Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Anderson, B.
Results
1991 / IEEE
By: Thode, L.; Sidler, J.D., III; Platt, R.; Doss, K.; Haworth, M.; Cremer, D.; Christofferson, J.; Anderson, B.;
By: Thode, L.; Sidler, J.D., III; Platt, R.; Doss, K.; Haworth, M.; Cremer, D.; Christofferson, J.; Anderson, B.;
1994 / IEEE / 0-7803-2006-9
By: Lindemuth, I.R.; Anderson, B.; Volkov, G.I.; Pavlovskii, E.S.; Pak, S.V.; Morozov, I.V.; Mokhov, V.N.; Korchagin, V.P.; Gararrin, S.F.; Dolin, V.N.; Chernyshev; Thurston, R.; Stradling, G.; Canada, J.; Chrien, R.; Ekdahl, C.; Findley, C.; Goforth, J.; Kirkpatrick, R.; Oona, H.; Reinovsky, R.; Rodriguez, P.; Shechey, P.; Shlachter, J.; Smith, R.;
By: Lindemuth, I.R.; Anderson, B.; Volkov, G.I.; Pavlovskii, E.S.; Pak, S.V.; Morozov, I.V.; Mokhov, V.N.; Korchagin, V.P.; Gararrin, S.F.; Dolin, V.N.; Chernyshev; Thurston, R.; Stradling, G.; Canada, J.; Chrien, R.; Ekdahl, C.; Findley, C.; Goforth, J.; Kirkpatrick, R.; Oona, H.; Reinovsky, R.; Rodriguez, P.; Shechey, P.; Shlachter, J.; Smith, R.;
1995 / IEEE / 0-7803-2791-8
By: Anderson, B.; Anderson, W.; Wysocki, F.J.; Idzorek, G.; Oona, H.; Garcia, O.; Goforth, J.; Shlachter, J.S.; Peterson, D.; Bowers, R.; Benage, J.F., Jr.;
By: Anderson, B.; Anderson, W.; Wysocki, F.J.; Idzorek, G.; Oona, H.; Garcia, O.; Goforth, J.; Shlachter, J.S.; Peterson, D.; Bowers, R.; Benage, J.F., Jr.;
1995 / IEEE / 0-7803-2791-8
By: Lopez, E.; Findley, C.; Yapuncich, M.L.; Goforth, J.H.; Peterson, D.L.; Benage, J.; Shlachter, J.; Anderson, B.; Oona, H.; Cochrane, J.C.; Idzorek, G.;
By: Lopez, E.; Findley, C.; Yapuncich, M.L.; Goforth, J.H.; Peterson, D.L.; Benage, J.; Shlachter, J.; Anderson, B.; Oona, H.; Cochrane, J.C.; Idzorek, G.;
1993 / IEEE
By: Behnke, J.; Langan, J.; Kobessi, H.; Berman, M.; Sui Yuan Lynn; Anderson, B.; Morgan, R.; Huling, B.;
By: Behnke, J.; Langan, J.; Kobessi, H.; Berman, M.; Sui Yuan Lynn; Anderson, B.; Morgan, R.; Huling, B.;
1991 / IEEE / 0-7803-0177-3
By: Cochrane, J.C.; Anderson, B.; Turchi, P.; Lee, P.H.Y.; Sandoval, G.; Peterson, D.; Parker, J.V.; Oona, H.; Kruse, H.; Greene, A.; Findley, C.; Bowers, R.; Bartsch, R.R.;
By: Cochrane, J.C.; Anderson, B.; Turchi, P.; Lee, P.H.Y.; Sandoval, G.; Peterson, D.; Parker, J.V.; Oona, H.; Kruse, H.; Greene, A.; Findley, C.; Bowers, R.; Bartsch, R.R.;
2001 / IEEE / 0-7803-7141-0
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Anderson, B.;
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Anderson, B.;
2001 / IEEE / 0-7803-7120-8
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Corrow, R.; Echave, J.; Froggett, B.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Alvey, K.;
By: Turchi, P.J.; Sommars, W.; Anderson, B.; Anderson, H.D.; Anderson, W.; Atchison, W.L.; Bartos, J.; Bowers, R.L.; Corrow, R.; Echave, J.; Froggett, B.; Guzik, J.; Kanzleiter, R.; Lebeda, C.; Olson, R.T.; Oro, D.; Peterson, K.; Pritchett, R.; Randolph, R.B.; Reinovsky, R.E.; Roberts, J.; Rodriguez, G.; Sandoval, G.; Salazar, M.; Stokes, J.; Studebaker, J.; Tabaka, L.; Taylor, A.J.; Cavazos, T.; Coffey, S.; Degnan, J.H.; Gale, D.; Kiuttu, G.; Peterkin, R.E.; Alvey, K.;
2002 / IEEE
By: Adamson, P.; Alexandrov, K.; Alexeev, G.; Alexopoulos, T.; Allison, W.W.M.; Alner, G.J.; Anderson, B.; Anderson, D.F.; Anderson, K.; Andreopoulos, C.; Arroyo, C.; Attree, D.; Avignone, E.; Ayres, D.S.; Baller, B.; Barsh, B.; Barker, M.; Barnes, P.D., Jr.; Barrett, W.L.; Bernstien, R.H.; Bilenky, S.; Bock, G.J.; Boehnlein, D.J.; Bogert, D.; Border, P.M.; Bower, C.; Buckley-Geer, E.; Byon-Wagner, A.; Chase, T.R.; Chernichenko, S.; Childress, S.; Choudhary, B.C.; Cobb, J.H.; Cohee, A.; Cossairt, J.D.; Courant, H.; Dawson, J.W.; DeMuth, D.; Dervan, P.J.; DeSanto, A.; Diaczenko, N.; Diwan, M.V.; Drake, G.; Drew, M.; Ducar, R.; Durkin, T.; Edgecock, R.; Eichblatt, S.; Erwin, A.; Falk Harris, E.; Feldman, G.J.; Felt, N.; Fields, T.H.; Gallagher, H.R.; Gebhard, M.; Gilitsky, Yu.; Giokaris, N.; Goodman, M.C.; Gornushkin, Yu.; Grossman, N.; Grudzinski, J.J.; Guarino, V.J.; Gudkov, V.; Guo, J.; Gutnikov, Yu.; Halsall, R.; Hanson, J.; Harris, D.; Harris, P.G.; Hartouni, E.; Hatcher, R.; Hayden, S.; Heinz, R.; Heller, K.; Hill, N.; Hu, Q.H.; Hu, T.; Hylen, J.; Ignatenko, M.; Irwin, G.; James, C.; Joffe-Minor, T.; Kafka, T.; Kasahara, S.M.S.; Katsavounidis, E.; Kilmer, J.; Kim, H.Y.; Kochetkov, V.; Koizumi, G.; Kopp, S.; Kordosky, M.; Krakauer, D.; Krumstein, Z.; Kulik, A.; Lai, Y.F.; Lang, K.; Laughton, C.; LeBeau, R.; Lebedev, A.; Lee, R.; Litchfield, P.J.; Liu, J.; Longley, N.P.; Lucas, P.; Madani, S.; Makeev, V.; Mann, W.A.; Marchionni, A.; Marshak, M.L.; McDonald, J.; Meier, J.R.; Melnikov, E.; Merzon, G.I.; Messier, M.D.; Michael, D.G.; Milburn, R.H.; Miller, L.; Miller, W.H.; Mishra, S.R.; Miyagawa, P.S.; Mofin, J.; Morse, R.; Mualem, L.; Mufson, S.; Murtagh, M.; Musser, J.; Napier, A.; Naples, D.; Nelson, C.; Nelson, J.K.; Newman, H.; Nicholls, T.C.; Nozdrin, A.; Oliver, J.; Oliver, W.; Olshevski, A.; Onuchin, V.; Paolone, V.; Para, A.; Patzak, T.; Pearce, G.F.; Pearson, N.; Peck, C.W.; Perry, C.; Peterson, E.A.; Petyt, D.A.; Pla-Dalmau, A.; Plunkett, R.K.; Price, L.E.; Pushka, D.R.; Rameika, R.A.; Read, A.L.; Rebel, B.; Rosenfeld, C.; Ruddick, K.; Ryabov, V.A.; Saakyan, R.; Sadovski, A.; Sanchez, M.; Saoulidou, N.; Schneps, J.; Schoessow, P.V.; Semenov, V.; Shein, I.; Sheng, B.W.; Sisakian, A.; Smart, W.; Smirnitsky, V.; Smith, C.; Smith, P.N.; Smotriaev, V.; Soldatov, A.;
By: Adamson, P.; Alexandrov, K.; Alexeev, G.; Alexopoulos, T.; Allison, W.W.M.; Alner, G.J.; Anderson, B.; Anderson, D.F.; Anderson, K.; Andreopoulos, C.; Arroyo, C.; Attree, D.; Avignone, E.; Ayres, D.S.; Baller, B.; Barsh, B.; Barker, M.; Barnes, P.D., Jr.; Barrett, W.L.; Bernstien, R.H.; Bilenky, S.; Bock, G.J.; Boehnlein, D.J.; Bogert, D.; Border, P.M.; Bower, C.; Buckley-Geer, E.; Byon-Wagner, A.; Chase, T.R.; Chernichenko, S.; Childress, S.; Choudhary, B.C.; Cobb, J.H.; Cohee, A.; Cossairt, J.D.; Courant, H.; Dawson, J.W.; DeMuth, D.; Dervan, P.J.; DeSanto, A.; Diaczenko, N.; Diwan, M.V.; Drake, G.; Drew, M.; Ducar, R.; Durkin, T.; Edgecock, R.; Eichblatt, S.; Erwin, A.; Falk Harris, E.; Feldman, G.J.; Felt, N.; Fields, T.H.; Gallagher, H.R.; Gebhard, M.; Gilitsky, Yu.; Giokaris, N.; Goodman, M.C.; Gornushkin, Yu.; Grossman, N.; Grudzinski, J.J.; Guarino, V.J.; Gudkov, V.; Guo, J.; Gutnikov, Yu.; Halsall, R.; Hanson, J.; Harris, D.; Harris, P.G.; Hartouni, E.; Hatcher, R.; Hayden, S.; Heinz, R.; Heller, K.; Hill, N.; Hu, Q.H.; Hu, T.; Hylen, J.; Ignatenko, M.; Irwin, G.; James, C.; Joffe-Minor, T.; Kafka, T.; Kasahara, S.M.S.; Katsavounidis, E.; Kilmer, J.; Kim, H.Y.; Kochetkov, V.; Koizumi, G.; Kopp, S.; Kordosky, M.; Krakauer, D.; Krumstein, Z.; Kulik, A.; Lai, Y.F.; Lang, K.; Laughton, C.; LeBeau, R.; Lebedev, A.; Lee, R.; Litchfield, P.J.; Liu, J.; Longley, N.P.; Lucas, P.; Madani, S.; Makeev, V.; Mann, W.A.; Marchionni, A.; Marshak, M.L.; McDonald, J.; Meier, J.R.; Melnikov, E.; Merzon, G.I.; Messier, M.D.; Michael, D.G.; Milburn, R.H.; Miller, L.; Miller, W.H.; Mishra, S.R.; Miyagawa, P.S.; Mofin, J.; Morse, R.; Mualem, L.; Mufson, S.; Murtagh, M.; Musser, J.; Napier, A.; Naples, D.; Nelson, C.; Nelson, J.K.; Newman, H.; Nicholls, T.C.; Nozdrin, A.; Oliver, J.; Oliver, W.; Olshevski, A.; Onuchin, V.; Paolone, V.; Para, A.; Patzak, T.; Pearce, G.F.; Pearson, N.; Peck, C.W.; Perry, C.; Peterson, E.A.; Petyt, D.A.; Pla-Dalmau, A.; Plunkett, R.K.; Price, L.E.; Pushka, D.R.; Rameika, R.A.; Read, A.L.; Rebel, B.; Rosenfeld, C.; Ruddick, K.; Ryabov, V.A.; Saakyan, R.; Sadovski, A.; Sanchez, M.; Saoulidou, N.; Schneps, J.; Schoessow, P.V.; Semenov, V.; Shein, I.; Sheng, B.W.; Sisakian, A.; Smart, W.; Smirnitsky, V.; Smith, C.; Smith, P.N.; Smotriaev, V.; Soldatov, A.;
1985 / IEEE
By: Paul, A.; Scharlemann, E.; Orzechowski, T.; Wurtele, J.; Sessler, A.; Anderson, B.; Hopkins, D.; Yarema, S.; Prosnitz, D.; Fawley, W.; Neil, V.;
By: Paul, A.; Scharlemann, E.; Orzechowski, T.; Wurtele, J.; Sessler, A.; Anderson, B.; Hopkins, D.; Yarema, S.; Prosnitz, D.; Fawley, W.; Neil, V.;
Next Page
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap