Your Search Results
Use materials by this author in your textbook!
AcademicPub holds over eight million pieces of educational content such as case studies and journal articles for you to mix-and-match your way.
Experience the freedom of customizing your course pack with AcademicPub!
Not an educator but still interested in using this content? No problem! Visit our provider's page to contact the publisher and get permission directly.
Author: Adam, T.
Results
2012 / IEEE
By: Hong He; Kuss, J.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kangguo Cheng; Khakifirooz, A.; Shahidi, G.; Doris, B.; Qing Liu; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; Kulkarni, P.; Juntao Li;
By: Hong He; Kuss, J.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kangguo Cheng; Khakifirooz, A.; Shahidi, G.; Doris, B.; Qing Liu; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; Kulkarni, P.; Juntao Li;
2011 / IEEE / 978-1-61284-175-5
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
2011 / IEEE / 978-1-4244-9949-6
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Haran, B.; Kumar, A.; Adam, T.; Reznicek, A.; Loubet, N.; He, H.; Kuss, J.; Wang, M.; Levin, T.M.; Monsieur, F.; Liu, Q.; Sreenivasan, R.; Cai, J.; Kimball, A.; Mehta, S.; Luning, S.; Zhu, Y.; Zhu, Z.; Yamamoto, T.; Bryant, A.; Lin, C.; Naczas, S.; Jagannathan, H.; Edge, L.F.; Allegret-Maret, S.; Dube, A.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Inada, A.; Seo, S.; Raymond, M.; Zhang, Z.; Yagishita, A.; Demarest, J.; Li, J.; Hopstaken, M.; Berliner, N.; Upham, A.; Johnson, R.; Holmes, S.; Standaert, T.; Smalley, M.; Zamdmer, N.; Ren, Z.; Wu, T.; Bu, H.; Paruchuri, V.; Sadana, D.; Narayanan, V.; Haensch, W.; O'Neill, J.; Hook, T.; Khare, M.; Doris, B.;
2012 / IEEE / 978-1-4673-0847-2
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Paruchuri, V.; Nguyen, B.-Y.; Schwarzenbach, W.; Daval, N.; Aulnette, C.; Holmes, S.; Schmitz, S.; Naczas, S.; Yamamoto, T.; Monsieur, F.; Levin, T.; Madan, A.; Li, J.; Zhu, Z.; Zhu, Y.; Nagumo, T.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; He, H.; Kulkarni, P.; Liu, Q.; Hashemi, P.; Khare, P.; Luning, S.; Mehta, S.; Gimbert, J.;
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Doris, B.; Shahidi, G.; Khare, M.; Paruchuri, V.; Nguyen, B.-Y.; Schwarzenbach, W.; Daval, N.; Aulnette, C.; Holmes, S.; Schmitz, S.; Naczas, S.; Yamamoto, T.; Monsieur, F.; Levin, T.; Madan, A.; Li, J.; Zhu, Z.; Zhu, Y.; Nagumo, T.; Loubet, N.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Sreenivasan, R.; Ponoth, S.; He, H.; Kulkarni, P.; Liu, Q.; Hashemi, P.; Khare, P.; Luning, S.; Mehta, S.; Gimbert, J.;
2000 / IEEE / 0-7803-5687-X
By: Cogo, B.; Naudy, G.; Drevon, C.; Adam, T.; Monfraix, P.; Roux, J.L.;
By: Cogo, B.; Naudy, G.; Drevon, C.; Adam, T.; Monfraix, P.; Roux, J.L.;
2004 / IEEE / 0-7803-8333-8
By: Schonenberg, K.T.; Stricker, A.; Khater, M.; Greenberg, D.; Rieh, J.-S.; Freeman, G.; Stein, K.; Ahlgren, D.; Yanagisawa, T.; Vaed, K.; Sweeney, S.; Jeng, S.-J.; Smith, P.; Schnabel, C.; Sanderson, D.; Krishnasamy, R.; Johnson, J.; Jagannathan, B.; Florkey, J.; Chinthakindi, A.; Adam, T.; Pagette, F.;
By: Schonenberg, K.T.; Stricker, A.; Khater, M.; Greenberg, D.; Rieh, J.-S.; Freeman, G.; Stein, K.; Ahlgren, D.; Yanagisawa, T.; Vaed, K.; Sweeney, S.; Jeng, S.-J.; Smith, P.; Schnabel, C.; Sanderson, D.; Krishnasamy, R.; Johnson, J.; Jagannathan, B.; Florkey, J.; Chinthakindi, A.; Adam, T.; Pagette, F.;
2004 / IEEE / 0-7803-8684-1
By: Meghelli, M.; Pagette, F.; Johnson, J.; Krishnasamy, R.; Chinthakindi, A.; Adam, T.; Rieh, J.-S.; Khater, M.; Freeman, G.; Ahlgren, D.; Jeng, S.-J.; Strieker, A.; Stein, K.; Smith, P.; Schonenberg, K.T.; Schnabel, C.; Sanderson, D.;
By: Meghelli, M.; Pagette, F.; Johnson, J.; Krishnasamy, R.; Chinthakindi, A.; Adam, T.; Rieh, J.-S.; Khater, M.; Freeman, G.; Ahlgren, D.; Jeng, S.-J.; Strieker, A.; Stein, K.; Smith, P.; Schonenberg, K.T.; Schnabel, C.; Sanderson, D.;
2000 / IEEE
By: Cogo, B.; Monfraix, P.; Roux, J.L.; Cazaux, J.L.; Adam, T.; Naudy, G.; Drevon, C.; Lacoste, J. L.;
By: Cogo, B.; Monfraix, P.; Roux, J.L.; Cazaux, J.L.; Adam, T.; Naudy, G.; Drevon, C.; Lacoste, J. L.;
2006 / IEEE / 1-4244-0438-X
By: Narasimha, S.; Onishi, K.; Nayfeh, H.M.; Waite, A.; Weybright, M.; Johnson, J.; Fonseca, C.; Corliss, D.; Robinson, C.; Crouse, M.; Yang, D.; Wu, C.-H.J.; Gabor, A.; Adam, T.; Ahsan, I.; Belyansky, M.; Black, L.; Butt, S.; Cheng, J.; Chou, A.; Costrini, G.; Dimitrakopoulos, C.; Domenicucci, A.; Fisher, P.; Frye, A.; Gates, S.; Greco, S.; Grunow, S.; Hargrove, M.; Holt, J.; Jeng, S.-J.; Kelling, M.; Kim, B.; Landers, W.; Larosa, G.; Lea, D.; Lee, M.H.; Liu, X.; Lustig, N.; McKnight, A.; Nicholson, L.; Nielsen, D.; Nummy, K.; Ontalus, V.; Ouyang, C.; Ouyang, X.; Prindle, C.; Pal, R.; Rausch, W.; Restaino, D.; Sheraw, C.; Sim, J.; Simon, A.; Standaert, T.; Sung, C.Y.; Tabakman, K.; Tian, C.; Van Den Nieuwenhuizen, R.; Van Meer, H.; Vayshenker, A.; Wehella-Gamage, D.; Werking, J.; Wong, R.C.; Yu, J.; Wu, S.; Augur, R.; Brown, D.; Chen, X.; Edelstein, D.; Grill, A.; Khare, M.; Li, Y.; Luning, S.; Norum, J.; Sankaran, S.; Schepis, D.; Wachnik, R.; Wise, R.; Warm, C.; Ivers, T.; Agnello, P.;
By: Narasimha, S.; Onishi, K.; Nayfeh, H.M.; Waite, A.; Weybright, M.; Johnson, J.; Fonseca, C.; Corliss, D.; Robinson, C.; Crouse, M.; Yang, D.; Wu, C.-H.J.; Gabor, A.; Adam, T.; Ahsan, I.; Belyansky, M.; Black, L.; Butt, S.; Cheng, J.; Chou, A.; Costrini, G.; Dimitrakopoulos, C.; Domenicucci, A.; Fisher, P.; Frye, A.; Gates, S.; Greco, S.; Grunow, S.; Hargrove, M.; Holt, J.; Jeng, S.-J.; Kelling, M.; Kim, B.; Landers, W.; Larosa, G.; Lea, D.; Lee, M.H.; Liu, X.; Lustig, N.; McKnight, A.; Nicholson, L.; Nielsen, D.; Nummy, K.; Ontalus, V.; Ouyang, C.; Ouyang, X.; Prindle, C.; Pal, R.; Rausch, W.; Restaino, D.; Sheraw, C.; Sim, J.; Simon, A.; Standaert, T.; Sung, C.Y.; Tabakman, K.; Tian, C.; Van Den Nieuwenhuizen, R.; Van Meer, H.; Vayshenker, A.; Wehella-Gamage, D.; Werking, J.; Wong, R.C.; Yu, J.; Wu, S.; Augur, R.; Brown, D.; Chen, X.; Edelstein, D.; Grill, A.; Khare, M.; Li, Y.; Luning, S.; Norum, J.; Sankaran, S.; Schepis, D.; Wachnik, R.; Wise, R.; Warm, C.; Ivers, T.; Agnello, P.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1101-6
By: Holt, J.; Jeng, S.; Nayfeh, H.M.; Domenicucci, A.; Madan, A.; Adam, T.; Narasimha, S.; Liu, J.; Johnson, J.B.; Tabakman, K.; Waite, A.; Pal, R.; Butt, S.;
By: Holt, J.; Jeng, S.; Nayfeh, H.M.; Domenicucci, A.; Madan, A.; Adam, T.; Narasimha, S.; Liu, J.; Johnson, J.B.; Tabakman, K.; Waite, A.; Pal, R.; Butt, S.;
2007 / IEEE / 978-1-4244-1261-7
By: Mocker, C.; Zimmermann, R.; Mitschke, S.; Miihlberger, F.; Adam, T.;
By: Mocker, C.; Zimmermann, R.; Mitschke, S.; Miihlberger, F.; Adam, T.;
2007 / IEEE / 978-2-87487-001-9
By: Quendo, C.; Rius, E.; Clavet, Y.; Manchec, A.; Favennec, J.F.; Voidey, M.; Cogo, B.; Adam, T.; Person, C.;
By: Quendo, C.; Rius, E.; Clavet, Y.; Manchec, A.; Favennec, J.F.; Voidey, M.; Cogo, B.; Adam, T.; Person, C.;
2008 / IEEE / 978-1-4244-1802-2
By: Sadana, D.; Park, D.-G.; Lauer, I.; Pal, R.; Kanarsky, T.; Chakravarti, A.; Harley, E.; Yang, B.; Weijtmans, J.W.; Black, L.; Dube, A.; Miller, J.; Adam, T.; Pinto, T.; Madan, A.; Zhu, Z.; Xia, G.; Chan, K.; Takalkar, R.; Yang, B.F.; Li, J.; Pei, G.; Zhibin Ren;
By: Sadana, D.; Park, D.-G.; Lauer, I.; Pal, R.; Kanarsky, T.; Chakravarti, A.; Harley, E.; Yang, B.; Weijtmans, J.W.; Black, L.; Dube, A.; Miller, J.; Adam, T.; Pinto, T.; Madan, A.; Zhu, Z.; Xia, G.; Chan, K.; Takalkar, R.; Yang, B.F.; Li, J.; Pei, G.; Zhibin Ren;
2006 / IEEE / 978-1-4244-3308-7
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; O'Neill, J.; Doris, B.; Bu, H.; Kozlowski, P.; Sadana, D.; Wang, J.; Di, M.; Herman, J.; Smalley, M.; Levin, T.; Upham, A.; Johnson, R.; Zhu, Z.; Loesing, R.; Li, X.; Holt, J.; Jamison, P.; Seo, S.-C.; Haran, B.; Edge, L.F.; Furukawa, T.; Faltermeier, J.; Li, J.; Zhu, Y.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kulkarni, P.; Kanakasabapathy, S.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; O'Neill, J.; Doris, B.; Bu, H.; Kozlowski, P.; Sadana, D.; Wang, J.; Di, M.; Herman, J.; Smalley, M.; Levin, T.; Upham, A.; Johnson, R.; Zhu, Z.; Loesing, R.; Li, X.; Holt, J.; Jamison, P.; Seo, S.-C.; Haran, B.; Edge, L.F.; Furukawa, T.; Faltermeier, J.; Li, J.; Zhu, Y.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kulkarni, P.; Kanakasabapathy, S.;
2009 / IEEE / 978-1-4244-5641-3
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Edge, L.F.; Kimball, A.; Kanakasabapathy, S.; Xiu, K.; Schmitz, S.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Holmes, S.; Mehta, S.; Yang, D.; Upham, A.; Seo, S.-C.; Herman, J.L.; Johnson, R.; Zhu, Y.; Jamison, P.; Haran, B.S.; Zhu, Z.; Vanamurth, L.H.; Fan, S.; Horak, D.; Bu, H.; Oldiges, P.J.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; McHerron, D.; O'Neill, J.; Doris, B.;
By: Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Shahrjerdi, D.; Edge, L.F.; Kimball, A.; Kanakasabapathy, S.; Xiu, K.; Schmitz, S.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Holmes, S.; Mehta, S.; Yang, D.; Upham, A.; Seo, S.-C.; Herman, J.L.; Johnson, R.; Zhu, Y.; Jamison, P.; Haran, B.S.; Zhu, Z.; Vanamurth, L.H.; Fan, S.; Horak, D.; Bu, H.; Oldiges, P.J.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; McHerron, D.; O'Neill, J.; Doris, B.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-5063-3
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Shahidi, G.; Leobondung, E.; Haensch, W.; Doris, B.; O'Neill, J.; McHerron, D.; Kozlowski, P.; Sadana, D.K.; Bu, H.; Horak, D.; Fan, S.; Faltermeier, J.; Vanamurth, L.H.; Zhu, Z.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.-C.; Upham, A.; Yang, D.; Majumdar, A.; Kulkarni, P.; Cai, J.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Haran, B.S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Mehta, S.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Holmes, S.; Jagannathan, B.;
By: Khakifirooz, A.; Cheng, K.; Shahidi, G.; Leobondung, E.; Haensch, W.; Doris, B.; O'Neill, J.; McHerron, D.; Kozlowski, P.; Sadana, D.K.; Bu, H.; Horak, D.; Fan, S.; Faltermeier, J.; Vanamurth, L.H.; Zhu, Z.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.-C.; Upham, A.; Yang, D.; Majumdar, A.; Kulkarni, P.; Cai, J.; Ponoth, S.; Kuss, J.; Haran, B.S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Reznicek, A.; Adam, T.; He, H.; Loubet, N.; Mehta, S.; Kanakasabapathy, S.; Schmitz, S.; Holmes, S.; Jagannathan, B.;
2010 / IEEE / 978-1-4244-9129-2
By: Zhu, Z.; Haran, B.S.; Bu, H.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; O'Neill, J.; Doris, B.; Shahidi, G.; Fan, S.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.; Upham, A.; Mehta, S.; He, H.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kanakasabapathy, S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Kuss, J.; Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.;
By: Zhu, Z.; Haran, B.S.; Bu, H.; Sadana, D.K.; Kozlowski, P.; O'Neill, J.; Doris, B.; Shahidi, G.; Fan, S.; Jamison, P.; Zhu, Y.; Johnson, R.; Herman, J.L.; Seo, S.; Upham, A.; Mehta, S.; He, H.; Adam, T.; Reznicek, A.; Schmitz, S.; Kanakasabapathy, S.; Kimball, A.; Edge, L.F.; Kuss, J.; Cheng, K.; Khakifirooz, A.; Kulkarni, P.; Ponoth, S.;
2011 / IEEE
By: Jin Cai; Kangguo Cheng; Khakifirooz, A.; Shahidi, G.; Doris, B.; Kimball, A.; Huiming Bu; Edge, L.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kulkarni, P.;
By: Jin Cai; Kangguo Cheng; Khakifirooz, A.; Shahidi, G.; Doris, B.; Kimball, A.; Huiming Bu; Edge, L.; Adam, T.; Reznicek, A.; Kulkarni, P.;
Follow Us
Copyright © 2014 SharedBook. All rights reserved. Customer Service ·
Privacy Policy
·
User Agreement ·
Accessibility ·
Sitemap