / IEEE / 0-7803-7888-1
By: Kanamoto, K.; Ishikawa, H.; Asakawa, K.; Sugimoto, Y.; Nakamura, Y.; Nakamura, H.;
By: Kanamoto, K.; Ishikawa, H.; Asakawa, K.; Sugimoto, Y.; Nakamura, Y.; Nakamura, H.;
2003 / IEEE / 0-7803-7766-4
By: Ishida, K.; Maruyama, T.; Miyashita, K.; Inoue, K.; Nakamura, H.; Watanabe, Y.; Yang, T.; Ikeda, N.; Tanaka, Y.; Sugimoto, Y.; Asakawa, K.;
By: Ishida, K.; Maruyama, T.; Miyashita, K.; Inoue, K.; Nakamura, H.; Watanabe, Y.; Yang, T.; Ikeda, N.; Tanaka, Y.; Sugimoto, Y.; Asakawa, K.;
2003 / IEEE / 1-55752-748-2
By: Asakawa, K.; Nakamura, Y.; Nakamura, R.; Kanamoto, K.; Ishikawa, H.;
By: Asakawa, K.; Nakamura, Y.; Nakamura, R.; Kanamoto, K.; Ishikawa, H.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Ikeda, N.; Sugimoto, Y.; Nakamura, Y.; Kanamoto, K.; Tanaka, Y.; Asakawa, K.; Nakamura, H.; Ishikawa, H.; Ohkouchi, S.;
By: Ikeda, N.; Sugimoto, Y.; Nakamura, Y.; Kanamoto, K.; Tanaka, Y.; Asakawa, K.; Nakamura, H.; Ishikawa, H.; Ohkouchi, S.;
2004 / IEEE / 1-55752-777-6
By: Inoue, K.; Asakawa, K.; Nakamura, H.; Ikeda, N.; Sugimoto, Y.; Tanaka, Y.;
By: Inoue, K.; Asakawa, K.; Nakamura, H.; Ikeda, N.; Sugimoto, Y.; Tanaka, Y.;
2004 / IEEE / 0-7803-8627-2
By: Sasaki, H.; Nakamura, H.; Nakamura, Y.; Tanaka, Y.; Ohkouchi, S.; Ishida, K.; Inoue, K.; Sugimoto, Y.; Ikeda, N.; Asakawa, K.;
By: Sasaki, H.; Nakamura, H.; Nakamura, Y.; Tanaka, Y.; Ohkouchi, S.; Ishida, K.; Inoue, K.; Sugimoto, Y.; Ikeda, N.; Asakawa, K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8748-1
By: Yoshida, H.; Asakawa, K.; Shirasaki, Y.; Mitsuzawa, K.; Kawaguchi, K.; Mikada, H.; Ochi, H.;
By: Yoshida, H.; Asakawa, K.; Shirasaki, Y.; Mitsuzawa, K.; Kawaguchi, K.; Mikada, H.; Ochi, H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8669-8
By: Asakawa, K.; Ishikawa, Y.; Kojima, J.; Honuchi, Y.; Mikada, H.; Shirasaki, Y.; Wakabayashi, H.; Kawaguchi, K.;
By: Asakawa, K.; Ishikawa, Y.; Kojima, J.; Honuchi, Y.; Mikada, H.; Shirasaki, Y.; Wakabayashi, H.; Kawaguchi, K.;
2004 / IEEE / 0-7803-8669-8
By: Takada, T.; Muramatsu, J.; Kawaguchi, K.; Kojima, J.; Asakawa, K.; Mikada, H.;
By: Takada, T.; Muramatsu, J.; Kawaguchi, K.; Kojima, J.; Asakawa, K.; Mikada, H.;
2004 / IEEE / 0-7803-8669-8
By: Mikada, H.; Kawaguchi, K.; Asakawa, K.; Watanabe, Y.; Tokura, T.; Shimizu, K.; Nakagawa, J.; Fujieda, T.;
By: Mikada, H.; Kawaguchi, K.; Asakawa, K.; Watanabe, Y.; Tokura, T.; Shimizu, K.; Nakagawa, J.; Fujieda, T.;
2004 / IEEE / 0-7803-8595-0
By: Ikeda, N.; Asakawa, K.; Inoue, K.; Ohkouchi, S.; Nakamura, Y.; Tanaka, Y.; Sugimoto, Y.;
By: Ikeda, N.; Asakawa, K.; Inoue, K.; Ohkouchi, S.; Nakamura, Y.; Tanaka, Y.; Sugimoto, Y.;
2005 / IEEE
By: Ohkouchi, S.; Kanamoto, K.; Nakamura, H.; Ikeda, N.; Watanabe, Y.; Sugimoto, Y.; Tanaka, Y.; Asakawa, K.; Inoue, K.;
By: Ohkouchi, S.; Kanamoto, K.; Nakamura, H.; Ikeda, N.; Watanabe, Y.; Sugimoto, Y.; Tanaka, Y.; Asakawa, K.; Inoue, K.;
Guided modes of a width-reduced photonic-crystal slab line-defect waveguide with asymmetric cladding
2005 / IEEEBy: Tanaka, Y.; Inoue, K.; Asakawa, K.; Watanabe, Y.; Nakamura, H.; Ikeda, N.; Sugimoto, Y.;
1980 / IEEE
By: Asakawa, K.; Urabe, S.; Nishihara, T.; Nishikawa, K.; Esho, S.; Gokan, H.; Itoh, M.;
By: Asakawa, K.; Urabe, S.; Nishihara, T.; Nishikawa, K.; Esho, S.; Gokan, H.; Itoh, M.;
2005 / IEEE
By: Sugimoto, Y.; Asakawa, K.; Ishida, K.; Sasaki, H.; Nakamura, H.; Inoue, K.; Nakamura, Y.; Tanaka, Y.; Ohkouchi, S.; Ikeda, N.;
By: Sugimoto, Y.; Asakawa, K.; Ishida, K.; Sasaki, H.; Nakamura, H.; Inoue, K.; Nakamura, Y.; Tanaka, Y.; Ohkouchi, S.; Ikeda, N.;
2005 / IEEE / 0-7803-8974-3
By: van Hulst, N.F.; Korterik, J.P.; Karle, T.J.; Gersen, H.; Engelen, R.J.P.; Sugimoto, Y.; Asakawa, K.; Kuipers, L.; Krauss, T.F.; Ikeda, N.;
By: van Hulst, N.F.; Korterik, J.P.; Karle, T.J.; Gersen, H.; Engelen, R.J.P.; Sugimoto, Y.; Asakawa, K.; Kuipers, L.; Krauss, T.F.; Ikeda, N.;
2002 / IEEE / 87-90974-63-8
By: Tao Yang; Sheng Lan; Ishikawa, H.; Asakawa, K.; Kanamoto, K.; Ikeda, N.; Sugimoto, Y.; Nishikawa, S.;
By: Tao Yang; Sheng Lan; Ishikawa, H.; Asakawa, K.; Kanamoto, K.; Ikeda, N.; Sugimoto, Y.; Nishikawa, S.;
2002 / IEEE / 87-90974-63-8
By: Nakamura, Y.; Ohkouchi, S.; Yang, T.; Ikeda, N.; Tanaka, Y.; Lan, S.; Watanabe, Y.; Sugimoto, Y.; Nakamura, H.; Asakawa, K.; Inoue, K.; Ishikawa, H.; Kanamoto, K.; Yamamoto, N.;
By: Nakamura, Y.; Ohkouchi, S.; Yang, T.; Ikeda, N.; Tanaka, Y.; Lan, S.; Watanabe, Y.; Sugimoto, Y.; Nakamura, H.; Asakawa, K.; Inoue, K.; Ishikawa, H.; Kanamoto, K.; Yamamoto, N.;
2005 / IEEE / 0-933957-34-3
By: Tokura, T.; Fujieda, T.; Shimizu, K.; Asakawa, K.; Kawaguchi, K.; Mikada, H.;
By: Tokura, T.; Fujieda, T.; Shimizu, K.; Asakawa, K.; Kawaguchi, K.; Mikada, H.;
2006 / IEEE / 1-4244-0235-2
By: Ikeda, N.; Korterik, J.P.; Watanabe, Y.; Sugimoto, Y.; van Hulst, N.F.; Engelen, R.J.P.; Kuipers, L.; Asakawa, K.;
By: Ikeda, N.; Korterik, J.P.; Watanabe, Y.; Sugimoto, Y.; van Hulst, N.F.; Engelen, R.J.P.; Kuipers, L.; Asakawa, K.;
2006 / IEEE / 1-4244-0235-2
By: Ozaki, N.; Asakawa, K.; Watanabe, Y.; Sugimoto, Y.; Mizutani, A.; Kristensen, M.; Borel, P.I.; Sigmund, O.; Ikeda, N.;
By: Ozaki, N.; Asakawa, K.; Watanabe, Y.; Sugimoto, Y.; Mizutani, A.; Kristensen, M.; Borel, P.I.; Sigmund, O.; Ikeda, N.;